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Elaboration et caractérisation de matériaux ferromagnétiques doux : modélisation de couches magnétiques inhomogènes / No title available

Dubuget, Vincent 05 February 2010 (has links)
Au cours de ce manuscrit sont reportées l’élaboration et la caractérisation de matériaux ferromagnétiques doux : les microfils nanocristallisés gainés de verre de composition Finemet élaborés par le procédé de tirage Taylor-Ulitovsky et les couches minces amorphes decomposition CoNb et CoZr déposées par pulvérisation cathodique assistée magnétron.Une première partie du travail de thèse a été consacrée à l’étude de l’influence de l’état structural et de la composition sur les propriétés magnétiques, respectivement au travers des microfils nanocristallisés gainés de verre et des couches minces amorphes. Une deuxième partie a été vouée à référencer les différentes sources de dispersion d’aimantation des couches minces magnétiques, élaborées au déroulé sur substrat polymère. Une méthode a été proposée afin de quantifier la distribution d’anisotropie en angle et en intensité dans l’épaisseur. Le comportement magnétique des telles couches a été modélisé en prenant en compte la distribution d’aimantation expérimentale dans une approximation den-macrospins sans interaction d’échange. Un second volet a consisté à développer un modèle micromagnétique unidimensionnel prenant en compte l’énergie d’échange. Ce modèle a été appliqué avec succès sur une bicouche et une multicouche à anisotropies magnétiques croisées, élaborées spécifiquement à cet effet. L’étude exhaustive d’une bicouche à anisotropies croisées a été menée : aimantation statique et dynamique, structure en domaines magnétiques, aimantation dynamiquement couplée et caractérisation du profil d’aimantation dans l’épaisseur. / The aim of this work is to product and characterize some soft ferromagnetic materials : nanocrystallized Finemet-based glass-coated microwires fabricated using a Taylor-Ulitovskyprocess and amorphous Co-based thin films deposited by magnetron sputtering.In a first part, the influence of the structural order for the nanocrystallized glass-coatedmicrowires and the influence of the composition for the thin magnetic films on the magnetic properties has been studied.In a second part, the various origins of the magnetization dispersion of thin layers deposited continuously on a transported polymeric substrate has been listed. A method has been proposed to estimate both angular and intensity anisotropy distribution in depth. The magnetic susceptibility calculation taking into account the experimental magnetization dispersion is achieved in the framework of n-macrospins approximation without the exchange interaction. In addition, the static and dynamic magnetic behavior of both abilayer and a multilayer with crossed magnetic anisotropies has been reproduced by adedicated 1D micromagnetic model (with the exchange energy). In particular, a detailed study of such a bilayer has been investigated : static and dynamic magnetization, magnetic domain structure, coupled dynamically magnetization and characterization of the magnetization distribution in depth.
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Élaboration et Caractérisation de Matériaux Ferromagnétiques Doux − Modélisation de Couches Magnétiques Inhomogènes

Dubuget, Vincent 05 February 2010 (has links) (PDF)
Au cours de ce manuscrit sont reportées l'élaboration et la caractérisation de matériaux ferromagnétiques doux : les microfils nanocristallisés gainés de verre de composition Finemet élaborés par le procédé de tirage Taylor-Ulitovsky et les couches minces amorphes de composition CoNb et CoZr déposées par pulvérisation cathodique assistée magnétron. Une première partie du travail de thèse a été consacrée à l'étude de l'influence de l'état structural et de la composition sur les propriétés magnétiques, respectivement au travers des microfils nanocristallisés gainés de verre et des couches minces amorphes. Une deuxième partie a été vouée à référencer les différentes sources de dispersion d'aimantation des couches minces magnétiques, élaborées au déroulé sur substrat polymère. Une méthode a été proposée afin de quantifier la distribution d'anisotropie en angle et en intensité dans l'épaisseur. Le comportement magnétique des telles couches a été modélisé en prenant en compte la distribution d'aimantation expérimentale dans une approximation de n-macrospins sans interaction d'échange. Un second volet a consisté à développer un modèle micromagnétique unidimensionnel prenant en compte l'énergie d'échange. Ce modèle a été appliqué avec succès sur une bicouche et une multicouche à anisotropies magnétiques croisées, élaborées spécifiquement à cet effet. L'étude exhaustive d'une bicouche à anisotropies croisées a été menée : aimantation statique et dynamique, structure en domaines magnétiques, aimantation dynamiquement couplée et caractérisation du profil d'aimantation dans l'épaisseur.
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Analysis and control of polarization effects in structured semiconductor microcavities / Analyse et contrôle des effets de polarisation dans des microcavités de semiconducteurs structurées

Lafont, Ombline 21 October 2016 (has links)
En régime de couplage fort lumière-matière, les microcavités de semiconducteurs contenant des puits quantiques abritent des quasi-particules appelées exciton-polaritons de microcavité. Leur caractère hybride mi-électronique, mi-photonique, leur confère des propriétés optiques non-linéaires remarquables. Nous nous intéressons dans cette thèse à des microcavités structurées qui permettent la coexistence de branches polaritoniques de symétrie et d'énergie différenciées. Une microcavité gravée en rubans de quelques micromètres de large est d'abord étudiée. Le confinement latéral lève la dégénérescence entre les modes polarisés parallèlement et orthogonalement à la direction du ruban. Nous montrons que ce dédoublement résulte de contraintes structurales intrinsèques, de sorte que son amplitude peut être décidée dès la conception du dispositif. Nous nous intéressons ensuite à une microcavité double. En régime de diffusion Rayleigh élastique, le dédoublement TE-TM conduit à une séparation spatiale et angulaire des polaritons de pseudo-spins différents. Nous montrons que ce phénomène, appelé "effet Hall optique de spin" peut être contrôlé par un faisceau de pompe intense. Dans le régime d'oscillation paramétrique optique, la lumière s'auto-organise pour former un motif dans le champ lointain. Les règles de sélection concernant l'orientation et la polarisation de ces motifs sont explorées dans le régime d'amplification paramétrique optique. Ces études ouvrent la voie de la conception de "dispositifs de microphares" (capables d'orienter continûment la lumière par un simple contrôle en polarisation) et d'interrupteurs tout-optique ultra-rapides. / Semiconductor microcavities with embedded quantum wells in the strong light-matter coupling regime host quasi-particles called microcavity exciton-polaritons. Their hybrid nature, half-electronic, half-photonic, brings about remarkable nonlinear optical properties. In this work, we focus on microcavities that are structured to enable the coexistence of polaritonic branches with various symmetries and energies. First, a microcavity etched to form micrometers-wide wires is studied. The lateral confinement lifts the degeneracy between the modes which are polarized parallel and orthogonal to the wire direction. We show that this splitting results from built-in constraints which make a precise engineering of the splitting magnitude possible. We then focus on a double microcavity. In the elastic Rayleigh scattering regime, the TE-TM splitting induces a spatial and angular separation of polaritons with different pseudospins. We show that this phenomenon, called "Optical Spin Hall Effect", can be controlled by a strong optical pump beam. In the regime of Optical Parametric Oscillation, the light self-organizes to form patterns in the far field. The selection rules for the orientation and polarization of these patterns are explored in the regime of Optical Parametric Amplification. These studies pave the way for the realization of microscopic "lighthouse" devices (able to continuously orientate the light by a simple polarization control) and ultrafast all-optical switches.
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Diferencia??o histoqu?mica em microfil?rias de Dipetalonema reconditum e Dirofilaria immitis em c?es (Canis familiaris) / Differentiation in microfilariae of Dipetalonema reconditum and Dirofilaria immitis in dogs (Canis familiaris).

Rocha, Juliana Solozabal Martins da 09 February 2006 (has links)
Made available in DSpace on 2016-04-28T20:18:28Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2006-Juliana Solozabal Martins da Rocha.pdf: 3772089 bytes, checksum: 41414ee2cbb97d4f355ca0c9f47ec737 (MD5) Previous issue date: 2006-02-09 / The microfilariaes when found should be identified correctly, for obtaining a correct diagnosis, since Dipetalonema is apathogenic and the infection doesn't request treatment, while Dirofilariosis, known as Heartworm Disease, it can take the dog to the death. This work had as objective to contribute to the diagnosis using histochemical differentiation in twelve sanguine samples of microfilaremics dogs and aid in the recognition of the identified species with that staining, based on the individual acid fosfatase activity and to confirm the use of a commercial kit for this procedure. They were identified Dirofilaria immitis and Dipetalonema reconditum, making possible this technique in the taxonomy of those species. / As microfil?rias quando encontradas devem ser identificadas corretamente, para realiza??o de um diagn?stico preciso, j? que o Dipetalonema ? apatog?nico e a infec??o n?o requer tratamento, enquanto a Dirofilariose, conhecida como Doen?a do Verme do Cora??o, pode levar o c?o ? morte. Este trabalho teve como objetivo contribuir ao diagn?stico pela diferencia??o histoqu?mica em doze amostras sangu?neas de c?es microfilar?micos e auxiliar no reconhecimento das esp?cies identificadas por essa marca??o, baseada na atividade da fosfatase ?cida individual, confirmando a utiliza??o de um kit comercial para este procedimento. Foram identificadas histoquimicamente, Dirofilaria immitis e Dipetalonema reconditum, possibilitando esta t?cnica na taxonomia dessas esp?cies.
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Étude de fils semi-conducteurs dopés individuels par techniques locales d'analyse de surface.

Morin, Julien 18 December 2013 (has links) (PDF)
Ce mémoire de thèse traite de la caractérisation de microfils et nanofils semi-conducteurs dopés individuels par microscopie à émission de photoélectrons X (XPEEM) complétée par des techniques de champ proche : microscopie à sonde Kelvin (KFM) et microscopie capacitive à balayage (SCM). L'objectif est d'évaluer l'apport des méthodes locales de surface " sans contact ", grâce à la mesure du travail de sortie local et de l'énergie de liaison des niveaux de coeur, pour l'étude des phénomènes liés au dopage dans ces objets, comme par exemple l'uniformité longitudinale. Nous mettons d'abord en évidence l'importance de la préparation des échantillons pour la mise en oeuvre des techniques citées: méthodes de transfert des fils, adéquation du substrat, influence des caractérisations pré-analyse. Nous présentons ensuite deux principales études de cas en lien avec une problématique technologique : les microfils de nitrure de gallium dopés Si (diamètre 2 μm) pour applications dans l'éclairage à l'état solide, et les jonctions p-n à nanofils de Si (diamètre 100 nm) pour la nanoélectronique basse puissance. Dans le premier cas, nous avons mis en oeuvre la SCM pour l'identification rapide de l'hétérogénéité axiale du dopage n, puis avons utilisé l'imagerie XPEEM spectroscopique avec excitation synchrotron pour, d'abord, estimer le travail de sortie local et la courbure de bande en surface; puis élucider les modes d'incorporation du silicium en surface qui pointent notamment sur la sensibilité des conditions d'élaboration dans la part du dopage intentionnel (Si en sites Ga) et non intentionnel (Si sur sites lacunaires en azote). Des mesures complémentaires sur sections radiales et longitudinales de fils, par microscopie Auger et spectrométrie ToF-SIMS montrent une incorporation du Si limitée à la surface des microfils. Concernant les jonctions p-n à nanofils de silicium étudiées après retrait partiel de l'oxyde de surface, nous avons mis en relation des résultats obtenus indépendamment par KFM et par XPEEM. Ils mettent en lumière une très faible différence de travail de sortie local entre partie n et partie p, et qui semble en partie expliquée par un ancrage du niveau de Fermi en surface.

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