Esta dissertação trata sobre o projeto, implementação e avaliação de um filtro híbrido para supressão de ruído em sistemas de alta potência. Seu desempenho será otimizado para reduzir a magnitude de ruídos impulsivos, que são comuns em dispositivos de alta potência, como inversores de frequência que controlam motores trifásicos. O filtro híbrido proposto é avaliado empiricamente em um inversor de frequência que é controlado por um sistema embarcado. A abordagem proposta é comparada com abordagens clássicas de filtragem digital como média móvel, filtro de resposta finita ao impulso (FIR) e filtro de resposta infinita ao impulso (IIR). / This work presents the project, implementation and evaluation of a hybrid filter used for noise supressing in high power switching converters. It is optimized to reduce impulsive noise that is commonly present in high power devices like frequency inverters that control three-phase motors. The hybrid filter is evaluated empirically in a frequency inverter that is controlled by an embedded system. This approach is compared to classical ones, like the moving average, the finite impulse response (FIR) and the infinite impulse response (IIR) filters.

Esta dissertação trata sobre o projeto, implementação e avaliação de um filtro híbrido para supressão de ruído em sistemas de alta potência. Seu desempenho será otimizado para reduzir a magnitude de ruídos impulsivos, que são comuns em dispositivos de alta potência, como inversores de frequência que controlam motores trifásicos. O filtro híbrido proposto é avaliado empiricamente em um inversor de frequência que é controlado por um sistema embarcado. A abordagem proposta é comparada com abordagens clássicas de filtragem digital como média móvel, filtro de resposta finita ao impulso (FIR) e filtro de resposta infinita ao impulso (IIR). / This work presents the project, implementation and evaluation of a hybrid filter used for noise supressing in high power switching converters. It is optimized to reduce impulsive noise that is commonly present in high power devices like frequency inverters that control three-phase motors. The hybrid filter is evaluated empirically in a frequency inverter that is controlled by an embedded system. This approach is compared to classical ones, like the moving average, the finite impulse response (FIR) and the infinite impulse response (IIR) filters.

Este trabalho aborda os soft errors em conversores de dados analógico-digitais e a mitigação usando redundância e diversidade. Nas tecnologias CMOS recentes, os efeitos singulares (SEEs, Single Event Effects) são um grupo de efeitos da radiação espacial que afetam a confiabilidade e disponibilidade dos sistemas. Os soft errors são SEEs que não danificam diretamente o sistema e podem ser posteriormente corrigidos. Seus principais subgrupos são o Single Event Upset (SEU), o Single Event Transient (SET) e o Single Event Functional Interrupt (SEFI). Uma das técnicas em nível de sistema amplamente usadas para proteger os circuitos eletrônicos desses efeitos é a Redundância Modular Tripla (TMR, Triple Modular Redundancy), que pode ainda ser melhorada com a adição da técnica de diversidade. Nesse contexto, esse trabalho adota um esquema baseado nessas duas técnicas para a implementação de um sistema de aquisição de dados (SAD) analógico-digital. Seus objetivos são observar o comportamento dos conversores de dados frente aos soft errors e avaliar a eficácia de um sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal contra esses efeitos da radiação. A implementação desse SAD em um SoC (System-on-Chip) da Cypress Semiconductor, chamado PSoC 5LP e fabricado em tecnologia CMOS de 130 nm, propiciou a realização de dois estudos: no primeiro, é realizada a irradiação com nêutrons, caso de particular interesse para os equipamentos eletrônicos embarcados em aviões; e no segundo, são realizadas injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM do PSoC 5LP. O resultado da irradiação do primeiro estudo foi a não observância de erros, o que impediu cumprir os objetivos propostos para esse teste. Essa situação permitiu duas observações principais: primeiro, o fluxo de nêutrons do experimento é uma característica fundamental que impacta na capacidade de se observar os efeitos da radiação, principalmente quando a seção de choque do circuito em análise é baixa; e segundo, de que a probabilidade de ocorrerem mascaramentos de SETs nos circuitos combinacionais e analógicos é elevada, o que contribui significativamente para reduzir a sensibilidade desses circuitos. Para avaliar a eficácia do sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal foi então realizada uma investigação teórica baseada em análise combinatória, e os resultados mostraram que a adição de diversidade temporal gera, em comparação ao TMR clássico, um ganho significativo na tolerância de falhas duplas e múltiplas, ao preço de um aumento do atraso do circuito. Os resultados das injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM mostraram que apenas um baixo percentual das falhas injetadas é detectado na forma de erros, convergindo para a justificativa de que os mascaramentos foram determinantes para a não observância de erros no primeiro estudo, de injeção de falhas por radiação. Também verificou-se que os registradores de controle dos periféricos são mais importantes no nível de aplicação do que os dados da memória SRAM. Considerações sobre a auto injeção de falhas e auto monitoramento sugerem que a utilização desses conceitos pode trazer diversas limitações e complicadores aos testes. / The present thesis addresses the soft errors in analog-to-digital data converters and mitigation of such errors using redundancy and diversity. In modern CMOS technologies, the Single Event Effects (SEEs) comprises an important group of space radiation effects that influence the reliability and availability of the systems. Soft errors are SEEs that do not directly damage the system and that can be further corrected. Their main subgroups are the Single Event Upset (SEU), the Single Event Transient (SET) and the Single Event Functional Interrupt (SEFI). One of the system level techniques broadly used to protect the electronic circuits against these effects is the Triple Modular Redundancy (TMR), which may be improved with the addition of the diversity technique. In this context, this work proposes a scheme based on these two techniques to implement a tolerant analog-to-digital data acquisition system (DAS). The main objectives are to observe the behavior of the data converters under soft errors, and evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity on mitigating these radiation effects. The implementation of this DAS in a Programmable SoC (System-on-Chip) from Cypress Semiconductor (PSoC 5LP) manufactured in 130 nm CMOS, allowed the development of two studies. In the first one, an irradiation with neutrons is performed, case of particular interest to electronic equipment embedded on planes. In the second study, runtime software fault injections are performed at the peripheral control registers and SRAM of the studied device. As a result from irradiation on the first study no errors were found, what does not allowed meet the objectives of this test. This situation allow two main observations: first, the neutron flux of the experiment is a key feature that influences the ability to observe the radiation effects, mainly when the cross section of the circuit in analysis is low; and second, the probability of occurring SETs masking in combinational and analog circuits is high, which contributes significantly to reduce the sensibility of these circuits. To evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity then was performed a theoretical investigation based on combinatorial analysis, and the results show that the addition of temporal diversity generates a significant gain in tolerating double and multiple faults, if compared to the classical TMR, at the price of an increase in the circuit delay. The results of the second study, performed by runtime software fault injections at the peripheral control registers and SRAM, showed that only a low percentage of injected faults is detected as errors, according to the justification that no errors were found on irradiation of neutrons due to masking. Also was verified that at the application level the peripheral control registers are more important than the data stored in the SRAM memory. Considerations for faults self-injection and self-monitoring were done, suggesting that the use of these concepts may bring numerous limitations to the test.

Este trabalho aborda os soft errors em conversores de dados analógico-digitais e a mitigação usando redundância e diversidade. Nas tecnologias CMOS recentes, os efeitos singulares (SEEs, Single Event Effects) são um grupo de efeitos da radiação espacial que afetam a confiabilidade e disponibilidade dos sistemas. Os soft errors são SEEs que não danificam diretamente o sistema e podem ser posteriormente corrigidos. Seus principais subgrupos são o Single Event Upset (SEU), o Single Event Transient (SET) e o Single Event Functional Interrupt (SEFI). Uma das técnicas em nível de sistema amplamente usadas para proteger os circuitos eletrônicos desses efeitos é a Redundância Modular Tripla (TMR, Triple Modular Redundancy), que pode ainda ser melhorada com a adição da técnica de diversidade. Nesse contexto, esse trabalho adota um esquema baseado nessas duas técnicas para a implementação de um sistema de aquisição de dados (SAD) analógico-digital. Seus objetivos são observar o comportamento dos conversores de dados frente aos soft errors e avaliar a eficácia de um sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal contra esses efeitos da radiação. A implementação desse SAD em um SoC (System-on-Chip) da Cypress Semiconductor, chamado PSoC 5LP e fabricado em tecnologia CMOS de 130 nm, propiciou a realização de dois estudos: no primeiro, é realizada a irradiação com nêutrons, caso de particular interesse para os equipamentos eletrônicos embarcados em aviões; e no segundo, são realizadas injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM do PSoC 5LP. O resultado da irradiação do primeiro estudo foi a não observância de erros, o que impediu cumprir os objetivos propostos para esse teste. Essa situação permitiu duas observações principais: primeiro, o fluxo de nêutrons do experimento é uma característica fundamental que impacta na capacidade de se observar os efeitos da radiação, principalmente quando a seção de choque do circuito em análise é baixa; e segundo, de que a probabilidade de ocorrerem mascaramentos de SETs nos circuitos combinacionais e analógicos é elevada, o que contribui significativamente para reduzir a sensibilidade desses circuitos. Para avaliar a eficácia do sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal foi então realizada uma investigação teórica baseada em análise combinatória, e os resultados mostraram que a adição de diversidade temporal gera, em comparação ao TMR clássico, um ganho significativo na tolerância de falhas duplas e múltiplas, ao preço de um aumento do atraso do circuito. Os resultados das injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM mostraram que apenas um baixo percentual das falhas injetadas é detectado na forma de erros, convergindo para a justificativa de que os mascaramentos foram determinantes para a não observância de erros no primeiro estudo, de injeção de falhas por radiação. Também verificou-se que os registradores de controle dos periféricos são mais importantes no nível de aplicação do que os dados da memória SRAM. Considerações sobre a auto injeção de falhas e auto monitoramento sugerem que a utilização desses conceitos pode trazer diversas limitações e complicadores aos testes. / The present thesis addresses the soft errors in analog-to-digital data converters and mitigation of such errors using redundancy and diversity. In modern CMOS technologies, the Single Event Effects (SEEs) comprises an important group of space radiation effects that influence the reliability and availability of the systems. Soft errors are SEEs that do not directly damage the system and that can be further corrected. Their main subgroups are the Single Event Upset (SEU), the Single Event Transient (SET) and the Single Event Functional Interrupt (SEFI). One of the system level techniques broadly used to protect the electronic circuits against these effects is the Triple Modular Redundancy (TMR), which may be improved with the addition of the diversity technique. In this context, this work proposes a scheme based on these two techniques to implement a tolerant analog-to-digital data acquisition system (DAS). The main objectives are to observe the behavior of the data converters under soft errors, and evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity on mitigating these radiation effects. The implementation of this DAS in a Programmable SoC (System-on-Chip) from Cypress Semiconductor (PSoC 5LP) manufactured in 130 nm CMOS, allowed the development of two studies. In the first one, an irradiation with neutrons is performed, case of particular interest to electronic equipment embedded on planes. In the second study, runtime software fault injections are performed at the peripheral control registers and SRAM of the studied device. As a result from irradiation on the first study no errors were found, what does not allowed meet the objectives of this test. This situation allow two main observations: first, the neutron flux of the experiment is a key feature that influences the ability to observe the radiation effects, mainly when the cross section of the circuit in analysis is low; and second, the probability of occurring SETs masking in combinational and analog circuits is high, which contributes significantly to reduce the sensibility of these circuits. To evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity then was performed a theoretical investigation based on combinatorial analysis, and the results show that the addition of temporal diversity generates a significant gain in tolerating double and multiple faults, if compared to the classical TMR, at the price of an increase in the circuit delay. The results of the second study, performed by runtime software fault injections at the peripheral control registers and SRAM, showed that only a low percentage of injected faults is detected as errors, according to the justification that no errors were found on irradiation of neutrons due to masking. Also was verified that at the application level the peripheral control registers are more important than the data stored in the SRAM memory. Considerations for faults self-injection and self-monitoring were done, suggesting that the use of these concepts may bring numerous limitations to the test.

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior / This work presents a design methodology and analysis of electronic circuits applied to outdoor lighting systems using light emitting diodes (LEDs). The goal of topologies developed here is to supply the LEDs from the mains, with high power factor, and from batteries when it is needed. Thus, some topologies employing integrated DC-DC converters and single stage converters are proposed and analyzed. The main application of these topologies is street lighting systems without energy consumption from the mains during the Peak Load Time, feeding the circuit by batteries. Moreover, the batteries can keep the system working during a possible fault in the main power supply, operating as an emergency lighting system. These applications are justified by the reduction in energy demand from the electric power system and by the increase in the lighting system reliability. Throughout the work, the main characteristics of the LED and batteries applied in lighting systems are presented, as well as the specification of the luminaire and the battery bank employed. The design methodology proposed for each topology aims to help the converter design intended for better utilization of semiconductors and reduce the value of the bus capacitor. A critical analysis of the converters is performed in order to evaluate the efficiency of the circuits, the power factor, the voltage and current characteristics of the main devices, and compliance with the IEC 61000-3-2 Class C standard that limits the harmonic content of the input current. Finally, electronic circuits are proposed for the management and control of the lighting system. / Este trabalho apresenta uma metodologia de projeto e análise de circuitos eletrônicos aplicados à iluminação de exteriores empregando diodos emissores de luz (LEDs). O objetivo das topologias desenvolvidas neste trabalho é proporcionar aos LEDs uma alimentação adequada através da rede elétrica, com alto fator de potência, e através de baterias quando necessário. Para isso, são propostas e analisadas algumas topologias empregando conversores CC-CC integrados e de estágio único. Estas topologias têm como principal aplicação sistemas de iluminação pública sem consumo de energia a partir da rede elétrica durante o Horário de Ponta, alimentando o circuito por baterias. Além disso, as baterias podem manter o funcionamento do sistema durante uma possível falha no fornecimento de energia pela rede elétrica, operando como um sistema de iluminação de emergência. Estas aplicações são justificadas pela redução da demanda de energia do sistema elétrico de potência durante horários críticos e aumento da confiabilidade do sistema de iluminação pública. Ao longo do trabalho, as principais características do LED e de baterias aplicadas em sistemas de iluminação são abordadas, juntamente com a especificação da luminária e do banco de baterias empregados. A metodologia de projeto proposta para cada topologia desenvolvida tem por objetivo auxiliar o projeto do conversor visando melhor aproveitamento dos semicondutores e redução do valor do capacitor de barramento. A análise crítica dos conversores é realizada com o objetivo de avaliar a eficiência dos circuitos, o fator de potência, características de tensão e de corrente nos principais componentes e o atendimento à norma IEC 61000-3-2 Classe C que limita o conteúdo harmônico da corrente de entrada. Por fim, são propostos circuitos eletrônicos para o gerenciamento e controle do sistema de iluminação.