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1	Beiträge zur röntgenmikroanalytischen Charakterisierung anorganisch-nichtmetallischer Werkstoffe auf der Basis niederenergetischer M-Strahlung Dellith, Jan 23 July 2009 (has links) (PDF) Aufgrund unikaler Eigenschaften haben die Seltenerdelemente (SEE) Bedeutung in vielen Bereichen der modernen Technik. So stellt im IPHT Jena die Entwicklung aktiver optischer Fasern auf der Grundlage SEE-haltigen Quarzglasmaterials einen Schwerpunkt dar. Um die Materialentwicklung via Elektronenstrahl-Mikroanalyse adäquat begleiten zu können, sind genaue Atomdaten eine Grundvoraussetzung. Recherchen sowie praktische Erfahrungen zeigen jedoch, dass die Kenntnis der charakteristischen Röntgenstrahlung noch immer unvollständig ist, was besonders im Falle der M-Strahlung der SEE zutrifft. Als Folge kann es, vor allem bei der Anregung mit niederenergetischen Elektronen, zu falschen Analysenergebnissen kommen. Die vorliegende Arbeit befasst sich mit der detaillierten Untersuchung der M-Spektren der Elemente Z=55 bis Z=71 mittels energie- und wellenlängendispersiver Spektrometrie. Neues Datenmaterial wird präsentiert und dessen praktische Bedeutung anhand ausgewaehlter Beispiele der Analyse anorganisch-nichtmetallischer Werkstoffe aufgezeigt. Elektronenstrahlmikroanalyse Charakteristische Röntgenstrahlung Weiche Röntgenstrahlung Lanthanoide Faserlaser Röntgenspektrum Quarzglas Röntgenspektroskopie ddc:620 rvk:UH 6314
2	Untersuchung von Dünnschichtsystemen mittels Elektronenstrahl-Mikroanalyse / Characterization of Thin Layer Systems by Electron Probe Micro Analysis Gorfu, Paulos 18 March 2009 (has links) (PDF) Die Arbeit beschäftigt sich mit der Erweiterung der für dicke Proben schon mit Erfolg eingesetzten Werkstoffanalytischen Methode Elektronenstrahl-Mikroanalyse (ESMA) mittels Peak/Untergrund-Verhältnissen auf die Analyse von dünnen Schichten (unter 1 μm) zur qualitative und quantitativen Elementanalyse sowie zur Ermittlung von Schichtdicken. Weiterhin wird auf der Basis von einer ESMA-Methode für zwei dünne Schichten auf einem Substrat wird ein Modell zur Ermittlung des Phasenwachstumskoeffizienten für eine intermetallische Phase die sich bei der Diffusion zwischen einer dünnen Schicht und einem Substrat bildet, mittels ESMA-Messungen bei gleichzeitiger Erwärmung der Probe dargestellt. / The paper deals with the application of the materials analysis method EPMA by peak-to-background ratios, which is currently being used for the analysis of thick samples successfully, to thin layers (less than 1 μm) for the quantitative element analysis as well as for thickness prediction. In addition a model has been established on the Basis of an EPMA method for two films on a substrate for deriving the phase growth coefficient of an inter-metallic phase which grows during the diffusion between a thin layer and a substrate from EPMA measurements while simultaneously heating the sample. Elektronenstrahl-Mikroanalyse Dünnschicht Röntgenstrahlenabsorption Elektronenstreuung Substrateinfluβ Berechnungsverfahren Heiztischmikroskop Diffusion (Techn.) Phasenkoeffizient electron beam microanalysis thin film x-ray absorption electron backscattering substrate contribution quantitative method hot stage microscope Diffusion phase diffusion coefficient ddc:620 ddc:530 rvk:UH 6314

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Beiträge zur röntgenmikroanalytischen Charakterisierung anorganisch-nichtmetallischer Werkstoffe auf der Basis niederenergetischer M-Strahlung

Untersuchung von Dünnschichtsystemen mittels Elektronenstrahl-Mikroanalyse / Characterization of Thin Layer Systems by Electron Probe Micro Analysis