Šio darbo tikslas yra realizuoti ir ištirti funkcinių vėlinimo testų generavimo algoritmus. Gaminant programuojamuosius įrenginius visada atsiranda galimybė jog gali atsirasti vėlinimo klaidų ( įėjimo signalas dėl kažkokių priežasčių išeina vėliau nei yra numatyta ). Šiuo metu lustai naudojami civilinėje bei karinėje pramonėje įvairiems gamybos procesams valdyti, pvz: medicinoje. Vėlinimo gedimų testavimai yra labai reikšmingi tiek sistemų saugumo užtikrinime, tiek sistemos patikimumo atžvilgiu. Šiais laikais tokie reikalavimai yra keliami vis didesni, nes žmogaus saugumas yra visų svarbiausia. Realizuojamas funkcinis vėlinimo testo sudarymo algoritmas pagal pokyčius išėjimuose, kuris remiasi tik programinio prototipo pirminių įėjimų ir pirminių išėjimų reikšmėmis. Sukūrus sistemą, buvo atliktas eksperimentinis jos tyrimas. Gauti panaudoto algoritmo rezultatai yra patenkinami, kurie yra pateikti šio dokumento priede. Eksperimento metu atliekami testinių rinkinių generavimai 24 loginėms schemoms. Darbe yra 42 panaudoti paveikslėliai, 27 lentel��s bei santrumpų žodynas. Medžiaga surinkta iš penkiolikos literatūros šaltinių. / The object of this work is to research functional test generation methods for delay faults. Manufacturing of programmable chips always has possibility that in those systems will be delay faults that means: input signal for some reasons appear in the output after longer time than the time was definite. In our days, programmable chips are used in the industry for the management of various civil and military manufacturing processes, for instance medicine. Delay fault testing is very important part for the system safety and trustiness. Today those requests become higher and higher, because human safety is common importance. Created test generation algorithm of the functional test that is based solely on the primary input values and the primary output values of the programming prototype. System was tested by simple step by step model,(which is presented in the fourth part of this document). The obtained results are useful and acceptable. All results are presented in the appendix of this document. The experiment contains 24 logic schemas processed test generation algorithm. The work includes of 42 pictures, 27 tables and conceptual dictionary. 15 bibliographical sources have been used.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:LABT_ETD/oai:elaba.lt:LT-eLABa-0001:E.02~2008~D_20080710_145321-50124 |
| Date | 10 July 2008 |
| Creators | Radavičius, Marius |
| Contributors | Jokužis, Vytautas, Jusas, Vacius, Bareiša, Eduardas, Kazanavičius, Egidijus, Šeinauskas, Rimantas, Misevičius, Alfonsas, Kaunas University of Technology |
| Publisher | Lithuanian Academic Libraries Network (LABT), Kaunas University of Technology |
| Source Sets | Lithuanian ETD submission system |
| Language | Lithuanian |
| Detected Language | English |
| Type | Master thesis |
| Format | application/pdf |
| Source | http://vddb.library.lt/obj/LT-eLABa-0001:E.02~2008~D_20080710_145321-50124 |
| Rights | Unrestricted |
Page generated in 0.0032 seconds