aLes techniques utilisées pour la réalisation de systèmes électroniques destines au contrôle/commande d'applications critiques sont généralement basées sur le concept de la logique fail-safe conventionnelle. Bien qu'elles aient été largement éprouvées, ces techniques s'avèrent maintenant de plus en plus mal adaptées à la conception de systèmes de plus en plus complexes puisqu'elles font appel à des composants discrets spécifiques. C'est dans ce contexte que cette étude essaie d'évaluer la contribution des circuits intégrés autotestables, et plus spécialement les circuit self-checking (capables de détecter instantanément leurs propres erreurs), à la réalisation de systèmes intégrés à haute sureté de fonctionnement. Les travaux présentés dans cette thèse se proposent d'élargir la théorie des systèmes fail-safe aux circuits intégrés combinatoires. Comme application, nous étudions la faisabilité d'une interface autotestable hors-ligne capable de transformer les données des circuits autotestables en-ligne (self-checking) en signaux surs adaptes au pilotage d'éléments électrons mécaniques. Cette interface autorise la réalisation de circuits Vlsi strongly fail-safe qui sont susceptibles, dans les années à venir, de tenir une place de premier ordre dans le domaine des automatismes intégrés de sécurité. Toutes les considérations pratiques pour la conception de ces circuits sont basées sur des hypothèses de pannes analytiques liées à la technologie utilisée, ici le CMOS

Présentation et discussion des développements vers diverses améliorations possibles du temps de détection, obtenues par le biais de modification du circuit. Un test hors ligne peut être dérive directement par le regroupement de toutes les procédures de test.