Orientador: Iris Concepcion Linares de Torriani / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-28T17:27:55Z (GMT). No. of bitstreams: 1 GarciaPerez_OscarArmando_D.pdf: 2976097 bytes, checksum: 27d0af1fc5611b89d5dc212a9dabb9de (MD5) Previous issue date: 2000 / Resumo: Usando difração de raios X com a técnica de pó em baixas temperaturas (15 - 300 K), estudamos as propriedades estruturais de vários compostos com estrutura tipo perovskita que pertencem à série de Ruddlesden-Popper (R-P)An+1BnX3n+1 com n = 1, 2 e ¥. Neste tipo de compostos as propriedades estruturais estão fortemente correlacionadas com as propriedades magnéticas e de transporte. Para obter os parâmetros estruturais, refinamos os difratogramas usando o método de Rietveld. Neste trabalho os seguintes problemas foram abordados: (1) Nos compostos La2Ni1-xLixO4 (R-P n = 1) estudamos a relação c/a. No caso x = 0.0 ela diminui sensivelmente com a temperatura. Para x = 0.5, os nossos resultados confirmam o ordenamento parcial dos cátions Li e Ni nos sítios metálicos, o que gera uma superestrutura com grupo espacial Ammm. A relação c/a aumenta uniformemente quando a temperatura diminui. Isto é interpretado em termos da estabilização da configuração de baixo spin Ni3+ (3d7)2A1g no octaedro NiO6 distorcido pelo efeito Jahn-Teller. (2) Em monocristais de La1.2Sr1.8Mn2O7 (R-P n = 2) verificamos a influência das condições de preparação nas propriedades estruturais e a existência de anomalias na rede ao redor da temperatura de Curie TC. (3) Para a série LaMnO3+d (0.0 < d < 0.14) reportamos um efeito anisotrópico da estequiometria (d) sobre a estrutura a T = 300 K; quando aumentamos o d, o parâmetro a diminui rapidamente, b aumenta e, c se mantem constante. Em baixas temperaturas os parâmetros de rede apresentam anomalias perto das temperaturas de transição magnética o que mostra a correlação entre as propriedades magnéticas e estruturais. (4) Para o sistema La1-xCaxMnO3 reportamos drásticas mudanças nos parâmetros de rede no intervalo 1/2 £x £ 4/5 em baixas temperaturas; além disso, ocorre o ordenamento de cargas para oLa0.2Ca0.8MnO3ao redor de 190 K. (5) Na série (La1-yNdy)2/3Ca1/3MnO3 , para x = 0.5 mostramos um efeito de histerese unidimensional na estrutura cristalina; abaixando e subindo a temperatura, o parâmetro de rede c apresenta distintos comportamentos correlacionados com a temperatura de Curie, (TC); esta histerese é menor para x = 0.6 e não existe para x = 0.0 e 1.0 / Abstract: Using X-ray powder diffraction, we studied the structural properties in low temperatures (15 - 300 K) of several compounds with perovskite type structure which belong to Ruddlesden-Popper (R-P) series An+1BnX3n+1 with n = 1, 2 e ¥. In this type of compounds the structural properties are strongly correlated with the magnetic and transport properties. To obtain the structural parameters, we refined the model using the Rietveld Method. In this work the following problems were investigated: (1) In the compounds La2Ni1-xLixO4 we studied the c/a ratio. In the x = 0.0 case its decrease sensitively with the temperature. For x = 0.5, our results confirm the partial ordering of the Li and Ni cations at metals sites, this generate an Ammm space group superstructure. The c/a ratio uniformly increases when the temperature decrease. This is interpreted in terms of the stabilization of the Ni3+ (3d7)2 A1g low-spin configuration in the NiO6 Jahn-Teller distorted octahedro. (2) In La1.2Sr1.8Mn2O7 monocrystals (R-P, n = 2), we verified the influence of the sample's preparation conditions on the structural properties and the existence of lattice anomalies around the Curie temperature TC. (3) For the LaMnO3+d (0.0 < d < 0.14) series we reported an anisotropic effect of the stoichiometry on the structure at T = 300K; when d increase, a parameter decrease rapidly, b increase, and c remain constant. At low temperatures the lattice parameters show anomalies around the magnetic transition temperature; this show the correlation between the magnetic and structural properties. (4) For the La1-xCaxMnO3 system we reported drastic changes in the lattice parameters in the interval 1/2 £x £ 4/5 in low temperatures; moreover, happen the charge ordering for La0.2Ca0.8MnO3 around of 190 K. (5) In the (La1-yNdy)2/3Ca1/3MnO3 series, for x = 0.5 we showed an unidimensional hysteresis effect in the crystalline structure; lower and upper the temperature, the c lattice parameter shows different behaviors that are correlations with the Curie temperature TC; this hysteresis is smaller for x = 0.6 and not existed for x = 0.0 and 1.0 / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Carlos Kenichi Suzuki / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Mecanica / Made available in DSpace on 2018-07-29T05:05:04Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Hiramatsu_CarlosQuioshi_M.pdf: 9548278 bytes, checksum: abe9ac4b40fdf6636e6b507b8b251b8c (MD5) Previous issue date: 2001 / Mestrado

A técnica de análises PIXE (Particle Induced X-ray Emission) de alvos finos é rotineiramente usado no Instituto de Física da Universidade de São Paulo (USP) pelo Lamfi (Laboratório de Materiais e Feixes Iônicos) em análises quantitativas elementares. A calibração do arranjo experimental do Lamfi é realizada através da irradiação de filmes finos padrões evaporados, sendo o rendimento de produção de raios X ajustado a partir deprimeiros princípios. Em análises PIXE de alvos espessos (TTPIXE), a composição daparticular amostra introduz efeitos de perda de energia das partículas incidentes e autoabsorção dos raios X produzidos. Estes efeitos são inexistentes na análise PIXE de alvosfinos. Paradoxalmente há a necessidade de se conhecer a composição da amostra, paracomputar estes efeitos, numa análise elementar quantitativa de alvos espessos. Este trabalhopropõe a diluição de amostras sólidas numa matriz conhecida onde as características de perda de energia das partículas incidentes e auto absorção da radiação produzida estejam caracterizadas (exemplo: ácido bórico, grafite) e supostamente não sofram alterações devido à introdução da amostra (diluição). Para o cálculo do rendimento de produção de raios X em análises TTPIXE é proposto um fator de correção para alvos espessos, dependente exclusivamente da matriz diluidora, aplicado ao rendimento de produção de raios X de alvos finos. Este procedimento viabiliza a utilização da curva de resposta para análises de alvos finos, já calibrada, do arranjo. Utilizando os modelos mais aceitos para o poder de freamento para prótons incidentes, seções de choque de produção de raios X e coeficientes de absorção de radiação pela matéria, o software (Clara) foi desenvolvido para o cálculo do rendimento de produção de raios X em alvos espessos, bem como os fatores de correção para dado raio X e determinada matriz. Alvos espessos foram confeccionados a partir de amostra padrão de referência (SRM-IAEA356 Marine sediment) para verificar os valores calculados pelo Clara e da metodologia de análise proposta. Os valores experimentais encontram-se em concordância com os valores certificados para um coeficiente de intervalo de confiança de 95% considerando o novo limite de detecção imposto pela diluição. Um roteiro para preparação de alvos espessos a partir de amostras sólidas, bem como a descrição do arranjo experimental, estão inclusos. / Thin film PIXE (Particle Induced X-ray Emission) analysis is been routinely used in the Institute of Physics of the University of Sao Paulo (USP) for quantitative analysis of materials. The X-ray production yield of the PIXE-SP setup is calibrated with monoelementary evaporated thin film standards, and fitted with a first principles yield function. However, in thick target PIXE (TTPIXE) analysis, the particular sample composition needs to be known in advance to calculate the stopping power and the X-ray absorption coefficients. In this work, a matrix standardization is proposed, in which a powdered solid sample is diluted in a known light element matrix (like graphite, boric acid, etc.) whose energy loss and selfabsorption are known and supposed almost unchanged. Furthermore, a scheme is proposed where elementary TTPIXE yields are calculated applying a pre-determined thick target correction factor to the thin target PIXE yields. This procedure enables the use of the already calibrated thin film X-ray yields also for thick target analysis. Using the most accepted stopping power model, ionization cross-sections and X-ray attenuation coefficients, a software (Clara) was developed to calculate the elementary TTPIXE X-ray yields and the corresponding thick target correction factors, for a given and pre-determined matrix. The program also allows testing the addition of any contaminant to the primary matrix and to compute the corresponding change in the thick target PIXE X-ray yields. This option was used to calculate the effect of increasing sample mass in the light element matrix, on the calculated yields, the effect of small changes in target composition, and the quantitative limitations of the proposed scheme. Thick test targets were prepared with a standard reference material (SRM-IAEA356 Marine sediment) and used to verify the accuracy of Clara and of the proposed scheme. The experimental values of the sample composition agreed with the certified values for 95% confidence interval coefficient to the new detection limit imposed by dilution. A protocol for target preparation of solid samples using this technique as well as the description of the experimental setup, are included.

Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-08-01T14:18:03Z (GMT). No. of bitstreams: 1 DosSantos_AdenilsonOliveira_M.pdf: 734142 bytes, checksum: 80ffdfe1a57c6df0b27f2cc2991646ec (MD5) Previous issue date: 2002 / Resumo:Neste trabalho, a difração múltipla de raios-X (DM) é usada para investigar distorções na rede cristalina induzidas por um campo elétrico externo (E) permitindo a determinação de todos os coeficientes piezelétricos do sal de Rochelle e também mostrando que a técnica é factível na detecção da transição de fase do di-hidrogenofosfato de potássio (KDP). Recentemente (Avanci, Cardoso, Girdwood, Pugh, Sherwood and Roberts, Phys. Rev. Lett. 81, 5426 (1998), a DM foi usada com sucesso como uma nova sonda para o estudo do efeito do campo E no caso de dois cristais orgânicos, que permitiu a determinação de seus coeficientes piezelétricos relacionados com a direção de aplicação de E, através de uma única medida Renninger. São apresentadas as equações que levam em conta a contribuição do campo E, a deformação da rede eij e a variação na posição dos picos secundários de DM para determinar os coeficientes piezelétricos. As varreduras Renniger foram realizadas num difratômetro de monocristais SIEMENS P4 modificado com a inclusão de um longo colimador evacuado que fornece uma baixa divergência do feixe incidente. O campo E aplicado foi gerado por uma fonte variável dc de baixa corrente elétrica e aplicado na face menor do cristal. Todos os coeficientes piezelétricos para o sal de Rochelle foram obtidos assim como o d36 para a amostra de KDP. Os valores encontrados na literatura concordam bem com os determinados pela DM. No estudo da transição de fase do KDP, as medidas de DM foram realizadas no LNLS usando radiação síncrotron. As modificações na geometria estação XRD pela adição de um difratômetro Huber3-eixos (w , f e 2q ) tornaram possível a obtenção de Varreduras Renninger (e também mapeamento do pico Bragg Surface Diffraction (BSD)) com alta resolução, além de permitir a escolha da polarização adequada do feixe incidente para experimentos de difração de 2 feixes. Resultados preliminares indicaram a (080) como a melhor escolha para reflexão primária do KDP e o caso de quatro feixes (440)/(-440) como secundária. Duas reflexões BSD, onde o feixe secundário propaga-se paralelalamente à superfície da amostra, foram medidas neste estudo. Um intervalo de 3,3º em torno da posição f =0º foi medido enquanto o campo elétrico foi aumentado até 6 kV/cm. Neste valor, uma transição foi observada, os picos se tornaram estreitos e houve variação angular de suas posições na varredura Renninger indicando a possível ocorrência de uma transição de fase metaestável, que se mostrou irreversível / Abstract:In this work, the X-ray multiple diffraction (MD) is used to investigate the distortion of crystal lattice induced by an external electric field (E) in order to determine Rochelle Salt piezoelectric coefficients and also to show the feasability of detecting KDP phase transition. Recently (Avanci, Cardoso, Girdwood, Pugh, Sherwood and Roberts, Phys. Rev. Lett. 81, 5426 (1998)) MD has been successfully used as a new probe to study the effect of E in the case of two organic crystals that allowed the determination of their coefficients related to the E direction of application, from just one Renninger measurement. The equations taking into account the contributions from field strength, E, the lattice strain, eij and, the MD secondary peak shifts to determine the coefficients are also presented. The Renninger scans were carried out in a P4 SIEMENS single crystal diffractometer, by adding a long pipe evacuated collimator which provides a low divergence incident beam. The E applied was generated by a variable voltage, low current dc power supply and applied to the samples wires running from the power supply to small bolts attached to the metal tabs of the sample holder. All Rochelle salt piezoelectric coefficient were determined as well as the d36 for the KDP sample. The values found in the literature match well with the determined ones. As to the study KDP phase transition, the MD measurements using synchrotron radiation at LNLS were performed. The modifications in the geometry of the XRD station by adding a Huber three axes (w , f and 2q ) diffractometer makes possible to obtain Renninger scans (and also mapping of Bragg Surface Diffraction (BSD) peaks) with high resolution besides the normal two-beam diffraction experiments by choosing the adequate incident beam polarization. Prior results indicated (080) as the best choice for the KDP primary reflection and the (440)/(-440) four-beam case as the secondary. These two BSD reflections, where the secondary beam is propagated parallel to the sample surface, were involved in this study. An interval of 3.3º around f =0º position was measured while the electric field was increased up to 6 kV/cm. At this value, a transition was observed and the peaks became narrower and changed their Renninger scan position indicating the occurrence of a possible metaestable ferroelectric phase that turned out to be irreversible / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Frab Norberto Boscolo / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Odontologia de Piracicaba / Made available in DSpace on 2018-08-03T19:04:35Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Mezadri_ArielCesar_D.pdf: 653759 bytes, checksum: 3faa0a6e93eadcd8b5459f06d5346d7a (MD5) Previous issue date: 2003 / Doutorado

Orientador: Jose Roberto Tamburis / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Odontologia de Piracicaba / Made available in DSpace on 2018-08-03T23:47:40Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Devito_KarinaLopes_D.pdf: 2128196 bytes, checksum: f55459b22d06e0e146dfe49a68d40f20 (MD5) Previous issue date: 2004 / Resumo: O objetivo neste trabalho foi avaliar a influência da utilização do filtro de Estanho na qualidade da imagem radiográfica. Para avaliação laboratorial foram realizadas radiografias de uma escala de densidade utilizando filtros de Alumínio (1,5mm), Estanho de 0,05mm (Sn1) e Estanho de 0,5mm (Sn2). Os fatores físicos da radiação (tempo de exposição, quilovoltagem e dose) foram monitorados. Após o processamento radiográfico, obtiveram-se as leituras densitométricas dos degraus da escala. Para cada radiografia foram construídas as curvas de densidade óptica e de contraste. Os valores das áreas das curvas de contraste para os três filtros foram submetidos a tratamento estatístico. Para a avaliação clínica do filtro de Estanho foram radiografados phantoms constituídos de dentes humanos. As radiografias interproximais obtidas foram avaliadas por 25 cirurgiões dentistas quanto à presença ou ausência de cáries proximais, utilizando uma escala de cinco escores. Posteriormente, os dentes foram seccionados e analisados microscopicamente (padrão ouro). As áreas sob curvas ROC foram determinadas para selecionar o filtro que apresentou a melhor performance no diagnóstico de cárie proximal. Os resultados mostraram diferenças significativas nos valores do contraste radiográfico para os três filtros, sendo que o filtro Sn2 apresentou o maior contaste (-2,538), seguido pelo filtro de Alumínio (-2,288) e pelo filtro Sn1 (-2,242). Analisando a área sob a curva ROC observou-se que o filtro Sn1 (0,6510) não apresentou uma redução da performance para o diagnóstico de cárie proximal quando comparado ao filtro de Alumínio (0,6319). Para o filtro Sn2 o valor da área foi de 0,6299. Além disso, o filtro Sn1 necessitou de um menor tempo de exposição e apresentou uma redução na dose de 12%, tornando-se uma alternativa viável para a utilização em aparelhos de raios X odontológicos / Abstract: This study aimed to evaluate the influence of the use of a tin filter on the quality of the radiographic image. For the laboratory evaluation, radiographs of a stepwedge were obtained using aluminum filters (1.5mm), tin of 0.05mm (Sn1) and tin of 0.5mm (Sn2). The physical radiation factors (exposure time, kilovoltage and dose) were monitored. After development, the densitometric readings of the stepwedge steps were obtained. For each radiograph, optical density and contrast curves were constructed. The values of the areas of the contrast curves for the three filters were submitted to statistical analysis. For the clinical evaluation of the tin filter, phantoms comprised of human teeth were radiographed. Twenty-five dentists evaluated the bitewing radiographs obtained with regard to the presence or absence of approximal caries, using a five-score scale. Next, the teeth were sectioned and analyzed microscopically (gold standard). The areas under ROC curves were determined to select the filter that presented the best performance in the diagnosis of approximal caries. The results showed significant differences in the radiographic contrast values for the three fi Iters , with the Sn2 filter presenting the greatest value (-2.538), followed by the aluminum filter (-2.288) and the Sn1 filter (-2.242). The analysis of the area under ROC curve showed that the Sn1 filter (0.6510) did not present a reduction in performance for diagnosing approximal caries when compared with aluminum filter (0.6319). For Sn2 filter, the value of the area was 0.6299. Moreover, the Sn1 filter required shorter exposure times and presented a reduction of 12% in the dose, making it a feasible alternative for use in dental x-ray machines / Doutorado / Radiologia Odontologica / Doutor em Radiologia Odontológica

Orientador: Helio Cesar Nogueira Tolentino / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-25T03:38:23Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Vicentin_FlavioCesar_D.pdf: 26131945 bytes, checksum: cc54b8005b57a775851cff733129fdf6 (MD5) Previous issue date: 1999 / Resumo: Nesta tese aplicamos diferentes modos de detecção em experimentos envolvendo espectroscopia de raios-X moles, a fim de estudar propriedades de volume, eletrônicas e magnéticas (via efeito de dicroísmo) de amostras formadas por terras-raras e metais de transição. Além da detecção normalmente usada neste tipo de espectroscopia, ou seja, o rendimento total de elétrons, empregamos dois modos alternativos: a transmissão e a reflexão. Utilizando o rendimento total de elétrons, estudamos as bordas M4,5 do Er em sub-monocamadas de Er sobre Si(111), usando raios-X linearmente polarizados. O dicroísmo observado foi relacionado ao campo elétrico cristalino e interpretado quantitativamente considerando-se a hipótese de uma perturbação axial. Determinamos o coeficiente de absorção absoluto de algumas terras-raras (Gd, Dy, Ho e Er) nas bordas M4,5 (excitações 3d®4d) medindo-se a transmissão através de camadas com diversas espessuras, entre 2 e 400 Å. Nossos resultados estão em bom acordo com aqueles de cálculos atômicos. A partir do coeficiente de absorção determinamos o índice de refração 4,5 do Er e Ho, fazendo uso das relações de Kramers-Kronig. Também no modo transmissão, observamos o efeito de dicroísmo circular nas bordas L2,3 de um filme de Ni com magnetização perpendicular à superfície, determinando assim, a relação á lzñ / á szñ . Verificamos a dependência angular da refletividade p, para ângulos de incidência entre 0.6o e 3.5o , em camadas de Er e Ho, explicando-a com o modelo óptico que resulta nas equações de Fresnel. Medimos, ainda, a refletividade de um cristal de Ni(110) na região das bordas L2,3, usando-se luz circularmente polarizada, e observamos grandes variações na refletividade ressonante, dependendo da orientação relativa entre a magnetização da amostra e a helicidade dos fótons. Discutimos, também, a dependência angular do dicroísmo circular e o uso da refletividade ressonante magnética para a obtenção de curvas de histerese. Com a mesma amostra de Ni(110), observamos o efeito de dicroísmo linear neste modo de detecção, e medimos um fator de assimetria máximo de 8% para o ângulo de incidência de 4o. Os espectros, para os dois sentidos de magnetização foram explicados com o modelo anterior modificado de tal maneira a incluir o efeito magnético. Finalmente, mostramos os resultados do comissionamento da linha de luz de raios-X moles construída no LNLS e que é similar a utilizada nos experimentos realizados nesta tese / Abstract: In this thesis, we have applied different detection modes for soft X-ray spectroscopy experiments, in order to study bulk, electronic and magnetic (via dichroism effect) properties of transition metals and rare earths samples. In addition to total electron yield, which is normally used in this kind of spectroscopy, we have implemented other two modes: transmission and reflection. In total electron yield mode, we have studied the M4,5 edges of Er in submonolayer coverages of Er on Si(111), using linearly polarized X-rays. The observed dichroism has been related to the surface crystal field and interpreted quantitatively in the hypothesis of an axial perturbation. We have determined the absorption coefficients of several rare earths (Gd, Dy, Ho and Er) at the M4,5 edges (3d ® 4d excitations) by measuring the soft X-ray transmission through layers of different thicknesses between 2 and 400 Å. Our results are in good agreement with atomic calculations. Using the absorption coefficients, we were able to determine the complex refraction index at the Er and Ho M4,5 edges, using the Kramers-Kronig relations. Also in transmission mode, circular dichroism in a perpendicularly magnetized Ni film has been observed at the Ni L2,3 edges, and we determined the (lz)/(sz) ratio. We have verified the p reflectivity angular dependence between 0.6o and 3.5o in Er and Ho layers, which has been explained using a optical model. We also measured the X-ray reflectivity of a Ni (110) crystal over the photon energy range including the L2,3 edges using circularly polarized X-rays, and we observed large variations in the resonante reflectivity acconding to the relative orientation between sample magnetization and photon helicity. The angular dependence of the dichroism and the use of resonant magnetic reflectivity for drawing hysteresis curves are also discussed. Using the same Ni(110) crystal, we observed a linear dichroism effect in resonant reflectivity, and we measured 8% for the maximum asymmetry ratio to 4o incidence angle. The spectra, considering the magnetization dependence, have been explained with an adapted optical model in order to include magnetic effects. Finally, we presented the commissioning results of the soft X-ray spectroscopy beamline in operation at the LNLS, which is similar to the LURE beamline used in these experiments / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-25T02:55:09Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Hayashi_MarceloAssaoka_D.pdf: 2429525 bytes, checksum: f3b9a087de71de3923d5f66b44eef481 (MD5) Previous issue date: 1999 / Resumo: Este trabalho tem como objetivo o desenvolvimento da difração múlt ipla de raios-X, como uma nova técnica de caracterização de materiais semicondutores submetidos à implantação iônica, e também de estruturas epitaxiais que apresentam ordenamento atômico. A técnica também mostrou-se de grande utilidade no estudo da coerência entre as redes cristalinas de heteroestruturas. A sensibilidade do caso de difração Bragg-superfície (BSD) ao regime cinemático ou dinâmico, foi aplicado através do mapeamento das curvas de isointensidade, no estudo dos efeitos da dose (fluência) e da energia do feixe iônico na rede do GaAs, fornecendo informação sobre a perfeição cristalina na direção paralela à superfície, através da medida do seu comprimento de coerência. Os casos BSD também foram escolhidos como método de observação direta do ordenamento atômico, pois os picos BSD mais intensos, pela geometria utilizada, são os com reflexões secundárias 111, que já foram descritas na literatura, como sendo as direções em que ocorre o ordenamento nos compostos III-V. A assimetria observada nas intensidades dos picos BSD em relação ao espelho de simetria, é reflexo da presença do ordenamento, que neste trabalho, foi observado pela primeira vez em amostras crescidas por epitaxia por feixe químico (CBE). No estudo das amostras de GaInP/GaAs, utilizando varreduras Renninger com radiação síncrotron, observou-se pela primeira vez a ocorrência de reflexões híbridas coerentes, em casos de quatro feixes da difração múlt ipla. Uma quebra de simetria observada nas varreduras Renninger, foi explicada como conseqüência do miscut do substrato. O grande comprimento de coerência da radiação síncrotron foi importante para essas observações, desde que ele tem que ser preservado ao longo de todo o caminho híbrido / Abstract: The aim of this work is to develop the X-ray multiple diffraction, as a new technique to characterize semiconductors wafers submitted to ion implantation and, epitaxial layers that presents atomic ordering. The technique was also of great usefulness in the study of the heterostucture lattice coherence. The sensitivity of the Bragg-surface diffraction (BSD) case to the regime of diffraction, dynamical or kinematical, was applied through BSD condition mapping, to analyze the role of dose and energy in the ion implantation process in GaAs lattice, providing information regarding in-plane crystalline perfection, it means, in the parallel direction of the sample surface, through the measurement of the surface lattice coherence length. BSD cases were also chosen as a method for direct observation of atomic ordering in semiconductors, since the strongest BSD peaks are in the [111] direction, reported in the literature, as the atomic ordering directions in III-V epitaxial layers. The asymmetry observed in the peak intensities, regarding the symmetry mirrors are due to the presence of ordered regions in the sample, that were observed for the first time in this work, in samples grown by chemical beam epitaxy (CBE). We have also observed for the first time, the occurrence of coherent hybrid reflect ions in mult iple diffract ion four-beam cases using synchrotron radiat ion Renninger scans to analyze GaInP/GaAs(001) samples. The symmetry break observed in the scans was explained as a consequence of the substrate miscut. The large coherence length of synchrotron radiation was important to these observations, since it has to be preserved along the hybrid path / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-25T18:48:35Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Avanci_LuisHumberto_D.pdf: 3551057 bytes, checksum: ebe9b4e52b745a1feb023962a4d34a2d (MD5) Previous issue date: 1999 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientadores: Celia Marina A. Freire, Margarita Ballester / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Mecanica / Made available in DSpace on 2018-07-25T21:04:29Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Regone_NatalNerimio_M.pdf: 4409232 bytes, checksum: ea85164fbb77dbb913ac9792617f0dca (MD5) Previous issue date: 2000 / Resumo: As tensões surgem nos materiais a partir dos processos de fabricação e também pela utilização de tratamentos superficiais como nitretação dos aços, deposição de camadas por diversos métodos, ou tratamento térmico. Podem ocorrer em escala macroscópica, sendo chamadas de macrotensão ou em um nível microscópico denominadas de microtensão. O objetivo do presente trabalho é avaliar a técnica de difração de raios-X como metodologia de análise de tensões em revestimentos. Para a caracterização da tensão interna foram feitos ensaios por difração de raios-X onde é utilizado dois métodos de análise, o cálculo unidimensional e o bidimensional. O cálculo unidimensional é mais apropriado para materiais padronizados, como os monocristais. No cálculo bidimensional pode ser utilizado qualquer tipo de material policristalino. Com os dados do difratograma pode-se fazer o cálculo da tensão presente no material pela mudança da posição dos picos de difração do espectro. A tensão uniaxial é mais simples de ser determinada, pois pode ser feita em um difratômetro de raio-X convencional. No cálculo da tensão biaxial necessita-se de um dispositivo especial para girar a amostra por um ângulo psi. A utilização do método de difração de raio-X tem a grande vantagem de ser um ensaio não destrutivo das amostras. As diferentes amostras analisadas mostraram que a resultado da tensão presente em camadas superficiais é dependente de diversos fatores como textura, conformação mecânica, e o estado de tensão interna do respectivo substrato utilizado / Abstract: Internal stress can arise in materials due to its fabrication processes as well to its surface preparation, like nitriding or deposition, and to thermal treatment. It can occur in macroscopic scale, called macrostress or in a microscopic degree denominated microstress. The purpose of the present work is the evaluation of X-ray diffiaction technique as a tool in the analyzes of stress in coatings. Two measurement methods were considered: the uniaxial and the biaxial. The first method is easier than the biaxial, but it is proper for single crystal materiais. The second method can be used for any polycrystalline material, but it needs a special device to turn the sample by an angle psi. The analyzed show that the coatings stress depends on the electrodeposion method, the substrate stress and on the mechanical deformation / Mestrado / Materiais e Processos de Fabricação / Mestre em Engenharia Mecânica