NDLTD Global ETD Search
  • Refine Query
  • Source
  • Publication year
  • to
  • Language
  • 1
  • Tagged with
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • About
  • The Global ETD Search service is a free service for researchers to find electronic theses and dissertations. This service is provided by the Networked Digital Library of Theses and Dissertations.
    Our metadata is collected from universities around the world. If you manage a university/consortium/country archive and want to be added, details can be found on the NDLTD website.

Search results

Showing 1 to 1 of 1 (0.016 seconds)
1

Variability in BTI-Induced Device Degradation: from Silicon Measurement to SRAM Yield Prediction / トランジスタのBTI劣化ばらつきに関する研究：特性評価からSRAM 回路歩留り予測へ

Awano, Hiromitsu 23 March 2016 (has links)
京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(情報学) / 甲第19862号 / 情博第613号 / 新制||情||106(附属図書館) / 32898 / 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 / (主査)教授 佐藤 高史, 教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Informatics / Kyoto University / DFAM
集積回路
微細化
信頼性
バイアス温度不安定性（BTI）
歩留り解析
007

Page generated in 0.0211 seconds