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Silos metálicos

Leite, Luís Miguel de Oliveira January 2008 (has links)
Tese de mestrado integrado. Engenharia Civil (especialização em Estruturas). Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2008
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Estudos paramétricos sobre a instabilidade de pórticos metálicos bidimensionais e tridimensionais

César, Manuel Teixeira Braz January 2005 (has links)
Tese de mestrado. Estruturas de Engenharia Civil. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2005
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Projeto de edifícios em estrutura metálica : efeitos de 2ª ordem

Oliveira, Fábio Emanuel Magalhães January 2013 (has links)
Tese de Mestrado Integrado. Engenharia Civil (Estruturas). Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2013
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Levantamento e diagnóstico de uma ponte metálica antiga

Meireles, António Pedro Conde January 2010 (has links)
Tese de mestrado integrado. Engenharia Civil (Especialização em Estruturas). Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto, Faculdade de Engenharia. Universidade de Palermo. 2010
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Lean manufacturing na indústria de embalagens metálicas

Silva, Bruno Filipe Pereira da January 2010 (has links)
Tese de mestrado integrado. Engenharia Mecânica. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2010
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Análise de patologias em estruturas construídas em ambiente marítimo

Serra, Armindo Henrique Garrido Ferreira January 2012 (has links)
Tese de Mestrado Integrado. Engenharia Civil. Área de Especialização de Construções. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2012
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Espumas metálicas : processo de fabrico, caracterização e simulação numérica

Duarte, Isabel Maria Alexandrino January 2005 (has links)
Tese de Doutoramento. Engenharia Mecânica e Gestão Industrial. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2005
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Reações de cromohexacarbonila suportado em alumina-gama

Santos, Joao Henrique Zimnoch dos January 1989 (has links)
O presente trabalho trata do estudo comparativo das reações fotoquímicas (Lambda > 280 nm) de substituição do Cr (CO)6 com ligantes do Grupo V A (PPh3 , P(OPh)3 , AsPh3 e SbPh3) em presença de Alumina-Gama. O acompanhamento da reação deu-se através de monitoramento das bandas de estiramento das carbonilas no IV, nas fases sólida (alumina) e líquida (pentano). Para L = PPh3 e P(OPh)3, obteve-se a espécie Cr(CO)5L, em solução, e a espécie trans-Cr(CO) 4L2, impregnada sobre a Al2O3-Gama. Com a diminuição do ângulo de cone de L (AsPh3 e SbPh3), observou-se uma crescente diminuição da estereoespecificidade da reação, obtendo-se uma mistura de espécies monoe dissubstituídas cis e trans. A partir dos resultados obtidos, um mecanismo para as reações pode ser proposto. / The present work deals with the comparative study of the photochemical substitution reactions (Lambda > 280 nm) of Cr(CO)6 with ligands from Group V A (PPh3, P(OPh)3, AsPh3 and SbPh3) in presence of Gama-Alumina. The reaction was followed by monitoring the carbonyl stretching bands in the infrared region from both the solid (alumina) and liquid (pentane) phases. For L= PPh3 and P(OPh)3, the species Cr(CO)5L, in solution, and trans- Cr(CO)4L2, impregnated in Gama-Al2O3 were obtained. It was observed a reduction of the reaction stereoespecifity as L was changed from PPh3 to SbPh3. This effect was attributed to the cone angle decrease. In this way, a mixture of mono- and disubstituted cis and trans species were obtained. From the results, a mechanism for the reactions could be proposed.
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Metal oxides of resistive memories investigated by electron and ion backscattering

Marmitt, Gabriel Guterres January 2017 (has links)
O memristor é um dos dispositivos mais promissores sendo estudados para múltiplos usos em sistemas eletrônicos, com aplicações desde memórias não voláteis a redes neurais artificiais. Seu funcionamento é baseado na formação e ruptura de filamentos condutores nanométricos, o que altera drasticamente a resistência do dispositivo. Estes filamentos são formados pela acumulação de vacâncias de oxigênio, portanto um profundo entendimento da autodifusão de oxigênio nestes sistemas é necessário. Medidas acuradas da difusão em óxidos metálicos foi obtida com o desenvolvimento de uma análise quantitativa do espectro em energia de elétrons retroespalhados. A inovadora técnica de RBS de elétrons (ERBS) utiliza elétrons de alta energia ( 40 keV) para investigar a região próxima a superfície (10–100 nm). Medidas da região de alta perda de energia – chamada de Spectroscopia de Perda de Alta-Energia de Elétrons Refletidos (RHEELS) – também exibe características da estrutura eletrônica dos materiais. Um procedimento cuidadoso para o ajuste de espectros de ERBS foi desenvolvido, e então aplicado na análise de amostras multi camada de Si3N4/TiO2, e medidas de band gap de alguns óxidos, como SiO2, CaCO3 e Li2CO3. Simulações de Monte Carlo foram empregadas no estudo dos efeitos de espalhamento múltiplo nos espectros de ERBS, e uma descrição dielétrica dos espalhamentos inelásticos extendeu as simulação para também considerarem os picos de exitação plasmônica observados em RHEELS. Estas ferramentas de análise foram integradas em um pacote chamado PowerInteraction. Com o uso deste, uma série de medidas de autodifusão de oxigênio em TiO2 foram conduzidas. As amostras eram compostas por dois filmes de TiO2 depositados por sputtering, um dos quais enriquecido com isótopo 18 de oxigênio. Após tratamentos térmicos, perfis de difusão foram obtidos pelo rastreio das concentrações relativas dos isótopos de oxigênio nos dois filmes. Do comportamento logarítmico dos coeficientes de difusão em relação à temperatura, uma energia de ativação de 1.05 eV para a autodifusão de oxigênio em TiO2 foi obtida. Análises por feixes de íons, como RBS e NRA/NRP (Análise/Perfilometria por Reação Nuclear), também forneceram informações complementares. / The memristor is one of the most promising devices being studied for multiple uses in future electronic systems, with applications ranging from nonvolatile memories to artificial neural networks. Its working is based on the forming and rupturing of nano-scaled conductive filaments, which drastically alters the device’s resistance. These filaments are formed by oxygen vacancy accumulation, hence a deep understanding of the self-diffusion of oxygen in these systems is necessary. Accurate measurements of oxygen self-diffusion on metal oxides was achieved with the development of a quantitative analysis of the energy spectrum of the backscattering of electrons. The novel technique called Electron Rutherford Backscattering Spectroscopy (ERBS) uses the scattering of high energy electrons ( 40 keV) to probe the sample’s near surface (10–100 nm). Measurements of the high energy loss region – called Reflection High-Energy Electron Loss Spectroscopy (RHEELS) – also exhibit characteristics of the material’s electronic structure. A careful procedure was developed for the fitting of ERBS spectra, which was then applied on the analysis of multi-layered samples of Si3N4/TiO2, and measurements of the band gap of common oxides, such as SiO2, CaCO3 and Li2CO3. Monte Carlo simulations were employed to study the effects of multiple elastic scatterings in ERBS spectra, and a dielectric function description of inelastic scatterings extended the simulation to also consider the plasmon excitation peaks observed in RHEELS. These analysis tools were integrated into a package named PowerInteraction. With its use, a series of measurements of oxygen self-diffusion in TiO2 were conducted. The samples were composed of two sputtered deposited TiO2 layers, one of which was enriched with the 18 mass oxygen isotope. After thermal annealing, diffusion profiles were obtained by tracking the relative concentration of oxygen isotopes in both films. From the logarithmic temperature dependence of the diffusion coefficients, an activation energy of 1.05 eV for oxygen self-diffusion in TiO2 was obtained. Common ion beam analysis, such as RBS and NRA/NRP (Nuclear Reaction Analysis/Profiling), were also used to provide complementary information.
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Pós-processador de verificação estrutural para o sistema GAELI

Morsch, Inacio Benvegnu January 1991 (has links)
O objetivo deste trabalho é implementar procedimentos de verificação de estruturas ou peças metálicas de forma qualquer. Os procedimentos de verificação foram implementados no pós-processador do sistema GAELI em desenvolvimento no CPGEC da UFRGS. Os procedimentos de verificação implementados por este trabalho são os de verificação da tensão limite, verificação de elementos de barra com seções de chapa dobrada de pequena espessura (perfis finos) pela norma CAN S136-M84, verificação de tubulações industriais petroquímicas pela norma ANSI 831.3 e verificação de estruturas à fadiga considerando cargas de efeito quase estático. Uma das vantagens destas implementações refere-se ao fato de que uma estrutura pode ser verificada segundo múltiplos critérios permitindo a obtenção de um quadro mais completo da resistência da estrutura ou peça. Isto é poss1vel graças ao fato de que a base de dados para cada uma das verificações é praticamente a mesma com relação as demais. Longe de se pretender esgotar trabalho pretende ser uma contribuição a o assunto, este mais destinada a facilitar o trabalho de engenheiros e estudantes.

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