Dans le domaine de la sécurisation des circuits intégrés, tel que les cartes à puce, les concepteurs de circuits sont contraints à innover, inlassablement, afin de trouver de nouvelles parades aux nouvelles attaques, notamment par canaux cachés. En effet, ces attaques, comme l'analyse des émissions électromagnétiques, permettent d'extraire des informations, contenues à l'intérieur des circuits, sensées être secrètes. Partant de ce constat, dans cette thèse, nous nous sommes focalisés sur l'étude et l'analyse électromagnétique et ce afin de quantifier les possibilités de ces attaques. Ce manuscrit est organisé de la manière qui suit. Dans un premier temps, une plateforme de mesures des émissions électromagnétiques temporelles, que nous avons développées, est présentée, ainsi que des résultats qui ont été obtenus, avec celle-ci, sur différents circuits. A partir de ces résultats, une synthèse des possibilités, relatives à la menace sécuritaire que constituent les analyses électromagnétiques est proposée ainsi que, des propositions de solutions, visant à réduire le rayonnement électromagnétique des circuits intégrés. Dans un second temps, nous nous sommes intéressés aux méthodes de simulation de ces émissions électromagnétiques. Un état de l'art, des outils de simulation existants aujourd'hui, nous a permis de mettre en évidence qu'aucun d'eux ne permet d'avoir une résolution suffisamment fine en termes d'émissions électromagnétiques. Afin de combler ce manque, un flot de simulation a été développé. Pour valider ce flot, une comparaison entre les résultats de mesure et les résultats de simulation a été effectuée. / In the area of secure integrated circuits, such as smart cards, circuit designers are always looking to innovate to find new countermeasures against attacks by the various side channels that exist today. Indeed, side channels attacks such as the analysis of electromagnetic emissions permit to extract secret information contained in circuits. Based on this observation, in this thesis, we focused on the study of electromagnetic analysis to observe the analysis possibilities. This manuscript is organized as follows. Initially, we presented a measurement system for electromagnetic emissions in time domain, and the results obtained on different circuits. From these results, a summary of opportunities, relating to the security threat, posed by electromagnetic analysis, is proposed as well as solutions proposals to reduce electromagnetic radiations of integrated circuits. In a second step, we are interested in the simulation of electromagnetic emissions. A state of the art of simulation tools which exist today, has allowed us to demonstrate that none of them allowed to have a fine enough resolution in terms of electromagnetic emissions. To fill this gap, a simulation tool has been developed and to validate this flow, a comparison between measurement results and simulation results was performed.