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Caracteriza??o de estruturas planares com substratos Iso/Anisotr?picos truncados atrav?s da t?cnica da resson?ncia transversa modificada

Carvalho, Joabson Nogueira de 19 December 2005 (has links)
Made available in DSpace on 2014-12-17T14:55:00Z (GMT). No. of bitstreams: 1 JoabsonNC.pdf: 1023745 bytes, checksum: 5c279305bf7356a4d77b64ca8e0c6261 (MD5) Previous issue date: 2005-12-19 / This work presents a theoretical and numerical analysis using the transverse resonance technique (TRT) and a proposed MTRT applied in the analysis of the dispersive characteristics of microstrip lines built on truncated isotropic and anisotropic dielectric substrates. The TRT uses the transmission lines model in the transversal section of the structure, allowing to analyze its dispersive behavior. The difference between TRT and MTRT consists basically of the resonance direction. While in the TRT the resonance is calculated in the same direction of the metallic strip normal axis, the MTRT considers the resonance in the metallic strip parallel plane. Although the application of the MTRT results in a more complex equivalent circuit, its use allows some added characterization, like longitudinal section electric mode (LSE) and longitudinal section magnetic mode (LSM), microstrips with truncated substrate, or structures with different dielectric regions. A computer program using TRT and MTRT proposed in this work is implemented for the characterization of microstrips on truncated isotropic and anisotropic substrates. In this analysis, propagating and evanescent modes are considered. Thus, it is possible to characterize both the dominant and higher order modes of the structure. Numerical results are presented for the effective permittivity, characteristic impedance and relative phase velocity for microstrip lines with different parameters and dimensions of the dielectric substrate. Agreement with the results obtained in the literature are shown, as well as experimental results. In some cases, the convergence analysis is also performed by considering the limiting conditions, like particular cases of isotropic materials or structures with dielectric of infinite size found in the literature. The numerical convergence of the formulation is also analyzed. Finally, conclusions and suggestions for the continuity of this work are presented / Este trabalho apresenta os fundamentos te?ricos da t?cnica da resson?ncia transversa (TRT) e da t?cnica da resson?ncia transversa modificada (MTRT) aplicada na an?lise das caracter?sticas dispersivas de uma microfita considerando substratos diel?tricos isotr?picos e anisotr?picos truncados. A TRT utiliza o modelo da linha de transmiss?o na se??o transversal da estrutura, permitindo analisar o seu comportamento dispersivo. A diferen?a entre a TRT e MTRT consiste basicamente na dire??o da resson?ncia. Enquanto na TRT a resson?ncia ? calculada ao longo do eixo normal ? fita met?lica, a MTRT considera a resson?ncia no plano paralelo ? fita met?lica. Embora a aplica??o da MTRT resulte num circuito equivalente mais complexo, sua utiliza??o permite a caracteriza??o mais precisa, incluindo modo el?trico de se??o longitudinal (LSE) e modo magn?tico de se??o longitudinal (LSM), microfitas com substrato truncado, ou estruturas planares com multiplas regi?es diel?tricas. Um programa computacional utilizando a TRT e MTRT ? discutido e desenvolvido para caracteriza??o de microfitas sobre substratos isotr?picos e anisotr?picos truncados. Na an?lise, consideram-se modos propagantes e evanescentes. Assim, ? poss?vel caracterizar n?o somente o modo fundamental, mas tamb?m os modos de ordem superior da estrutura. S?o apresentados resultados num?ricos para as diversas grandezas, ou seja, permissividade efetiva, imped?ncia caracter?stica e velocidade de fase relativa para microfita com diferentes par?metros e dimens?es do substrato. S?o feitas compara??es com outros resultados dispon?veis na literatura e, tamb?m, com resultados determinados experimentalmente. Em alguns casos, os resultados s?o comparados como casos particulares de materiais isotr?picos ou de estruturas com diel?tricos de tamanho infinito encontradas na literatura, tendo sido observada uma excelente concord?ncia. Apresenta-se, ainda, um estudo de converg?ncia da formula??o proposta e, finalmente, conclus?es e sugest?es para continuidade do trabalho
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[en] USING PLANAR STRUCTURES EXTRACTED FROM RGB-D IMAGES IN AUGMENTED REALITY APPLICATIONS / [pt] USO DE ESTRUTURAS PLANARES EXTRAÍDAS DE IMAGENS RGB-D EM APLICAÇÕES DE REALIDADE AUMENTADA

DJALMA LUCIO SOARES DA SILVA 11 January 2017 (has links)
[pt] Esta dissertação investiga o uso das estruturas planares extraídas de imagens RGB-Dem aplicações de Realidade Aumentada. Ter o modelo da cena é fundamental para as aplicações de realidade aumentada. O uso de imagens RGB-D auxilia bastante o processo da construção destes modelos, pois elas fornecem a geometria e os aspectos fotométricos da cena. Devido a grande parte das aplicações de realidade aumentada utilizarem superfícies planares como sua principal componente para projeção de objetos virtuais, é fundamental ter um método robusto e eficaz para obter e representar as estruturas que constituem estas superfícies planares. Neste trabalho, apresentaremos um método para identificar, segmentar e representar estruturas planares a partir de imagens RGB-D. Nossa representação das estruturas planares são polígonos bidimensionais triangulados, simplificados e texturizados, que estão no sistema de coordenadas do plano, onde os pontos destes polígonos definem as regiões deste plano. Demonstramos através de diversos experimentos e da implementação de uma aplicação de realidade aumentada, as técnicas e métodos utilizados para extrair as estruturas planares a partir das imagens RGB-D. / [en] This dissertation investigates the use of planar geometric structures extracted from RGB-D images in Augmented Reality Applications. The model of a scene is essential for augmented reality applications. RGB-D images can greatly help the construction of these models because they provide geometric and photometric information about the scene. Planar structures are prevalent in many 3D scenes and, for this reason, augmented reality applications use planar surfaces as one of the main components for projection of virtual objects. Therefore, it is extremely important to have robust and efficient methods to acquire and represent the structures that compose these planar surfaces. In this work, we will present a method for identifying, targeting and representing planar structures from RGB-D images. Our planar structures representation is triangulated two-dimensional polygons, simplified and textured, forming a triangle mesh intrinsic to the plane that defines regions in this space corresponding to surface of objects in the 3D scene. We have demonstrated through various experiments and implementation of an augmented reality application, the techniques and methods used to extract the planar structures from the RGB-D images.
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Obten??o dos par?metros-x de estruturas planares

Nascimento, Pedro Ivo de Araujo do 11 December 2012 (has links)
Made available in DSpace on 2014-12-17T14:56:12Z (GMT). No. of bitstreams: 1 PedroIAN_DISSERT.pdf: 1986241 bytes, checksum: 386b7b9f50f9765c6f2575f4e58ea4e5 (MD5) Previous issue date: 2012-12-11 / Conselho Nacional de Desenvolvimento Cient?fico e Tecnol?gico / Due to major progress of communication system in the last decades, need for more precise characterization of used components. The S-parameters modeling has been used to characterization, simulation and test of communication system. However, limitation of S-parameters to model nonlinear system has created new modeling systems that include the nonlinear characteristics. The polyharmonic distortion modeling is a characterizationg technique for nonlinear systems that has been growing up due to praticity and similarity with S-parameters. This work presents analysis the polyharmonic distortion modeling, the test bench development for simulation of planar structure and planar structure characterization with X-parameters / O grande desenvolvimento dos sistemas de comunica??o nas ?ltimas d?cadas trouxe a necessidade de uma caracteriza??o cada vez mais precisa dos componentes utilizados. A modelagem por meio de par?metros-S ? utilizada para caracteriza??o, simula??o e testes de sistemas de comunica??o desde meados dos anos 60. Contudo a limita??o dos par?metros-S para sistemas lineares fez crescer a necessidade por novos tipos de parametriza??es que incluam as caracter?sticas de sistemas n?o lineares. A modelagem por distor??o poli-harm?nica ? uma t?cnica de caracteriza??o aplicada a sistemas n?o lineares que vem ganhando espa?o na literatura por sua praticidade e semelhan?a conceitual com os par?metros-S. Este trabalho apresentar? uma an?lise da modelagem por distor??o harm?nica, o desenvolvimento de um banco de testes para simula??o de estruturas planares e a caracteriza??o destas estruturas por meio de par?metros-X. Com isso pretende-se analisar a utiliza??o, precis?o e efici?ncia da modelagem por distor??o poli-harm?nica para estruturas planares

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