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デバイス特性推定に基づく集積回路の適応型テストに関する研究

新谷, 道広 24 September 2014 (has links)
京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(情報学) / 甲第18624号 / 情博第548号 / 新制||情||97(附属図書館) / 31524 / 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 / (主査)教授 佐藤 高史, 教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Informatics / Kyoto University / DFAM
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オンチップ電源電圧変動を考慮したLSI-coreマクロモデルに関する研究

田中, 広志 23 March 2023 (has links)
京都大学 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第24619号 / 工博第5125号 / 新制||工||1980(附属図書館) / 京都大学大学院工学研究科電気工学専攻 / (主査)教授 和田 修己, 教授 佐藤 高史, 准教授 久門 尚史, 教授 松尾 哲司 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Philosophy (Engineering) / Kyoto University / DFAM
3

集積回路のエネルギー効率向上を目指した性能ばらつきの予測技術とセルライブラリの構築に関する研究

西澤, 真一 23 March 2015 (has links)
京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(情報学) / 甲第19134号 / 情博第580号 / 新制||情||101(附属図書館) / 32085 / 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 / (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Informatics / Kyoto University / DFAM
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テラヘルツ波のイメージンク応用

川瀬, 晃道, 大谷, 知行, 中島, 佐知子, 山下, 将嗣 01 June 2006 (has links)
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Variability in BTI-Induced Device Degradation: from Silicon Measurement to SRAM Yield Prediction / トランジスタのBTI劣化ばらつきに関する研究:特性評価からSRAM 回路歩留り予測へ

Awano, Hiromitsu 23 March 2016 (has links)
京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(情報学) / 甲第19862号 / 情博第613号 / 新制||情||106(附属図書館) / 32898 / 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 / (主査)教授 佐藤 高史, 教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Informatics / Kyoto University / DFAM

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