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Activation des dopants implantés dans le carbure de silicium (3C-SiC et 4H-SiC) / Implanted dopants activation in silicon carbide (3C-SiC and 4H-SiC)Song, Xi 13 June 2012 (has links)
Ces travaux de thèse sont consacrés à l’étude de l’activation des dopants implantés dans le carbure de silicium. L’objectif est de proposer des conditions d’implantation optimisées pour réaliser le dopage de type n dans le 3C-SiC et de type p dans le 4H-SiC.Nous avons tout d’abord étudié les implantations de type n dans le 3C-SiC. Pour cela, des implantations de N, de P et une co-implantation N&P avec les recuits d’activation associés ont été étudiés. L’implantation d’azote suivie d’un recuit à 1400°C-30min a permis une activation proche de 100% tout en conservant une bonne qualité cristalline. Une étude sur les propriétés électriques des défauts étendus dans le 3C-SiC a également été réalisée. A l’aide de mesures SSRM, nous avons mis en évidence l’activité électrique de ces défauts, ce qui rend difficile la réalisation de composants électroniques sur le 3C-SiC.Nous avons ensuite réalisé une étude du dopage de type p par implantation d’Al dans le 4H-SiC, en fonction de la température d’implantation et du recuit d’activation. Nous avons pu montrer qu’une implantation à 200°C suivie d’un recuit à 1850°C-30min donne les meilleures résultats en termes de propriétés physiques et électriques. / This work was dedicated to the activation of implanted dopants in 3C-SiC and 4H-SiC. The goal is to propose optimized process conditions for n-type implantation in 3C-SiC and for p-type in 4H-SiC.We have first studied the n-type implantation in 3C-SiC. To do so, N, P implantations, N&P co-implantation and the associated annealings were performed. The nitrogen implanted sample, annealed at 1400°C-30 min evidences a dopant activation rate close to 100% while maintaining a good crystal quality. Furthermore, the electrical properties of extended defects in 3C-SiC have been studied. Using the SSRM measurements, we have evidenced for the first time that these defects have a very high electrical activity and as a consequence on future devices.Then, we have realized a study on p-type doping by Al implantation in 4H-SiC with different implantation and annealing temperatures. Al implantation at 200°C followed by an annealing at 1850°C-30min lead to the best results in terms of physical and electrical properties.
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Die Rolle des Sauerstoffanteils in Titandioxid bei Tantal-Dotierung zur Verwendung als transparentes leitfähiges OxidNeubert, Marcel 29 February 2016 (has links) (PDF)
Im Fokus der vorliegenden Arbeit lag die Untersuchung polykristalliner TiO2:Ta-Schichten, hergestellt mittels Gleichstrom-Magnetron-Sputtern durch Verwendung reduzierter keramischer Targets und anschließender thermischer Nachbehandlung im Vakuum der zunächst nichtleitfähigen amorphen Precursorschichten. Es wurden die physikalischen Zusammenhänge, welche die strukturellen, elektrischen und optischen Eigenschaften der kristallinen TiO2:Ta-Schichten beeinflussen analysiert und dabei eine empfindliche Abhängigkeit vom Sauerstofffluss während der Abscheidung festgestellt. Es zeigte sich, dass die Verringerung der kinetischen Energie der Plasmateilchen beim Magnetron-Sputtern durch die Erhöhung des Gesamtdruckes vorteilhaft ist, um das Wachstum des gegenüber Rutil besser leitfähigen Anatas in Verbindung mit dem für niedrige Widerstände notwendigen Sauerstoffdefizit zu realisieren.
Bei einem Gesamtdruck von 2 Pa abgeschiedene polykristalline TiO2:Ta-Schichten haben einen spezifischen Widerstand von 1,5·10-3 Ωcm, eine hohe Ladungsträgermobilität (≈8 cm2V-1s-1) und einen geringen Extinktionskoeffizienten von 0,006.
Die Abhängigkeit des elektrischen Widerstandes vom Sauerstoffdefizit in der TiO2:Ta-Schicht wurde unter dem Gesichtspunkt der Ladungsträgeraktivierung sowie der Bildung von Ti-Fehlstellen diskutiert, welche vermutlich zur Kompensation und Lokalisierung von freien Elektronen beitragen.
Darüber hinaus wurde zur effizienteren Gestaltung der thermischen Nachbehandlung die konventionelle Vakuumtemperung erstmalig erfolgreich durch die Blitzlampentemperung ersetzt. / The work is focused on understanding the physical processes responsible for the modification of the structural, electrical and optical properties of polycrystalline TiO2:Ta films formed by vacuum annealing of initially not conductive amorphous films deposited by direct current magnetron sputtering. It is shown that the oxygen deficiency of amorphous and annealed TiO2:Ta films, respectively, is critical to achieve low resistivity and high optical transmittance of the crystalline films. Increasing the total pressure during magnetron sputter deposition is shown to be beneficial to achieve the desired oxygen deficient anatase growth, which is discussed in terms of energetic particle bombardment.
Polycrystalline anatase TiO2:Ta films of low electrical resistivity (1,5·10-3 Ωcm), high free electron mobility (≈8 cm2V-1s-1), and low extinction (0,006) are obtained in this way at a total pressure of 2 Pa. The dependence of the polycrystalline film electrical properties on the oxygen content is discussed in terms of Ta dopant electrical activation as well as transport limiting processes taking into account the formation of Ti-vacancies.
In addition, the conventional vacuum annealing has been successfully substituted by the flash lamp annealing in the millisecond range.
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Die Rolle des Sauerstoffanteils in Titandioxid bei Tantal-Dotierung zur Verwendung als transparentes leitfähiges OxidNeubert, Marcel 01 February 2016 (has links)
Im Fokus der vorliegenden Arbeit lag die Untersuchung polykristalliner TiO2:Ta-Schichten, hergestellt mittels Gleichstrom-Magnetron-Sputtern durch Verwendung reduzierter keramischer Targets und anschließender thermischer Nachbehandlung im Vakuum der zunächst nichtleitfähigen amorphen Precursorschichten. Es wurden die physikalischen Zusammenhänge, welche die strukturellen, elektrischen und optischen Eigenschaften der kristallinen TiO2:Ta-Schichten beeinflussen analysiert und dabei eine empfindliche Abhängigkeit vom Sauerstofffluss während der Abscheidung festgestellt. Es zeigte sich, dass die Verringerung der kinetischen Energie der Plasmateilchen beim Magnetron-Sputtern durch die Erhöhung des Gesamtdruckes vorteilhaft ist, um das Wachstum des gegenüber Rutil besser leitfähigen Anatas in Verbindung mit dem für niedrige Widerstände notwendigen Sauerstoffdefizit zu realisieren.
Bei einem Gesamtdruck von 2 Pa abgeschiedene polykristalline TiO2:Ta-Schichten haben einen spezifischen Widerstand von 1,5·10-3 Ωcm, eine hohe Ladungsträgermobilität (≈8 cm2V-1s-1) und einen geringen Extinktionskoeffizienten von 0,006.
Die Abhängigkeit des elektrischen Widerstandes vom Sauerstoffdefizit in der TiO2:Ta-Schicht wurde unter dem Gesichtspunkt der Ladungsträgeraktivierung sowie der Bildung von Ti-Fehlstellen diskutiert, welche vermutlich zur Kompensation und Lokalisierung von freien Elektronen beitragen.
Darüber hinaus wurde zur effizienteren Gestaltung der thermischen Nachbehandlung die konventionelle Vakuumtemperung erstmalig erfolgreich durch die Blitzlampentemperung ersetzt.:1 Einleitung
2 Grundlagen
2.1 Elektrische Leitfähigkeit
2.2 Dielektrische Funktion und optische Eigenschaften
2.3 Transparente leitfähige Oxide
2.3.1 Elektrische Eigenschaften
2.3.2 Optische Eigenschaften
2.4 Titandioxid
2.4.1 Eigenschaften und Herstellung
2.4.2 Transparentes leitfähiges Anatas
3 Experimentelle Methoden
3.1 Grundlagen der Schichtabscheidung mittels Magnetron-Sputtern
3.1.1 Wechselwirkungsprozesse im Magnetronplasma
3.1.2 Kinetik der Teilchen im Plasma
3.1.3 Schichtbildung
3.1.4 Teilreaktive Abscheidung von TiO2
3.2 Versuchsaufbau und Durchführung
3.2.1 Magnetronsputteranlage
3.2.2 Durchführung der Beschichtung
3.3 Thermische Nachbehandlung
3.3.1 Ultra-Kurzzeittemperung kleiner 20 ms mittels Blitzlampen
4 Charakterisierungsmethoden
4.1 Schichtzusammensetzung und -struktur
4.1.1 Rutherford-Rückstreu-Spektrometrie
4.1.2 Röntgenbeugung
4.1.3 Transmissionselektronenmikroskopie
4.1.4 Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie
4.1.5 Positronen-Annihilations-Spektroskopie
4.2 Elektrische Eigenschaften
4.2.1 Hall-Messung
4.2.2 4-Spitzen-Methode
4.3 Optische Eigenschaften
4.3.1 Spektrale Photometrie
4.3.2 Spektrale Ellipsometrie
4.3.3 Modellanalyse
5 Ergebnisse/Diskussion
5.1 Synthese von Sauerstoff-verarmtem Anatas
5.1.1 Abscheidung des amorphen Precursormaterials
5.1.2 Thermisch induzierte Kristallisation mittels Ofentemperung
5.1.3 Diskussion
5.1.4 Schlussfolgerungen
5.2 Elektrische Eigenschaften TiO2-basierter TCO
5.2.1 Ladungsträgeraktivierung und elektrischer Transport
5.2.2 Einschub zur Morphologie der Anatasschichten
5.2.3 Diskussion
5.2.4 Schlussfolgerungen
5.3 Optische Eigenschaften TiO2-basierter TCO
5.3.1 Einfluss des Temperprozesses
5.3.2 Bestimmung der dielektrischen Funktion und optischer Materialeigenschaften mittels Modellanalyse
5.3.3 Abhängigkeit der optischen Eigenschaften von der Ladungsträgerdichte
5.3.4 Diskussion
5.3.5 Schlussfolgerungen
5.4 Ultra-Kurzzeit-Kristallisation mittels Blitzlampen
5.4.1 Korrelation zwischen Abscheidungs - und FLA-Prozess
5.4.2 Einschub zur Kristallisationskinetik
5.4.3 Morphologie
5.4.4 Optoelektronische Eigenschaften
5.4.5 Diskussion
5.4.6 Schlussfolgerungen
6 Zusammenfassung & Ausblick / The work is focused on understanding the physical processes responsible for the modification of the structural, electrical and optical properties of polycrystalline TiO2:Ta films formed by vacuum annealing of initially not conductive amorphous films deposited by direct current magnetron sputtering. It is shown that the oxygen deficiency of amorphous and annealed TiO2:Ta films, respectively, is critical to achieve low resistivity and high optical transmittance of the crystalline films. Increasing the total pressure during magnetron sputter deposition is shown to be beneficial to achieve the desired oxygen deficient anatase growth, which is discussed in terms of energetic particle bombardment.
Polycrystalline anatase TiO2:Ta films of low electrical resistivity (1,5·10-3 Ωcm), high free electron mobility (≈8 cm2V-1s-1), and low extinction (0,006) are obtained in this way at a total pressure of 2 Pa. The dependence of the polycrystalline film electrical properties on the oxygen content is discussed in terms of Ta dopant electrical activation as well as transport limiting processes taking into account the formation of Ti-vacancies.
In addition, the conventional vacuum annealing has been successfully substituted by the flash lamp annealing in the millisecond range.:1 Einleitung
2 Grundlagen
2.1 Elektrische Leitfähigkeit
2.2 Dielektrische Funktion und optische Eigenschaften
2.3 Transparente leitfähige Oxide
2.3.1 Elektrische Eigenschaften
2.3.2 Optische Eigenschaften
2.4 Titandioxid
2.4.1 Eigenschaften und Herstellung
2.4.2 Transparentes leitfähiges Anatas
3 Experimentelle Methoden
3.1 Grundlagen der Schichtabscheidung mittels Magnetron-Sputtern
3.1.1 Wechselwirkungsprozesse im Magnetronplasma
3.1.2 Kinetik der Teilchen im Plasma
3.1.3 Schichtbildung
3.1.4 Teilreaktive Abscheidung von TiO2
3.2 Versuchsaufbau und Durchführung
3.2.1 Magnetronsputteranlage
3.2.2 Durchführung der Beschichtung
3.3 Thermische Nachbehandlung
3.3.1 Ultra-Kurzzeittemperung kleiner 20 ms mittels Blitzlampen
4 Charakterisierungsmethoden
4.1 Schichtzusammensetzung und -struktur
4.1.1 Rutherford-Rückstreu-Spektrometrie
4.1.2 Röntgenbeugung
4.1.3 Transmissionselektronenmikroskopie
4.1.4 Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie
4.1.5 Positronen-Annihilations-Spektroskopie
4.2 Elektrische Eigenschaften
4.2.1 Hall-Messung
4.2.2 4-Spitzen-Methode
4.3 Optische Eigenschaften
4.3.1 Spektrale Photometrie
4.3.2 Spektrale Ellipsometrie
4.3.3 Modellanalyse
5 Ergebnisse/Diskussion
5.1 Synthese von Sauerstoff-verarmtem Anatas
5.1.1 Abscheidung des amorphen Precursormaterials
5.1.2 Thermisch induzierte Kristallisation mittels Ofentemperung
5.1.3 Diskussion
5.1.4 Schlussfolgerungen
5.2 Elektrische Eigenschaften TiO2-basierter TCO
5.2.1 Ladungsträgeraktivierung und elektrischer Transport
5.2.2 Einschub zur Morphologie der Anatasschichten
5.2.3 Diskussion
5.2.4 Schlussfolgerungen
5.3 Optische Eigenschaften TiO2-basierter TCO
5.3.1 Einfluss des Temperprozesses
5.3.2 Bestimmung der dielektrischen Funktion und optischer Materialeigenschaften mittels Modellanalyse
5.3.3 Abhängigkeit der optischen Eigenschaften von der Ladungsträgerdichte
5.3.4 Diskussion
5.3.5 Schlussfolgerungen
5.4 Ultra-Kurzzeit-Kristallisation mittels Blitzlampen
5.4.1 Korrelation zwischen Abscheidungs - und FLA-Prozess
5.4.2 Einschub zur Kristallisationskinetik
5.4.3 Morphologie
5.4.4 Optoelektronische Eigenschaften
5.4.5 Diskussion
5.4.6 Schlussfolgerungen
6 Zusammenfassung & Ausblick
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