Bien que les techniques d'autotest intégré soient en perpétuel développement sous forme de théories et de schémas de conception, leur réalisation concrète et leur implémentation posent des problèmes cruciaux. Une stratégie d'autotest intégré est proposée dans cette thèse pour des circuits générés par compilation de silicium. Le schéma UBIST d'unification du test en-ligne et hors-ligne assure la plupart des tests nécessaires durant la vie d'un circuit intégré (test de fin de fabrication, test de maintenance, test en-ligne,...). A la base du schéma ubist se trouve le schéma self-checking (test en-ligne, pour lequel le circuit est compose de blocs fonctionnels strongly fault secure (sfs) et de contrôleurs strongly code disjoint (scd). Le but a atteindre par de tels circuits est couramment appelé le totally self-checking goal, qui consiste a détecter la première erreur survenant aux sorties du bloc fonctionnel, sous forme d'indication d'erreur sur les sorties du contrôleur. Autour de ce schéma self-checking est implémentée une structure de test, du type bilbo, assurant des phases de test hors-ligne, qui a pour objectif d'augmenter le taux de couverture des pannes multiples et de renforcer les propriétés SFS et SCD pour certains blocs fonctionnels et contrôleurs. L'unification des tests en-ligne et hors-ligne permet de tirer les avantages de chacun de ces tests, permettant une implémentation efficace d'autotest intégré. Une méthodologie de conception pour implémenter ce schéma UBIST est proposée pour des parties contrôle hiérarchiques a base de plas et des parties operatives parallèles en structure bit-slice (du type de celle du mc 68000). Ce sont les architectures cibles utilisées par le compilateur de silicium SYCO (développé au sein de l'équipe d'architecture des ordinateurs du laboratoire TIM3/IMAG). Une solution topologique efficace est proposée pour ces schémas UBIST

aLes techniques utilisées pour la réalisation de systèmes électroniques destines au contrôle/commande d'applications critiques sont généralement basées sur le concept de la logique fail-safe conventionnelle. Bien qu'elles aient été largement éprouvées, ces techniques s'avèrent maintenant de plus en plus mal adaptées à la conception de systèmes de plus en plus complexes puisqu'elles font appel à des composants discrets spécifiques. C'est dans ce contexte que cette étude essaie d'évaluer la contribution des circuits intégrés autotestables, et plus spécialement les circuit self-checking (capables de détecter instantanément leurs propres erreurs), à la réalisation de systèmes intégrés à haute sureté de fonctionnement. Les travaux présentés dans cette thèse se proposent d'élargir la théorie des systèmes fail-safe aux circuits intégrés combinatoires. Comme application, nous étudions la faisabilité d'une interface autotestable hors-ligne capable de transformer les données des circuits autotestables en-ligne (self-checking) en signaux surs adaptes au pilotage d'éléments électrons mécaniques. Cette interface autorise la réalisation de circuits Vlsi strongly fail-safe qui sont susceptibles, dans les années à venir, de tenir une place de premier ordre dans le domaine des automatismes intégrés de sécurité. Toutes les considérations pratiques pour la conception de ces circuits sont basées sur des hypothèses de pannes analytiques liées à la technologie utilisée, ici le CMOS

Dans cette étude nous nous intéressons aux contrôleurs utilisés dans des systèmes autotestables, pour le test des sorties, combinatoires ou séquentielles, du bloc fonctionnel. Deux classes de contrôleurs sont abordées: les "Strongly Code Disjoint" (SCD) qui vérifient une propriété combinatoire, et les "Strongly Language Disjoint" (SLD), où la propriété vérifiée est séquentielle. Pour la première, nous examinons la conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celles-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir dans les systèmes aussi bien que dans quelques structures spécifiques de contrôleurs. Les contróleurs "Strongly Language Disjoint" définis ici component la plus large classe qui, associèe à des circuits "sequentially self-checking", permet au système d'atteindre le "TSC goal" sous certaines hypothèses de pannes. Its conservent la propriété "language-disjoint" même en présence de fautes. Des propositions pour la conception de ces contrôleurs sont également données -nous vérifions la possibilité de les construire à partir de blocs combinatoires. Toutes les considárations pratiques sont basáes sur des hypothèses de pannes analytiques.

Dans cette étude nous nous intéressons aux contrôleurs utilisés dans des systèmes autotestables, pour le test des sorties, combinatoires ou séquentielles, du bloc fonctionnel. Deux classes de contrôleurs sont abordées: les "Strongly Code Disjoint" (SCD) qui vérifient une propriété combinatoire, et les "Strongly Language Disjoint" (SLD), où la propriété vérifiée est séquentielle. Pour la première, nous examinons la conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celles-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir dans les systèmes aussi bien que dans quelques structures spécifiques de contrôleurs. Les contróleurs "Strongly Language Disjoint" définis ici component la plus large classe qui, associèe à des circuits "sequentially self-checking", permet au système d'atteindre le "TSC goal" sous certaines hypothèses de pannes. Its conservent la propriété "language-disjoint" même en présence de fautes. Des propositions pour la conception de ces contrôleurs sont également données -nous vérifions la possibilité de les construire à partir de blocs combinatoires. Toutes les considárations pratiques sont basáes sur des hypothèses de pannes analytiques.

Dans cette étude nous nous intéressons aux contrôleurs utilisés dans des systèmes autotestables, pour le test des sorties, combinatoires ou séquentielles, du bloc fonctionnel. Deux classes de contrôleurs sont abordées: les "Strongly Code Disjoint" (SCD) qui vérifient une propriété combinatoire, et les "Strongly Language Disjoint" (SLD), où la propriété vérifiée est séquentielle. Pour la première, nous examinons la conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celles-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir dans les systèmes aussi bien que dans quelques structures spécifiques de contrôleurs. Les contróleurs "Strongly Language Disjoint" définis ici component la plus large classe qui, associèe à des circuits "sequentially self-checking", permet au système d'atteindre le "TSC goal" sous certaines hypothèses de pannes. Its conservent la propriété "language-disjoint" même en présence de fautes. Des propositions pour la conception de ces contrôleurs sont également données -nous vérifions la possibilité de les construire à partir de blocs combinatoires. Toutes les considárations pratiques sont basáes sur des hypothèses de pannes analytiques.