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Degradación de las propiedades ópticas de películas semiconductoras amorfas de nitruro de silicio a-SiN producidas por pulverización catódica de radiofrecuenciaZegarra Sierra, Katia 13 July 2015 (has links)
En el presente trabajo se encuentran compilados el estudio de propiedades ópticas y vibracionales de películas delgadas amorfas de nitruro de silicio depositadas bajo diferentes presiones de trabajo. Las películas han sido preparadas mediante la técnica de pulverización catódica de radiofrecuencia en los laboratorios de la Sección de la PUCP usando un objetivo de silicio cristalino en una atmosfera de nitrógeno y argón. Se ha investigado el efecto de oxidación bajo dos puntos de vista: primero la exposición de las películas delgadas al medio ambiente y luego después de tratamientos térmicos. El proceso de oxidación ha sido evaluado sistemáticamente a través de medidas de espectroscopia de transmisión UV/VIS y espectroscopia de absorción infrarroja por transformada de Fourier (FTIR). Los parámetros analizados fueron: el espesor de la película, el ancho de banda, el coeficiente de absorción y el índice de refracción. El grado de oxidación es evaluado a partir de los espectros de absorción infrarroja y contrastado con el tiempo de exposición de la muestra al medio ambiente. Las películas que fueron depositadas a mayor presión presentan mayor ancho de banda. Así mismo, el análisis IR reveló que a menor presión mayor presencia de oxígeno en el día y presenta estabilidad debido a la saturación las muestra fabricada a mayor presión. Las películas bajo tratamiento térmico, presentan un cambio en el ancho de banda a partir del reordenamiento de los átomos en la matriz amorfa. La disminución de la energía de Urbach nos indica que hay un ordenamiento en la muestra.
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Feminidades filmadas: Madeinusa (2006) y La Teta Asustada (2009) entre la tradición y la transgresión.Laura Atanacio, Vanessa Liz 21 April 2016 (has links)
La presente investigación analiza las representaciones de feminidad creadas por Claudia Llosa para las protagonistas de sus films Madeinusa (2006) y La teta asustada (2009) con la finalidad de identificar si difieren de la representación anterior de los sujetos femeninos jóvenes de origen rural andino producida por el cine nacional, entre las décadas de los 60 y 90, que las personificaba como individuos subordinados, pasivos y descorporizados. Adoptando las categorías agencia (Giddens), cine narrativo subversivo (Lauretis) y placer visual (Mulvey), así como la metodología de análisis de la Teoría Fílmica Feminista.
Para ello se examinan 16 escenas claves, 8 por cada película, que permiten identificar el rol y posición que ambas figuras femeninas ocupan en sus tramas, la configuración de su imagen a través de los códigos cinematográficos y los discursos sobre la feminidad expresados por las propias protagonistas y cómo se plasman en sus diferentes interrelaciones y/o espacios.
Las tres matrices empleadas –segmentación, personajes e imagen– ofrecen un cuadro completo de todos los elementos que intervienen y se articulan a nivel del aparato cinematográfico para configurar las feminidades de ambas protagonistas; y, así, comprobar que Madeinusa y Fausta se sitúan en un punto intermedio con las protagonistas jóvenes que propone el actual cine clásico. Personajes cuya feminidad rompen con la tradición patriarcal, son sujetos activos, autónomos, que deciden sobre sus cuerpos y son dueños de su destino pero que alternan su transgresión con características de la feminidad tradicional.
De esta manera, la tesis constituye un aporte a un campo poco profundizado por las ciencias sociales y los estudios de género en el país: el cine nacional, que juega un papel fundamental a la hora de definir modelos de feminidad y masculinidad a través de sus imágenes, representaciones y significados.
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Optical characterization and thermal activation of Tb doped amorphous SiC, AlN and SiN thin filmsGuerra Torres, Jorge Andrés 10 August 2017 (has links)
En la presente tesis se evalúan las propiedades ópticas y las características de emisión de luz de películas delgadas amorfas de AlN, SiN y SiC:H dopadas con Tb. La caracterización óptica se centra en la determinación del ancho de banda, la energía de Urbach y el foco de Urbach a partir de mediciones ópticas. Se desarrolla un modelo, basado en fluctuaciones térmicas de la banda, para describir la absorción fundamental sobrepuesta con las colas de Urbach. Luego, se realiza un análisis de la existencia y significado del foco de Urbach y se contrasta con modelo anterior. Uno de los principales resultados en esta parte es la capacidad del modelo antes mencionado para distinguir las regiones de Urbach y Tauc del coeficiente de absorción. En este caso, películas delgadas de a-SiC:H depositadas en distintas condiciones de dilución de hidrógeno exhibieron un ancho de banda no correlacionado con la energía de Urbach al usar este modelo, en contraste a lo que se observa típicamente después de utilizar el modelo de Tauc. El análisis de características de emisión de luz se centra al proceso de activación térmica que sufren los iones de tierras raras cuando se calientan las muestras. El efecto de la temperatura de recocido, temperatura de la muestra y concentración de tierras raras en la intensidad de la emisión de luz se evalúa bajo fuentes de excitación de fotones y electrones. Se utiliza un modelo de tasa de transiciones para ajustar la intensidad de luz global asociada al Tb en películas delgadas de a-SiC:H:Tb3+ frente a la concentración de Tb después de diferentes temperaturas de recocido. Se recupera una energía de activación asociada a la activación térmica. Finalmente, en el caso de a-SiC: H: Tb3+, se observa una disminución del efecto de enfriamiento de la concentración, lo que sugiere un mecanismo adicional para aumentar la intensidad de emisión de luz relacionada con Tb. / In the present thesis the optical properties and light emission features of Tb-doped amorphous AlN, SiN and SiC:H thin films are assessed. The optical characterization is focused in the determination of the bandgap, Urbach energy and Urbach focus from optical measurements. A model, based on thermal band-fluctuations, to describe the fundamental absorption overlapped with Urbach tails is developed. Thenceforth, an analysis of the existence and meaning of the Urbach focus is performed and contrasted with the latter model. One of the main results in this part is the capability of aforementioned model to distinguish the Urbach and Tauc regions of the absorption coefficient. In this matter, a-SiC:H thin films grown with distinct hydrogen dilution conditions exhibited an uncorrelated bandgap with the Urbach energy when using this model, contrary to what is typically observed after applying the Tauc model. The light emission features analysis is concerned with the thermal activation process that rare earth ions suffer when annealing the samples. The effect of the annealing temperature, sample temperature and rare earth concentration on the light emission intensity is assessed under photon and electron excitation sources. A rate equation model is used to fit the overall Tb-related intensity of a-SiC:H:Tb3+ versus the Tb concentration after different annealing temperatures. An activation energy associated to the thermal activation is recovered. Finally, in the case of a-SiC:H:Tb3+ a diminution of the concentration quenching effect is observed suggesting an additional mechanism to enhance the Tb-related light emission intensity. / In dieser Arbeit werden die optischen Eigenschaften und die Lichtemission der dünnen amorphen Schichten AlN, SiN und SiC:H dotiert mit Tb untersucht. Die optische Charakterisierung beschränkt sich auf die Bestimmung der Bandlücke, der Urbachenergie und den Urbachfokus. Basierend auf thermischen Fluktuationen der Bandlücke wird ein Modell entwickelt, welches die fundamentale Absorption in Überlapp mit den Urbachausläufern beschreibt. Es wird die Existenz und die Bedeutung des Urbachfokus analysiert und mit dem vorher entwickelten Modell verglichen. Eine der wichtigsten Ergebnisse dieser Untersuchungen ist die Fähigkeit dieses Modells, den Urbach-Bereich von dem Tauc-Bereich des Abrorptionskoeffizienten zu trennen. Zum Beispiel zeigen dünne Filme aus SiC:H abgeschieden mit unterschiedlichen Wasserstoffflüssen unter Verwendung dieses Modells eine Bandlücke, die nicht mit der Urbach-Energie korreliert ist. Dies unterscheidet sich typischerweise von der Beobachtung der Bandlückenvariation unter Verwendung des Tauc-Modells. Die Untersuchung der Lichtemission konzentriert sich auf den Prozess der thermischen Aktivierung, welchen die Seltenerdionen bei Ausheilung der Proben erleiden. Der Effekt der Ausheiltemperatur, der Probentemperatur und der Konzentration der Seltenen Erden auf die Intensität der Lichtemission wird mit Anregung von Photonen und Elektronen untersucht. Es wird ein Änderungsratenmodell der Übergänge verwendet, um die globale mit Tb assoziierte Lichtemission der dünnen a-SiC:H:Tb3+, Schichten in Abhängigkeit von der Konzentration by verschiedenen Ausheiltemperaturen zu modellieren. Es konnte eine Aktivierungsenergie der thermischen Aktivierung bestimmt werden. Zuletzt beobachtet man im Falle von a-SiC:H:Tb3+ eine Verminderung der Unterdrückung der Konzentration, welches ein Hinweis darauf ist, dass ein zusätzlicher Mechanismus für die Erhöhung der Lichtemission mit der Tb Konzentration verantwortlich ist.
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Preparation and characterization of sputtered hydroxyapatite thin filmsUgarte Díaz, Jorge Alfonso 19 January 2018 (has links)
In this work, hydroxyapatite (HAp) thin films were fabricated using two different
sputtering techniques: Radio frequency magnetron sputtering and ion beam sputtering. In
the first case, the films were grown on Ti-6Al-4V substrates using a high-purity
commercial HAp target, obtaining a thickness ~200 nm. For the second method, the film
were grown on pure titanium substrates using a self-produced HAp target. This target was
fabricated with powders (Ca/P = 1.628, sintered and crushed). Here, the thickness of the
fabricated film was ~300 nm. The sintering tests for the target fabrication were carried
out using two different heating regimens at a maximum temperature of 1200 °C (holding
time of 2h and 4h) using various additives. As additives, water (H2O), polyvinyl alcohol
(PVA) and polyethylene glycol (PEG) were used to improve the mechanical strength of
the green discs. The as-deposited films were amorphous in both cases. Therefore, the
films were annealed to increase the crystallinity. Annealing was performed in air for 2h
at temperatures: 400, 600 and 800 °C for RF-magnetron sputter samples; 600 and 800 °C
for ion beam sputter samples. The result of the films shows in both cases that the
crystallinity of HAp was improved only for the annealed samples fabricated with ion
beam sputtering at 800 °C. In both cases energy dispersive X-ray spectroscopy
measurements show a decrease in Ca/P ratio with increasing the temperature. Hardness
results revealed an increase in this with the increase in temperature possibly due to the
formation of titanium oxide. The roughness for the fabricated films with the RFmagnetron
sputtering increases till an annealing temperature of 600 °C and then decreases
till 800 °C, while the roughness for the fabricated films with ion beam sputtering is higher
in the as-deposited samples and then this is reduced by increasing the annealing
temperature. / Tesis
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Determinación de constantes ópticas de películas delgadas dieléctricas por espectrofotometría de transmitancia óptica de ángulo variableLeón Aguirre, José Luis 08 July 2019 (has links)
Entre los varios métodos que existen para obtener los parámetros ópticos de películas delgadas, un grupo se centra en el uso de medidas espectrales de reflectancia y transmitancia óptica y otros en el uso de medidas de transmitancia óptica únicamente. En el presente trabajo se desarrolla un método para obtener las constantes ópticas de películas delgadas empleando un estimador global insesgado sin usar modelos de dispersión. Para ello son necesarias medidas adicionales con el fin de incrementar la redundancia. En este caso se mide transmitancia óptica con ángulo de incidencia oblicua variable empleando luz polarizada en películas delgadas de óxido de indio dopado con estaño y terbio. Para emplear la función error total necesitamos un modelo del sistema óptico el cual describe la transmitancia total con un ángulo de incidencia para una película delgada. Para esto se aplica el método de matriz de transferencia para describir el espectro de transmitancia experimental. La base de este método es la evolución del campo electromagnético atreves de una pila de capas. Esta evolución describe dos tipos de interacciones por capa. La primera interacción es la luz interactuando con la interface de dos medios diferentes y esta información se describe mediante una matriz 2x2, los elementos de está matriz dependen de los coeficientes de Fresnel de transmisión y reflexión. La segunda interacción es la penetración de la onda electromagnética en el volumen de la capa y esta información se describe mediante una matriz de 2x2, los elementos de la matriz dependen de la fase y la amortiguación de la amplitud de la onda electromagnética. Cada capa contiene una información que se representa por medio de una matriz 2x2. El espectro de La transmitancia y reflectancia de una pila de capa se representa por el producto ordenado de las matrices que describen los efectos individuales de las fronteras y las de propagación dentro de cada capa. Para obtener el espesor "d", índice de refracción n(λi) y el coeficiente de extinción k(λi) se emplea el método de optimización. El método de optimización consiste en minimizar la función error y obtener las constantes ópticas bajo ciertas restricciones. Para un valor "d ", el índicie de refracción complejo n(λi) + ik(λi) se calcula minimizando la función error en cada longitud de onda. La función error depende de la medida experimental y del modelo teórico para cada longitud de onda. Si aumentamos en la función error la cantidad de medidas independientes en cada longitud de onda y se emplea el método de optimización mayor será la consistencia en la determinación de n(λi) + ik(λi). Para obtener el espesor de la película delgada “d” mediante el método de optimización es necesario garantizar la minimización la función error total. La función error total depende del parámetro "d " y de las medidas independientes. La función error total es equivalente a la suma de la función error de todos los puntos medidos. Para obtener el verdadero espesor de la película delgada se requiere los siguientes pasos. Primero, minimizar la función error total para un espesor “d”. Segundo, realizar el mismo procedimiento para un conjunto de espesores. Tercero, el mejor valor "d " es el mínimo valor del conjunto de resultado al minimizar la función error total aplicado a un conjunto de espesores. Finalmente, el mejor valor "d " se aplica directamente en la función error en cada longitud de onda para determinar n(λi) y k(λi). La obtención de estas constantes ópticas se compara con los resultados del método de la envolvente mejorada.
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Take the other : comparación y políticas de representación para reducir la desnutrición crónica infantil: metáfora y metonimia en el lenguaje audio visual.Vásquez Awad, Josefina 03 April 2014 (has links)
Pero el tiempo nos ordena, y así, se encargó de ir reubicando los recuerdos y los sentimientos ligados a mis vivencias entre las mujeres y los niños de aquellos parajes andinos que el video reavivó en mí y que yo conocía de memoria: con la piel, con el olfato, con todos mis sentidos. Al ingresar a la maestría, en el año 2009, me instalé en las preocupaciones académicas y traté de desviar mi atención hacia otros temas, pero la pregunta siempre regresaba:
¿por qué los compararon, si no eran comparables? ¿ acaso no hay miles de formas de tratar el asunto evitando la exposición y el escarnio público? ¿cuáles eran las verdaderas intenciones y motivaciones? ¿ qué era lo que yo no sabía? ¿por qué me perturbaba tanto?... seguramente era porque no podía entenderlo, explicármelo con argumentos racionales. Debía estudiar el caso,
volver al lugar de origen de mis afectos y de mis cavilaciones intelectuales, caminar en retroceso sobre los orígenes de la producción y volver a hablar con los protagonistas y hacedores. De eso trata esta tesis.
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Propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de Óxido de Indio dopadas con Estaño y TerbioTorres Fernández, Carlos Enrique January 2018 (has links)
El efecto del dopaje de terbio sobre las propiedades ópticas, eléctricas y luminiscentes de películas
delgadas de óxido de indio dopadas con estaño fue estudiado para distintas temperaturas de
recocido. Las películas fueron depositadas a través de la técnica de pulverización catódica de
radio frecuencia sobre sustratos de silicio y sílice fundida manteniendo una alta transmitancia en
el espectro visible y una resistividad del orden de 103 Ω∙cm. Con el fin de inducir la activación
de los iones de terbio en la matriz de óxido de indio dopado con estaño, películas delgadas con
distintas concentraciones de terbio fueron calentadas previamente desde 180°C hasta 650°C en
atmósfera de aire. La variación del ancho de banda en función de la concentración de terbio y la
temperatura de recocido fue evaluada. La variación de la intensidad en la emisión de luz asociada
a los iones de terbio en función de la concentración de terbio y la temperatura de recocido también
fue registrada, exhibiendo una mayor intensidad a 550°C. La resistividad eléctrica después de
cada proceso de recocido fue registrada con el fin de observar y evaluar el compromiso entre la
intensidad de emisión de luz y dicha propiedad eléctrica.
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Síntesis y caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio hidrogenado (AlN:H)Espinoza Monsalve, Sandro Renato 30 January 2018 (has links)
El AlN:H es un material prometedor para la pasivación de superficie en celdas solares
de silicio con el fin de mejorar su eficiencia de conversión de potencia. La pasivación
superficial es la reducción de la tasa de recombinación de superficie de los portadores
de carga foto-generados (electrones y agujeros). Con el fin de obtener una mejor
comprensión de AlN:H como una capa de pasivación, es importante investigar
previamente las propiedades estructurales y morfológicas de diferentes películas
delgadas AlN:H.
Esta tesis investiga la influencia del hidrógeno en las propiedades estructurales y
morfológicas de las películas delgadas de nitruro de aluminio hidrogenado (AlN:H)
de ~ 100 nm de espesor. Para lograr este objetivo, las muestras se produjeron por
pulverización reactiva en c-Si de tipo p (CZ, 100, dopado con boro, 10 – 20 Ωcm) bajo
tres condiciones diferentes de flujo de hidrógeno y dos temperaturas del sustrato
diferentes durante el proceso de deposición.
La caracterización y análisis de las películas delgadas depositadas se realizó mediante
espectroscopia de rayos X de energía dispersiva (EDX), espectroscopia de infrarrojos
por transformada de Fourier (FTIR), espectroscopia de emisión óptica de descarga
luminiscente (GDOES) para análisis de composición y por medio de mediciones de
difracción de rayos X (XRD) y reflectometría de rayos X (XRR) para análisis
estructurales y morfológicos.
Este trabajo indica que el contenido de hidrógeno en la película delgada depositada
produce algunos cambios morfológicos y estructurales en las películas delgadas AlN.
Todas las películas delgadas depositadas tienen la estructura cristalina de wurtzita
hexagonal. Sin embargo, las mediciones de XRD muestran una disminución en la
orientación (002) y un aumento de la orientación de la mezcla entre (100) y (110), con
el aumento del flujo de H2. Esta variación implica que el eje c de la película cambia de perpendicular (002) a paralelo (100, 110) con respecto a la superficie del sustrato. El
análisis XRR revela que un aumento del flujo de H2 reduce la rugosidad de la película.
Adicionalmente, a través de GDOES se confirma la presencia de hidrógeno en todo el
volumen de la película delgada con una tendencia a difundirse hacia las superficies. / Tesis
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Determination of the optical bandgap of thin amorphous (SiC) 1-x (AIN) x films produced by radio frequency dual magnetron sputteringGuerra Torres, Jorge Andrés 21 June 2016 (has links)
Películas delgadas amorfas semiconductoras de amplio ancho de banda del compuesto pseudobinario (SiC)1-x(AlN)x fueron depositadas por pulverización por un sistema de dos magnetrones de radio frecuencia sobre CaF2, MgO, Al2O3 y vidrio. Con el fin de determinar el ancho de banda óptico versus la composición de la película, se realizaron medidas espectroscópicas de la transmisión de donde el índice de refracción y el coeficiente de absorción fueron calculados y medidas espectroscópicas de la dispersión de energía (EDS) de donde la composición fue determinada. El ancho de banda óptico es determinado para cada composición a partir del coeficiente de absorción de dos maneras distintas: según el gráfico de Tauc y utilizando el gráfico de (αhν)2. la dependencia del ancho de banda con la composición x puede ser descrita por la ley empírica de Vegard para aleaciones.
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Characterization of luminescent ITO:Tb and AZO:Tb thin films prepared by radio frequency magnetron sputteringLlontop López-Dávalos, Paul David 09 May 2023 (has links)
This thesis investigates the effects of introducing terbium to indium tin oxide (ITO) and
aluminum zinc oxide (AZO) thin films on their electrical, optical and light emission properties.
The films were prepared by radio frequency magnetron co-sputtering with active
cooling during deposition. The samples maintained a high optical transmittance in the ultraviolet
and visible spectral regions. ITO:Tb showed a low electrical resistivity ranging from
5×10−3 Ω·cm to 0.3Ω·cm, whilst AZO:Tb resulted with a high resistivity which could not
be measured with the available equipment. Tb-related luminescence was obtained in ITO:Tb
after annealing at 470 ◦C in air at atmospheric conditions. Contrastingly, AZO:Tb showed
characteristic Tb luminescence in the as-grown state and further annealing treatments reduced
the Tb-related intensity. For both materials, the optical transmittance was measured at each
annealing temperature to track the changes in the optical parameters such as optical band
gap and Urbach energy. Additionally, exciton binding energy in the case of AZO:Tb was
also registered. Together with cathodoluminescence and photoluminescence (PL) measurements,
the compromise between the achieved light emission intensity, optical and electrical
properties was assessed for each material. Temperature dependence of the Tb-related luminescence
and thermal quenching was assessed by temperature-dependent PL measurements
from 83K to 533K under non-resonant indirect excitation. Thermal quenching activation
energies suggest an effective energy transfer mechanism from the host to the Tb ions. In
the case of ITO:Tb, it is assumed that a short-range charge trapping process and subsquent
formation of bound excitons to Tb ion clusters is occuring at low sample temperatures. This
indirect excitation mechanism is modeled using a spherical potential-well and a tight-binding
one-band approximation models. For AZO:Tb, a similar approach is carried out, although
the excitons are assumed to be bound to Tb ion clusters or Tb complexes that arise from the
coordination with AZO intrinsic defects.
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