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Untersuchung der elektronischen und magnetischen Eigenschaften manganhaltiger Heusler Legierungen mittels Photoelektronen- und Röntgenspektroskopie / Investigations of the electronic and magnetic properties of manganese-based heusler alloys with photoelectron and X-ray spectroscopy

Die hier untersuchten Heusler Legierungen sind ternäre intermetallische Verbindungen mit der chemischen Formel
X2YZ. Sie wurden schon 1903 von F. Heusler entdeckt und erfreuen sich aufgrund ihrer besonderen magnetischen und
elektronischen Eigenschaften eines großen Interesses. Eigenschaften sind z. B. ein großer magneto-optischer Kerr
Effekt oder das HMF (Halb-Metallisch-Ferromagnetische)-Verhalten einiger Heusler Legierungen. Aufgrund der
großen Anzahl möglicher Heusler Legierungen beschränkt sich diese Arbeit auf die Legierungen, die als Y-Element das
Mangan besitzen. Das Interessante an diesen Legierungen ist die Bildung von lokalen magnetischen Momenten an den
einzelnen Atomen, wobei das größte Moment von ca. 4 Magneton Bohr am Manganatom selbst sitzt. Diese Heusler
Legierungen werden oft als ideale Modellsubstanzen für die Ausbildung und Kopplung von lokalen Momenten
angesehen. Trotz großer industrieller Anwendungsmöglichkeiten und langer intensiver experimenteller und theoretischer
Untersuchungen ist es bisher nicht gelungen, ein geschlossenes Bild der elektronischen und magnetischen
Eigenschaften zu erreichen. So ist die Untersuchung der Heusler Legierungen durch die
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS) in dieser Arbeit ein wichtiger Aspekt. Mit dieser etablierten und
bewährten Untersuchungsmethode werden die elektronischen Zustände, die für ein physikalisches Verständnis der
magnetischen Eigenschaften entscheidend sind, sowohl im Valenzband- als auch im Rumpfniveau-Bereich qualitativ
und quantitativ untersucht. Die durch das Heusler-Projekt ermöglichte enge Zusammenarbeit mit der Theorie läßt durch
Vergleiche der experimentellen Daten mit den Rechnungen eine detaillierte Interpretation der Ergebnisse zu. Obwohl
XPS ein Methode zur Untersuchung der direkten elektronischen Eigenschaften ist, steht in diesen Messungen das
magnetische Verhalten der Heusler Legierungen stark im Vordergrund. Dabei werden neue Erkenntnisse zur
Interpretation der magnetischen Eigenschaften in XPS Spektren angewandt, die auf einer mikroskopischen
Beschreibung des Magnetismus basieren. Desweiteren stehen Röntgenemissions-Spektren zur Verfügung, die eine
Bestimmung der partiellen Zustandsdichten im Valenzband möglich machen. Um die magnetischen Eigenschaften auf
mikroskopischer Ebene genauer zu untersuchen, werden MCD (Magnetic Circular Dichroism) Messungen durchgeführt.
Dabei kann bei den Absorptionsmessungen auf ein bewährtes theoretisches Modell, den Summenregeln von Thole und
Carra, zurückgegriffen werden, das auch schon bei ähnlich komplizierten Materialien Anwendung fand. Bei den
Emissionsmessungen im weichen Röntgenlichtbereich hingegen liegt eine solche Theorie nicht vor, was einerseits die
Interpretation schwierig machen andererseits neue Erkenntnisse bringen kann. Durch diese Kombination von neueren
und etablierten einerseits und elektronischen und magnetischen Untersuchungsmethoden andererseits ist somit ein
großer, für das physikalische Verständnis wichtiger Bereich der Heusler Legierungen abgedeckt.

Identiferoai:union.ndltd.org:uni-osnabrueck.de/oai:repositorium.ub.uni-osnabrueck.de:urn:nbn:de:gbv:700-2000092688
Date26 September 2000
CreatorsPlogmann, Stefan
ContributorsApl. Prof. Dr. M. Neumann, Apl. Prof. Dr. J. Braun, Prof. Dr. O. Schirmer
Source SetsUniversität Osnabrück
LanguageGerman
Detected LanguageGerman
Typedoc-type:doctoralThesis
Formatapplication/zip, application/gzip
Rightshttp://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/

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