Tese (doutorado)—Universidade de Brasília, Faculdade de Ciências da Saúde, 2008. / Submitted by wesley oliveira leite (leite.wesley@yahoo.com.br) on 2009-09-15T20:16:21Z No. of bitstreams: 1 2008_NaraRejaneSantosPereira.pdf: 437366 bytes, checksum: cf38da86572d7f5f5a6790015ac52065 (MD5) / Approved for entry into archive by Luanna Maia(luanna@bce.unb.br) on 2010-01-29T13:20:07Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2008_NaraRejaneSantosPereira.pdf: 437366 bytes, checksum: cf38da86572d7f5f5a6790015ac52065 (MD5) / Made available in DSpace on 2010-01-29T13:20:07Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2008_NaraRejaneSantosPereira.pdf: 437366 bytes, checksum: cf38da86572d7f5f5a6790015ac52065 (MD5) Previous issue date: 2008 / O uso dos raios X em Odontologia resulta em um diagnóstico apurado, e muitas vezes, definitivo de estruturas bucais nos tratamentos odontológicos, em função disto diminuir os riscos da infecção cruzada durante exames radiográficos merece tanta consideração quanto controlar os riscos do uso da radiação ionizante e de dar destino adequado aos resíduos produzidos. Objetivou-se neste estudo examinar as condições e as condutas dos cirurgiões-dentistas de Campo Grande (MS) com relação à biossegurança, a radioproteção e aos resíduos dos procedimentos radiográficos. Procedeu-se a seleção aleatória de 120 profissionais entre os 600 questionários enviados aos profissionais com consultórios registrados na Vigilância Sanitária Municipal, entre os que responderam a um questionário contendo questões abertas, fechadas e respostas textuais com múltiplas alternativas, após assinarem o Termo de Consentimento Livre e Esclarecido. Os resultados obtidos demonstraram que os entrevistados conhecem satisfatoriamente biossegurança do exame radiográfico e o processamento radiográfico; mais da metade dos profissionais entrevistados não sabe indicar as técnicas radiográficas; são pouco informados sobre gerenciamento de resíduos, mas apresentam bom conhecimento sobre radioproteção. Com base nestes dados, foi elaborado um protocolo de biossegurança em radioproteção obedecendo às normas preconizadas para o controle de infecção cruzada e proteção radiológica, onde estão descritos os passos para o preparo do ambiente de trabalho, do paciente e da equipe profissional, pois, garantir a qualidade das imagens radiográficas com o mínimo de exposição para o paciente e equipe é um desafio e uma obrigação para o cirurgião-dentista. _________________________________________________________________________________________ ABSTRACT / The use of X-ray in Dentistry results in a refined diagnosis, and many times, definitive of buccal structures in dental treatments, due to minimize the risks of the crossed infection during X-ray examinations it deserves as much consideration how the control of risks of the ionizing radiation use and to give appropriate destination to the produced residues. The aim of this study was to examine the conditions and the behaviors of Campo Grande (MS) dentists with regards to the biosecurity, X-ray protection and to the residues of X-ray procedures. A random election of 120 professionals of 600 questionnaires sent to the professionals with dentistry's offices registered in the Mayor Monitoring Sanitary; among who had answered to a questionnaire contend opened questions, closed and literal answers with multiple choices, after signing the Term of Free and Clarified Assent. Obtained results showed that the interviewed dentists satifactory know biosecurity on X-ray examination and processing; more than the half of the interviewed professionals does not know how to indicate X-ray techniques; they are poorly informed on management of residues, but they present good knowledge on X-ray protection. Based on these data, a X-ray biosecurity protocol was elaborated obeying the norms praised for the control of crossed infection and X-ray protection, where the steps for the preparation of the work environment, of the patient and the professional team are described, therefore, to guarantee the quality of the X-ray images with the minimum of exposition for the patient and its team is a challenge and an obligation for the dentist.

O presente trabalho apresenta o desenvolvimento de um equipamento utilizado para acompanhamento e monitoramento do processo de nitretação a plasma enquanto ele ocorre, ou seja, de forma in-situ. Os resultados obtidos com a utilização deste equipamento são demonstrados e confirmam a potencialidade da técnica na caracterização de mecanismos de nitretação a plasma. Ensaios de adaptação à técnica foram realizados, visando adquirir experiência no reconhecimento e detecção de fases formadas durante o processo e de possibilidades de caracterização proporcionadas pela técnica. Desta forma a influência de três composições gasosas na formação de camadas nitretadas em aço médio carbono AISI 1045 foi avaliada de forma in-situ por difração de raios-X e post-mortem por metalografia, GDOS e microdureza Vickers. A composição gasosa de 76% N2 – 24% H2 mostrou alto poder de nitretação, e formou camadas de compostos espessas e zonas de difusão profundas, com aumentos consideráveis de dureza. A composição gasosa de 5% N2 – 95% H2, formou camadas de compostos pequenas e zonas de difusão profundas, além de aumentos de dureza superficial. Em uma segunda avaliação, amostras de aço AISI 1045, foram nitretadas em duas composições gasosas: 5% N2 – 95% H2 e 25% N2 – 75% H2, nas temperaturas de 450ºC, 480ºC, 520ºC, 540ºC e 560ºC. Com o acompanhamento in-situ por difração de raios-X de trechos específicos de 2Θ correspondentes às linhas de difração das fases γ’ e ε, foi possível obter o tempo de incubação da fase γ’ para cada combinação composição gasosa - temperatura, que foram comparados com dados já existentes para nitretação a gás. Também foi possível o acompanhamento do crescimento, desenvolvimento e de mudanças na largura das linhas destas fases O tempo de incubação da fase γ’ permitiu a comparação entre os resultados das nitretações a plasma e os resultados previstos por um diagrama de Lehrer, e uma boa correlação entre as fases previstas pelo diagrama e as encontradas na prática foi encontrada. As amostras foram avaliadas ainda por difração de raios-X em ângulos rasantes, que permitiu a caracterização das camadas mais superficiais das amostras e, com base nestes resultados e nos resultados das análises in-situ, obteve-se um mapa prático de previsão de fases para a nitretação a plasma.

MOREIRA, Marcos Aurélio Marcelino. Caracterização tecnológica das argilas aluvionares da Região Metropolitana de Fortaleza. 2015. 104 f. Dissertação (Mestrado em Geologia)-Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, 2015. / Submitted by Jairo Viana (jairo@ufc.br) on 2017-05-23T22:02:58Z No. of bitstreams: 1 2015_dis_mammoreira.pdf: 12962540 bytes, checksum: 0276faa11d6d883d7b6b262d67284699 (MD5) / Approved for entry into archive by Jairo Viana (jairo@ufc.br) on 2017-05-23T22:03:09Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2015_dis_mammoreira.pdf: 12962540 bytes, checksum: 0276faa11d6d883d7b6b262d67284699 (MD5) / Made available in DSpace on 2017-05-23T22:03:09Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2015_dis_mammoreira.pdf: 12962540 bytes, checksum: 0276faa11d6d883d7b6b262d67284699 (MD5) Previous issue date: 2015 / In the metropolitan area of Fortaleza various ceramic industries, whose main product is the manufacture of bricks, has been facing major problems due to the need to reuse the ceramic body, or even the loss of it after firing, for not meeting the specifications of the market. This occurs mostly due to the mixing ratio of the raw material introduced into the process is inadequate, due to the lack of knowledge of its characteristics, resulting in additional electricity consumption, under-utilization of equipment and skilled labor and hence increase in production costs. The technological characterization of clays used in some ceramics of the region can provide input for improvement of the process used in these industries. The methodology used in this work involved the selection of extraction areas for technological characterization of the clay and setting a ratio of adequate mixing for the manufacture of bricks, based on the raw material used by each selected ceramic industry, and to evaluate the quality of material for the manufacture of clay tiles. Parallel analyzes were performed X-ray diffraction and fluorescence and scanning electron microscopy, where we observed a predominance of kaolinite and ilíticas clays in alluvial clays of the region, being also observed interstratified kaolinite and smectite associations. Such analysis was also applied in order to identify properties that could interfere with the ceramic process. Based on the results of technological characterization was identified that only one sample may be used directly in the manufacture of tiles or bricks, without the need for mixing. Among the remaining samples, the proportions set to mixtures of clays seem to be satisfactory for the manufacture of products for red ceramics. / Na Região Metropolitana de Fortaleza várias indústrias cerâmicas, cujo principal produto é a fabricação de tijolos, tem enfrentado grandes problemas devido à necessidade de reaproveitamento da massa cerâmica, ou mesmo a perda da mesma após a queima, por não atender as especificações do mercado. Isso decorre na maioria das vezes devido à proporção de mistura da matéria-prima introduzida no processo ser inadequada, decorrente da falta de conhecimento de suas características, acarretando no consumo adicional de energia elétrica, subutilização dos equipamentos e mão-de-obra e, consequentemente, aumento dos custos de produção. A caracterização tecnológica das argilas utilizadas em algumas cerâmicas da região pode fornecer subsídios para melhoria do processo utilizado nessas indústrias. A metodologia utilizada nesse trabalho envolveu a seleção de áreas de extração para caracterização tecnológica da argila e definição de uma proporção de mistura adequada para fabricação de tijolos, com base na matéria-prima utilizada por cada indústria cerâmica selecionada, além de avaliar a qualidade do material argiloso para fabricação de telhas. Paralelamente foram realizadas análises de difração/fluorescência de raios X e microscopia eletrônica de varredura, onde foi possível verificar uma predominância de argilas cauliníticas e ilíticas nas argilas aluvionares da região, sendo também observadas associações intestratificadas de caulinita e esmectita. Tais análises também foram aplicadas com o propósito de identificar propriedades que pudessem interferir no processo cerâmico. Com base nos resultados de caracterização tecnológica foi identificado que somente uma amostra pode ser utilizada diretamente na fabricação de telhas ou tijolos, sem a necessidade de mistura. Com relação às demais amostras, as proporções definidas para misturas de argilas se mostraram satisfatórias para fabricação de produtos voltados para cerâmica vermelha.

MUNIZ, F. T. L. Análise da Equação de Scherrer pela Teoria Dinâmica da difração de raios X aplicada a distribuições de tamanho de cristalitos.2017. 100 f. Tese (Doutorado em Física) - Centro de Ciências, Universidade Federal do Ceará, 2017. / Submitted by Pós-Graduação em Física (posgrad@fisica.ufc.br) on 2017-06-05T19:11:22Z No. of bitstreams: 1 2017_Tese_ftlmuniz.pdf: 16101227 bytes, checksum: a17650253be340430065485513198f24 (MD5) / Approved for entry into archive by Giordana Silva (giordana.nascimento@gmail.com) on 2017-06-07T09:41:59Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2017_Tese_ftlmuniz.pdf: 16101227 bytes, checksum: a17650253be340430065485513198f24 (MD5) / Made available in DSpace on 2017-06-07T09:41:59Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2017_Tese_ftlmuniz.pdf: 16101227 bytes, checksum: a17650253be340430065485513198f24 (MD5) Previous issue date: 2017 / CNPq / The Scherrer equation is a widely used tool to determine the crystallite size of polycrystalline samples. However, it is not clear if one can apply it to large crystallite sizes because its derivation is based on the kinematical theory of X-ray diffraction. For large and perfect crystals, it is more appropriate to use the dynamical theory of X- ray diffraction. Due to appearance of polycrystalline materials with a high degree of crystalline perfection and large sizes, it is the authors' belief that it is important to establish the crystallite size limit for which the Scherrer equation can be applied. In this work, the diffraction peak profiles are calculated using the dynamical theory of X-ray diffraction for several Bragg reflections and crystallite sizes for Si, LaB6 and CeO2. The full width at half-maximum is then extracted and the crystallite size is computed using the Scherrer equation. It is shown that for crystals with linear absorption coeficients below 2117.3 cm -1 the Scherrer equation is valid for crystallites with sizes up to 600 nm. It is also shown that as the size increases only the peaks at higher 2θ angles give good results, and if one uses peaks with 2θ > 60° the limit for use of the Scherrer equation would go up to 1 μm. Next, a study was carried out taking into account crystallite size distributions. The diffraction profiles were calculated by dynamic theory considering narrow and wide distributions (Gaussian and Lognormal) of crystallite size to crystals of LaB6. It was shown that the larger the value of the standard deviation, ie, the wider the distribution function, the greater the error in the crystallite size value obtained by the Scherrer equation in these profiles. It has also been shown that for any of the centered distributions in any region of size and for any standard deviation value used in this work, the integrated width (FWHM int ) of the diffraction peaks provides better results for the crystallite size in comparison to the peak width (FWHM). / A equação de Scherrer é uma ferramenta amplamente utilizada para determinar o tamanho de cristalito em amostras policristalinas. No entanto, não é inteiramente clara confiabilidade de sua aplicação para cristalitos de tamanhos grandes porque a sua dedução é baseada na teoria cinemática de difração de raios X. Para cristais grandes e perfeitos, é mais adequado utilizar a teoria dinâmica de difração de raios X. Por causa do aparecimento de materiais policristalinos com um alto grau de perfeição cristalina e de tamanhos grandes acreditamos que seja importante estabelecer um limite de tamanho de cristalito para os quais a equação de Scherrer pode ser aplicada. Neste trabalho, os perfis de difração dos picos são calculados utilizando a teoria dinâmica da difração de raios X para várias reflexões de Bragg e tamanhos de cristalitos de Si, LaB6 e CeO2. A largura a meia altura dos picos (FWHM) é então extraída e o tamanho de cristalito é calculado utilizando a equação de Scherrer. Mostrou-se que para cristais com coeficientes de absorção linear abaixo de 2117,3 cm -1 a equação de Scherrer é válida para cristalitos com tamanhos até 600 nm. Mostra-se também que à medida que o tamanho aumenta apenas os picos com valores de 2_ mais elevados fornecem bons resultados, e se formos utilizar picos com 2θ > 60° o limite para o uso da equação de Scherrer ir até 1 μm. Em seguida foi feito um estudo levando em consideração distribuições de tamanho de cristalito (gaussiana e lognormal) para cristais de LaB6. Foram calculados os perfis de difração pela teoria dinâmica considerando distribuições de tamanho de cristalito estreitas e largas. Foi mostrado que quanto maior o valor do desvio padrão, ou seja, mais alargada for a função distribuição, maior também será o erro no valor do tamanho de cristalito obtido pela equação de Scherrer nestes perfis. Também foi mostrado que, para quaisquer das distribuições centralizadas em qualquer região de tamanho e para qualquer valor de desvio padrão utilizados, a largura integrada (FWHMint) dos picos de difração fornece melhores resultados para o tamanho de cristalito do que a largura do pico (FWHM).

INTRODUÇÃO: O hallux valgus é a deformidade mais comum do pé do adulto e é frequentemente incapacitante requerendo tratamento cirúrgico. O ângulo articular metatarsal distal (AAMD) é uma das variáveis importantes no estudo da deformidade, mas possui baixa correlação interobservadores quando avaliado pela radiografia. O objetivo deste estudo foi avaliar um método tomográfico de aferir este ângulo comparando-o com a medida radiográfica existente. MATERIAL E MÉTODOS: O AAMD de 77 pés (43 pacientes) foi avaliado através de tomografia computadorizada por dois observadores. Os valores encontrados foram comparados entre os observadores e entre a medição radiográfica utilizando o coeficiente de correlação e concordância (CCC) proposto por King e análise de Bland-Altmann para concordância entre os métodos. RESULTADOS: Foi encontrado índice de concordância alto na medição tomográfica entre os observadores com CCC = 0,90 e p < 0,001. Em relação a mensuração radiográfica com a tomográfica houve uma concordância com CCC = 0,667 de com p < 0,001. Na análise gráfica de Bland-Altman a presença de round sign positivo sugere um aumento da diferença da medição radiográfica com a tomográfica e está associado a valor alto do AAMD. CONCLUSÃO: A mensuração do AAMD pelo método tomográfico demonstrou maior correlação interobservadores do que o método radiográfico. Em casos em que há dúvida sobre alteração patológica da inclinação da cabeça metatarsal com ângulos articulares metatarsais distais (AAMD) elevados e, principalmente, com a presença de round sign positivo, a tomografia pode ser um método alternativo para planejamento cirúrgico pré-operatório.

BATISTA, A. M. L. Síntese do padrão difratomérico de Óxido de Cério para determinação da largura instrumental. 2013. 88 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia e Ciência dos Materiais) - Centro de Tecnologia, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, 2013. / Submitted by Marlene Sousa (mmarlene@ufc.br) on 2014-01-02T12:24:55Z No. of bitstreams: 1 2013_dis_amlbatista.pdf: 6342998 bytes, checksum: 564fd7bfe5ebd9ac15753593eebddfd5 (MD5) / Approved for entry into archive by Marlene Sousa(mmarlene@ufc.br) on 2014-01-09T17:27:19Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2013_dis_amlbatista.pdf: 6342998 bytes, checksum: 564fd7bfe5ebd9ac15753593eebddfd5 (MD5) / Made available in DSpace on 2014-01-09T17:27:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2013_dis_amlbatista.pdf: 6342998 bytes, checksum: 564fd7bfe5ebd9ac15753593eebddfd5 (MD5) Previous issue date: 2013 / With the use of X-ray powder diffraction, it is possible to determine physical parameters of a crystal lattice and quantify its phases. Some of these parameters are: the dimensions of unit cell (lattice parameters), volume, crystal size, microstrain, etc. However, it is necessary to be cautious with sample preparation as well as with the diffractometer alignment in order to obtain reliable parameters. For the systematic errors do not affect the values of these parameters, patterns samples are used which are denominated Standard Reference Materials¬-SRM. In X-ray powder diffraction measurement, the patterns obtained from a sample has external effects, such as the way of preparing sample or effects caused by the equipment itself. Taking into account the instrumental effects (systematic), which will always be present in a measurement, thus, the challenge is how to quantify this effect. The SRM selected for this purpose is cerium oxide (CeO_2) which were obtained from cerium sulfate tetrahydrate (Ce〖(SO_4)〗_2∙4H_2 O) purchased from Sigma-Aldrich. The major features of SRM are: crystals have dimensions on the order of µm, chemically inert, homogeneous, low microstrain, narrow and intense diffraction peaks. All these conditions are essential, especially the crystal size to determine the instrumental width. According to the Scherrer equation, the full width at half maximum (FWHM) of a diffraction peak is inversely proportional to the average size of the crystals, in other words, measurements made in thick crystals, homogeneous, low microstrain will produce narrow peaks, and consequently, the total width and profile of the diffraction peaks are associated with instrumental effects (for example: divergence, lenses, spectral dispersion, etc). The objective of this work is to synthesize CeO_2 with the conditions described earlier and to determine the instrumental width of the diffractometer. According to the results presented by the authors of this work, it was observed that cerium oxide can be used as Standard Reference Materials for X-ray Diffraction analysis. / Com uso da difração de raios X por pó, é possível determinar parâmetros físicos de uma rede cristalina e até quantificar suas fases. Alguns desses parâmetros são: as dimensões da célula unitária (parâmetros de rede), seu volume, tamanho de cristal, microdeformação e etc. Contudo, é preciso ser cauteloso com a preparação da amostra e com o alinhamento do difratômetro para que os parâmetros obtidos pela medida sejam confiáveis. Para que os erros sistemáticos não afetem os valores desses parâmetros, utilizam-se materiais padrões que são denominados SRM - Standard Reference Materials¬ (Material Padrão de Referência). Em qualquer medida de difração de raios-X, o difratograma obtido de uma amostra a ser analisada apresenta efeitos externos, que podem ser, por exemplo, a forma como foi preparada a amostra ou provocado pelo próprio equipamento. Levando em conta que os efeitos instrumentais (sistemáticos) sempre estarão presentes numa medida, então, a questão é saber quantificar esse efeito. O SRM escolhido para esse propósito é o óxido de cério (CeO_2) obtido a partir de sulfato de cério tetrahidratado (Ce〖(SO_4)〗_2∙4H_2 O) adquirido da Sigma-Aldrich. As principais características do SRM são: cristais com dimensões da ordem de μm, quimicamente inerte, homogêneo, baixa microdeformação e os picos de difração sejam estreitos e intensos. Todas essas condições são essenciais, especialmente o tamanho dos cristais, para determinar a chamada largura instrumental. Segundo a equação de Scherrer, a largura a meia altura (FWHM) de um pico de difração é inversamente proporcional ao tamanho médio dos cristais, ou seja, medidas feitas em cristais espessos, homogêneos e de baixa microdeformação produzirá picos estreitos, e consequentemente, a largura e perfis dos picos de difração estão associados a efeitos instrumentais (por exemplo: divergência, fendas, dispersão espectral e etc.). O objetivo deste trabalho consiste em sintetizar o CeO_2 com as condições apresentadas anteriormente para que seja possível, através de auxílio computacional, determinar a largura instrumental do difratômetro. Segundo os resultados apresentados pelo o autor do presente trabalho, verifica-se que o óxido de cério sintetizado pode ser utilizado como material padrão de referência para difratometria.

MENESES, Cristiano Teles de. Estudo da cristalização de nanopartículas de NiO por difração e absorção de raios-X. 2007. 142 f. Tese (Doutorado em Física) - Programa de Pós-Graduação em Física, Departamento de Física, Centro de Ciências, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, 2007. / Submitted by Edvander Pires (edvanderpires@gmail.com) on 2015-05-05T17:50:08Z No. of bitstreams: 1 2007_tese_ctmeneses.pdf: 7643778 bytes, checksum: 33dfe5454795e2da2f24802c4811365f (MD5) / Approved for entry into archive by Edvander Pires(edvanderpires@gmail.com) on 2015-05-07T14:25:35Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2007_tese_ctmeneses.pdf: 7643778 bytes, checksum: 33dfe5454795e2da2f24802c4811365f (MD5) / Made available in DSpace on 2015-05-07T14:25:35Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2007_tese_ctmeneses.pdf: 7643778 bytes, checksum: 33dfe5454795e2da2f24802c4811365f (MD5) Previous issue date: 2007 / Usando técnicas de caracterização estrutural, em particular a absorção de raios-X (XAS) e difração de raios-X (DRX) foram aplicadas para estudar a cristalização de nanopartículas de NiO. Na primeira parte do trabalho estudamos o processo de síntese de nanopartículas (NP’s) de NiO crescidas a partir de um método de baixo custo, em diferentes condições térmicas e químicas (concentração do precursor orgânico, temperatura e tempo de síntese), no qual usa uma solução aquosa de gelatina com o cloreto de níquel. Foram abordadas também amostras obtidas com adição de NaOH (na solução precursora das NP’s) para estudar o efeito do pH no crescimento das nanopartícula. Esses resultados indicaram uma redução no tamanho da partícula com o aumento do pH e uma mudança na morfologia da partícula de piramidal (baixo pH) para quase esférica (alto pH) mostrada por microscopia eletrônica de varredura (MEV). Para obter todas as informações estruturais relacionadas à caracterização por DRX foi usado refinamento Rietveld. Resultados calculados usando equação de Scherrer mostraram partículas com tamanhos médios de até 3 nm. Na segunda parte do trabalho abordamos o do processo de cristalização in situ das NP’s de NiO. Nesta parte do trabalho foi estudado o efeito da taxa de aquecimento na formação e crescimento das partículas. Esses resultados mostraram que o aumento da taxa de aquecimento retarda a formação do NiO e conseqüentemente reduz o tamanho das partículas. Realizamos também um estudo comparativo através dos resultados experimentais de absorção de raios-X próximo à borda (XANES) e cálculos ab nitio usando um modelo de espalhamento múltiplo (Feff 8).

O objetivo desta dissertação é identificar e quantificar a influência da qualidade da pavimentação no processo de escolha de rotas dos usuários no meio interurbano. O pressuposto do trabalho é que a qualidade do pavimento exerce papel importante e, por conseguinte, deve ser integrada aos demais atributos da função de custo nos modelos de alocação de tráfego. Este trabalho apresenta uma metodologia com vistas a introduzir a influência deste parâmetro na modelagem da alocação de tráfego. Entre as principais conclusões extraídas dos experimentos realizados, destacam-se a comprovação da importância da qualidade da pavimentação no processo de escolha de rotas, além de subsídios importantes para o embasamento da metodologia adotada. / The aim o f this dissertation is to identify the influence of road pavement quality on the route choice process in interurban areas. The main assumption of this work is that pavement quality is an important issue that should be included in cost functions of traffic assignment models. This work presents the methodology devised to include the effect of pavement quality on traffic assignment models. It also presents the results from an exploratory test designed to provide subsidies to the proposed methodology.

Resumo: O conhecimento das propriedades cristalinas de semicondutores e de grande importancia para o uso e a aplicacao nos recentes avancos tecnologicos, bem como para aprimorar o processo de obtencao e crescimento. Para a caracterizacao de defeitos em cristais sao empregadas duas tecnicas principais baseadas em difracao de raios X: a analise do perfil de difracao e a topografia, as quais permitem obter nformacoes complementares sobre defeitos presentes em monocristais. A analise do perfil de difracao investiga quantitativamente uma pequena area, enquanto a topografia fornece uma imagem da distribuicao de imperfeicoes em uma grande area, sendo que ambas sao sensiveis a variacoes do parametro de rede (Ģd/d) e a orientacao da rede. O que se propoe neste trabalho e combinar simultaneamente as tecnicas de opografia e de difratometria de raios X utilizando-se de um detector de area CCD para fazer a medida do perfil de difracao tanto com fontes de radiacao convencional quanto com luz sincrotron. Dessa forma e possivel detectar e quantificar imperfeicoes com resolucao espacial da ordem de micrometros de toda a amostra com grande intensidade em menor tempo de exposicao e, ao mesmo tempo estabelecer uma orrelacao entre os defeitos microscopicos e os efeitos macroscopicos. Com o metodo proposto e possivel determinar as intensidades maxima e integrada, a posicao dos picos e a largura a meia altura da curva do perfil de difracao e com isto quantificar as variacoes do parametro de rede e rotacoes da rede cristalina. Inicialmente o metodo foi aplicado usando um monocromador quatro cristais com radiacao convencional. omo aprimoramento foi usado um monocromador assimetrico para expandir o feixe de radiacao convencional e luz sincrotron. O metodo foi aplicado a duas amostras com o objetivo de demonstrar a sua aplicabilidade: um wafer de Si (400) com um filme de oxido de silicio e uma amostra de Si (400) com nanoindentacoes. A primeira amostra serviu para o e desenvolvimento da tecnica. A segunda e um exemplo de eformacao plastica onde foi possivel identificar Ģd/d da ordem de 10-5. Os resultados demonstraram que a tecnica de imagem funcionou bem em todas as situacoes propostas. Ainda mais, foi demonstrado que essa tecnica pode ser usada nao somente com radiacao sincrotron mas tambem com fontes convencionais de raios X.

O presente trabalho apresenta o desenvolvimento de um equipamento utilizado para acompanhamento e monitoramento do processo de nitretação a plasma enquanto ele ocorre, ou seja, de forma in-situ. Os resultados obtidos com a utilização deste equipamento são demonstrados e confirmam a potencialidade da técnica na caracterização de mecanismos de nitretação a plasma. Ensaios de adaptação à técnica foram realizados, visando adquirir experiência no reconhecimento e detecção de fases formadas durante o processo e de possibilidades de caracterização proporcionadas pela técnica. Desta forma a influência de três composições gasosas na formação de camadas nitretadas em aço médio carbono AISI 1045 foi avaliada de forma in-situ por difração de raios-X e post-mortem por metalografia, GDOS e microdureza Vickers. A composição gasosa de 76% N2 – 24% H2 mostrou alto poder de nitretação, e formou camadas de compostos espessas e zonas de difusão profundas, com aumentos consideráveis de dureza. A composição gasosa de 5% N2 – 95% H2, formou camadas de compostos pequenas e zonas de difusão profundas, além de aumentos de dureza superficial. Em uma segunda avaliação, amostras de aço AISI 1045, foram nitretadas em duas composições gasosas: 5% N2 – 95% H2 e 25% N2 – 75% H2, nas temperaturas de 450ºC, 480ºC, 520ºC, 540ºC e 560ºC. Com o acompanhamento in-situ por difração de raios-X de trechos específicos de 2Θ correspondentes às linhas de difração das fases γ’ e ε, foi possível obter o tempo de incubação da fase γ’ para cada combinação composição gasosa - temperatura, que foram comparados com dados já existentes para nitretação a gás. Também foi possível o acompanhamento do crescimento, desenvolvimento e de mudanças na largura das linhas destas fases O tempo de incubação da fase γ’ permitiu a comparação entre os resultados das nitretações a plasma e os resultados previstos por um diagrama de Lehrer, e uma boa correlação entre as fases previstas pelo diagrama e as encontradas na prática foi encontrada. As amostras foram avaliadas ainda por difração de raios-X em ângulos rasantes, que permitiu a caracterização das camadas mais superficiais das amostras e, com base nestes resultados e nos resultados das análises in-situ, obteve-se um mapa prático de previsão de fases para a nitretação a plasma.