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Search results

Showing 1 to 2 of 2 (0.007 seconds)
1

SIMSおよびレーザSNMSによる半導体表面分析の高精度定量化に関する研究

東, 康弘 23 September 2016 (has links)
京都大学 / 0048 / 新制・論文博士 / 博士(工学) / 乙第13053号 / 論工博第4146号 / 新制||工||1657(附属図書館) / 33143 / (主査)教授 河合 潤, 教授 酒井 明, 准教授 松尾 二郎 / 学位規則第4条第2項該当 / Doctor of Philosophy (Engineering) / Kyoto University / DFAM
レーザSNMS
表面分析
深さ方向分析
半導体
SIMS
500
2

X線分光と第一原理計算による合金中微量元素分析の基礎研究

田中, 亮平 23 March 2017 (has links)
京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第20333号 / 工博第4270号 / 新制||工||1661(附属図書館) / 京都大学大学院工学研究科材料工学専攻 / (主査)教授 河合 潤, 教授 酒井 明, 准教授 弓削 是貴 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Philosophy (Engineering) / Kyoto University / DFAM
蛍光X線分光
第一原理計算
表面分析
500

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