Spelling suggestions: "subject:"piezoresistividade"" "subject:"piezorresistividad""
1 |
Desenvolvimento, simulação matemática e caracterização de dispositivos sensores piezoresistivos de grafiteScarton, Luciane 08 August 2017 (has links)
O estudo apresentado ao longo desta dissertação consiste no desenvolvimento de
elementos sensores piezoresistivos baseados em carbono (grafite processado),
depositado sobre polímero flexível, em especial, na caracterização e análise das
propriedades térmicas, elétricas e mecânicas do filme. Avaliou-se a presença de
regularidade e/ou irregularidades nos modelos matemáticos empregados para
validar o filme de grafite utilizando-se uma bancada experimental. Análises gráficas
dos principais resultados obtidos indicam aplicabilidade prática do filme como
elemento sensor. Utilizou-se a Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) para
analisar a rugosidade superficial do filme, composição química qualitativa e
quantitativa antes e após annealing térmico. O estudo permitiu afirmar a viabilidade
do uso do grafite em sensores piezoresistivos, pois apresentou fatores de
sensibilidade reportados na literatura. / 100 f.
|
2 |
Modelagem matemática de encapsulamento para elementos sensores PiezoresistivosSilva, Geferson Gustavo Wagner Mota da 08 August 2017 (has links)
Esta dissertação apresenta um estudo teórico e experimental de elementos sensores piezoresistivos de filmes de grafite obtidos pelo processo de esfoliação mecânica sobre substrato de papel (GoP) visando adequar encapsulamentos a partir de diferentes materiais. Este estudo compreende levantamento bibliográfico sobre a utilização de sensores na indústria e na sociedade, faz enfoque especial à teoria da piezoresistividade, elenca diferentes tipos de sensores piezoresistivos existentes, apresenta os materiais comumente utilizados para a fabricação de piezoresistores e descreve alguns processos de deposição e encapsulamento. Em seguida é feito um estudo experimental sobre a utilização do Carbono, sob a forma alotrópica, do grafite, como material base para elemento piezoresistor usando o método da viga engastada (Cantilever) para analisar as propriedades térmicas, elétricas e mecânicas do material, com e sem a presença de encapsulamentos. Os resultados são comparados com os dados provenientes da literatura de materiais já consolidados como, Silício, DLC (Diamond-Like-Carbon) e ITO (Indium-Tin-Oxide). / 112 f.
|
3 |
Caracterização mecânica, elétrica e térmica de elementos sensores piezoresistivos de grafite com diferentes encapsulamentosBerkenbrock, Rafael 07 December 2018 (has links)
A presente dissertação descreve o efeito piezoresistivo no grafite, uma forma alotrópica do carbono, validando sua aplicação em elementos sensores em substituição a outros materiais cujos processos de fabricação são mais complexos e de custos superiores. Neste trabalho são projetados e fabricados elementos sensores de grafite visando a sua caracterização mecânica, elétrica e térmica, a partir da análise de três diferentes tipos de encapsulamento: Epóxi-Bisfenol A, Esmalte e Acetato de Vinila. Os resultados obtidos são comparados com a literatura, a fim de validar os modelos matemáticos empregados no processo de fabricação de elementos sensores piezoresistivos. / 130 f.
|
4 |
Desenvolvimento e análise de um elemento sensor piezoresistivo de grafite usando diferentes substratosGalli, Enio Roberto 07 December 2018 (has links)
Este trabalho descreve as etapas para confecção e posterior caracterização e análise das propriedades térmicas, elétricas e mecânicas do filme de grafite depositado em substratos flexíveis, papel A4, papel vegetal e polipropileno. O estudo baseia-se no efeito piezoresistivo. O experimento utiliza o método da viga engastada, através do processo de esfoliação mecânica do grafite. Os dados obtidos, a partir de testes, antes e após a aplicação do processo de recozimento térmico, foram realizados com auxílio de uma bancada experimental. Os resultados obtidos são descritos por modelos matemáticos e, são condizentes com trabalhos mostrados na literatura, consolidando a viabilidade do uso de grafite em sensores piezoresistivos, apresentando coeficientes e fator de sensibilidades concordantes com os valores reportados. / 200 f.
|
5 |
Análise do potencial de calibração da força óptica através de dispositivos de microscopia de força atômica / Analysis of the calibration potential of optical force through atomic force microscopy devicesMarques, Gustavo Pires, 1978- 20 August 2018 (has links)
Orientador: Carlos Lenz Cesar / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Física Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-08-20T14:50:59Z (GMT). No. of bitstreams: 1
Marques_GustavoPires_M.pdf: 1771357 bytes, checksum: 8ee6919633e2615608f25b33bec98e96 (MD5)
Previous issue date: 2005 / Resumo: O microscópio de força atômica é uma ferramenta que possibilita a medida de forças precisamente localizadas com resoluções no tempo, espaço e força jamais vistas. No coração deste instrumento está um sensor a base de uma viga (cantilever) que é responsável pelas características fundamentais do AFM. O objetivo desta pesquisa foi usar a deflexão deste cantilever para obter uma calibração rápida e precisa da força da armadilha da pinça óptica, assim como testar e comparar com os método tradicionalmente utilizados para este propósito. Para isso, foi necessário analisar e entender o condicionamento de sinais utilizados no AFM. Foram estudados cantilever tradicionais, cujo sistema de detecção é baseado na deflexão de um feixe laser em conjunto com fotodetectores, bem como cantilevers piezoresistivos. Cantilevers piezoresistivos fornecem uma alternativa simples e conveniente aos cantilevers ópticos. A integração de um elemento sensorial dentro do cantilever elimina a necessidade de um laser externo e de um detector utilizados na maioria dos AFMs. Isto elimina a etapa delicada de alinhamento da laser ao cantilever e fotodetector que normalmente precede uma medida com AFM, uma simplificação que expande o potencial do AFM para o uso em meios adversos, como câmaras de ultra alto vácuo ou, como no caso específico das Pinças Ópticas, onde existem esferas em solução líquida e também restrições de dimensão / Abstract: The atomic force microscope (AFM) is a tool that enables the measurement of precisely localized forces with unprecedented resolution in time, space and force. At the heart of this instrument is a cantilever probe that sets the fundamental features of the AFM. The objective of this research has been using the deflection of this cantilever to get a fast and accurate calibration of optical tweezers trap force, as well as testing and comparing to the traditionally used methods of calibration for this purpose. For that it was necessary to resolve and understand the sensors signals conditioning used in the AFM. Traditional cantilevers, whose detection system is based on the deflection of a laser beam in addition with a photodetector, as well as piezoresistive cantilevers has been studied. Piezoresistive cantilevers provide a simple and convenient alternative to optically detected cantilevers. Integration of a sensing element into the cantilever eliminates the need for the external laser and detector used in most AFMs. This removes the delicate step of aligning the laser to the cantilever and photodetector which usually precedes an AFM measurement, a simplification which expands the potential of the AFM for use in difficult environments such as ultrahigh vacuum chambers or, as in Optical Tweezers specific case, where there are spheres into a liquid solution as well as dimensional constraints / Mestrado / Física / Mestre em Física
|
Page generated in 0.3588 seconds