Afin de réaliser un appareil innovant pour la mesure de gaz polluants, la société SVS@CAP s'est associée avec le laboratoire de physique corpusculaire en 2009 pour la création du projet EREBUS. Ce projet a pour but la réalisation d'un ensemble de dispositifs sans fil permettant d'effectuer une surveillance de la concentration de gaz polluants. L'autonomie et la compacité d'un tel dispositif étant essentielles, la problématique principale porte sur la réduction de la consommation. A partir d'une première étude menée sur les différentes technologies existantes, les capteurs électrochimiques ont été identifiés comme les moins consommateurs d'énergie. Pour chacun des gaz cibles, un modèle électrique du capteur associé a été déterminé. A partir de ces modèles, une architecture dédiée et épurée a pu être déduite. Pour atteindre et même dépasser les objectifs de consommation, les efforts ont aussi été portés sur un dimensionnement avec la méthode gm/id. La réalisation de cette électronique intégrée a permis d'atteindre une consommation de l'ordre du microwatt pour chaque voie de mesure. Enfin, pour compléter la chaîne de lecture, plusieurs architectures de convertisseurs ont été étudiées et réalisées pour fonctionner à des fréquences d'échantillonnage proches du Hz. Les consommations obtenues pour les convertisseurs sont limitées avec comme ordre de grandeur la centaine de nW.

La Non-Linéarité-Différentielle (NLD) et la Non-Linéarité-Intégrale (NLI) sont les performances statiques les plus importantes des Convertisseurs Analogique-Numérique (CAN) qui sont mesurées lors d'un test de production. Ces deux performances indiquent la déviation de la fonction de transfert du CAN par rapport au cas idéal. Elles sont obtenues en appliquant une rampe ou une sinusoïde lente au CAN et en calculant le nombre d'occurrences de chacun des codes du CAN.Ceci permet la construction de l'histogramme qui permet l'extraction de la NLD et la NLI. Cette approche requiert lacollection d'une quantité importante de données puisque chacun des codes doit être traversé plusieurs fois afin de moyenner le bruit et la quantité de données nécessaire augmente exponentiellement avec la résolution du CAN sous test. En effet,malgré que les circuits analogiques et mixtes occupent une surface qui n'excède pas généralement 5% de la surface globald'un System-on-Chip (SoC), leur temps de test représente souvent plus que 30% du temps de test global. Pour cette raison, la réduction du temps de test des CANs est un domaine de recherche qui attire de plus en plus d'attention et qui est en train deprendre de l'ampleur. Les CAN de type pipeline offrent un bon compromis entre la vitesse, la résolution et la consommation.Ils sont convenables pour une variété d'applications et sont typiquement utilisés dans les SoCs destinés à des applicationsvidéo. En raison de leur façon particulière du traitement du signal d'entrée, les CAN de type pipeline ont des codes de sortiequi ont la même largeur. Par conséquent, au lieu de considérer tous les codes lors du test, il est possible de se limiter à un sous-ensemble, ce qui permet de réduire considérablement le temps de test. Dans ce travail, une technique pour l'applicationdu test à code réduit pour les CANs de type pipeline est proposée. Elle exploite principalement deux propriétés de ce type deCAN et permet d'obtenir une très bonne estimation des performances statiques. La technique est validée expérimentalementsur un CAN 11-bit, 55nm de STMicroelectronics, obtenant une estimation de la NLD et de la NLI pratiquement identiques àla NLD et la NLI obtenues par la méthode classique d'histogramme, en utilisant la mesure de seulement 6% des codes.

Dans l’âge des objets connectés, circuits conventionnels implémenté sur silicium ne sont pas la seule option pour réaliser des interfaces des capteurs. Dispositifs électroniques implémentés sur substrats souples sont aussi une option intéressante comme interface des capteurs dans notre quotidien, e.g: dans des vêtements, emballages, peau et dedans notre corps humain. Dans cette thèse nous proposons une formalisation de :-La procédure de fabrication de transistors en utilisant des matériaux organiques et flexibles. -La conception de circuits analogiques et numériques en utilisant ces transistors. Les contributions de cette thèse sont :• Optimisation de la procédure de fabrication et caractérisation de 2 technologies : la première fabriqué en utilisant des masques (« shadow masks » en anglais) avec un procès relativement « simple à implémenter ». La deuxième par un procès en utilisant la photolithographie et l’auto alignement. • Modélisation et extraction de paramètres pour prévoir leurs variations dans la conception de circuits.• Customisation des outils CAO « Open Source » VLSI (Alliance ©) pour la conception des circuits et layouts des transistors organiques.• Conception, fabrication et mesure des circuits analogiques (OTAs, comparateurs et convertisseurs analogiques-numériques) et circuits numériques simples (inverseurs, portes logiques, bascules). Ce travail a eu des résultats intéressants et il ouvre un ample spectre d’applications dans l’avenir dans le domaine de l’électronique flexible et organique. / In the era of “Internet of Things”, conventional silicon-based circuits are not the only option to realize sensor interfaces. Electronic devices based on flexible materials are an interesting approach to interface with sensors connected to our everyday life, e.g.: clothes, packages, skin and into the human body. In this thesis, we propose a formalization of the:- Transistor fabrication process using organic and flexible materials.- Analog and digital circuit design using these transistors. The main contribution of this work can be summarized in the following:- Optimization of the fabrication and characterization process of two technologies: the first by shadow masks with an easy-to-fabricate procedure, the second by self-alignment and photolithography.- Modeling and parameter extraction for process variation aware analog design.- Customization of an open source VLSI CAD tools (Alliance©) for circuit design and layout of OTFT.- Design, fabrication and measurement of OTFT analog front-ends (OTAs, Comparators, Analog-to-Digital Converters,…) and basic digital circuits (Inverters, Logic Gates, …).This work achieved very interesting results and it opens a wide scope of future applications in the field of Flexible organic electronics.

Afin de réaliser un appareil innovant pour la mesure de gaz polluants, la société SVS@CAP s’est associée avec le laboratoire de physique corpusculaire en 2009 pour la création du projet EREBUS. Ce projet a pour but la réalisation d’un ensemble de dispositifs sans fil permettant d’effectuer une surveillance de la concentration de gaz polluants. L’autonomie et la compacité d’un tel dispositif étant essentielles, la problématique principale porte sur la réduction de la consommation. A partir d’une première étude menée sur les différentes technologies existantes, les capteurs électrochimiques ont été identifiés comme les moins consommateurs d’énergie. Pour chacun des gaz cibles, un modèle électrique du capteur associé a été déterminé. A partir de ces modèles, une architecture dédiée et épurée a pu être déduite. Pour atteindre et même dépasser les objectifs de consommation, les efforts ont aussi été portés sur un dimensionnement avec la méthode gm/id. La réalisation de cette électronique intégrée a permis d’atteindre une consommation de l’ordre du μW pour chaque voie de mesure. Enfin, pour compléter la chaîne de lecture, plusieurs architectures de convertisseurs ont été étudiées et réalisées pour fonctionner à des fréquences déchantillonnage proches du Hz. Les consommations obtenues pour les convertisseurs sont limitées avec comme ordre de grandeur la centaine de nW. / In order to realize an innovative product for pollutants in the atmosphere, SVS@CAP company started in 2009 the EUREBUS project in collaboration with the "Laboratoire de Physique Corpusculaire". The aim of this project is to design a wireless equipement to measure gas concentrations. The key issues of this project are concerning the autonomy as well as the small size of the product. In consequence an integrated and low power electronics remains essential. From a first study of the existing technologies to detect gaz concentrations, electrochemical sensors were selected because of their low power consumption. For each of the target gas, an electrical model was determined. From those models, a specific architecture was designed. A special effort was made on the energy consumption thanks to the use of the gm/id methodology which was necessary to achieve and exceed the specifications. The final order of the power consumption of the front-end developped and realized is around the μW. Finally, in order to complete the chain of acquisition, some architectures of analog to digital converter were studied, developped and realized with sample frequencies close to the Hz. The power consumptions of the converters developped are limited to the order of the hundreds of nW.

La Non-Linéarité-Différentielle (NLD) et la Non-Linéarité-Intégrale (NLI) sont les performances statiques les plus importantes des Convertisseurs Analogique-Numérique (CAN) qui sont mesurées lors d’un test de production. Ces deux performances indiquent la déviation de la fonction de transfert du CAN par rapport au cas idéal. Elles sont obtenues en appliquant une rampe ou une sinusoïde lente au CAN et en calculant le nombre d’occurrences de chacun des codes du CAN.Ceci permet la construction de l’histogramme qui permet l’extraction de la NLD et la NLI. Cette approche requiert lacollection d’une quantité importante de données puisque chacun des codes doit être traversé plusieurs fois afin de moyenner le bruit et la quantité de données nécessaire augmente exponentiellement avec la résolution du CAN sous test. En effet,malgré que les circuits analogiques et mixtes occupent une surface qui n’excède pas généralement 5% de la surface globald’un System-on-Chip (SoC), leur temps de test représente souvent plus que 30% du temps de test global. Pour cette raison, la réduction du temps de test des CANs est un domaine de recherche qui attire de plus en plus d’attention et qui est en train deprendre de l’ampleur. Les CAN de type pipeline offrent un bon compromis entre la vitesse, la résolution et la consommation.Ils sont convenables pour une variété d’applications et sont typiquement utilisés dans les SoCs destinés à des applicationsvidéo. En raison de leur façon particulière du traitement du signal d’entrée, les CAN de type pipeline ont des codes de sortiequi ont la même largeur. Par conséquent, au lieu de considérer tous les codes lors du test, il est possible de se limiter à un sous-ensemble, ce qui permet de réduire considérablement le temps de test. Dans ce travail, une technique pour l’applicationdu test à code réduit pour les CANs de type pipeline est proposée. Elle exploite principalement deux propriétés de ce type deCAN et permet d’obtenir une très bonne estimation des performances statiques. La technique est validée expérimentalementsur un CAN 11-bit, 55nm de STMicroelectronics, obtenant une estimation de la NLD et de la NLI pratiquement identiques àla NLD et la NLI obtenues par la méthode classique d’histogramme, en utilisant la mesure de seulement 6% des codes. / Differential Non Linearity (DNL) and Integral Non Linearity (INL) are the two main static performances ofAnalog to-Digital Converters (ADCs) typically measured during production testing. These two performances reflect thedeviation of the transfer curve of the ADC from its ideal form. In a classic testing scheme, a saturated sine-wave or ramp isapplied to the ADC and the number of occurrences of each code is obtained to construct the histogram from which DNL andINL can be readily calculated. This standard approach requires the collection of a large volume of data because each codeneeds to be traversed many times to average noise. Furthermore, the volume of data increases exponentially with theresolution of the ADC under test. According to recently published data, testing the mixed-signal functions (e.g. dataconverters and phase locked loops) of a System-on-Chip (SoC) contributes to more than 30% of the total test time, althoughmixed-signal circuits occupy a small fraction of the SoC area that typically does not exceed 5%. Thus, reducing test time forADCs is an area of industry focus and innovation. Pipeline ADCs offer a good compromise between speed, resolution, andpower consumption. They are well-suited for a variety of applications and are typically present in SoCs intended for videoapplications. By virtue of their operation, pipeline ADCs have groups of output codes which have the same width. Thus,instead of considering all the codes in the testing procedure, we can consider measuring only one code out of each group,thus reducing significantly the static test time. In this work, a technique for efficiently applying reduced code testing onpipeline ADCs is proposed. It exploits two main properties of the pipeline ADC architecture and allows obtaining an accurateestimation of the static performances. The technique is validated on an experimental 11-bit, 55nm pipeline ADC fromSTMicroelectronics, resulting in estimated DNL and INL that are practically indistinguishable from DNL and INL that areobtained with the standard histogram technique, while measuring only 6% of the codes.