Les circuits cryptographiques peuvent etre victimes d'attaques en fautes visant leur implementation materielle. elles consistent a creer des fautes intentionnelles lors des calculs cryptographiques afin d'en deduire des informations confidentielles. dans le contexte de la caracterisation securitaire des circuits, nous avons ete amenes a nous interroger sur la faisabilite experimentale de certains modeles theoriques d'attaques. nous avons utilise un banc laser comme moyen d'injection de fautes.dans un premier temps, nous avons effectue des attaques en fautes dfa par laser sur un microcontroleur implementant un algorithme de cryptographie aes. nous avons reussi a exclure l'effet logique des fautes ne correspondants pas aux modeles d'attaque par un jeu precis sur l'instant et le lieu d'injection. en outre, nous avons identifie de nouvelles attaques dfa plus elargies.ensuite, nous avons etendu nos recherches a la decouverte et la mise en place de nouveaux modeles d'attaques en fautes. grace a la precision obtenue lors de nos premiers travaux, nous avons developpe ces nouvelles attaques de modification de rondes.en conclusion, les travaux precedents constituent un avertissement sur la faisabilite averee des attaques par laser decrites dans la litterature scientifique. nos essais ont temoigne de la faisabilite toujours actuelle de la mise en place des attaques mono-octets ou mono-bits avec un faisceau de laser qui rencontre plusieurs octets ; et egalement reveler de nouvelles possibilites d'attaque. cela nous a amenes a etudier des contre-mesures adaptees.

De nombreuses applications comme les cartes bancaires manipulent des données confidentielles. A ce titre, les circuits microélectroniques qui les composent, font de plus en plus l'objet d'attaques représentant des menaces pour la sécurité. De plus, un grand nombre des circuits électroniques portables et fonctionnant sur batterie demandent que la consommation électrique soit toujours plus réduite. Les concepteurs de circuit doivent donc proposer des solutions sécurisées, tout en limitant la consommation.Ce travail présente l'évaluation sécuritaire et la conception de contre-mesures pour des architectures à triple-caisson dédiées à la réduction de la consommation. Ces recherches, liées au contexte, se sont focalisées sur l'évaluation de cette architecture face à des injections de fautes Laser. Dès le début de ce manuscrit, l’état de l’art de l’injection de fautes est développé, en se focalisant sur les effets physiques d’un faisceau laser. Les architectures à double et triple-caisson sont ensuite analysées dans le but de comparer leur robustesse. Cette démarche permet d’appréhender d’éventuels effets physiques induits par le laser à l’intérieur des caissons de polarisations Nwell, Pwell et des transistors MOS. Suite à cette analyse des phénomènes physiques, des modélisations électriques des portes CMOS ont été développées pour des architectures à double et triple-caisson. De bonnes corrélations ont pu être obtenues entre les mesures et les simulations électriques. Pour conclure, ce travail a permis d'extraire de potentielles règles de conception permettant d’améliorer la robustesse sécuritaire des portes CMOS et de développer des moyens de détections d’attaques lasers. / In many applications such as credit cards, confidential data is used. In this regard, the systems-on-chip used in these applications are often deliberately attacked. This puts the security of our data at a high risk. Furthermore, many SoC devices have become battery-powered and require very low power consumption. In this context, semiconductor manufacturers should propose secured and low-power solutions.This thesis presents a security evaluation and a countermeasures design for a low-power, triple-well architecture dedicated to low-power applications. The security context of this research focuses on a Laser sensitivity evaluation of this architecture.This paper first presents the state of the art of Laser fault injection techniques, focusing on the physical effects induced by a Laser beam. Afterward, we discuss the different dual-and triple-well architectures studied in order to compare their security robustness. Then, a physical study of these architectures as substrate resistor and capacitor modeling highlights their impact on security. This evaluation lets us anticipate the phenomena potentially induced by the Laser inside the biasing well (P-well, N-well) and the MOS transistors.Following the analysis of the physical phenomena resulting from the interaction between the laser and the silicon, electrical modeling of the CMOS gates was developed for dual and triple-well architectures. This enabled us to obtain a good correlation between measurements and electrical simulations.In conclusion, this work enabled us to determine possible design rules for increasing the security robustness of CMOS gates as well as the development of Laser sensors able to detect an attack.

Les circuits cryptographiques peuvent etre victimes d'attaques en fautes visant leur implementation materielle. elles consistent a creer des fautes intentionnelles lors des calculs cryptographiques afin d'en deduire des informations confidentielles. dans le contexte de la caracterisation securitaire des circuits, nous avons ete amenes a nous interroger sur la faisabilite experimentale de certains modeles theoriques d'attaques. nous avons utilise un banc laser comme moyen d'injection de fautes.dans un premier temps, nous avons effectue des attaques en fautes dfa par laser sur un microcontroleur implementant un algorithme de cryptographie aes. nous avons reussi a exclure l'effet logique des fautes ne correspondants pas aux modeles d’attaque par un jeu precis sur l'instant et le lieu d'injection. en outre, nous avons identifie de nouvelles attaques dfa plus elargies.ensuite, nous avons etendu nos recherches a la decouverte et la mise en place de nouveaux modeles d'attaques en fautes. grace a la precision obtenue lors de nos premiers travaux, nous avons developpe ces nouvelles attaques de modification de rondes.en conclusion, les travaux precedents constituent un avertissement sur la faisabilite averee des attaques par laser decrites dans la litterature scientifique. nos essais ont temoigne de la faisabilite toujours actuelle de la mise en place des attaques mono-octets ou mono-bits avec un faisceau de laser qui rencontre plusieurs octets ; et egalement reveler de nouvelles possibilites d’attaque. cela nous a amenes a etudier des contre-mesures adaptees. / Cryptographic circuits may be victims of fault attacks on their hardware implementations. fault attacks consist of creating intentional faults during cryptographic calculations in order to infer secrets. in the context of security characterization of circuits, we have examined practical feasibility of some theoretical models of fault attacks. we used a laser bench as a means of the fault injection.at the beginning, we performed laser fault injections on a microcontroller implementing an aes cryptographic algorithm. we succeeded to exclude the logical effect of mismatched faults by temporal and spatial accuracy in fault injection. moreover, we identified extended new dfa attacks.then, we extended our research to identify and to implement new fault attack models. with the precision obtained in our earlier work, we developed new round modification analysis (rma) attacks.in conclusion, the experiments give a warning for the feasibility of described attacks in the literature by laser. our tests have demonstrated that single-byte or single-bit attacks are still feasible with a laser beam that hits additional bytes on the circuit when the laser emission is accurate and associated with other techniques. they also revealed new attack possibilities. therefore, it conducted us to study of appropriate countermeasures.