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Development of complex permittivity analysis techniques for evaluation of charge transport and trapping on 2D electronic systems / 2次元上の電荷輸送およびトラップを評価するための複素誘電率解析法の開発

京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第20815号 / 工博第4419号 / 新制||工||1687(附属図書館) / 京都大学大学院工学研究科分子工学専攻 / (主査)教授 関 修平, 教授 佐藤 啓文, 教授 梶 弘典 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Philosophy (Engineering) / Kyoto University / DGAM

Identiferoai:union.ndltd.org:kyoto-u.ac.jp/oai:repository.kulib.kyoto-u.ac.jp:2433/231018
Date23 January 2018
CreatorsChoi, Wookjin
Contributors関, 修平, 佐藤, 啓文, 梶, 弘典, 崔, 旭鎮, チェ, ウッジン
PublisherKyoto University, 京都大学
Source SetsKyoto University
LanguageEnglish
Detected LanguageEnglish
Typedoctoral thesis, Thesis or Dissertation
Formatapplication/pdf
Rights学位規則第9条第2項により要約公開
Relationhttps://doi.org/10.1063/1.4891052, https://doi.org/10.1063/1.4980078, https://doi.org/10.1088/1742-6596/924/1/012002, https://doi.org/10.1063/1.5003207, https://doi.org/10.1246/cl.150593, https://doi.org/10.1002/cplu.201700047

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