L'industrie des semi-conducteurs continue ses progrès impressionnants dans la miniaturisation des circuits intégrés VLSI. Les concepteurs ont inventé des méthodes permettant d'exploiter la complexité croissante des circuits intégrés à haute densité d'intégration. L'une d'elles consiste à concevoir des systèmes embarqués sur puce (SoC) à l'aide de blocs pré-existants et déjà validés (appelés IP, comme Intellectual Property), qu'ils aient été élaborés en interne à l'entreprise réalisant l'intégration du SoC ou issus d'une tierce partie. Disposer d'une bibliothèque de blocs IP paramétrés selon leurs performances en temps, surface et consommation est une clef pour optimiser le système intégré vis-à-vis de l'application ciblée. S'il existe un flot standard bien établi pour concevoir les blocs intégrés numériques, reposant sur une méthode de conception descendante, la conception de circuits analogiques reste toujours une opération sur mesure. Alors que les systèmes intégrés sur puce sont souvent mixtes analogique-numérique, les méthodes de conception diffèrent complètement entre les deux mondes. Dans cette thèse, nous proposons une méthode pour automatiser le dimensionnement et la polarisation d'un circuit analogique dans le cas général, conduisant ainsi à une définition possible d'un IP analogique. Cette méthode permet de générer automatiquement une procédure pour calculer les dimensions d'une topologie électrique connue et son point de fonctionnement en se fondant sur l'expression de la connaissance du concepteur. Cette méthode permet de détecter des hypothèses conflictuelles émises par le concepteur et de traiter les cycles résultant des boucles de contre-réaction. Plusieurs circuits analogiques sont présentés pour illustrer la généralité et la précision de cette approche.

Ce manuscrit présente l'intégration conjointe d'un banc de mesure de bruit de phase et de résonateurs BAW sur lesquels doit s'effectuer la mesure. Une tendance actuelle vise à intégrer à côté de systèmes plus ou moins complexes, des circuits permettant d'en faciliter les tests. L'intégration du banc de mesure de bruit de phase permet de nous affranchir des contraintes provenant de la mesure externe sous pointes et du coût élevé associé. L'intégration simultanée des circuits de tests avec les systèmes à mesurer, permet également d'exploiter pleinement les possibilités d'appariement de composants disponibles sur un même substrat. Ce type de mesure On-Chip simplifie considérablement la procédure de test, en minimisant l'utilisation de matériel de mesure externe encombrant et de coût élevé. Elle évite aussi les dispersions inhérentes à l'utilisation de composants discrets externes, offrant la possibilité de suivre facilement l'évolution des caractéristiques du système, soit dans le temps, soit après divers types de dégradations. Cette mesure intégrée conduit naturellement à la conception de circuits autotestables, et donc autoreconfigurables. Notre travail de thèse a consisté à définir l'architecture, ainsi que le dimensionnement des différents éléments du banc de mesure, en fonction de la précision de mesure souhaitée. Nous avons montrer qu'un système d'instrumentation performant peut s'intégrer dans une technologie SiGe standard.