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1	Hochauflösende Schichtanalytik mit hochenergetischen schweren Ionen Blažević, Abel. January 1998 (has links) Berlin, Freie Universiẗat, Diss., 1998. / Dateiformat: zip, Dateien im PDF-Format. Tiefenprofilmessung
2	Optische Tiefenprofilbestimmung auf der Basis adaptiv generierter Beugungsmuster Lubeley, Dominik January 2009 (has links) Zugl.: Dortmund, Techn. Univ., Diss., 2009
3	Ordering Phenomena in FeCo-Films and Fe/Cr-Multilayers: An X-ray and Neutron Scattering Study Nickel, Bert 29 May 2001 (has links) No description available.
4	Mechanical properties on nanometer scale and their relations to composition and microstructure a nanoindentation study on carbon implanted Ti-6Al-4V / Kunert, Maik. January 2000 (has links) Stuttgart, Univ., Diss., 2000.
5	Ordering phenomena in FeCo-films and Fe-Cr-multilayers An X-ray and an X-ray and neutron scattering study / Nickel, Bert. January 2001 (has links) Stuttgart, Univ., Diss., 2001.
6	Improvements in TOF-SIMS instrumentation for analytical application and fundamental research Grehl, Thomas. Unknown Date (has links) (PDF) University, Diss., 2003--Münster (Westfalen).
7	Strukturelle Eigenschaften von Cu(In,Ga)(Se,S) 2 Dünnschichten Kötschau, Immo Michael, January 2003 (has links) Stuttgart, Univ., Diss., 2003.
8	Methode zur Bestimmung der Adatomkonzentration von Dotierstoffen Oehme, Michael. Unknown Date (has links) (PDF) Universiẗat, Diss., 2003--Stuttgart.
9	Untersuchungen junger Grundwässer mit Hilfe anthropogen erzeugter Spurenstoffe Fulda, Christian. Unknown Date (has links) (PDF) Universiẗat, Diss., 1998--Heidelberg.
10	Beiträge zur räumlich aufgelösten Analyse mittels Scanning Laserablation-ICP-Massenspektrometrie unter besonderer Berücksichtigung von Schichtsystemen und Supraleitern Plotnikov, Alexei 19 September 2004 (has links) (PDF) Die vorliegende Arbeit stellt die Ergebnisse der methodologischen Entwicklung räumlich aufgelöster Analyse mittels Scanning Laserablation-ICP-Massenspektrometrie dar. Eine neue Behandlung zur Quantifizierung transienter analytischer Signale wurde für die Wiederherstellung von Konzentrationsprofilen vorgeschlagen. Die Anwendung der entwickelten Modelle auf die räumlich aufgelöste Analyse mittels LA-ICP-MS ermöglicht verbesserten Informationsgewinn und lässt dadurch eine höhere räumliche Auflösung erreichen. Die Anwendbarkeit der LA-ICP-MS für die räumlich aufgelöste Bestimmung der Stöchiometrie in supraleitenden Borokarbiden wurde untersucht. Der Einfluss apparativer Größen auf das analytische Signal wurde aufgeklärt, um die Messbedingungen zu optimieren. Zusätzlich wurden Fraktionierungseffekte untersucht, um die Ursache und deren Auswirkung auf die Analyse supraleitender Borokarbiden zu erklären. / This work represents the results of the methodological development of spatially resolved analysis by scanning laser ablation ICP mass spectrometry. A new approach to the quantification of transient analytical signals was proposed to reveal the concentration profile. An application of the developed models on spatially resolved analysis by LA-ICP-MS allows to gain more information from experimental data and hence to achieve better spatial resolution. The applicability of LA-ICP-MS to the spatially resolved determination of the stoichiometry of superconducting borocarbides was investigated. The effect of experimental parameters on analytical signals was elucidated in order to optimize the experimental conditions. In addition, fractionation effects were investigated to identify the causes for fractionation and their influence on the analysis of superconducting borocarbides. Elementanalyse Fraktionierungseffekte Laserablation Massenspektrometrie Schichtdickebestimmung Stöchiometriebestimmung Tiefenprofilanalyse induktiv gekoppeltes Plasma ortsaufgelöste Analyse räumliche Auflösung supraleitende Borokarbide transien depth profiling elemental analysis fractionation inductively coupled plasma mass spectrometry spatial resolution stoichiometry superconducting borocarbides transient signal ddc:540 rvk:VG 6007 Boridcarbide Fraktionierung ICP Laserablation Massenspektrometrie Tiefenprofilmessung

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