Thesis (Ph. D.)--Eindhoven University of Technology. / Includes bibliographical references (p. 134-137) and index.

Dans le cadre de cette thèse nous avons étudie l'implantation des algorithmes de l'arithmétique en ligne. En particulier, la réalisation de deux circuits destines aux applications exigeant une précision infinie est exposée. En effet, dans de nombreux domaines tels que la génération de nombres aléatoires, cryptographie, calcul formel, arithmétique exacte, réduction de fraction en précision infinie, calcul modulaire, traitement d'images..., les opérateurs classiques manquent d'efficacité. Face a ce type de problèmes, un remède peut être apporte par le calcul en ligne selon lequel les calculs sont faits en introduisant les opérandes en série chiffre a chiffre en notation redondante. Nous obtenons ainsi un haut degré de parallélisme et une précision variable linéairement. Le premier circuit présenté implante un algorithme de pgcd nomme Euclide offrant, d'après les simulations, le meilleur compromis cout matériel/performance. Il donne également les coefficients de Bezout. Ce circuit est appelé a résoudre les problèmes lies au temps de calcul du pgcd par les méthodes classiques rencontrées dans beaucoup d'applications. Une deuxième application montre la possibilité de fusionner des opérateurs en ligne afin d'obtenir un opérateur complexe. L'exemple traite dans cette thèse est celui de la distance euclidienne: z=x#2+y#2 utilisée, entre autres, pour la resolution du moindre carre des systèmes linéaires

Des études récentes montrent que le modèle de collage logique ne convient pas pour représenter les défauts réels qui peuvent survenir dans les circuits intégrés. C'est pourquoi on recherche des méthodes de test basées sur des hypothèses de pannes analytiques. Problème de la conception des circuits autotestables vis-a-vis d'hypothèses de pannes analytiques: méthodes et règles générales pour les circuits fonctionnels N-MOS "fortement garantis contre les fautes" ("strongly fault secure": sfs). Nouveaux codes. Classe des contrôleurs " à codes fortement disjoints" (" strongly code disjoint": scd). Application des méthodes à l'étude d'un microprocesseur mc68000 autotestable.

Dans cette étude nous nous intéressons aux contrôleurs utilisés dans des systèmes autotestables, pour le test des sorties, combinatoires ou séquentielles, du bloc fonctionnel. Deux classes de contrôleurs sont abordées: les "Strongly Code Disjoint" (SCD) qui vérifient une propriété combinatoire, et les "Strongly Language Disjoint" (SLD), où la propriété vérifiée est séquentielle. Pour la première, nous examinons la conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celles-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir dans les systèmes aussi bien que dans quelques structures spécifiques de contrôleurs. Les contróleurs "Strongly Language Disjoint" définis ici component la plus large classe qui, associèe à des circuits "sequentially self-checking", permet au système d'atteindre le "TSC goal" sous certaines hypothèses de pannes. Its conservent la propriété "language-disjoint" même en présence de fautes. Des propositions pour la conception de ces contrôleurs sont également données -nous vérifions la possibilité de les construire à partir de blocs combinatoires. Toutes les considárations pratiques sont basáes sur des hypothèses de pannes analytiques.

Dans cette étude nous nous intéressons aux contrôleurs utilisés dans des systèmes autotestables, pour le test des sorties, combinatoires ou séquentielles, du bloc fonctionnel. Deux classes de contrôleurs sont abordées: les "Strongly Code Disjoint" (SCD) qui vérifient une propriété combinatoire, et les "Strongly Language Disjoint" (SLD), où la propriété vérifiée est séquentielle. Pour la première, nous examinons la conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celles-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir dans les systèmes aussi bien que dans quelques structures spécifiques de contrôleurs. Les contróleurs "Strongly Language Disjoint" définis ici component la plus large classe qui, associèe à des circuits "sequentially self-checking", permet au système d'atteindre le "TSC goal" sous certaines hypothèses de pannes. Its conservent la propriété "language-disjoint" même en présence de fautes. Des propositions pour la conception de ces contrôleurs sont également données -nous vérifions la possibilité de les construire à partir de blocs combinatoires. Toutes les considárations pratiques sont basáes sur des hypothèses de pannes analytiques.

Dans cette étude nous nous intéressons aux contrôleurs utilisés dans des systèmes autotestables, pour le test des sorties, combinatoires ou séquentielles, du bloc fonctionnel. Deux classes de contrôleurs sont abordées: les "Strongly Code Disjoint" (SCD) qui vérifient une propriété combinatoire, et les "Strongly Language Disjoint" (SLD), où la propriété vérifiée est séquentielle. Pour la première, nous examinons la conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celles-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir dans les systèmes aussi bien que dans quelques structures spécifiques de contrôleurs. Les contróleurs "Strongly Language Disjoint" définis ici component la plus large classe qui, associèe à des circuits "sequentially self-checking", permet au système d'atteindre le "TSC goal" sous certaines hypothèses de pannes. Its conservent la propriété "language-disjoint" même en présence de fautes. Des propositions pour la conception de ces contrôleurs sont également données -nous vérifions la possibilité de les construire à partir de blocs combinatoires. Toutes les considárations pratiques sont basáes sur des hypothèses de pannes analytiques.