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Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux

L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test pour les circuits intégrés digitaux. Après un rappel des problèmes actuels posés par le test des circuits VLSI (partie I), deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test adressant deux types différents d'hypothèses de pannes sont présentées: une méthode heuristique de génération de vecteurs (partie II) et une méthode de test pseudo-exhaustif (partie III)

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00316164
Date21 October 1985
CreatorsArchambeau, Eric
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
LanguageFrench
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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