Im Rahmen der vorliegenden Arbeit werden Röntgenanalysen an dünnen Schichten,
die mittels reaktiver Magnetronzerstäubung hergestellt wurden, durchgeführt.
Zuerst werden die theoretischen Grundlagen der Röntgenanalyse und der Herstellungsmethode behandelt.
Es folgen Experimente an auf Chrom- und auf Zirkonium-basierenden Oxinitridschichten.
Die strukturelle Charakterisierung der Schichten mittels Röntgendiffraktometrie und -reflektometrie wird vorgestellt.
Die Messungen der Schichtstöchiometrie und Beschichtungsrate werden ebenfalss dargestellt.
Anschliessend kommt eine Diskussion.
Die Zusammenhänge zwischen den Herstellungsbedingungen und den beobachteten strukturen werden erläutert.
Ein Modell zur reaktiven magnetronzerstäubung wird für den Fall der Kontrolle mit Flüssen angewandt. / This work deals with X-ray analysis of thin films,
The films were obtained with magnetron sputtering PVD method.
The theoretical basis of the X-ray analysis and of the deposition method are presented.
Experiments on chromiumoxinitride and zirconiumoxinitride are then presented.
X-ray analysis consists in diffratometrie and reflectometrie.
The composition of the coatings and the deposition rate are also presented.
The relation between the deposition parameters and the observed structures is then discussed.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:DRESDEN/oai:qucosa.de:bsz:ch1-199900141 |
| Date | 16 April 1999 |
| Creators | Collard, Stéphane |
| Contributors | TU Chemnitz, Fakultät für Naturwissenschaften |
| Publisher | Universitätsbibliothek Chemnitz |
| Source Sets | Hochschulschriftenserver (HSSS) der SLUB Dresden |
| Language | deu |
| Detected Language | German |
| Type | doc-type:doctoralThesis |
| Format | application/pdf, application/postscript, text/plain, application/zip |
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