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Thermoelectric Transport at the Metal-Insulator Transition in Disordered SystemsVillagonzalo, Cristine 13 July 2001 (has links) (PDF)
This dissertation demonstrates the behavior of the electronic
transport properties in the presence of a temperature gradient in
disordered systems near the metal-insulator transition. In
particular, we first determine the d.c. conductivity, the
thermopower, the thermal conductivity, the Lorenz number, the figure
of merit, and the specific heat of a three-dimensional Anderson model
of localization by two phenomenological approaches. Then we also compute
the d.c. conductivity, the localization length and the Peltier
coefficient in one dimension by a new microscopic approach based on
the recursive Green's functions method. A fully analytic study is
difficult, if not impossible, due to the problem of treating the
intrinsic disorder in the model, as well as, incorporating a
temperature gradient in the Hamiltonian. Therefore, we resort to
various numerical methods to investigate the problem.
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Thermoelectric Transport at the Metal-Insulator Transition in Disordered SystemsVillagonzalo, Cristine 12 June 2001 (has links)
This dissertation demonstrates the behavior of the electronic
transport properties in the presence of a temperature gradient in
disordered systems near the metal-insulator transition. In
particular, we first determine the d.c. conductivity, the
thermopower, the thermal conductivity, the Lorenz number, the figure
of merit, and the specific heat of a three-dimensional Anderson model
of localization by two phenomenological approaches. Then we also compute
the d.c. conductivity, the localization length and the Peltier
coefficient in one dimension by a new microscopic approach based on
the recursive Green's functions method. A fully analytic study is
difficult, if not impossible, due to the problem of treating the
intrinsic disorder in the model, as well as, incorporating a
temperature gradient in the Hamiltonian. Therefore, we resort to
various numerical methods to investigate the problem.
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Screened Korringa-Kohn-Rostoker-Methode für Vielfachschichten / Screened Korringa-Kohn-Rostoker-method for multilayered systemsZahn, Peter 24 July 2005 (has links) (PDF)
Im Rahmen der vorliegenden Arbeit wird eine Tight-Binding-Formulierung der Korringa-Kohn-Rostoker-Greenschen-Funktionsmethode vorgestellt. Dabei werden mittels eines geeignet gewählten Referenzsystems abgeschirmte Strukturkonstanten konstruiert. Es werden die Vorteile und Grenzen dieser Transformation des Formalismus diskutiert. Es wird gezeigt, daß der numerische Aufwand zur erechnung der Elektronenstruktur von Systemen mit langgestreckter Elementarzelle linear mit der Systemgröße wächst. Damit ist eine Behandlung von Systemen mit 500 und mehr Atomen pro Elementarzelle möglich. Anhand von umfangreichen Testrechnungen kann demonstriert werden, daß das neue Verfahren bezüglich seiner Genauigkeit mit dem traditionellen KKR-Verfahren vergleichbar ist. Es werden Anwendungen zur Berechnung der Elektronenstruktur sowie zur Zwischenlagenaustauschkopplung von Co/Cu(100)-Vielfachschichten vorgestellt. / A newly developed ab initio tight-binding-formulation of the Korringa-Kohn-Rostoker-Green's function method for layered systems is presented. Screened structure constants are calculated by means of a repulsive reference system. Advantages and limits of this transformation of the formalism are discussed in detail. The numerical effort for self consistent electronic structure calculations of systems with a large prolonged supercell scales linearly with the system size. Systems with up to 500 atoms per unit cell can be treated easily. The accuracy of the new method is of the same order as the traditional KKR method. Applications to electronic structure calculations and magnetic interlayer exchange coupling in Co/Cu(100) multilayers are presented.
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Screened Korringa-Kohn-Rostoker-Methode für VielfachschichtenZahn, Peter 24 July 2005 (has links)
Im Rahmen der vorliegenden Arbeit wird eine Tight-Binding-Formulierung der Korringa-Kohn-Rostoker-Greenschen-Funktionsmethode vorgestellt. Dabei werden mittels eines geeignet gewählten Referenzsystems abgeschirmte Strukturkonstanten konstruiert. Es werden die Vorteile und Grenzen dieser Transformation des Formalismus diskutiert. Es wird gezeigt, daß der numerische Aufwand zur erechnung der Elektronenstruktur von Systemen mit langgestreckter Elementarzelle linear mit der Systemgröße wächst. Damit ist eine Behandlung von Systemen mit 500 und mehr Atomen pro Elementarzelle möglich. Anhand von umfangreichen Testrechnungen kann demonstriert werden, daß das neue Verfahren bezüglich seiner Genauigkeit mit dem traditionellen KKR-Verfahren vergleichbar ist. Es werden Anwendungen zur Berechnung der Elektronenstruktur sowie zur Zwischenlagenaustauschkopplung von Co/Cu(100)-Vielfachschichten vorgestellt. / A newly developed ab initio tight-binding-formulation of the Korringa-Kohn-Rostoker-Green's function method for layered systems is presented. Screened structure constants are calculated by means of a repulsive reference system. Advantages and limits of this transformation of the formalism are discussed in detail. The numerical effort for self consistent electronic structure calculations of systems with a large prolonged supercell scales linearly with the system size. Systems with up to 500 atoms per unit cell can be treated easily. The accuracy of the new method is of the same order as the traditional KKR method. Applications to electronic structure calculations and magnetic interlayer exchange coupling in Co/Cu(100) multilayers are presented.
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