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1	Auscultation dynamique des structures à l'aide de l'analyse continue en ondelettes Le, Tien-Phu 11 1900 (has links) (PDF) On étudie l'application de l'analyse continue en ondelettes à l'auscultation dynamique des structures à partir des réponses transitoires sous excitations imparfaitement connues (choc, ambiante...). L'outil numérique de la transformation continue en ondelettes est établi. Il est fondé sur l'ondelette mère (Morlet ou Cauchy) et sur un paramètre la caractérisant: le facteur Q de qualité du filtre. Il permet d'extraire les amplitudes et les fréquences instantanées contenues dans le signal. Un domaine du plan temps-fréquence où l'effet de bords est négligeable, et un encadrement de Q sont déterminés. Le traitement du signal réel modulé en amplitude et en fréquence par l'outil proposé facilite l'identification modale des structures (linéaires et non-linéaires) et permet une amélioration de la méthode impact-écho. Une procédure adaptée à chaque application est détaillée. Les résultats obtenus à partir des tests numériques et réels montrent l'efficacité de la méthode. [SPI] Engineering Sciences Auscultation dynamique Identification modale Transformation en ondelettes Signal asymptotique Vibration linéaire Oscillateur non-linéaire Poutre non-linéaire Méthode impact-écho
2	Injection et détection de charges dans des nanostructures semiconductrices par Microscopie à Force Atomique Dianoux, Raphaelle 21 December 2004 (has links) (PDF) Les nanostructures semiconductrices isolées possèdent la propriété de confiner les charges sur des temps longs. La rétention de charges dépend de plusieurs paramètres tels que la taille de la nanostructure, la densité et la qualité de l'interface avec le diélectrique. Nous avons exploré ces propriétés à l'aide d'un AFM à l'air par microscopie à force électrostatique (EFM). L'EFM permet d'injecter des charges localement puis de sonder avec une sensibilité de quelques dizaine d'électrons seulement les comportements individuel aussi bien que collectif des nanostructures. Nous avons caractérisé l'interaction pointe-surface non-linéaire pour un couplage électrostatique, puis avons étudié le comportement de nanostructures de Si ou Ge déposées sur du SiO2. Nous avons mis en évidence d'une part la saturation du nuage de charge dans un nappe de nanocristaux, et d'autre part la propagation inhomogène de la charge à l'échelle de l'heure dans une nappe de nanocristaux plus dense. [PHYS:COND] Physics/Condensed Matter [PHYS:PHYS] Physics/Physics AFM Microscopie à Force Electrostatique oscillateur non-linéaire courbes d'approche-retrait couplage électrostatique nanostructures semiconductrices silicium germanium rétention des charges blocage de Coulomb effet tunnel étalement de la charge rugosité cinétique

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Auscultation dynamique des structures à l'aide de l'analyse continue en ondelettes

Injection et détection de charges dans des nanostructures semiconductrices par Microscopie à Force Atomique