Verhaltensmodelle sind für die Beschreibung digitaler Schaltungen besonders geeignet. Sie besitzen einen hohen Abstraktionsgrad, wodurch sich in Vergleich zu strukturellen Modellen die Anzahl der benötigten Elemente verkleinert, um eine Schaltung auf der Verhaltensebene zu beschreiben. In dieser Arbeit wird ein Testerzeugungsverfahren entwickelt, das auf der Verhaltensebene anwendbar ist. Damit soil ein Beitrag zur Beherrschung des zunehmenden Aufwands bei der Testerzeugung fur hochintegrierte Schaltungen geleistet werden. Ausgangspunkt far die Arbeit ist ein Verhaltensgraph, der sich aus einem Datengraphen und einem Ablaufgraphen zusammensetzt. Der Datengraph stellt den Datenfluß dar, wahrend der Ablaufgraph den Steuerfluß abbildet. Aus diesen Graphen werden Testwege abgeleitet, die es ermöglichen, parametrisierte Testmuster von den Eingangsanschlassen bis zum zu testenden Element weiterzuleiten und die Antwort dieses Elements bis zu den Ausgangsanschldssen fortzupflanzen. Durch die Anwendung von parametrisierten Testmustern wird erreicht, daß das Verfahren unabhängig von Fehlermodellen und Realisierungseinzelheiten wird. Die Aktivierung der Testwege wird anhand von Vorwärts- und Rückwärtsfortpflanzungen durchgeführt. Das vorgeschlagene Verfahren berücksichtigt sowohl die prozedurale (imperative) als auch die nichtprozedurale (applikative) Verhaltensbeschreibung einer Schaltung. Es wird an die Eigenschaften des jeweiligen Verhaltens angepaßt, außerdem werden die verschiedenen Sprachkonstrukte, die in den imperativen und applikativen Teilen der Beschreibung vorkommen können, durch entsprechende Verfahren einzeln berücksichtigt. Zur Beschreibung des Verhaltens wird in der vorliegenden Abhandlung die Sprache DSL (Digital Systems Specification Language) verwendet, was aber die Allgemeinheit der Anwendung des Verfahrens nicht einschränkt.

Verhaltensmodelle sind für die Beschreibung digitaler Schaltungen besonders geeignet. Sie besitzen einen hohen Abstraktionsgrad, wodurch sich in Vergleich zu strukturellen Modellen die Anzahl der benötigten Elemente verkleinert, um eine Schaltung auf der Verhaltensebene zu beschreiben. In dieser Arbeit wird ein Testerzeugungsverfahren entwickelt, das auf der Verhaltensebene anwendbar ist. Damit soil ein Beitrag zur Beherrschung des zunehmenden Aufwands bei der Testerzeugung fur hochintegrierte Schaltungen geleistet werden. Ausgangspunkt far die Arbeit ist ein Verhaltensgraph, der sich aus einem Datengraphen und einem Ablaufgraphen zusammensetzt. Der Datengraph stellt den Datenfluß dar, wahrend der Ablaufgraph den Steuerfluß abbildet. Aus diesen Graphen werden Testwege abgeleitet, die es ermöglichen, parametrisierte Testmuster von den Eingangsanschlassen bis zum zu testenden Element weiterzuleiten und die Antwort dieses Elements bis zu den Ausgangsanschldssen fortzupflanzen. Durch die Anwendung von parametrisierten Testmustern wird erreicht, daß das Verfahren unabhängig von Fehlermodellen und Realisierungseinzelheiten wird. Die Aktivierung der Testwege wird anhand von Vorwärts- und Rückwärtsfortpflanzungen durchgeführt. Das vorgeschlagene Verfahren berücksichtigt sowohl die prozedurale (imperative) als auch die nichtprozedurale (applikative) Verhaltensbeschreibung einer Schaltung. Es wird an die Eigenschaften des jeweiligen Verhaltens angepaßt, außerdem werden die verschiedenen Sprachkonstrukte, die in den imperativen und applikativen Teilen der Beschreibung vorkommen können, durch entsprechende Verfahren einzeln berücksichtigt. Zur Beschreibung des Verhaltens wird in der vorliegenden Abhandlung die Sprache DSL (Digital Systems Specification Language) verwendet, was aber die Allgemeinheit der Anwendung des Verfahrens nicht einschränkt.

Verhaltensmodelle sind für die Beschreibung digitaler Schaltungen besonders geeignet. Sie besitzen einen hohen Abstraktionsgrad, wodurch sich in Vergleich zu strukturellen Modellen die Anzahl der benötigten Elemente verkleinert, um eine Schaltung auf der Verhaltensebene zu beschreiben. In dieser Arbeit wird ein Testerzeugungsverfahren entwickelt, das auf der Verhaltensebene anwendbar ist. Damit soil ein Beitrag zur Beherrschung des zunehmenden Aufwands bei der Testerzeugung fur hochintegrierte Schaltungen geleistet werden. Ausgangspunkt far die Arbeit ist ein Verhaltensgraph, der sich aus einem Datengraphen und einem Ablaufgraphen zusammensetzt. Der Datengraph stellt den Datenfluß dar, wahrend der Ablaufgraph den Steuerfluß abbildet. Aus diesen Graphen werden Testwege abgeleitet, die es ermöglichen, parametrisierte Testmuster von den Eingangsanschlassen bis zum zu testenden Element weiterzuleiten und die Antwort dieses Elements bis zu den Ausgangsanschldssen fortzupflanzen. Durch die Anwendung von parametrisierten Testmustern wird erreicht, daß das Verfahren unabhängig von Fehlermodellen und Realisierungseinzelheiten wird. Die Aktivierung der Testwege wird anhand von Vorwärts- und Rückwärtsfortpflanzungen durchgeführt. Das vorgeschlagene Verfahren berücksichtigt sowohl die prozedurale (imperative) als auch die nichtprozedurale (applikative) Verhaltensbeschreibung einer Schaltung. Es wird an die Eigenschaften des jeweiligen Verhaltens angepaßt, außerdem werden die verschiedenen Sprachkonstrukte, die in den imperativen und applikativen Teilen der Beschreibung vorkommen können, durch entsprechende Verfahren einzeln berücksichtigt. Zur Beschreibung des Verhaltens wird in der vorliegenden Abhandlung die Sprache DSL (Digital Systems Specification Language) verwendet, was aber die Allgemeinheit der Anwendung des Verfahrens nicht einschränkt.

Este trabalho tem como objetivo estudar e propor métodos de teste funcional visando a detecção e localização de falhas na infra-estrutura das redes-em-chip. Para isso, o trabalho apresenta, inicialmente, uma descrição das principais características das redes-em-chip, explicando o que elas são e para que elas servem. Em seguida são apresentados conceitos de teste de circuitos integrados, bem como trabalhos relacionados ao teste das redes-em-chip. Um método de teste visando a detecção de falhas nas interconexões de dados de uma NoC é apresentado no trabalho, sendo este método posteriormente estendido para incluir as interconexões de controle. Os circuitos de teste necessários para implementar a estratégia de teste proposta também são descritos. A partir do método de teste apresentado, é feito um estudo sobre sua capacidade de localização de falhas, onde alterações visando o aumento dessa capacidade de localização de falhas são propostas. Por fim o método de teste é estendido para detecção de falhas nos roteadores da rede. / The purpose of this work is to study and propose functional test methods that aim the detection and location of faults in the NoC’s infrastructure. In order to do so, this work presents, initially, a description of the main characteristics of networks-on-chip, explaining what are NoCs and what is their purpose. Fallowing this description, some concepts related to the test of integrated circuits are presented as well as related works on NoC testing. A method aiming the detection of data interconnect faults in a NoC is presented in this work. This method is later extended to include faults in the control interconnections as well. The circuits used to implement the proposed strategy are also described here. Based on the proposed test strategy, the method’s capability to locate faults is studied. Changes are proposed to the test method in order to increase this fault location capability. Finally, the test method is extended to include faults inside the router’s logic.

Este trabalho tem como objetivo estudar e propor métodos de teste funcional visando a detecção e localização de falhas na infra-estrutura das redes-em-chip. Para isso, o trabalho apresenta, inicialmente, uma descrição das principais características das redes-em-chip, explicando o que elas são e para que elas servem. Em seguida são apresentados conceitos de teste de circuitos integrados, bem como trabalhos relacionados ao teste das redes-em-chip. Um método de teste visando a detecção de falhas nas interconexões de dados de uma NoC é apresentado no trabalho, sendo este método posteriormente estendido para incluir as interconexões de controle. Os circuitos de teste necessários para implementar a estratégia de teste proposta também são descritos. A partir do método de teste apresentado, é feito um estudo sobre sua capacidade de localização de falhas, onde alterações visando o aumento dessa capacidade de localização de falhas são propostas. Por fim o método de teste é estendido para detecção de falhas nos roteadores da rede. / The purpose of this work is to study and propose functional test methods that aim the detection and location of faults in the NoC’s infrastructure. In order to do so, this work presents, initially, a description of the main characteristics of networks-on-chip, explaining what are NoCs and what is their purpose. Fallowing this description, some concepts related to the test of integrated circuits are presented as well as related works on NoC testing. A method aiming the detection of data interconnect faults in a NoC is presented in this work. This method is later extended to include faults in the control interconnections as well. The circuits used to implement the proposed strategy are also described here. Based on the proposed test strategy, the method’s capability to locate faults is studied. Changes are proposed to the test method in order to increase this fault location capability. Finally, the test method is extended to include faults inside the router’s logic.

Este trabalho tem como objetivo estudar e propor métodos de teste funcional visando a detecção e localização de falhas na infra-estrutura das redes-em-chip. Para isso, o trabalho apresenta, inicialmente, uma descrição das principais características das redes-em-chip, explicando o que elas são e para que elas servem. Em seguida são apresentados conceitos de teste de circuitos integrados, bem como trabalhos relacionados ao teste das redes-em-chip. Um método de teste visando a detecção de falhas nas interconexões de dados de uma NoC é apresentado no trabalho, sendo este método posteriormente estendido para incluir as interconexões de controle. Os circuitos de teste necessários para implementar a estratégia de teste proposta também são descritos. A partir do método de teste apresentado, é feito um estudo sobre sua capacidade de localização de falhas, onde alterações visando o aumento dessa capacidade de localização de falhas são propostas. Por fim o método de teste é estendido para detecção de falhas nos roteadores da rede. / The purpose of this work is to study and propose functional test methods that aim the detection and location of faults in the NoC’s infrastructure. In order to do so, this work presents, initially, a description of the main characteristics of networks-on-chip, explaining what are NoCs and what is their purpose. Fallowing this description, some concepts related to the test of integrated circuits are presented as well as related works on NoC testing. A method aiming the detection of data interconnect faults in a NoC is presented in this work. This method is later extended to include faults in the control interconnections as well. The circuits used to implement the proposed strategy are also described here. Based on the proposed test strategy, the method’s capability to locate faults is studied. Changes are proposed to the test method in order to increase this fault location capability. Finally, the test method is extended to include faults inside the router’s logic.

As redes-em-chip (NoCs) surgiram como uma alternativa aos atuais problemas de interconexão decorrentes da redução da escala de tecnologia de fabricação de circuitos integrados. O desenvolvimento de transistores com nanômetros de largura tem permitido a inserção de sistemas altamente complexos em uma única pastilha de silício. Dessa forma, os SoCs (Systems-on-Chip) passaram a constituir inúmeros elementos de processamentos (EPs) e as NoCs têm se apresentado como uma opção eficiente no provimento da interconexão dos mesmos, permitindo maior escalabilidade e paralelismo ao sistema. No entanto, esta conexão não é realizada de forma direta. Todo sistema conectado por uma NoC necessita de interfaces de rede (NIs) para intermediar a conexão dos elementos de processamento aos roteadores da rede. O objetivo desse trabalho é apresentar soluções arquiteturais de interfaces de rede para NoCs que atendam diferentes aplicações de forma genérica. Neste trabalho foram desenvolvidas interfaces de redes reutilizáveis e parametrizáveis, e para atender a estas características, as interfaces de rede possibilitam a configuração de diversos parâmetros arquiteturais, como largura da palavra de dados dos EPs, profundidade das FIFOs das interfaces, profundidade das FIFOs da NoC e largura de dados da rede, possibilitando prover a interconexão de qualquer aplicação com um mínimo de reprojeto. As interfaces de rede, juntamente com a NoC, são responsáveis pelo desempenho da comunicação da aplicação e, para isso, o projeto de uma NI deve ser capaz de atender aos requisitos do sistema, por isso, a importância de se obter um projeto de NIs flexível. Para validar as arquiteturas das NIs desenvolvidas, os módulos do decodificador de vídeo no contexto do padrão H.264 foram conectados à NoC através das interfaces projetadas. A partir dessa implementação, puderam-se levantar diversas necessidades que devem ser atendidas pelas NIs. Por fim, foram analisados os resultados de síntese das NIs para diferentes configurações. Também foram verificados os resultados de síntese e desempenho do decodificador de vídeo H.264 conectado pelas NIs à NoC. Com relação aos resultados de síntese em FPGA, a implementação do decodificador de vídeo com NoC e NIs não apresentou um grande aumento em área quando comparada a implementação com conexão ponto-a-ponto. Além disso, para diferentes configurações das NIs, a NoC pode ser utilizada atendendo aos requisitos de desempenho exigidos pela aplicação, sem a necessidade de operar na sua máxima taxa de operação para a resolução QCIF. / Networks-on-Chip (NoCs) have emerged as an alternative to the current interconnection problems arising from the scaling technology for manufacturing integrated circuits. The development of transistors with nanometer-wide has enabled the integration of highly complex systems on a single silicon wafer. Thus, SoCs (Systemson- Chip) have integrated numerous processing elements (EPs) and NoCs have been presented as an effective option in providing the interconnection of these elements, allowing scalability and parallelism to the system. However, this connection is not done directly. Every system connected by NoC needs network interfaces to intermediate the connection of processing elements to network routers. The goal of this thesis is to present architectural solutions for network interfaces for applications in general. In this work we developed a generic, reusable and configurable network interface. The proposed network interface enables the configuration of several architectural parameters, such as data width of the packets, FIFOs depth of the interfaces, FIFO depth and data width of the NoC, and thus, being able to provide the interconnection of any application with a minimal redesign. Network interfaces, together with the NoC, are responsible for application performance and, therefore, the design of an NI should be able to support the system requirements. To validate the architecture of developed NI, the modules of H.264 decoder were connected to NoC through designed interface. From this implementation, one could raise several needs that must be supported by the NIs. Finally, we analyzed the results of synthesis of the NIs for different configurations. It was also analyzed the results of synthesis and performance of H.264 video decoder connected by NIs to NoC. According to results for FPGA synthesis, the implementation of video decoder with NoC and NIs did not show a large increase in area when compared with the implementation of peer-to-peer. Moreover, for different configurations, the NoC can be used according to time requisitions required by the application, without the need to operate at its maximum operation frequency for QCIF resolution.

Com o avanço da tecnologia de fabricação de chips o atraso em fios globais será maior que o atraso em portas lógicas. Além disso, fios globais longos são mais suscetíveis a problemas de integridade como crosstalk. Uma proposta recente de interconnecção global chamada redes intra-chip reduz essas limitações referentes a fios longos. Além dessas vantagens, redes intra-chip permitem desacoplar comunicação e computação, dividindo um sistema em sub tarefas independentes. Devido as essas vantagens é possível integrar mais lógica em um chip que usa redes intra-chip. Entretanto, o acréscimo de lógica no chip aumenta o custo de teste. Os módulos do chip precisam de mecanismos para transportar dados de teste, que são tipicamente barramentos usados exclusivamente para teste. Entretanto, como mencionado anteriormente, fios globais são caros e acrescentar barramentos de teste pode não ser possível em um futuro próximo. Por outro lado, uma rede intra-chip tem acesso a maioria dos módulos do chip. Esta rede pode ser usada para transportar dados de teste, evitando o acréscimo de barramentos dedicados ao teste. O objetivo dessa tese é estudar o uso de redes intra-chip para o transporte de dados de teste, enfatizando uma abordagem genérica que possa ser aplicada a uma dada rede. Para tanto, essa tese foi divida em três partes: modelos, projeto, e otimização. A tese propõe um modelo funcional de rede que é compatível com a maioria das recém propostas redes intra-chip. O modelo de teste, baseado no modelo funcional da rede, compreende o conjunto de informações necessárias para otimizar a arquitetura de teste. A arquitetura de teste, por sua vez, consiste de lógica para teste e algoritmo de otimização. A lógica de teste compreende lógica para ATE interface e lógica envoltória para módulos de hardware. Os algoritmos otimizam o tempo de teste e a área de lógica de teste no nível dos módulos e no nível do chip. Uma arquitetura convencional de teste de SoCs baseada em barramento de teste dedicado foi comparada com a arquitetura proposta para SoCs baseados em redes intra-chip. Os resultados apontam que o tempo de teste do SoC com a arquitetura proposta aumenta em média 5%. Os resultados também mostram que a lógica de teste da arquitetura proposta é cerca de 20% maior que na arquitetura de teste convencional. Por outro lado, o fluxo de projeto baseado na arquitetura de teste proposta é mais simples que a convencional. Além disso, a arquitetura proposta reduz o nÚmero de fios globais em torno de 20% a 50% para SoCs complexos. Estes resultados demonstram que a arquitetura proposta é melhor para sistemas complexos com um grande nÚmero de módulos. / With the advance of microchip technology, global and long wires will cost more in terms of delay than in terms of logic gates. ln addition, long wires are more susceptible to signal integrity problems such as crosstalk. A recently proposed global interconnect called network-on-chip alleviates the limitation of long wires. Moreover, on-chip networks allow decoupling communication and computation to divide a complete system into manageable and independent sub tasks. Thus, it is possible to integrate more logic into the chip using network-on-chip. However, the complexity growth of cores also increases the test costs since more logic is embedded into a single chip. These embedded cores need a test access mechanism for test data transportation, typically implemented as test-dedicated buses. As mentioned before, global wires are expensive, then, adding test buses may not be feasible in the near future. On the other hand, the on-chip network has access to most cores of the chip. This network could be used also for test data transportation, avoiding additional test-dedicated buses. The goal of this thesis is to study the reuse of on-chip networks for test data transportation, looking for a general reuse approach that can be easily used in a given network. To reach this goal, the thesis is divided in three parts: models, design, and optimization. This thesis proposes a functional model of a network, compatible with most recently proposed best-effort on-chip networks. Based on this functional model, a test model is devised. The test model comprises of a set of necessary and sufficient information required to optimize the test architecture. The test architecture consists of DfT logic and scheduling algorithm. The design of DfT logic comprises adaptation logic for the external tester and test wrappers for the modules. The optimization procedure, focused on mesh-based best-effort NoCs, schedules test data such that the chip test length and DfT silicon are a are minimized. A conventional SoC test architecture based on test-dedicated buses is compared to the proposed approach for best-effort NoCs. The experimental results show that SoC test length has increased 5% on average. The results have also shown that the are a overhead for proposed DfT is around +20% compared to the silicon area to implement the DfT of a convehtional test architecture. On the other hand, we have also presented a simpler design fiow and 20% to 50% of global wiring savings due to the use of NoC for test data transportation. The results corroborate with the conclusion that the proposed NoC reuse is a good approach for complex systems based on a large number of cores and routers.

Com o avanço da tecnologia de fabricação de chips o atraso em fios globais será maior que o atraso em portas lógicas. Além disso, fios globais longos são mais suscetíveis a problemas de integridade como crosstalk. Uma proposta recente de interconnecção global chamada redes intra-chip reduz essas limitações referentes a fios longos. Além dessas vantagens, redes intra-chip permitem desacoplar comunicação e computação, dividindo um sistema em sub tarefas independentes. Devido as essas vantagens é possível integrar mais lógica em um chip que usa redes intra-chip. Entretanto, o acréscimo de lógica no chip aumenta o custo de teste. Os módulos do chip precisam de mecanismos para transportar dados de teste, que são tipicamente barramentos usados exclusivamente para teste. Entretanto, como mencionado anteriormente, fios globais são caros e acrescentar barramentos de teste pode não ser possível em um futuro próximo. Por outro lado, uma rede intra-chip tem acesso a maioria dos módulos do chip. Esta rede pode ser usada para transportar dados de teste, evitando o acréscimo de barramentos dedicados ao teste. O objetivo dessa tese é estudar o uso de redes intra-chip para o transporte de dados de teste, enfatizando uma abordagem genérica que possa ser aplicada a uma dada rede. Para tanto, essa tese foi divida em três partes: modelos, projeto, e otimização. A tese propõe um modelo funcional de rede que é compatível com a maioria das recém propostas redes intra-chip. O modelo de teste, baseado no modelo funcional da rede, compreende o conjunto de informações necessárias para otimizar a arquitetura de teste. A arquitetura de teste, por sua vez, consiste de lógica para teste e algoritmo de otimização. A lógica de teste compreende lógica para ATE interface e lógica envoltória para módulos de hardware. Os algoritmos otimizam o tempo de teste e a área de lógica de teste no nível dos módulos e no nível do chip. Uma arquitetura convencional de teste de SoCs baseada em barramento de teste dedicado foi comparada com a arquitetura proposta para SoCs baseados em redes intra-chip. Os resultados apontam que o tempo de teste do SoC com a arquitetura proposta aumenta em média 5%. Os resultados também mostram que a lógica de teste da arquitetura proposta é cerca de 20% maior que na arquitetura de teste convencional. Por outro lado, o fluxo de projeto baseado na arquitetura de teste proposta é mais simples que a convencional. Além disso, a arquitetura proposta reduz o nÚmero de fios globais em torno de 20% a 50% para SoCs complexos. Estes resultados demonstram que a arquitetura proposta é melhor para sistemas complexos com um grande nÚmero de módulos. / With the advance of microchip technology, global and long wires will cost more in terms of delay than in terms of logic gates. ln addition, long wires are more susceptible to signal integrity problems such as crosstalk. A recently proposed global interconnect called network-on-chip alleviates the limitation of long wires. Moreover, on-chip networks allow decoupling communication and computation to divide a complete system into manageable and independent sub tasks. Thus, it is possible to integrate more logic into the chip using network-on-chip. However, the complexity growth of cores also increases the test costs since more logic is embedded into a single chip. These embedded cores need a test access mechanism for test data transportation, typically implemented as test-dedicated buses. As mentioned before, global wires are expensive, then, adding test buses may not be feasible in the near future. On the other hand, the on-chip network has access to most cores of the chip. This network could be used also for test data transportation, avoiding additional test-dedicated buses. The goal of this thesis is to study the reuse of on-chip networks for test data transportation, looking for a general reuse approach that can be easily used in a given network. To reach this goal, the thesis is divided in three parts: models, design, and optimization. This thesis proposes a functional model of a network, compatible with most recently proposed best-effort on-chip networks. Based on this functional model, a test model is devised. The test model comprises of a set of necessary and sufficient information required to optimize the test architecture. The test architecture consists of DfT logic and scheduling algorithm. The design of DfT logic comprises adaptation logic for the external tester and test wrappers for the modules. The optimization procedure, focused on mesh-based best-effort NoCs, schedules test data such that the chip test length and DfT silicon are a are minimized. A conventional SoC test architecture based on test-dedicated buses is compared to the proposed approach for best-effort NoCs. The experimental results show that SoC test length has increased 5% on average. The results have also shown that the are a overhead for proposed DfT is around +20% compared to the silicon area to implement the DfT of a convehtional test architecture. On the other hand, we have also presented a simpler design fiow and 20% to 50% of global wiring savings due to the use of NoC for test data transportation. The results corroborate with the conclusion that the proposed NoC reuse is a good approach for complex systems based on a large number of cores and routers.

As redes-em-chip (NoCs) surgiram como uma alternativa aos atuais problemas de interconexão decorrentes da redução da escala de tecnologia de fabricação de circuitos integrados. O desenvolvimento de transistores com nanômetros de largura tem permitido a inserção de sistemas altamente complexos em uma única pastilha de silício. Dessa forma, os SoCs (Systems-on-Chip) passaram a constituir inúmeros elementos de processamentos (EPs) e as NoCs têm se apresentado como uma opção eficiente no provimento da interconexão dos mesmos, permitindo maior escalabilidade e paralelismo ao sistema. No entanto, esta conexão não é realizada de forma direta. Todo sistema conectado por uma NoC necessita de interfaces de rede (NIs) para intermediar a conexão dos elementos de processamento aos roteadores da rede. O objetivo desse trabalho é apresentar soluções arquiteturais de interfaces de rede para NoCs que atendam diferentes aplicações de forma genérica. Neste trabalho foram desenvolvidas interfaces de redes reutilizáveis e parametrizáveis, e para atender a estas características, as interfaces de rede possibilitam a configuração de diversos parâmetros arquiteturais, como largura da palavra de dados dos EPs, profundidade das FIFOs das interfaces, profundidade das FIFOs da NoC e largura de dados da rede, possibilitando prover a interconexão de qualquer aplicação com um mínimo de reprojeto. As interfaces de rede, juntamente com a NoC, são responsáveis pelo desempenho da comunicação da aplicação e, para isso, o projeto de uma NI deve ser capaz de atender aos requisitos do sistema, por isso, a importância de se obter um projeto de NIs flexível. Para validar as arquiteturas das NIs desenvolvidas, os módulos do decodificador de vídeo no contexto do padrão H.264 foram conectados à NoC através das interfaces projetadas. A partir dessa implementação, puderam-se levantar diversas necessidades que devem ser atendidas pelas NIs. Por fim, foram analisados os resultados de síntese das NIs para diferentes configurações. Também foram verificados os resultados de síntese e desempenho do decodificador de vídeo H.264 conectado pelas NIs à NoC. Com relação aos resultados de síntese em FPGA, a implementação do decodificador de vídeo com NoC e NIs não apresentou um grande aumento em área quando comparada a implementação com conexão ponto-a-ponto. Além disso, para diferentes configurações das NIs, a NoC pode ser utilizada atendendo aos requisitos de desempenho exigidos pela aplicação, sem a necessidade de operar na sua máxima taxa de operação para a resolução QCIF. / Networks-on-Chip (NoCs) have emerged as an alternative to the current interconnection problems arising from the scaling technology for manufacturing integrated circuits. The development of transistors with nanometer-wide has enabled the integration of highly complex systems on a single silicon wafer. Thus, SoCs (Systemson- Chip) have integrated numerous processing elements (EPs) and NoCs have been presented as an effective option in providing the interconnection of these elements, allowing scalability and parallelism to the system. However, this connection is not done directly. Every system connected by NoC needs network interfaces to intermediate the connection of processing elements to network routers. The goal of this thesis is to present architectural solutions for network interfaces for applications in general. In this work we developed a generic, reusable and configurable network interface. The proposed network interface enables the configuration of several architectural parameters, such as data width of the packets, FIFOs depth of the interfaces, FIFO depth and data width of the NoC, and thus, being able to provide the interconnection of any application with a minimal redesign. Network interfaces, together with the NoC, are responsible for application performance and, therefore, the design of an NI should be able to support the system requirements. To validate the architecture of developed NI, the modules of H.264 decoder were connected to NoC through designed interface. From this implementation, one could raise several needs that must be supported by the NIs. Finally, we analyzed the results of synthesis of the NIs for different configurations. It was also analyzed the results of synthesis and performance of H.264 video decoder connected by NIs to NoC. According to results for FPGA synthesis, the implementation of video decoder with NoC and NIs did not show a large increase in area when compared with the implementation of peer-to-peer. Moreover, for different configurations, the NoC can be used according to time requisitions required by the application, without the need to operate at its maximum operation frequency for QCIF resolution.