Nowadays, Sigma-Delta analog-to-digital converters have been widely used in the technology of analog-to-digital conversion. It depends on the merits that the approach of Sigma-Delta has. The signal converted by oversampling is precise and well-suited in signal processing systems.This thesis mainly focuses on the principles and simulations of fundamental first-order Sigma-Delta converter, and some brief introductions about other Sigma-Delta converters.The main researches of this thesis are as follows: (1)This thesis shows not only the path about development of technology of different ADCs, but also the features and principles of these ADCs and their structures. (2)The thesis discusses how the technologies of oversampling and noise shaping are used in Sigma-Delta analog-to-digital conversion. (3)Illustrate different orders Sigma-Delta converters in different bits and their advantages and disadvantages, respectively. (4)The simulation is given in Matlab(Simulink). Typical first-order SigmaDelta converter is simulated with additional noise which will impact the input signal when implement. / Sigma-Delta Converter

Orientador: Carlos Alberto dos Reis Filho / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação / Made available in DSpace on 2018-08-16T07:16:47Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Lima_JoseErickdeSouza_M.pdf: 6787187 bytes, checksum: 105b3b5aec8638e48cd17d79b4962b1d (MD5) Previous issue date: 2010 / Resumo: Este trabalho descreve um sistema constituído de diversos instrumentos, que se encontram interligados e gerenciados por um aplicativo de software, implementando um ambiente compacto para a caracterização de conversores analógico-digitais, de acordo com os procedimentos descritos nas normas IEEE 1057-1994 e IEEE 1241-2000. O sistema desenvolvido possui limitações quanto aos tipos de conversores analógico-digitais que podem ser testados, devidas às restrições impostas pelos equipamentos disponíveis neste momento. Sua estrutura, no entanto, foi concebida para permitir a expansão destes limites com a troca dos instrumentos limitantes à medida que estes forem adquiridos. A avaliação da sua funcionalidade foi realizada testando dois conversores analógico-digitais que têm características distintas. Enquanto um dos dispositivos testados tem resolução nominal de 10 bits e taxa de conversão de 80 MSPS, o outro tem resolução de 8 bits e taxa de conversão nominal de 8kSPS. A motivação para o desenvolvimento deste sistema está no projeto de conversores analógico-digitais integrados que se encontra em andamento no LPM-FEEC-Unicamp. A disponibilidade de um ambiente de teste com as propriedades do sistema desenvolvido é um requisito importante para o sucesso do projeto, pois viabiliza a verificação imediata dos circuitos construídos, reduzindo o tempo de convergência às metas do projeto / Abstract: This paper describes a system composed of various instruments, which are interconnected and managed by a software application, implementing a compact environment for characterization of analog-digital converters, according to the procedures described in IEEE 1057-1994 and IEEE 1241 -2000. The developed system has limitations on the kinds of analog-digital converters that can be tested due to restrictions imposed by the equipment available at the moment. Its structure, however, was designed to allow the expansion of these limits with the exchange of the limiting instruments as they are acquired. The evaluation of its functionality was performed by testing two analog-digital converters that have distinct characteristics. While one of the tested devices has nominal resolution of 10 bits and conversion rate of 80 MSPS, the other has 8-bit resolution and conversion rate four orders of magnitude below. The motivation for developing this system is the design of integrated analog-digital converters that is being carried on at the LPM-FEEC-Unicamp. The availability of a test environment with the properties of the developed system is an important requisite for the success of the project because it enables the immediate verification of the constructed circuits, thus reducing the convergence time to the project goals / Mestrado / Eletrônica, Microeletrônica e Optoeletrônica / Mestre em Engenharia Elétrica