[EN] From the first integrated circuit was developed to very large scale integration (VLSI) technology, the hardware of computer systems has had an immense evolution. Moore's Law, which predicts that the number of transistors that can be integrated on a chip doubles every year, has been accomplished for decades thanks to the aggressive reduction of transistors size. This has allowed increasing its frequency, achieving higher performance with lower consumption, but at the expense of a reliability penalty. The number of defects are raising due to variations in the increasingly complex manufacturing process. Intermittent faults, one of the fundamental issues affecting the reliability of current and future digital VLSI circuits technologies, are studied in this thesis. In the past, intermittent faults have been considered the prelude to permanent faults. Nowadays, the occurrence of intermittent faults caused by variations in the manufacturing process not affecting permanently has increased. Errors induced by intermittent and transient faults manifest similarly, although intermittent faults are usually grouped in bursts and they are activated repeatedly and non-deterministically in the same place. In addition, intermittent faults can be activated and deactivated by changes in temperature, voltage and frequency. In this thesis, the effects of intermittent faults in digital systems have been analyzed by using simulation-based fault injection. This methodology allows introducing faults in a controlled manner. After an extensive literature review to understand the physical mechanisms of intermittent faults, new intermittent fault models at gate and register transfer levels have been proposed. These new fault models have been used to analyze the effects of intermittent faults in different microprocessors models, as well as the influence of several parameters. To mitigate these effects, various fault tolerance techniques have been studied in this thesis, in order to determine whether they are suitable to tolerate intermittent faults. Results show that the error detection mechanisms work properly, but the error recovery mechanisms need to be improved. Error correction codes (ECC) is a well-known fault tolerance technique. This thesis proposes a new family of ECCs specially designed to tolerate faults when the fault rate is not equal in all bits in a word, such as in the presence of intermittent faults. As these faults may also present a fault rate variable along time, a fault tolerance mechanism whose behavior adapts to the temporal evolution of error conditions can use the new ECCs proposed. / [ES] Desde la invención del primer circuito integrado hasta la tecnología de muy alta escala de integración (VLSI), el hardware de los sistemas informáticos ha evolucionado enormemente. La Ley de Moore, que vaticina que el número de transistores que se pueden integrar en un chip se duplica cada año, se ha venido cumpliendo durante décadas gracias a la agresiva reducción del tamaño de los transistores. Esto ha permitido aumentar su frecuencia de trabajo, logrando mayores prestaciones con menor consumo, pero a costa de penalizar la confiabilidad, ya que aumentan los defectos producidos por variaciones en el cada vez más complejo proceso de fabricación. En la presente tesis se aborda el estudio de uno de los problemas fundamentales que afectan a la confiabilidad en las actuales y futuras tecnologías de circuitos integrados digitales VLSI: los fallos intermitentes. En el pasado, los fallos intermitentes se consideraban el preludio de fallos permanentes. En la actualidad, ha aumentado la aparición de fallos intermitentes provocados por variaciones en el proceso de fabricación que no afectan permanentemente. Los errores inducidos por fallos intermitentes se manifiestan de forma similar a los provocados por fallos transitorios, salvo que los fallos intermitentes suelen agruparse en ráfagas y se activan repetitivamente y de forma no determinista en el mismo lugar. Además, los fallos intermitentes se pueden activar y desactivar por cambios de temperatura, tensión y frecuencia. En esta tesis se han analizado los efectos de los fallos intermitentes en sistemas digitales utilizando inyección de fallos basada en simulación, que permite introducir fallos en el sistema de forma controlada. Tras un amplio estudio bibliográfico para entender los mecanismos físicos de los fallos intermitentes, se han propuesto nuevos modelos de fallo en los niveles de puerta lógica y de transferencia de registros, que se han utilizado para analizar los efectos de los fallos intermitentes y la influencia de diversos factores. Para mitigar esos efectos, en esta tesis se han estudiado distintas técnicas de tolerancia a fallos, con el objetivo de determinar si son adecuadas para tolerar fallos intermitentes, ya que las técnicas existentes están generalmente diseñadas para tolerar fallos transitorios o permanentes. Los resultados muestran que los mecanismos de detección funcionan adecuadamente, pero hay que mejorar los de recuperación. Una técnica de tolerancia a fallos existente son los códigos correctores de errores (ECC). Esta tesis propone nuevos ECC diseñados para tolerar fallos cuando su tasa no es la misma en todos los bits de una palabra, como en el caso de los fallos intermitentes. Éstos, además, pueden presentar una tasa de fallo variable en el tiempo, por lo que sería necesario un mecanismo de tolerancia a fallos cuyo comportamiento se adapte a la evolución temporal de las condiciones de error, y que utilice los nuevos ECC propuestos. / [CAT] Des de la invenció del primer circuit integrat fins a la tecnologia de molt alta escala d'integració (VLSI), el maquinari dels sistemes informàtics ha evolucionat enormement. La Llei de Moore, que vaticina que el nombre de transistors que es poden integrar en un xip es duplica cada any, s'ha vingut complint durant dècades gràcies a l'agressiva reducció de la mida dels transistors. Això ha permès augmentar la seua freqüència de treball, aconseguint majors prestacions amb menor consum, però a costa de penalitzar la fiabilitat, ja que augmenten els defectes produïts per variacions en el cada vegada més complex procés de fabricació. En la present tesi s'aborda l'estudi d'un dels problemes fonamentals que afecten la fiabilitat en les actuals i futures tecnologies de circuits integrats digitals VLSI: les fallades intermitents. En el passat, les fallades intermitents es consideraven el preludi de fallades permanents. En l'actualitat, ha augmentat l'aparició de fallades intermitents provocades per variacions en el procés de fabricació que no afecten permanentment. Els errors induïts per fallades intermitents es manifesten de forma similar als provocats per fallades transitòries, llevat que les fallades intermitents solen agrupar-se en ràfegues i s'activen repetidament i de forma no determinista en el mateix lloc. A més, les fallades intermitents es poden activar i desactivar per canvis de temperatura, tensió i freqüència. En aquesta tesi s'han analitzat els efectes de les fallades intermitents en sistemes digitals utilitzant injecció de fallades basada en simulació, que permet introduir errors en el sistema de forma controlada. Després d'un ampli estudi bibliogràfic per entendre els mecanismes físics de les fallades intermitents, s'han proposat nous models de fallada en els nivells de porta lògica i de transferència de registres, que s'han utilitzat per analitzar els efectes de les fallades intermitents i la influència de diversos factors. Per mitigar aquests efectes, en aquesta tesi s'han estudiat diferents tècniques de tolerància a fallades, amb l'objectiu de determinar si són adequades per tolerar fallades intermitents, ja que les tècniques existents estan generalment dissenyades per tolerar fallades transitòries o permanents. Els resultats mostren que els mecanismes de detecció funcionen adequadament, però cal millorar els de recuperació. Una tècnica de tolerància a fallades existent són els codis correctors d'errors (ECC). Aquesta tesi proposa nous ECC dissenyats per tolerar fallades quan la seua taxa no és la mateixa en tots els bits d'una paraula, com en el cas de les fallades intermitents. Aquests, a més, poden presentar una taxa de fallada variable en el temps, pel que seria necessari un mecanisme de tolerància a fallades on el comportament s'adapte a l'evolució temporal de les condicions d'error, i que utilitze els nous ECC proposats. / Saiz Adalid, LJ. (2015). Fallos intermitentes: análisis de causas y efectos, nuevos modelos de fallos y técnicas de mitigación [Tesis doctoral no publicada]. Universitat Politècnica de València. https://doi.org/10.4995/Thesis/10251/59452 / TESIS

La inyección de fallos es una técnica utilizada para la validación experimental de Sistemas Tolerantes a Fallos. Se distinguen tres grandes categorías: inyección de fallos física (denominada también physical fault injection o hardware implemented fault injection), inyección de fallos implementada por software (en inglés software implemented fault injection) e inyección de fallos basada en simulación. Una de las que más auge está teniendo últimamente es la inyección de fallos basada en simulación, y en particular la inyección de fallos basada en VHDL. Las razones del uso de este lenguaje se pueden resumir en: " Es un lenguaje estándar ampliamente utilizado en el diseño digital actual. " Permite describir el sistema en distintos niveles de abstracción. " Algunos elementos de su semántica pueden ser utilizados en la inyección de fallos. Para realizar la inyección de fallos basada en VHDL, diferentes autores han propuesto tres tipos de técnicas. La primera está basada en la utilización de los comandos del simulador para modificar los valores de las señales y variables del modelo. La segunda se basa en la modificación del código, insertando perturbadores en el modelo o creando mutantes de componentes ya existentes. La tercera técnica se basa en la ampliación de los tipos del lenguaje y en la modificación de las funciones del simulador VHDL. Actualmente, ha surgido otra tendencia de la inyección de fallos basada en VHDL, denominada genéricamente emulación de fallos. La emulación añade ciertos componentes al modelo (inyectores, que suelen ser perturbadores o mutantes, disparadores de la inyección, recolectores de datos, etc.). El modelo junto con los nuevos componentes son sintetizados en una FPGA, que es donde se realiza la inyección. Con la introducción cada vez mayor de sistemas tolerantes a fallos en aplicaciones críticas, su validación se está convirtiendo en uno de los puntos clave para su uso. / Gracia Morán, J. (2004). Validación por inyección de fallos en VHDL de la arquitectura TTA [Tesis doctoral no publicada]. Universitat Politècnica de València. https://doi.org/10.4995/Thesis/10251/7526 / Palancia

Actualmente, las tecnologías CMOS submicrónicas son básicas para el desarrollo de los modernos sistemas basados en computadores, cuyo uso simplifica enormemente nuestra vida diaria en una gran variedad de entornos, como el gobierno, comercio y banca electrónicos, y el transporte terrestre y aeroespacial. La continua reducción del tamaño de los transistores ha permitido reducir su consumo y aumentar su frecuencia de funcionamiento, obteniendo por ello un mayor rendimiento global. Sin embargo, estas mismas características que mejoran el rendimiento del sistema, afectan negativamente a su confiabilidad. El uso de transistores de tamaño reducido, bajo consumo y alta velocidad, está incrementando la diversidad de fallos que pueden afectar al sistema y su probabilidad de aparición. Por lo tanto, existe un gran interés en desarrollar nuevas y eficientes técnicas para evaluar la confiabilidad, en presencia de fallos, de sistemas fabricados mediante tecnologías submicrónicas. Este problema puede abordarse por medio de la introducción deliberada de fallos en el sistema, técnica conocida como inyección de fallos. En este contexto, la inyección basada en modelos resulta muy interesante, ya que permite evaluar la confiabilidad del sistema en las primeras etapas de su ciclo de desarrollo, reduciendo por tanto el coste asociado a la corrección de errores. Sin embargo, el tiempo de simulación de modelos grandes y complejos imposibilita su aplicación en un gran número de ocasiones. Esta tesis se centra en el uso de dispositivos lógicos programables de tipo FPGA (Field-Programmable Gate Arrays) para acelerar los experimentos de inyección de fallos basados en simulación por medio de su implementación en hardware reconfigurable. Para ello, se extiende la investigación existente en inyección de fallos basada en FPGA en dos direcciones distintas: i) se realiza un estudio de las tecnologías submicrónicas existentes para obtener un conjunto representativo de modelos de fallos transitorios / Andrés Martínez, DD. (2007). Speeding-up model-based fault injection of deep-submicron CMOS fault models through dynamic and partially reconfigurable FPGAS [Tesis doctoral no publicada]. Universitat Politècnica de València. https://doi.org/10.4995/Thesis/10251/1943 / Palancia