The performance of a modern computing system is improving with technology scaling due to advancements in the modern semiconductor industry. However, the power efficiency along with reliability does not scale linearly with performance efficiency. High leakage and standby power in sub 100 nm technology are critical challenges faced by circuit designers. Recent developments in device physics have shown that emerging non-volatile memories are very effective in reducing power dissipation because they eliminate stand by power and exhibit almost zero leakage powerThis dissertation studies the use of emerging non-volatile memory devices in designing circuit architecture for improving power dissipation and the performance of the computing system. More specically, it proposes a novel spintronic Ternary Content AddressableMemory (TCAM), a novel memristive TCAM with improved power and performance efficiency. Our experimental evaluation on 45 nm technology for a 256-bit word-size spintronic TCAM at a supply voltage of 1 V with a sense margin of 50 mV show that the delay is lessthan 200 ps and the per-bit search energy is approximately 3 fJ. The proposed spintronic TCAM consumes at least 30% less energy when compared to state-of-the-art TCAM designs. The search delay on a 144-bit proposed memristive TCAM at a supply voltage of 1 V and a sense margin of 140 mV is 175 ps with per bit search energy of 1.2 fJ on a 45 nm technology. It is 1.12 x times faster and dissipates 67% less search energy per bit than the fastest existing 144-bit MTCAM design.Emerging non-volatile memories are well known for their ability to perform fast analog multiplication and addition when they are arranged in crossbar fashion and are especially suited for neural network applications. However, such systems require the on-chip implementation of the backpropagation algorithm to accommodate process variations. This dissertation studies the impact of process variation in training memristive neural network architecture. It proposes a low hardware overhead on-chip implementation of the backpropagation algorithm that utilizes effectively the very dense memristive cross-bar arrayand is resilient to process variations.Another important issue that needs a careful study due to shrinking technology node is the impact of space or terrestrial radiation in Integrated Circuits (ICs) because the probability of a high energy particle causing an error increases with a decrease in thethreshold voltage and the noise margin. Moreover, single-event effects (SEEs) sensitivity depends on the set of input vectors used at the time of testing due to logical masking. This dissertation analyzes the impact of input test set on the cross section of the microprocessorand proposes a mechanism to derive a high-quality input test set using an automatic test pattern generation (ATPG) for radiation testing of microprocessors arithmetic and logical units..

Este trabalho aborda os soft errors em conversores de dados analógico-digitais e a mitigação usando redundância e diversidade. Nas tecnologias CMOS recentes, os efeitos singulares (SEEs, Single Event Effects) são um grupo de efeitos da radiação espacial que afetam a confiabilidade e disponibilidade dos sistemas. Os soft errors são SEEs que não danificam diretamente o sistema e podem ser posteriormente corrigidos. Seus principais subgrupos são o Single Event Upset (SEU), o Single Event Transient (SET) e o Single Event Functional Interrupt (SEFI). Uma das técnicas em nível de sistema amplamente usadas para proteger os circuitos eletrônicos desses efeitos é a Redundância Modular Tripla (TMR, Triple Modular Redundancy), que pode ainda ser melhorada com a adição da técnica de diversidade. Nesse contexto, esse trabalho adota um esquema baseado nessas duas técnicas para a implementação de um sistema de aquisição de dados (SAD) analógico-digital. Seus objetivos são observar o comportamento dos conversores de dados frente aos soft errors e avaliar a eficácia de um sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal contra esses efeitos da radiação. A implementação desse SAD em um SoC (System-on-Chip) da Cypress Semiconductor, chamado PSoC 5LP e fabricado em tecnologia CMOS de 130 nm, propiciou a realização de dois estudos: no primeiro, é realizada a irradiação com nêutrons, caso de particular interesse para os equipamentos eletrônicos embarcados em aviões; e no segundo, são realizadas injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM do PSoC 5LP. O resultado da irradiação do primeiro estudo foi a não observância de erros, o que impediu cumprir os objetivos propostos para esse teste. Essa situação permitiu duas observações principais: primeiro, o fluxo de nêutrons do experimento é uma característica fundamental que impacta na capacidade de se observar os efeitos da radiação, principalmente quando a seção de choque do circuito em análise é baixa; e segundo, de que a probabilidade de ocorrerem mascaramentos de SETs nos circuitos combinacionais e analógicos é elevada, o que contribui significativamente para reduzir a sensibilidade desses circuitos. Para avaliar a eficácia do sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal foi então realizada uma investigação teórica baseada em análise combinatória, e os resultados mostraram que a adição de diversidade temporal gera, em comparação ao TMR clássico, um ganho significativo na tolerância de falhas duplas e múltiplas, ao preço de um aumento do atraso do circuito. Os resultados das injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM mostraram que apenas um baixo percentual das falhas injetadas é detectado na forma de erros, convergindo para a justificativa de que os mascaramentos foram determinantes para a não observância de erros no primeiro estudo, de injeção de falhas por radiação. Também verificou-se que os registradores de controle dos periféricos são mais importantes no nível de aplicação do que os dados da memória SRAM. Considerações sobre a auto injeção de falhas e auto monitoramento sugerem que a utilização desses conceitos pode trazer diversas limitações e complicadores aos testes. / The present thesis addresses the soft errors in analog-to-digital data converters and mitigation of such errors using redundancy and diversity. In modern CMOS technologies, the Single Event Effects (SEEs) comprises an important group of space radiation effects that influence the reliability and availability of the systems. Soft errors are SEEs that do not directly damage the system and that can be further corrected. Their main subgroups are the Single Event Upset (SEU), the Single Event Transient (SET) and the Single Event Functional Interrupt (SEFI). One of the system level techniques broadly used to protect the electronic circuits against these effects is the Triple Modular Redundancy (TMR), which may be improved with the addition of the diversity technique. In this context, this work proposes a scheme based on these two techniques to implement a tolerant analog-to-digital data acquisition system (DAS). The main objectives are to observe the behavior of the data converters under soft errors, and evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity on mitigating these radiation effects. The implementation of this DAS in a Programmable SoC (System-on-Chip) from Cypress Semiconductor (PSoC 5LP) manufactured in 130 nm CMOS, allowed the development of two studies. In the first one, an irradiation with neutrons is performed, case of particular interest to electronic equipment embedded on planes. In the second study, runtime software fault injections are performed at the peripheral control registers and SRAM of the studied device. As a result from irradiation on the first study no errors were found, what does not allowed meet the objectives of this test. This situation allow two main observations: first, the neutron flux of the experiment is a key feature that influences the ability to observe the radiation effects, mainly when the cross section of the circuit in analysis is low; and second, the probability of occurring SETs masking in combinational and analog circuits is high, which contributes significantly to reduce the sensibility of these circuits. To evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity then was performed a theoretical investigation based on combinatorial analysis, and the results show that the addition of temporal diversity generates a significant gain in tolerating double and multiple faults, if compared to the classical TMR, at the price of an increase in the circuit delay. The results of the second study, performed by runtime software fault injections at the peripheral control registers and SRAM, showed that only a low percentage of injected faults is detected as errors, according to the justification that no errors were found on irradiation of neutrons due to masking. Also was verified that at the application level the peripheral control registers are more important than the data stored in the SRAM memory. Considerations for faults self-injection and self-monitoring were done, suggesting that the use of these concepts may bring numerous limitations to the test.

Este trabalho aborda os soft errors em conversores de dados analógico-digitais e a mitigação usando redundância e diversidade. Nas tecnologias CMOS recentes, os efeitos singulares (SEEs, Single Event Effects) são um grupo de efeitos da radiação espacial que afetam a confiabilidade e disponibilidade dos sistemas. Os soft errors são SEEs que não danificam diretamente o sistema e podem ser posteriormente corrigidos. Seus principais subgrupos são o Single Event Upset (SEU), o Single Event Transient (SET) e o Single Event Functional Interrupt (SEFI). Uma das técnicas em nível de sistema amplamente usadas para proteger os circuitos eletrônicos desses efeitos é a Redundância Modular Tripla (TMR, Triple Modular Redundancy), que pode ainda ser melhorada com a adição da técnica de diversidade. Nesse contexto, esse trabalho adota um esquema baseado nessas duas técnicas para a implementação de um sistema de aquisição de dados (SAD) analógico-digital. Seus objetivos são observar o comportamento dos conversores de dados frente aos soft errors e avaliar a eficácia de um sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal contra esses efeitos da radiação. A implementação desse SAD em um SoC (System-on-Chip) da Cypress Semiconductor, chamado PSoC 5LP e fabricado em tecnologia CMOS de 130 nm, propiciou a realização de dois estudos: no primeiro, é realizada a irradiação com nêutrons, caso de particular interesse para os equipamentos eletrônicos embarcados em aviões; e no segundo, são realizadas injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM do PSoC 5LP. O resultado da irradiação do primeiro estudo foi a não observância de erros, o que impediu cumprir os objetivos propostos para esse teste. Essa situação permitiu duas observações principais: primeiro, o fluxo de nêutrons do experimento é uma característica fundamental que impacta na capacidade de se observar os efeitos da radiação, principalmente quando a seção de choque do circuito em análise é baixa; e segundo, de que a probabilidade de ocorrerem mascaramentos de SETs nos circuitos combinacionais e analógicos é elevada, o que contribui significativamente para reduzir a sensibilidade desses circuitos. Para avaliar a eficácia do sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal foi então realizada uma investigação teórica baseada em análise combinatória, e os resultados mostraram que a adição de diversidade temporal gera, em comparação ao TMR clássico, um ganho significativo na tolerância de falhas duplas e múltiplas, ao preço de um aumento do atraso do circuito. Os resultados das injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM mostraram que apenas um baixo percentual das falhas injetadas é detectado na forma de erros, convergindo para a justificativa de que os mascaramentos foram determinantes para a não observância de erros no primeiro estudo, de injeção de falhas por radiação. Também verificou-se que os registradores de controle dos periféricos são mais importantes no nível de aplicação do que os dados da memória SRAM. Considerações sobre a auto injeção de falhas e auto monitoramento sugerem que a utilização desses conceitos pode trazer diversas limitações e complicadores aos testes. / The present thesis addresses the soft errors in analog-to-digital data converters and mitigation of such errors using redundancy and diversity. In modern CMOS technologies, the Single Event Effects (SEEs) comprises an important group of space radiation effects that influence the reliability and availability of the systems. Soft errors are SEEs that do not directly damage the system and that can be further corrected. Their main subgroups are the Single Event Upset (SEU), the Single Event Transient (SET) and the Single Event Functional Interrupt (SEFI). One of the system level techniques broadly used to protect the electronic circuits against these effects is the Triple Modular Redundancy (TMR), which may be improved with the addition of the diversity technique. In this context, this work proposes a scheme based on these two techniques to implement a tolerant analog-to-digital data acquisition system (DAS). The main objectives are to observe the behavior of the data converters under soft errors, and evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity on mitigating these radiation effects. The implementation of this DAS in a Programmable SoC (System-on-Chip) from Cypress Semiconductor (PSoC 5LP) manufactured in 130 nm CMOS, allowed the development of two studies. In the first one, an irradiation with neutrons is performed, case of particular interest to electronic equipment embedded on planes. In the second study, runtime software fault injections are performed at the peripheral control registers and SRAM of the studied device. As a result from irradiation on the first study no errors were found, what does not allowed meet the objectives of this test. This situation allow two main observations: first, the neutron flux of the experiment is a key feature that influences the ability to observe the radiation effects, mainly when the cross section of the circuit in analysis is low; and second, the probability of occurring SETs masking in combinational and analog circuits is high, which contributes significantly to reduce the sensibility of these circuits. To evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity then was performed a theoretical investigation based on combinatorial analysis, and the results show that the addition of temporal diversity generates a significant gain in tolerating double and multiple faults, if compared to the classical TMR, at the price of an increase in the circuit delay. The results of the second study, performed by runtime software fault injections at the peripheral control registers and SRAM, showed that only a low percentage of injected faults is detected as errors, according to the justification that no errors were found on irradiation of neutrons due to masking. Also was verified that at the application level the peripheral control registers are more important than the data stored in the SRAM memory. Considerations for faults self-injection and self-monitoring were done, suggesting that the use of these concepts may bring numerous limitations to the test.

Este trabalho aborda os soft errors em conversores de dados analógico-digitais e a mitigação usando redundância e diversidade. Nas tecnologias CMOS recentes, os efeitos singulares (SEEs, Single Event Effects) são um grupo de efeitos da radiação espacial que afetam a confiabilidade e disponibilidade dos sistemas. Os soft errors são SEEs que não danificam diretamente o sistema e podem ser posteriormente corrigidos. Seus principais subgrupos são o Single Event Upset (SEU), o Single Event Transient (SET) e o Single Event Functional Interrupt (SEFI). Uma das técnicas em nível de sistema amplamente usadas para proteger os circuitos eletrônicos desses efeitos é a Redundância Modular Tripla (TMR, Triple Modular Redundancy), que pode ainda ser melhorada com a adição da técnica de diversidade. Nesse contexto, esse trabalho adota um esquema baseado nessas duas técnicas para a implementação de um sistema de aquisição de dados (SAD) analógico-digital. Seus objetivos são observar o comportamento dos conversores de dados frente aos soft errors e avaliar a eficácia de um sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal contra esses efeitos da radiação. A implementação desse SAD em um SoC (System-on-Chip) da Cypress Semiconductor, chamado PSoC 5LP e fabricado em tecnologia CMOS de 130 nm, propiciou a realização de dois estudos: no primeiro, é realizada a irradiação com nêutrons, caso de particular interesse para os equipamentos eletrônicos embarcados em aviões; e no segundo, são realizadas injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM do PSoC 5LP. O resultado da irradiação do primeiro estudo foi a não observância de erros, o que impediu cumprir os objetivos propostos para esse teste. Essa situação permitiu duas observações principais: primeiro, o fluxo de nêutrons do experimento é uma característica fundamental que impacta na capacidade de se observar os efeitos da radiação, principalmente quando a seção de choque do circuito em análise é baixa; e segundo, de que a probabilidade de ocorrerem mascaramentos de SETs nos circuitos combinacionais e analógicos é elevada, o que contribui significativamente para reduzir a sensibilidade desses circuitos. Para avaliar a eficácia do sistema baseado em TMR e diversidade espacial-temporal foi então realizada uma investigação teórica baseada em análise combinatória, e os resultados mostraram que a adição de diversidade temporal gera, em comparação ao TMR clássico, um ganho significativo na tolerância de falhas duplas e múltiplas, ao preço de um aumento do atraso do circuito. Os resultados das injeções de falhas por software e em tempo de execução nos registradores de controle dos periféricos e na SRAM mostraram que apenas um baixo percentual das falhas injetadas é detectado na forma de erros, convergindo para a justificativa de que os mascaramentos foram determinantes para a não observância de erros no primeiro estudo, de injeção de falhas por radiação. Também verificou-se que os registradores de controle dos periféricos são mais importantes no nível de aplicação do que os dados da memória SRAM. Considerações sobre a auto injeção de falhas e auto monitoramento sugerem que a utilização desses conceitos pode trazer diversas limitações e complicadores aos testes. / The present thesis addresses the soft errors in analog-to-digital data converters and mitigation of such errors using redundancy and diversity. In modern CMOS technologies, the Single Event Effects (SEEs) comprises an important group of space radiation effects that influence the reliability and availability of the systems. Soft errors are SEEs that do not directly damage the system and that can be further corrected. Their main subgroups are the Single Event Upset (SEU), the Single Event Transient (SET) and the Single Event Functional Interrupt (SEFI). One of the system level techniques broadly used to protect the electronic circuits against these effects is the Triple Modular Redundancy (TMR), which may be improved with the addition of the diversity technique. In this context, this work proposes a scheme based on these two techniques to implement a tolerant analog-to-digital data acquisition system (DAS). The main objectives are to observe the behavior of the data converters under soft errors, and evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity on mitigating these radiation effects. The implementation of this DAS in a Programmable SoC (System-on-Chip) from Cypress Semiconductor (PSoC 5LP) manufactured in 130 nm CMOS, allowed the development of two studies. In the first one, an irradiation with neutrons is performed, case of particular interest to electronic equipment embedded on planes. In the second study, runtime software fault injections are performed at the peripheral control registers and SRAM of the studied device. As a result from irradiation on the first study no errors were found, what does not allowed meet the objectives of this test. This situation allow two main observations: first, the neutron flux of the experiment is a key feature that influences the ability to observe the radiation effects, mainly when the cross section of the circuit in analysis is low; and second, the probability of occurring SETs masking in combinational and analog circuits is high, which contributes significantly to reduce the sensibility of these circuits. To evaluate the effectiveness of a system based on TMR and spatial-temporal diversity then was performed a theoretical investigation based on combinatorial analysis, and the results show that the addition of temporal diversity generates a significant gain in tolerating double and multiple faults, if compared to the classical TMR, at the price of an increase in the circuit delay. The results of the second study, performed by runtime software fault injections at the peripheral control registers and SRAM, showed that only a low percentage of injected faults is detected as errors, according to the justification that no errors were found on irradiation of neutrons due to masking. Also was verified that at the application level the peripheral control registers are more important than the data stored in the SRAM memory. Considerations for faults self-injection and self-monitoring were done, suggesting that the use of these concepts may bring numerous limitations to the test.