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Microscopia de força atômica aplicada a sistemas eletroquímicos e biológicos de interesse / Atomic force microscopy applied to electrochemical and biological systems of interest

Silva Júnior, José Ginaldo da 28 September 2009 (has links)
Atomic force microscopy (AFM) is a technique that is part of a series of scanning probe microscopies (SPM). It is a powerful tool due to its potential use in conducting, semiconducting and biological materials without the need of pretreatment of the samples, being applied in areas such as Chemistry and Healthy Science. The use of AFM technique is growing exponentially in the last years and can be evidenced by the large number of articles published in the literature, c.a. 58.000 (until September, 2009). AFM resolution level reaches the nanometric scale with an increase of 109 times. The image acquired is built through of a software supplied by the equipment and converge exactly to the real image. During the execution of this work, we used AFM to characterize tiophene and pyrrole derivatives deposited on the electrode surface of indium tin oxide (ITO) using different experimental conditions and deposition charges. We also verified the morphological aspects of the deposition of dansyl film by chemical and electrochemical methods. The use of AFM in dental acts allowed to define the best method of inserting dental material into cavity of dental tissue damage – single or incremental increase followed the use of such lights – halogena or LED – to the polymerization process. The analysis of the enamel surface of the tooth was also researched to verify the effect of toothbrushes using dentrify or not. We used commercial toothbrushes and experimental dentrify with RDA 60 provided by Colgate-Palmolive Co. AFM appeared to be a useful tool to obtain images and statistic parameters to conducting polymers, to the systems between enamel and resin and to the enamel submit to action of toothbrushes bristles with and without an experimental toothpastes. The main parameters obtained were analysis of the surface of several materials and acquisition roughness, Ra, Rms and relative surface area. In all the experiments, the AFM was a technically viable, efficient, economically advantageous technique and without the necessity of special sample treatment. / Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior / A microscopia de força atômica (AFM) é uma das técnicas que faz parte da grande família de microscópios de sonda de varredura mecânica (SPM). É uma ferramenta poderosa por sua possibilidade de uso em materiais condutores, semicondutores e até materiais biológicos sem a necessidade de pré-tratamento das amostras, encontrando aplicação em várias áreas do conhecimento, inclusive na Química e nas Ciências de Saúde. O uso da técnica de AFM nos últimos anos vem aumentando exponencialmente, sendo constatado pelo grande número de artigos publicados, cerca de 58.000 (até setembro, 2009). Seu nível de resolução alcança a escala nanométrica com aumento da ordem de 109 vezes. A imagem fornecida é formada através da interação entre uma sonda e a superfície da amostra por meio de programa do próprio equipamento e converge exatamente para a imagem real. No presente trabalho, utilizamos o AFM para caracterizar polímeros condutores derivados de tiofeno e pirrol depositados sobre a superfície de eletrodo de óxido de índio dopado com estanho (ITO) utilizando condições experimentais diferentes. Ainda, verificamos os aspectos morfológicos da deposição de filmes de dansila por métodos químicos e eletroquímicos. A AFM foi utilizada para verificar o efeito das cerdas das escovas dentárias na superfície do esmalte do dente na presença ou não de dentrifício. Foram utilizadas escovas comerciais e dentrifícios experimentais com uma abrasividade relativa da dentina de 60 cedidos pela Colgate-Palmolive Co. A utilização da AFM nos procedimentos dentários permitiu definir qual o melhor método de inserção de revestimento na cavidade de tecidos dentários danificados – incremento único ou incremental seguido da utilização de luzes do tipo – halógena ou luz emitida por diodo - para o processo de polimerização. A AFM mostrou ser uma ferramenta útil na obtenção de imagens e parâmetros estatísticos para os filmes poliméricos, para os sistemas entre esmalte dental e resinas poliméricas e para os esmaltes dentários submetidos a ação das cerdas das escovas com e sem dentrifício. Em todos os experimentos propostos a AFM se mostrou tecnicamente viável, eficiente, economicamente vantajosa e sem necessidade de tratamento especial das amostras.

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