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Calibração de acelerômetros / Calibration of accelerometers

Azevedo, José Cláudio Pinto de 24 October 2003 (has links)
Este trabalho apresenta o projeto e desenvolvimento de dois sistemas de calibração de acelerômetros. O primeiro sistema foi desenvolvido a partir de um sistema interferométrico laser Hewlett-Packard (HP 5529A), utilizado como padrão de referência absoluta. Este sistema foi projetado com o propósito de calibrar acelerômetros-padrão de comparação e acelerômetros-padrão de transferência. O segundo sistema de calibração utiliza como padrão de referência acelerômetros-padrão de comparação. Este segundo sistema foi projetado com o objetivo de calibrar acelerômetros de uso corriqueiro. Desta forma, o conjunto formado pelos dois sistemas de calibração podem ser rastreáveis até os padrões primários, nacionais e internacionais. Para cada um dos sistemas de calibração são apresentadas discussões relativas às suas características construtivas, aos testes de operação e às avaliações sobre os desempenhos alcançados. / This work presents the design and development of two accelerometer calibration systems. The first system was developed from a Hewlett-Packard laser interferometric system (HP 5529A), taken as an absolute reference standard. This system was designed to allow calibration of comparison standard accelerometers and transfer standard accelerometers. The second calibration system, which employs comparison standard accelerometers as reference, was designed to calibrate common use accelerometers. Thus, the arrangement of the two calibration systems can be traceable until the primary national and international standards. For each calibration system, a discussion is presented, concerning their constructive characteristics, operation testing and evaluation of accomplished performance.
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Aplicação da técnica interferométrica a laser e do princípio da máxima entropia na análise de injetores de motores diesel.

Celso Argachoy 00 December 2001 (has links)
O trabalho apresenta uma análise experimental da distirbuição do tamanho das gotas do spray, gerado pelos injetores de um motor de combustão interna, através da técnica interferométrica a laser com o equipamento Malvern Mastersizer. Foi utilizado um motor diesel com gerenciamento eletrônico da injeção, do qual se derivou um dos tubos de alta pressão para alimentar o conjunto porta-injetor de teste, montado em uma câmara pressurizada com gás inerte, provida de janelas transparentes. A montagem permite o funcionamento autônomo do motor sobre uma base móvel, montada junto a um pórtico no qual o equipamento Malvern Mastersizer foi instalado, de maneira que a câmara fique posicionada na área de amostragem do equipamento, entre o emissor e o receptor do feixe de laser. Com o motor funcionando em regime de marcha lenta, com pressões de injeção da ordem de 280 . 105 Pa, é acionado o comando de uma das unidades injetoras, que assim promove a injeção na câmara de teste. Simultaneamente é iniciada a medição com o equipamento Malvern, que fornece a distribuição volumétrica contínua do tamanho das gotas. É feita também uma análise teórica do spray dos injetores, através de uma função simples de distribuição do tamanho de gotas derivada da aplicação do Princípio da Máxima Entropia, considerando a normalização da função distribuição de probabilidade e o princípio da conservação de massa. O método experimental mostrou-se satisfatoriamente apropriado para a análise dos injetores. A ferramenta teórica, apesar de não ser diretamente comparável com o método experimental, mostrou-se capaz de definir apenas o pico máximo da distribuição do tamanho de gotas do spray.
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Calibração de acelerômetros / Calibration of accelerometers

José Cláudio Pinto de Azevedo 24 October 2003 (has links)
Este trabalho apresenta o projeto e desenvolvimento de dois sistemas de calibração de acelerômetros. O primeiro sistema foi desenvolvido a partir de um sistema interferométrico laser Hewlett-Packard (HP 5529A), utilizado como padrão de referência absoluta. Este sistema foi projetado com o propósito de calibrar acelerômetros-padrão de comparação e acelerômetros-padrão de transferência. O segundo sistema de calibração utiliza como padrão de referência acelerômetros-padrão de comparação. Este segundo sistema foi projetado com o objetivo de calibrar acelerômetros de uso corriqueiro. Desta forma, o conjunto formado pelos dois sistemas de calibração podem ser rastreáveis até os padrões primários, nacionais e internacionais. Para cada um dos sistemas de calibração são apresentadas discussões relativas às suas características construtivas, aos testes de operação e às avaliações sobre os desempenhos alcançados. / This work presents the design and development of two accelerometer calibration systems. The first system was developed from a Hewlett-Packard laser interferometric system (HP 5529A), taken as an absolute reference standard. This system was designed to allow calibration of comparison standard accelerometers and transfer standard accelerometers. The second calibration system, which employs comparison standard accelerometers as reference, was designed to calibrate common use accelerometers. Thus, the arrangement of the two calibration systems can be traceable until the primary national and international standards. For each calibration system, a discussion is presented, concerning their constructive characteristics, operation testing and evaluation of accomplished performance.
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Análise interferométrica da influência dos suportes de fixação de piezoatuadores ao breadboard : alteração da resposta em frequência para nanodeslocamentos /

Martinez, Guilherme Alves. January 2018 (has links)
Orientador: Cláudio Kitano / Resumo: A manufatura de micro e nano dispositivos vem se tornado um mercado de grande representação na indústria moderna, onde destacam-se a indústria médica, eletrônica e mecatrônica, que necessitam de dispositivos capazes de movimentar ou manipular elementos de dimensões microscópicas, tais como micro-pipetas em cirurgias, posicionamento de máscaras de chips, de amostras em microscópios de força atômica, entre outros. Neste contexto, os atuadores piezoelétricos flextensionais são dispositivos consagrados quanto ao uso na micro e nano manipulação. A solução analítica destes atuadores normalmente é muito complexa ou até mesmo impossível e, diante disso, há a necessidade de efetuar a caracterização experimental do atuador após sua confecção. A interferometria óptica é uma técnica muito precisa de medição de pequenos deslocamentos. O interferômetro volumétrico é normalmente montado sobre uma mesa óptica (breadboard) por meio de estruturas comerciais para montagem de experimentos ópticos. Diante disso, o atuador é fixado ao breadboard por estruturas como postes, deslocadores cinemáticos de translação, rotação e tilt, etc. Dessa forma, neste trabalho, levantou-se a resposta em frequência de um protótipo de atuador piezoelétrico flextensional multi atuado que foi projetado e confeccionado no Departamento de Engenharia Mecatrônica e de Sistemas Mecânicos da Escola Politécica da USP - EPUSP. Utilizou-se um interferômetro de Michelson em óptica volumétrica, e, posteriormente, um interferômet... (Resumo completo, clicar acesso eletrônico abaixo) / Abstract: The manufacture of micro and nano devices has become a market of great prominence in the modern industry, where the medical, electronic and mechatronic industries stand out that need devices capable of repositioning or manipulating elements of microscopic dimensions, such as micro-pipettes in surgeries, positioning of chip masks, adjusting of samples in atomic force microscopes, among others. In this context, flextentional piezoelectric actuators are appropriated devices for use in micro and nano manipulation. The analytical solution of these actuators is usually very complex or even impossible, and there is a need to characterize the actuator after its manufacturing. Optical interferometry is a very precise technique for measuring small displacements and consequently, primissing for the caracterization of these piezoelectric atuators. The bulk interferometer is usually mounted on an optical table (breadboard) by means of commercial precision kinematic optical mounts, such as posts, tilt platformors, translations and rotation stages, and others. In this work, the frequency response of a multi-actuated flextensional piezoelectric actuator prototype, designed and manufactured at the Department of Mechatronics and Mechanical Systems of the Polytechnic School of USP - EPUSP, was investigated. Both, a Michelson interferometer and a double Michelson interferometer were applied for the simultaneousmeasurement of the displacement of the actuator in the X and Y directions. The frequen... (Complete abstract click electronic access below) / Mestre
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Medida de topografia de superfície usando a técnica de deslocamento de fase / Measurement of Surface Topography using the Phase Shift Technique.

Soga, Diogo 08 December 2000 (has links)
Neste trabalho, medimos o perfil 3D de superfícies (microtopografia) utilizando uma técnica de interferometria óptica: Phase-Shi,ftzng (Deslocamento de Fase). Utilizamos um interferômetro do tipo Twyman-Green para produzir fi.guras de interferência da superfície analisada. Essas imagens foram armazenadas usando-se uma câmera CCD ligada à um microcomputador. Para obter a microtopografia, calculamos o Mapa de Fase a partir das imagens digitalizadas usando um programa de microcomputador. Posteriormente um outro programa removeu a ambiguidade da função tangente (unwrapping), pela Técnica do Autômato Celular, usada no cáiculo do Mapa de Fase. Então efetuamos os cálculos para determinar a microtopografia da superfície. Depois fizemos a análise da microtopografia, levantando informações relevantes para a sua caracterização. Analisamos objetos com alta refletividade (espelhos planos e redes de Ronchi) e obtivemos bons resultados. Também comparamos alguns dos resultados obtidos com a técnica de Deslocamento de Fase com os resultados obtidos pela análise de Franjas de Igual Espessura. / In this work we measured the 3D profile of surfaces (microtopography) using a optical interferometric technique: Phase-Shifting. We used a interferometer of type Twyman-Green to produce interferograms from analyzed surface. These images was captured using a CCD camera that was linked to a microcomputer. To obtain a microtopography, we calculated the Phase Map using the digitalized images and a software of microcomputer. Then another program removed the wrapping of tangent fuction, using the Cellular-Automata Technique, that was used to calculate the Phase Map. So we calculated the microtopography of the surface. After we did the analyses of the microtopography, find out some important informations of its description. We studied objects with high reflectivity (plane mirrors and Ronchi ruting) and we obtained good results. Also we compared some results with that obtained by analyses of Fringes of Equal Thickness\'
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Medida de topografia de superfície usando a técnica de deslocamento de fase / Measurement of Surface Topography using the Phase Shift Technique.

Diogo Soga 08 December 2000 (has links)
Neste trabalho, medimos o perfil 3D de superfícies (microtopografia) utilizando uma técnica de interferometria óptica: Phase-Shi,ftzng (Deslocamento de Fase). Utilizamos um interferômetro do tipo Twyman-Green para produzir fi.guras de interferência da superfície analisada. Essas imagens foram armazenadas usando-se uma câmera CCD ligada à um microcomputador. Para obter a microtopografia, calculamos o Mapa de Fase a partir das imagens digitalizadas usando um programa de microcomputador. Posteriormente um outro programa removeu a ambiguidade da função tangente (unwrapping), pela Técnica do Autômato Celular, usada no cáiculo do Mapa de Fase. Então efetuamos os cálculos para determinar a microtopografia da superfície. Depois fizemos a análise da microtopografia, levantando informações relevantes para a sua caracterização. Analisamos objetos com alta refletividade (espelhos planos e redes de Ronchi) e obtivemos bons resultados. Também comparamos alguns dos resultados obtidos com a técnica de Deslocamento de Fase com os resultados obtidos pela análise de Franjas de Igual Espessura. / In this work we measured the 3D profile of surfaces (microtopography) using a optical interferometric technique: Phase-Shifting. We used a interferometer of type Twyman-Green to produce interferograms from analyzed surface. These images was captured using a CCD camera that was linked to a microcomputer. To obtain a microtopography, we calculated the Phase Map using the digitalized images and a software of microcomputer. Then another program removed the wrapping of tangent fuction, using the Cellular-Automata Technique, that was used to calculate the Phase Map. So we calculated the microtopography of the surface. After we did the analyses of the microtopography, find out some important informations of its description. We studied objects with high reflectivity (plane mirrors and Ronchi ruting) and we obtained good results. Also we compared some results with that obtained by analyses of Fringes of Equal Thickness\'

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