Return to search

Vidareutveckling av provplattform för mätning av kosmisk strålnings inverkan på DRAM

Sammanfattning: SAAB Communication i Linköping sysslar med konsultverksamhet mot ett flertal nationella och internationella företag inom både den civila och militära sektorn. Fokus ligger på flyget med uppdrag inom telesystem, radiosystem, signaturanpassning, EMC, atmosfärisk påverkan mm. I det sistnämnda ingår även kosmisk strålnings inverkan på elektronik. Den fortsatta miniatyriseringen av elektronik, speciellt minneselektronik leder till ökad känslighet mot den kosmiska partikelstrålningen som ständigt regnar ner på jorden, därför är det extra noga att minnen testas innan de sätts i bruk vid flygburna system. Syftet med detta examensarbete är att konstruera en provplattform som registrerar fel som uppkommer i ett DDR2 SDRAM minne vid påverkan av den ovannämnda strålningen. Detta examensarbete är en vidareutveckling av en provplattform baserad på en FPGA – lösning. Eftersom denna provplattform saknade stöd för den snabbare minnestypen DDR2 SDRAM, blev syftet med detta examensarbete att ta fram en ny plattform som stödjer denna typ av minne. Den nya provplattformen är en PowerPC baserad lösning från Freescale Semiconductor®. Provplattformen kommer att anslutas till en PC som kör ett program som analyserar antalet detekterade minnesfel, typ av fel samt hur många neutroner minnet har blivit utsatt för under testet. Mjukvaruutvecklingen implementeras i programmeringsspråken assembler samt C. Innan testet av minnet påbörjas, fylls minnet med ett förbestämt bitmönster, om förändringar av bitmönstret sker vid bestrålning av minnet kommer dessa ändringar att registreras tillsammans med den minnesadress där felet inträffade. Abstract: SAAB Communication in Linköping offers consulting toward several national and international companies, both within the civilian and the military market. Focus is in the field of avionics and deals with telecommunication system, radio system, signature adaption, EMC, atmospheric impact etc. The later also includes the influence of cosmic radiation in electronics. The oncoming miniaturisation of electronics, especially within the memory fields causes an increased susceptibility of cosmic radiation that constantly hits our planet, therefore it is of great importance that memories is to be tested before used in airborne systems. The purpose of this thesis is to construct a test platform in order to register faults that occur in a DDR2 SDRAM memory under influence of the mentioned radiation. This thesis is further development of a test platform previously based on a FPGA – solution. Since this test platform had not to support for the more rapidly type of memory as DDR2 SDRAM, the purpose of this thesis became to develop a new platform with support for this type of memory. This new test platform is based on PowerPC from Freescale Semiconductor® The test platform will be connected to a PC running a program that counts the number of detected memory faults, recognises a type of error and records the number of neutrons that the memory has been exposed to during the test. The software is implemented in the programming languages assembler and C. The tested memory will be loaded with a predetermined bit pattern before the test begins, if a change in the bit pattern is detected during exposure of radiation, these faulty bit patterns will be registered together with the memory address where the error has occurred. / Andreas Skoglund Gustav adolfsg. 4 58220 Linköping 0739-230620 ti00ask@student.bth.se, andreas.skoglund@gmail.com, andreas.skoglund@saabgroup.com

Identiferoai:union.ndltd.org:UPSALLA1/oai:DiVA.org:bth-1237
Date January 2008
CreatorsSkoglund, Andreas, Kader, Risko
PublisherBlekinge Tekniska Högskola, Avdelningen för signalbehandling, Blekinge Tekniska Högskola, Avdelningen för signalbehandling
Source SetsDiVA Archive at Upsalla University
LanguageSwedish
Detected LanguageEnglish
TypeStudent thesis, info:eu-repo/semantics/bachelorThesis, text
Formatapplication/pdf
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess

Page generated in 0.0021 seconds