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Search results

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1

電子注入ストレスを加えたゲート酸化膜の電流検出型原子間力顕微鏡による解析

世古, 明義, 渡辺, 行彦, 近藤, 博基, 酒井, 朗, 財満, 鎭明, 安田, 幸夫 01 August 2004 (has links)
No description available.
シリコン酸化膜
電流検出型原子間力顕微鏡法
信頼性
ストレス誘起リーク電流
トラップ
2

ＤＮＡオリガミを用いた生体分子の固定化およびその液中周波数変調ＡＦＭ評価

山本, 悠樹 23 March 2021 (has links)
京都大学 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第23212号 / 工博第4856号 / 新制||工||1758(附属図書館) / 京都大学大学院工学研究科電子工学専攻 / (主査)教授 山田 啓文, 教授 川上 養一, 教授 土屋 智由 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Philosophy (Engineering) / Kyoto University / DFAM
DNAオリガミ
原子間力顕微鏡法
ストレプトアビジン
フォースカーブ
電気二重層
分子固定化
500

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