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191	Hybrid lithography fabrication of single mode optics for signal redistribution and coupling Weyers, David, Nieweglowski, Krzysztof, Bock, Karlheinz 10 May 2024 (has links) This paper describes advances in hybrid-lithography process, combining UV-lithography for planar, single mode redistribution layer (RDL) and 2-photon-polymerization direct-laser-writing (2PP-DLW) for micro-mirrors inside RDL-opening. Improvements to multi-layer direct patterning of OrmoCore/-Clad material system using UV-lithography and need for broadband UV-LED source are presented. Near square core cross sections and smooth sidewalls are achieved. Openings in full stack with steep sidewalls without residual layer are patterned. To optimize 2PP-DLW-process processing window for both OrmoComp and IP-DIP is thoroughly characterized. Roughness measurements prove feasibility even of coarsely printed structure as reflective μ-mirror for 1550 nm wavelength. Finally these results are applied to periscope probe for wafer-level-testing of edge emitting lasers and proof of concept is shown. Outlook to further research on UV-lithography of multi-layer waveguide stack and alignment with μ-mirror printing is given. info:eu-repo/classification/ddc/621 ddc:621
192	Elektrische Charakterisierung PLD-gewachsener Zinkoxid-Nanodrähte Zimmermann, Gregor 14 October 2010 (has links) (PDF) Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit der elektrischen Charakterisierung von Zinkoxid-Nanodrähten, die mittels gepulster Laserablation (PLD) hergestellt wurden. Ausgehend von den so generierten ZnO-Nanodraht-Ensembles werden Methoden zu deren elektrischer Untersuchung diskutiert und auf praktische Anwendbarkeit hin verglichen. Die entwickelten Methoden werden auf Ensembles von auf n-leitenden ZnO- und ZnO:Ga-Dünnschichten aufgewachsenen Phosphor-dotierten ZnO-Nanodrähten angewendet. Deren reproduzierbares, in Strom–Spannungs- (I–U-) Kennlinien beobachtetes diodenartiges Verhalten wird genauer beleuchtet. Im Zusammenhang mit der elektrischen Charakterisierung einzelner ZnO-Nano-drähte werden experimentelle Methoden zur Vereinzelung und zur Kontaktierung der vereinzelten ZnO-Nanodrähte diskutiert. Dabei werden sowohl etablierte Methoden wie Elektronenstrahllithographie (EBL) als auch neue Techniken wie elektronen- und ionenstrahlinduzierte Deposition (EBID/IBID) und Strom–Spannungs-Rastersondenmikroskopie (I-AFM) behandelt und ihre Eignung für eingehende elektrische Untersuchungen und reproduzierbare Messungen analysiert. Die geeignetsten Methoden werden schließlich eingesetzt, um spezifischen Widerstand sowie Ladungsträgermobilität und -dichte sowohl in nominell undotierten als auch in Aluminium-dotierten ZnO-Nanodrähten zu untersuchen und zu vergleichen. In der Ableitung der physikalischen Materialparameter aus den Messdaten wird dabei besonderes Augenmerk auf die Einbeziehung der geometrischen Besonderheiten der Nanodrähte gegenüber Volumenmaterial- und Dünnschichtproben gelegt. Im Zuge dessen wird unter anderem ein Modell für den elektrischen Widerstand in Nanodrähten mit ihrer Länge nach veränderlichem Querschnitt abgeleitet. Zinkoxid ZnO Nanodraht PLD Dotierung Phosphor Aluminium elektrische Charakterisierung spezifischer Widerstand Transferlänge Kontaktierung Lithographie EBID IBID EBL SPM EDX IU Ensemble Polystyren einbetten stabilisieren zinc oxide ZnO nanowire PLD doping phosphorus aluminium electric charakterisation specific electrical resistance resistivity transfer length contacts lithography EBID IBID EBL SPM EDX IU ensemble Polystyrene embedding stabilization ddc:537 ddc:539 Zinkoxid Nanostruktur Nanodraht Impulslaserbeschichten Dotierung Aluminium Phosphor Strommessung Elektrischer Strom Spezifischer Widerstand Ladungsträgerbeweglichkeit Freier Ladungsträger Elektronenstrahllithographie Rasterelektronenmikroskop Rasterkraftmikroskop
193	Elektrische Charakterisierung PLD-gewachsener Zinkoxid-Nanodrähte Zimmermann, Gregor 17 August 2010 (has links) Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit der elektrischen Charakterisierung von Zinkoxid-Nanodrähten, die mittels gepulster Laserablation (PLD) hergestellt wurden. Ausgehend von den so generierten ZnO-Nanodraht-Ensembles werden Methoden zu deren elektrischer Untersuchung diskutiert und auf praktische Anwendbarkeit hin verglichen. Die entwickelten Methoden werden auf Ensembles von auf n-leitenden ZnO- und ZnO:Ga-Dünnschichten aufgewachsenen Phosphor-dotierten ZnO-Nanodrähten angewendet. Deren reproduzierbares, in Strom–Spannungs- (I–U-) Kennlinien beobachtetes diodenartiges Verhalten wird genauer beleuchtet. Im Zusammenhang mit der elektrischen Charakterisierung einzelner ZnO-Nano-drähte werden experimentelle Methoden zur Vereinzelung und zur Kontaktierung der vereinzelten ZnO-Nanodrähte diskutiert. Dabei werden sowohl etablierte Methoden wie Elektronenstrahllithographie (EBL) als auch neue Techniken wie elektronen- und ionenstrahlinduzierte Deposition (EBID/IBID) und Strom–Spannungs-Rastersondenmikroskopie (I-AFM) behandelt und ihre Eignung für eingehende elektrische Untersuchungen und reproduzierbare Messungen analysiert. Die geeignetsten Methoden werden schließlich eingesetzt, um spezifischen Widerstand sowie Ladungsträgermobilität und -dichte sowohl in nominell undotierten als auch in Aluminium-dotierten ZnO-Nanodrähten zu untersuchen und zu vergleichen. In der Ableitung der physikalischen Materialparameter aus den Messdaten wird dabei besonderes Augenmerk auf die Einbeziehung der geometrischen Besonderheiten der Nanodrähte gegenüber Volumenmaterial- und Dünnschichtproben gelegt. Im Zuge dessen wird unter anderem ein Modell für den elektrischen Widerstand in Nanodrähten mit ihrer Länge nach veränderlichem Querschnitt abgeleitet. info:eu-repo/classification/ddc/537 ddc:537 info:eu-repo/classification/ddc/539 ddc:539

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