Presentamos los estudios no destuctivos realizados sobre cintas cuperconductoras y capas de YBCO crecidas por la técnica de MOD-TFA mediante la espectroscopía micro-Raman, complementados por otras técnicas tales como XRD, SEM, TEM, resistividad y densidad de corriente crítica. Determinamos cuantitativamente el grado de textura uniaxial y biaxial de las cintas superconductoras de YBCO e investigamos aspectos tales como la orientación del cristal, uniformidad, fases secundarias, impurezas, contenido de oxígeno y defectos de las capas crecidas mediante MOD-TFA, basados en las reglas de seleccción específicas para el YBCO y los experimentos de dispersión Raman polarizada. Además, hemos estudiado los principales parámetros de crecimiento y su relevancia en la microestructura final y en las propiedades superconductoras. Finalmente, estudiamos el rol de la fases intermedias en los mecanismos de nucleación y crecimiento del YBCO. / We present the non-destructive studies on coated conductors and YBCO TFA-MOD films by micro-Raman spectroscopy complemented by other techniques such as XRD, SEM, TEM, resistiviy and critical current density. We determined quantitatively the degree of uniaxial and biaxial texture of YBCO coated conductors and investigated aspects like crystal orientation, uniformity, secondary phases, impurities, oxygen content and defects of TFA-MOD grown films based on the specific Raman selection rules for YBCO and polarized Raman scattering experiments. Moreover, we have studied the main YBCO TFA growth parameters and their relevance in the final microstructure and superconducting properties. Finally, we studied the role of the intermediate phases on the mechanism of YBCO nucleation and growth.