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Caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) por difração múltipla de raios-X

Avanci, Luis Humberto 03 March 1995 (has links)
Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-20T03:57:48Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Avanci_LuisHumberto_M.pdf: 1153304 bytes, checksum: 2d8070b9011e768604711d089c934bad (MD5) Previous issue date: 1995 / Resumo: Neste trabalho, os casos de três feixes de superfície (000 200 111) da difração múltipla de raios-X são utilizados de forma inédita, na caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) crescidas por epitaxia de feixe molecular com fonte gasosa (GSMBE). Um programa desenvolvido para a simulação do perfil e posição desses casos de três feixes nos diagramas Renninger, foi utilizado na detem1inação da largura mosaico paralela (hf) e perpendicular (hw ) à direção do crescimento da camada. Valores menores de ambas as larguras obtidos para as amostras que sofreram tratamento térmico rápido (RT A), indicam que esse tratamento após o crescimento, realmente melhora a perfeição cristalina das camadas. A análise do parâmetro de rede da camada na direção paralela à sua superfície, também obtido do programa, em função da temperatura de nucleação, mostrou que os resultados seguem o modelo de tensão térmica na camada, no qual a temperatura de nucleação é mais importante do que a temperatura de crescimento das camadas de lnP .A condição angular da difração múltipla, quando analisada em detalhes através da variação do ângulo de incidência w e do ângulo de rotação f em tomo da direção [100], acarreta no mapeamento desta condição. Um método baseado nas varreduras w :f , que permite a análise da desorientação superficial dos blocos mosaicos ou das grandes regiões perfeitas difratantes em cristais quase-perfeitos, foi aplicado pela primeira vez em heteroestruturas, no sistema InP/GaAs deste trabalho. A curvas de isointensidade dessas varreduras para o substrato GaAs, permitiu observar diretamente o efeito da tensão provocada pelo crescimento da camada de lnP , na rede do substrato / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Aplicação do Método de Rietveld em caracterização estrutural e nanoestrutural do espinélio 'Ni IND. 1'- 'delta' Co'delta'Fe IND.2'O IND.4' preparado por reação de combustão /

Antonio, Selma Gutierrez. January 2006 (has links)
Orientador: Carlos de Oliveira Paiva / Co-orientador: Ana Cristina Figueiredo de Melo Costa / Banca: Alberto Adriano Cavalheiro / Banca: Sonia Regina Homen de Mello-Castanho / O Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais, PosMat, tem caráter institucional e integra as atividades de pesquisa em materiais de diversos campi da Unesp / Resumo: Os espinélios têm como sua fórmula unitária geral (A1-iBi)[AiB2-i]O4 (0 =i =1), em que os parênteses são os sítios tetraédricos, os colchetes representam os sítios octaédricos e i é o grau de inversão que representa a distribuição dos cátions na rede cristalográfica. Para i igual a 1 o espinélio é chamado de "inverso" e tem os cátions distribuídos nos sítios tetraédrico e octaédrico de acordo com a fórmula (B)[AB]O4 e igual a 0 o espinélio é chamado de "normal" com a fórmula (A)[B2]O4, e para 0 < i < 1 os cátions A e B estão distribuídos entre os dois sítios randomicamente e são chamados de "parcialmente invertidos" ou "mistos". As propriedades desses materiais dependem dos tipos de cátions e do grau de inversão. Neste trabalho utilizamos o processo de combustão, o qual tem sido apresentado como um método eficiente para a produção de partículas nanométricas, para a obtenção do sistema Ni1-d Co d Fe2O4 (d = 0; o; u; ; 1). Os materiais resultantes foram caracterizados usando o método de Rietveld para determinar a distribuição dos cátions nos sítios tetraédrico e octaédrico. Análises de espectroscopia Mössbauer foram utilizadas para corroborar os resultados obtidos pelo Método de Rietveld. A principal variável para promover a síntese de óxidos por reação de combustão e otimizá-la é a razão combustível/oxidante, que foram variadas de 1X (estequiométrica), 1,5X e 2X (dobro) e estabelecida o dobro para o desenvolvimento do trabalho. Observamos também, indicações que a razão combustível/oxidante deve variar para cada estequiometria (d ), e que o Co e Ni ocupam apenas os sítios octaédricos. O método de Rietveld e a luz síncrotron permitiram a determinação da estequiometria em cada composição, e os cálculos de microdeformação mostram a existência de flutuação composicional. / Abstract: The spinels have the general unity formulae (A1-iBi)[AiB2-i]O4 (0 =i =1), where () represents the tetrahedral sites, [ ] represents the octahedral sites and i is the degree of inversion that represents the distribution of cations in the crystal lattice. For i equal to 1 it is the inverted spinel (B)[AB]O4 and i = 0 it is the normal spinel (A)[B2]O4, and for 0 < i < 1 the cations A and B are randomly distributed between the two sites. The properties of these materials depend on the types of cations and the degree of inversion. In this work we use the combustion process, which has been presented as an efficient method for the production of nanometrics particles, for the attainment of the system Ni1-d Co d Fe2O4 (d = 0; o; u; ; 1). The resulting materials were characterized using the Rietveld Method (RM) to determine the cations distribution in the tetrahedral and octahedral sites. Analyses of Mössbauer spectroscopy carried through by E. Miola and H. Rechenberg had been also used to corroborate the results obtained using Rietveld Method. The main variable to promote the oxide synthesis through combustion reaction is the fuel/oxidant ratio that, in this work, varied from stoichiometric (ratio = 1) up to two times (ratio = 2). We observe that the ratio varies from one stoichiometry to another(d ), and that Co and Ni occupy only the octahedral sites. We observe, also, that the procedure is not yet adjusted to get itself homogeneous material, since the materials present particles with very varied sizes and degree of agglomeration. The Rietveld method and the synchrotron light allowed the determination of the stoichiometry for each composition. / Mestre
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Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência

Cavalcanti, Leide Passos 30 March 1995 (has links)
Orientador: Iris C. L. Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin" / Made available in DSpace on 2018-07-21T01:11:15Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Cavalcanti_LeidePassos_M.pdf: 3330779 bytes, checksum: 0ee0ee5329fea84a0242a1b3d9be2a9c (MD5) Previous issue date: 1995 / Resumo: Este trabalho apresenta um estudo de filmes finos e ultrafinos por difração de raios-X com reflexão as simétrica e baixo ângulo de incidência através da utilização do Goniômetro de Guinier. O objetivo principal deste trabalho foi estudar de maneira geral as propriedades da difração por reflexão as simétrica com o intuito de mostrar as possibilidades da técnica na aplicação ao estudo de filmes finos. São apresentados resultados da caracterização de filmes finos de Ge nanocristalino crescidos por sputtering sobre lâmina monocristalina do mesmo material. As análises permitem identificar um perfil de profundidade com relação à textura. Tanto nestas amostras como também em filmes de Au sobre Si monocristalino foi possível subtrair completamente as reflexões do substrato. Outro aspecto interessante desta técnica abordado neste estudo é mostrado com os resultados de uma amostra de GaAs não dopado crescido epitaxialmente sobre substrato de Si monocristalino. Foi obtida uma caracterização da epitaxia sob diferentes ângulos azimutais. Além de mostrar a aplicação desta geometria no estudo dos filmes mencionados, uma grande contribuição desta tese foi, sem dúvida, a implementação da técnica no Laboratório de Cristalografia Aplicada e Raios-X do IFGW onde será usado como importante instrumento de pesquisa / Abstract: In this work we present a study of thin and ultrathin3 films by X-Ray diffraction with asymmetric ref1ection and small incidence angle using a Guinier goniometer. The main purpose of this work was to study, in general, the properties of the diffraction by asymmetric ref1ection showing alI the possibilities of this technique when applied to the study of thin films. We present results on characterization of nanocrystalline Germanium thin films deposited by sputtering on aGe substrate. The analyses allow us to identify a depth profile of the films texture. Both for these Germanium samples and for Gold thin films on monocrystalline Silicon it was possible to suppress the substrate ref1ection. Another interesting aspect of this technique is revealed by the results obtained in the study of an undoped GaAs epitaxial layer grown on a monocrystalline Silicon substrate. A characterization of the epitaxy under different azimuths was obtained. Besides showing the application of this geometry in the study of thin films, another contribution of this thesis as the implementation of the technique in the 'Laboratório de Cristalografia Aplicada e Raios-X' (IFGW) where it is going to be used as an important research tool / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Comparação entre a avaliação radiográfica e a tomográfica do ângulo articular metatarsal distal

Cruz, Eduardo Pedrini January 2015 (has links)
INTRODUÇÃO: O hallux valgus é a deformidade mais comum do pé do adulto e é frequentemente incapacitante requerendo tratamento cirúrgico. O ângulo articular metatarsal distal (AAMD) é uma das variáveis importantes no estudo da deformidade, mas possui baixa correlação interobservadores quando avaliado pela radiografia. O objetivo deste estudo foi avaliar um método tomográfico de aferir este ângulo comparando-o com a medida radiográfica existente. MATERIAL E MÉTODOS: O AAMD de 77 pés (43 pacientes) foi avaliado através de tomografia computadorizada por dois observadores. Os valores encontrados foram comparados entre os observadores e entre a medição radiográfica utilizando o coeficiente de correlação e concordância (CCC) proposto por King e análise de Bland-Altmann para concordância entre os métodos. RESULTADOS: Foi encontrado índice de concordância alto na medição tomográfica entre os observadores com CCC = 0,90 e p < 0,001. Em relação a mensuração radiográfica com a tomográfica houve uma concordância com CCC = 0,667 de com p < 0,001. Na análise gráfica de Bland-Altman a presença de round sign positivo sugere um aumento da diferença da medição radiográfica com a tomográfica e está associado a valor alto do AAMD. CONCLUSÃO: A mensuração do AAMD pelo método tomográfico demonstrou maior correlação interobservadores do que o método radiográfico. Em casos em que há dúvida sobre alteração patológica da inclinação da cabeça metatarsal com ângulos articulares metatarsais distais (AAMD) elevados e, principalmente, com a presença de round sign positivo, a tomografia pode ser um método alternativo para planejamento cirúrgico pré-operatório.
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Desenvolvimento de um processador eletrônico de regimes radiológicos

Barbieri, Denis Xavier January 1998 (has links)
O objetivo desta dissertação é identificar e quantificar a influência da qualidade da pavimentação no processo de escolha de rotas dos usuários no meio interurbano. O pressuposto do trabalho é que a qualidade do pavimento exerce papel importante e, por conseguinte, deve ser integrada aos demais atributos da função de custo nos modelos de alocação de tráfego. Este trabalho apresenta uma metodologia com vistas a introduzir a influência deste parâmetro na modelagem da alocação de tráfego. Entre as principais conclusões extraídas dos experimentos realizados, destacam-se a comprovação da importância da qualidade da pavimentação no processo de escolha de rotas, além de subsídios importantes para o embasamento da metodologia adotada. / The aim o f this dissertation is to identify the influence of road pavement quality on the route choice process in interurban areas. The main assumption of this work is that pavement quality is an important issue that should be included in cost functions of traffic assignment models. This work presents the methodology devised to include the effect of pavement quality on traffic assignment models. It also presents the results from an exploratory test designed to provide subsidies to the proposed methodology.
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Incorporação de elipticinas em membranas-modelo : estudo por difração de raios-X

Zacharias, Carlos Renato 23 July 1991 (has links)
Orientador: Iris Concepcion Linares de Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-09-27T18:36:17Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Zacharias_CarlosRenato_M.pdf: 1469619 bytes, checksum: e9cc5cddd872cec2596db426ff3bd55e (MD5) Previous issue date: 1991 / Resumo: A incorporação de Elipticina, uma droga anticancerígena, em membranas-modelo é estudada por técnicas de difração de raios-X à baixo ângulo. Através de diagramas de difração estudamos as alterações estruturais dos fosfolipideos, induzidas pela Elipticina, assim como o processo de cristalização da droga nas bicamadas. Usando diferentes sistemas de membranas-modelo (DPPC, CL, EPC). com várias concentrações Lipídeo:Droga, mostramos que a permeabilidade e a carga liquida dos fosfolipídeos, bem como o pH da fase aquosa contribuem no mecanismo de incorporação da droga. A presença de ELPT incorporada na região hidrofóbica induz variações na espessura da bicamada. A cristalização da droga é dependente da concentração e pH, sendo observada apenas na fase aquosa / Abstract: The incorporation of Ellipticine, an anticancer drug, in lipid model membranes is studied by low angle X-ray diffraction technique. Using diffraction patterns we have studied the structural changes of the lipid bilayers induced by Ellipticine, as well as the crystallization mechanism of the compound in the multilayer system. Using different model membrane systems (DPPC, CL, EPC). with different Lipids: Drug concentrations, we show that the permeability and net charge of the phospholipids. As well as the pH of the aqueous phase, contributed to drug incorporation. The Ellipticine located in the hydrophobic region of the bilayer induces changes in its thickness. The formation of Ellipticine crystals is observed only in the aqueous phase and is pH- and concentration-dependent / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Métodos de análise de fases cristalinas por difracao de raios X

Zeballos Velasquez, Elvira Leticia 22 March 1991 (has links)
Orientador: Iris Concepcion Linares de Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Física Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-09-27T18:38:02Z (GMT). No. of bitstreams: 1 ZeballosVelasquez_ElviraLeticia_M.pdf: 1483512 bytes, checksum: 1ff6f5144edc9afe85b9e34fcad6716a (MD5) Previous issue date: 1990 / Resumo: Neste trabalho vários métodos analíticos destinados à identificação de fases e a determinação de suas concentrações em misturas de multicomponentes são estudados em detalhe e aplicados na análise de amostras provenientes da síntese do material supercondutor Y-Ba-Cu-O para varias relações catiônicas. Para a identificação das fases são aplicados métodos computacionais de simulação de difratogramas. A comparação dos difratogramas calculados com os experimentais permite a determinação das fases presentes. As concentrações das fases identificadas são calculadas pelo Método de Padrão Externo usando as Intensidades de Referência. Estas intensidades são calculadas teoricamente. Na nossa aplicação, a análise qualitativa reportou a presença da fase supercondutora ba2Cu3O7-d , das fases semicondutores Y2BaCuO5 e BaCuO2, e do CuO, com uma presença dominante da primeira fase em todas as nossas amostras. Na maioria das amostras esteve presente o Y2BaCuO5 e o CuO em percentagens variáveis. Somente em uma amostra foi detectada a fase de BaCuO2. Os nossos resultados permitem confirmar a utilidade de métodos computacionais para identificar fases (ou componentes) de misturas complexas, cujo estudo seria extremamente complicado usando métodos tradicionais. A conveniência do método quantitativo aplicado neste trabalho para o cálculo das concentrações também é evidente, estabelecendo-se uma metodologia conveniente para este tipo de análise de fases / Abstract: In this work several analytical methods have been studied and applied to the identification of phases and determination of individual concentrations in multicomponent mixtures obtained from the synthesis of the superconductor material Yba2Cu3O7-d for several cationic ratios. Single phase components were identified by computer simulation of the experimental diffractograms. Concentrations were then calculated by the External Standard Method using the reference intensities calculated for each of the components. The results of the qualitative methods applied to our samples confirmed the presence of the superconducting phase Yba2Cu3O7-d, the semiconducting phases Y2BaCuO5 and BaCuO2, and CuO. In most of the samples Y2BaCuO5 and CuO were present in variable quantities. Only one of the samples contained the BaCuO2 phase. Our results confirmed the practical applicability of the computer simulation methods for the identification of single phase components in complex mixtures which would be hard to analyze by traditional methods. Furthermore, the quantitative method used in this work proved to be quite convenient when combined with the computer simulation of the diffractograms thus establishing a very practical methodology for this type of phase analysis / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Espalhamento de raios X a baixo angulo : estudo de hemoglobinas extracelulares em solução

Souza, Christina Franco de 22 July 1990 (has links)
Orientador: Iris Concepcion Linares de Torriani / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-09-27T18:33:13Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Souza_ChristinaFrancode_D.pdf: 4793967 bytes, checksum: 74b68cad0c27d2b7d2b2fb027fe59ab2 (MD5) Previous issue date: 1990 / Resumo: A técnica de espalhamento de raios X a baixo ângulo tem sido bastante utilizada nos últimos anos no estudo de proteínas em solução. Curvas de espalhamento de alta resolução, além de fornecerem parâmetros dimensionais, possibilitam a obtenção de informações sobre a estrutura quaternária de macromoléculas através de simulações com modelos. Neste trabalho, estudamos a eritrocruorina do anelídeo Glossoscolex paulistus (massa molecular de 3.23x106). Curvas de espalhamento a baixo ângulo de várias concentrações da proteína em solução foram obtidas com um gerador convencional de raios X. A partir destes dados foi possível determinar os valores de raio de giro e dimensão máxima na molécula por gráficos de Guinier e transformada indireta de Fourier. Obtivemos, também, curvas de alta resolução no síncrotron do LURE, Orsay, França. As intensidades espalhadas. por apresentarem uma série de máximos nos ângulos maiores, pareceram apropriadas ao cálculo de modelos. Para tal usamos um programa de computador desenvolvido por O. Glatter [7]. O modelo inicial, composto de 186 esferas idênticas, foi estruturado com base em informações disponíveis de microscopia eletrônica. Modificações sistemáticas deste modelo levaram a uma estrutura final que consiste de 12 subunidades principais arranjadas em duas camadas hexagonais sobrepostas formando um cilindro com uma subunidade adicional no centro. Durante o processo de ajuste do modelo, diferentes pesos foram atribuídos às esferas que compunham as subunidades principais. 0 modelo final simula bem as curvas experimentais e contém informação sobre as regiões de maior densidade eletrônica na molécula, sugerindo uma possível localização dos grupos heme / Abstract: Small angle X-ray scattering is a technique that has been widely used during the last decade for the study of proteins in solution. High resolution scattering curves, can not only provide information on the dimensional parameters of the molecules, but also lead to a description of the quaternary structure of the protein by filling the experimental intensity curves and distance distribution functions with those calculated for a model molecule. This work reports studies of erythrocruorin from the annelid species Glossoscolex paulistus (molecular weight 3,23 x 106). Small angle scattering curves from various concentrations of this protein in solution were obtained with a conventional X-ray generator. The radius of gyration and maximum dimension of the molecule were obtained from Guinier plots and inverse Fourier transform. High resolution intensity curves were obtained al the synchrotron source at LURE, Orsay, France. These curves presented a number of maxima at higher angles and seemed adequate for model calculations. These were performed using the computer program developed by O. Glatter [7]. The initial model, formed by 186 identical spheres, was built using the information available from electron microscopy. Systematic modifications of this model lead us to a final structure consisting of 12 principal subunits, arranged in two superposed hexagonal layers forming a hexagonal cylinder, with an additional subunit in its center. During the filling procedure, different weights were assigned to the spheres composing the structure. The final model reproduces the experimental scattering curves and contains information on the more electron-dense regions in the molecule, thus suggesting the possible site of the heme groups / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Algumas aplicações da fluorescência de raios x por excitação radioisotópica em rochas e minérios / Not available.

Claudio Lisias Seignemartin 10 January 1975 (has links)
São apresentados, em primeiro lugar, alguns dos principais conceitos em que se fundamenta a técnica da fluorescência de raios X por excitação radioisotópica. Seguem-se algumas considerações sobre a parte instrumental, analisando fontes, câmaras de excitação e detetores e, principalmente a conjugação destes fatores, aqui denominada simplesmente geometria. Nos itens seguintes são analisados os fatores responsáveis pela introdução de ergos nas dosagens, e os processos analíticos, onde é enfatizado o método da dupla diluição com padrões, utilizado na parte experimental deste trabalho. São apreciadas algumas das possíveis aplicações da metodologia proposta, principalmente no campo da pesquisa mineral, e, a seguir a técnica apresentada é comparada a outros métodos analíticos, incluindo a própria fluorescência de raios X convencional. Três exemplos de dosagens efetivamente realizadas demonstram a praticidade e aplicabilidade do método. / Not available.
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Algumas aplicações da fluorescência de raios x por excitação radioisotópica em rochas e minérios / Not available.

Seignemartin, Claudio Lisias 10 January 1975 (has links)
São apresentados, em primeiro lugar, alguns dos principais conceitos em que se fundamenta a técnica da fluorescência de raios X por excitação radioisotópica. Seguem-se algumas considerações sobre a parte instrumental, analisando fontes, câmaras de excitação e detetores e, principalmente a conjugação destes fatores, aqui denominada simplesmente geometria. Nos itens seguintes são analisados os fatores responsáveis pela introdução de ergos nas dosagens, e os processos analíticos, onde é enfatizado o método da dupla diluição com padrões, utilizado na parte experimental deste trabalho. São apreciadas algumas das possíveis aplicações da metodologia proposta, principalmente no campo da pesquisa mineral, e, a seguir a técnica apresentada é comparada a outros métodos analíticos, incluindo a própria fluorescência de raios X convencional. Três exemplos de dosagens efetivamente realizadas demonstram a praticidade e aplicabilidade do método. / Not available.

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