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Caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) por difração múltipla de raios-XAvanci, Luis Humberto 03 March 1995 (has links)
Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-20T03:57:48Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1995 / Resumo: Neste trabalho, os casos de três feixes de superfície (000 200 111) da difração múltipla de raios-X são utilizados de forma inédita, na caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) crescidas por epitaxia de feixe molecular com fonte gasosa (GSMBE). Um programa desenvolvido para a simulação do perfil e posição desses casos de três feixes nos diagramas Renninger, foi utilizado na detem1inação da largura mosaico paralela (hf) e perpendicular (hw ) à direção do crescimento da camada. Valores menores de ambas as larguras obtidos para as amostras que sofreram tratamento térmico rápido (RT A), indicam que esse tratamento após o crescimento, realmente melhora a perfeição cristalina das camadas. A análise do parâmetro de rede da camada na direção paralela à sua superfície, também obtido do programa, em função da temperatura de nucleação, mostrou que os resultados seguem o modelo de tensão térmica na camada, no qual a temperatura de nucleação é mais importante do que a temperatura de crescimento das camadas de lnP .A condição angular da difração múltipla, quando analisada em detalhes através da variação do ângulo de incidência w e do ângulo de rotação f em tomo da direção [100], acarreta no mapeamento desta condição. Um método baseado nas varreduras w :f , que permite a análise da desorientação superficial dos blocos mosaicos ou das grandes regiões perfeitas difratantes em cristais quase-perfeitos, foi aplicado pela primeira vez em heteroestruturas, no sistema InP/GaAs deste trabalho. A curvas de isointensidade dessas varreduras para o substrato GaAs, permitiu observar diretamente o efeito da tensão provocada pelo crescimento da camada de lnP , na rede do substrato / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidênciaCavalcanti, Leide Passos 30 March 1995 (has links)
Orientador: Iris C. L. Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin" / Made available in DSpace on 2018-07-21T01:11:15Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1995 / Resumo: Este trabalho apresenta um estudo de filmes finos e ultrafinos por difração de raios-X com reflexão as simétrica e baixo ângulo de incidência através da utilização do Goniômetro de Guinier. O objetivo principal deste trabalho foi estudar de maneira geral as propriedades da difração por reflexão as simétrica com o intuito de mostrar as possibilidades da técnica na aplicação ao estudo de filmes finos. São apresentados resultados da caracterização de filmes finos de Ge nanocristalino crescidos por sputtering sobre lâmina monocristalina do mesmo material. As análises permitem identificar um perfil de profundidade com relação à textura. Tanto nestas amostras como também em filmes de Au sobre Si monocristalino foi possível subtrair completamente as reflexões do substrato. Outro aspecto interessante desta técnica abordado neste estudo é mostrado com os resultados de uma amostra de GaAs não dopado crescido epitaxialmente sobre substrato de Si monocristalino. Foi obtida uma caracterização da epitaxia sob diferentes ângulos azimutais. Além de mostrar a aplicação desta geometria no estudo dos filmes mencionados, uma grande contribuição desta tese foi, sem dúvida, a implementação da técnica no Laboratório de Cristalografia Aplicada e Raios-X do IFGW onde será usado como importante instrumento de pesquisa / Abstract: In this work we present a study of thin and ultrathin3 films by X-Ray diffraction with asymmetric ref1ection and small incidence angle using a Guinier goniometer. The main purpose of this work was to study, in general, the properties of the diffraction by asymmetric ref1ection showing alI the possibilities of this technique when applied to the study of thin films. We present results on characterization of nanocrystalline Germanium thin films deposited by sputtering on aGe substrate. The analyses allow us to identify a depth profile of the films texture. Both for these Germanium samples and for Gold thin films on monocrystalline Silicon it was possible to suppress the substrate ref1ection. Another interesting aspect of this technique is revealed by the results obtained in the study of an undoped GaAs epitaxial layer grown on a monocrystalline Silicon substrate. A characterization of the epitaxy under different azimuths was obtained. Besides showing the application of this geometry in the study of thin films, another contribution of this thesis as the implementation of the technique in the 'Laboratório de Cristalografia Aplicada e Raios-X' (IFGW) where it is going to be used as an important research tool / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Incorporação de elipticinas em membranas-modelo : estudo por difração de raios-XZacharias, Carlos Renato 23 July 1991 (has links)
Orientador: Iris Concepcion Linares de Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-09-27T18:36:17Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1991 / Resumo: A incorporação de Elipticina, uma droga anticancerígena, em membranas-modelo é estudada por técnicas de difração de raios-X à baixo ângulo. Através de diagramas de difração estudamos as alterações estruturais dos fosfolipideos, induzidas pela Elipticina, assim como o processo de cristalização da droga nas bicamadas. Usando diferentes sistemas de membranas-modelo (DPPC, CL, EPC). com várias concentrações Lipídeo:Droga, mostramos que a permeabilidade e a carga liquida dos fosfolipídeos, bem como o pH da fase aquosa contribuem no mecanismo de incorporação da droga. A presença de ELPT incorporada na região hidrofóbica induz variações na espessura da bicamada. A cristalização da droga é dependente da concentração e pH, sendo observada apenas na fase aquosa / Abstract: The incorporation of Ellipticine, an anticancer drug, in lipid model membranes is studied by low angle X-ray diffraction technique. Using diffraction patterns we have studied the structural changes of the lipid bilayers induced by Ellipticine, as well as the crystallization mechanism of the compound in the multilayer system. Using different model membrane systems (DPPC, CL, EPC). with different Lipids: Drug concentrations, we show that the permeability and net charge of the phospholipids. As well as the pH of the aqueous phase, contributed to drug incorporation. The Ellipticine located in the hydrophobic region of the bilayer induces changes in its thickness. The formation of Ellipticine crystals is observed only in the aqueous phase and is pH- and concentration-dependent / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Métodos de análise de fases cristalinas por difracao de raios XZeballos Velasquez, Elvira Leticia 22 March 1991 (has links)
Orientador: Iris Concepcion Linares de Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Física Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-09-27T18:38:02Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1990 / Resumo: Neste trabalho vários métodos analíticos destinados à identificação de fases e a determinação de suas concentrações em misturas de multicomponentes são estudados em detalhe e aplicados na análise de amostras provenientes da síntese do material supercondutor Y-Ba-Cu-O para varias relações catiônicas. Para a identificação das fases são aplicados métodos computacionais de simulação de difratogramas. A comparação dos difratogramas calculados com os experimentais permite a determinação das fases presentes. As concentrações das fases identificadas são calculadas pelo Método de Padrão Externo usando as Intensidades de Referência. Estas intensidades são calculadas teoricamente. Na nossa aplicação, a análise qualitativa reportou a presença da fase supercondutora ba2Cu3O7-d , das fases semicondutores Y2BaCuO5 e BaCuO2, e do CuO, com uma presença dominante da primeira fase em todas as nossas amostras. Na maioria das amostras esteve presente o Y2BaCuO5 e o CuO em percentagens variáveis. Somente em uma amostra foi detectada a fase de BaCuO2. Os nossos resultados permitem confirmar a utilidade de métodos computacionais para identificar fases (ou componentes) de misturas complexas, cujo estudo seria extremamente complicado usando métodos tradicionais. A conveniência do método quantitativo aplicado neste trabalho para o cálculo das concentrações também é evidente, estabelecendo-se uma metodologia conveniente para este tipo de análise de fases / Abstract: In this work several analytical methods have been studied and applied to the identification of phases and determination of individual concentrations in multicomponent mixtures obtained from the synthesis of the superconductor material Yba2Cu3O7-d for several cationic ratios. Single phase components were identified by computer simulation of the experimental diffractograms. Concentrations were then calculated by the External Standard Method using the reference intensities calculated for each of the components. The results of the qualitative methods applied to our samples confirmed the presence of the superconducting phase Yba2Cu3O7-d, the semiconducting phases Y2BaCuO5 and BaCuO2, and CuO. In most of the samples Y2BaCuO5 and CuO were present in variable quantities. Only one of the samples contained the BaCuO2 phase. Our results confirmed the practical applicability of the computer simulation methods for the identification of single phase components in complex mixtures which would be hard to analyze by traditional methods. Furthermore, the quantitative method used in this work proved to be quite convenient when combined with the computer simulation of the diffractograms thus establishing a very practical methodology for this type of phase analysis / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Espalhamento de raios X a baixo angulo : estudo de hemoglobinas extracelulares em soluçãoSouza, Christina Franco de 22 July 1990 (has links)
Orientador: Iris Concepcion Linares de Torriani / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-09-27T18:33:13Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1990 / Resumo: A técnica de espalhamento de raios X a baixo ângulo tem sido bastante utilizada nos últimos anos no estudo de proteínas em solução. Curvas de espalhamento de alta resolução, além de fornecerem parâmetros dimensionais, possibilitam a obtenção de informações sobre a estrutura quaternária de macromoléculas através de simulações com modelos. Neste trabalho, estudamos a eritrocruorina do anelídeo Glossoscolex paulistus (massa molecular de 3.23x106). Curvas de espalhamento a baixo ângulo de várias concentrações da proteína em solução foram obtidas com um gerador convencional de raios X. A partir destes dados foi possível determinar os valores de raio de giro e dimensão máxima na molécula por gráficos de Guinier e transformada indireta de Fourier. Obtivemos, também, curvas de alta resolução no síncrotron do LURE, Orsay, França. As intensidades espalhadas. por apresentarem uma série de máximos nos ângulos maiores, pareceram apropriadas ao cálculo de modelos. Para tal usamos um programa de computador desenvolvido por O. Glatter [7]. O modelo inicial, composto de 186 esferas idênticas, foi estruturado com base em informações disponíveis de microscopia eletrônica. Modificações sistemáticas deste modelo levaram a uma estrutura final que consiste de 12 subunidades principais arranjadas em duas camadas hexagonais sobrepostas formando um cilindro com uma subunidade adicional no centro. Durante o processo de ajuste do modelo, diferentes pesos foram atribuídos às esferas que compunham as subunidades principais. 0 modelo final simula bem as curvas experimentais e contém informação sobre as regiões de maior densidade eletrônica na molécula, sugerindo uma possível localização dos grupos heme / Abstract: Small angle X-ray scattering is a technique that has been widely used during the last decade for the study of proteins in solution. High resolution scattering curves, can not only provide information on the dimensional parameters of the molecules, but also lead to a description of the quaternary structure of the protein by filling the experimental intensity curves and distance distribution functions with those calculated for a model molecule. This work reports studies of erythrocruorin from the annelid species Glossoscolex paulistus (molecular weight 3,23 x 106). Small angle scattering curves from various concentrations of this protein in solution were obtained with a conventional X-ray generator. The radius of gyration and maximum dimension of the molecule were obtained from Guinier plots and inverse Fourier transform. High resolution intensity curves were obtained al the synchrotron source at LURE, Orsay, France. These curves presented a number of maxima at higher angles and seemed adequate for model calculations. These were performed using the computer program developed by O. Glatter [7]. The initial model, formed by 186 identical spheres, was built using the information available from electron microscopy. Systematic modifications of this model lead us to a final structure consisting of 12 principal subunits, arranged in two superposed hexagonal layers forming a hexagonal cylinder, with an additional subunit in its center. During the filling procedure, different weights were assigned to the spheres composing the structure. The final model reproduces the experimental scattering curves and contains information on the more electron-dense regions in the molecule, thus suggesting the possible site of the heme groups / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Percolação e Transição de Fase em Cerâmicas Supercondutoras.AMORIM, L. S. 05 December 2014 (has links)
Made available in DSpace on 2018-08-01T22:30:01Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 2014-12-05 / Este trabalho aborda aspectos peculiares da supercondutividade, especificamente, duas propriedades pouco entendidas. A primeira, e a que será o foco do trabalho, é sobre a queda abaixo da linearidade da resistividade do supercondutor na fase de pseudogap. Acreditamos
que as flutuações que ocorrem acima da temperatura crítica se confluem e isso cria um caminho para a corrente supercondutora passar, que concorre em paralelo com a corrente normal do material. As convoluções que ocorrem com as ilhas de flutuação são estudadas usando a teoria estatística da percolação contínua em uma rede bidimensional formada por resistores, e o caminho da supercorrente é considerado um cluster infinito incipiente. O segundo tópico considerado nesse trabalho é o da dupla fase em perovskitas de mercúrio, devido a dopagem de rênio. Esse problema será abordado usando o modelo de GinzburgLandau para dois parâmetros de ordem coexistentes.
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Estudos de difração de raios-x a alta resolução da beta-lactoglobulina bovinaOliveira, Kesley Moraes Godinho de 03 September 1999 (has links)
Orientador: Igor Polikarpov / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-25T16:22:01Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1999 / Resumo: A beta-lactoglubulina (BLG) pertence à família das lipocalinas e é encontrada em um grande número de mamíferos. Desde sua primeira purificação tem sido exaustivamente estudada. Em condições fisiológicas, a BLG existe como dímero onde cada monômero possui 162 aminoácidos correspondendo a aproximadamente 18kDa. Embora as propriedades físico-quimicas da BLG sejam notórias, sua função biológica permanece desconhecida.
A BLG sofre mudanças conformacionais próximo ao pH 7,5 constatadas através de experimentos de rotação óptica específica e de curvas de titulação. Esta transição, denominada transição de Tanford, definiu o primeiro objetivo deste trabalho: resolver estruturas cristalográficas da BLG na faixa de pH ácido e básico a fim de investigar as modificações estruturais ocasionadas por esta transição.
O leite de vaca possui variantes genéticas sendo que as variante A eB são predominantes. A isoforma A difere na sequência primária em relação a isoforma B nas posições 64 (Asp=>Gly) e 118 (Val=>Ala). Estas diferenças resultam em propriedades fisico-químicas diferentes destas variantes e afetam o processamento do leite e derivados. O segundo objetivo deste trabalho foi a resolução das estruturas cristalográficas destas variantes a fim de explorar possíeis variações de origem estrutural, que viessem a justificar as diferenças fisico-quimicas entre ambas.
Cristais de beta-lactoglubulina foram crescidos na faixa de pH ácido e básico. Em pH ácido, o cristal foi obtido a partir da mistura de isoformas A/B, variante A e variante B. os cristais foram expostos a raios-X e os padrões de difração coletados. As estruturas cristalográficas da beta-lactoglobulina foram determinadas por sustituição molecular e as coordenadas dos modelos de fases obtidos foram submetidas a refinamento. A mistura de isoformas A/B (P1), em pH ácido, foi determinada a 1,6 Â e refinada até um fator R cristalográfico de 19.8 % (Rfree = 25,0% e 171 moléculas de água). A correspondente em pH básico foi determinada a 2,0. Â e refinada até um fator R cristalográfico de 19,4% (Rfree = 27,2% e 135 moléculas de água). As estruturas das variantes A eB foram determinadas a 2,0 Â e 1,95 Â e refinadas até um fator R cristalográfico de 19,2% (Rfree = 28,7% e 123 moléculas de água) e 18,9% (Rfree = 25,2% e 107 moléculas de água) respectivamente.
A comparação entre as estruturas resolvidas em diferentes valores de pH possibilitou a visualização do efeito da transição de Tanford,; duas alças da estrutura representadas pelos resíduos 84 a 90 e 123 a 131 sofrem uma abertura e tornam expostos os grupos carboxil dos resíduos Glu 89 e Asp 129. Estes resíduos seriam, então, os responsáveis pelo comportamento anômalo observado para aBLG em torno do pH 7,5.
A superposição entre as estruturas das variantes A eB revelou que os resíduos 108 a 117 adotam uma conformação diferente nas variantes. Outro aspecto encontrado foi a formação de uma cavidade no interior da proteína no resíduo 118. Nesta posição ocorre a troca de um resíduo de Val por Ala nestas variantes. Esta cavidade pode estar associada com a estabilidade destas variante / Abstract: Beta-lactoglobulin (BLG), a very abundant protein found in several species of mammals belongs to the lipocalin family. Under physiological conditions, BLG is a dimmer of 162 aminoacids per monomer, with a molecular mass of approximately 18kDa in each subunit. Although BLG has important physicochemical properties, its biological function remains unclear.
BLG undergoes a number of conformational changes near pH 7,5 as indicated by specific optical rotation and titration curve. This transition, termed Tanford transition, defined the first goal of this work: to solve crystallographic structures of BLG near acidic transition.
Bovine milk has many genetic variants of BLG, but the most prevalents are variants A and B. Variant A differs in the amino acid sequence at positions 64 (Asp® Gly) and 118 (Val® Ala) from variant B. These aminoacid changes cause differences in physicochemical properties of these variants and influence milk processing and milk derivatives. The second goal of this work was to solve the crystallographic structures of variants A and B with the purpose of exploring possible variants of structural origin, which could justify the physicochemical differences between both of them.
Crystals of beta-lactoblobulin were grown under acidic and basic pH. Under acidic pH, the crystal was obtained from a mixture of isoforms A and B, and belongs to space group P1. Under basic pH, the crystals belong to space group C2221 and were grown from the mixture A/B, variant A and variant B. Crystals were exposed to X-rays and diffraction data were obtained. The crystal structures of beta-lactoglobulin were solved by the molecular replacement method and the initial model obtained was refined. The mixture of isoforms A/B (P1), under acidic pH, was determined at 1,6 Å resolution and refined to a crystallographic R factor of 19,8% (Rfree=25,0%) with 171 solvent molecules. The corresponding structure in basic pH was determined at 2,0 Å resolution and refined to a crystallographic R factor of 19,4% (Rfree=27,2%) with 135 solvent molecules. The crystal structures of variants A and B were determined at 2,0 Å e 1,95 Å resolution and refined to an crystallographic R factor of 19,2% (Rfree=28,7% and 123 solvent molecules) and 18,9% (Rfree=25,2% and 107 solvent molecules) respectively.
The comparison between structures solved under different pHs allowed the visualization of the effect caused by Tanford transition: two loops of the structure formed by residues 84 to 90 and 123 to 131 open up and expose the carbonyl groups of residues Glu 89 and Asp 129. These two residues are considered responsible for the anomalous behavior observed to BLG when it is in pH 7,5.
The superposition of the structure in the variants A and B revealed that residues 108 to 117 adopt a different conformation in the variants. Another aspect that was observed is the creation of an internal cleft close to residue 118, due to the change of one Valine by an Alanine. This cleft may be related to the stability of these variants / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Estudo de filmes finos por difração de raios-XLopes, Cesar de Oliveira 15 July 1975 (has links)
Orientador: Stephenson Caticha Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T16:48:32Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1975 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Eficiência quântica relativa de telas de CaWO4Pauletto, Jose Carlos 24 July 1983 (has links)
Orientadores: Iris C. L. Torriani, Eliseo G. Lluesma / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T16:52:51Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1983 / Resumo: Este trabalho visa estudar os efeitos do tratamento térmico e compactação de microcristais de CaWO4 (tungstato de cálcio) sobre a sua luminescência quando submetido a condições de uso em radiografias de interesse médico. Para tanto levaram-se os microcristais ao forno às temperaturas de 600, 700, 800, 900 e 1.000 ºC durante 5, 10, 15 e 20 minutos. Outras amostras foram submetidas a pressões mecânicas de 1, 2, 3, 4 e 5 atm, formando-se pastilhas, as quais foram depois aquecidas a 90OºC durante 5, 10, 15 e 20 minutos.
As amostras obtidas foram fixadas na forma de telas ("écrans") e expostas, juntamente com um filme radiográfico, em um gerador hospitalar de raios X. A eficiência quântica de luminescência foi medida pelo enegrecimento do filme devido às amostras em relação ao enegrecimento devido a uma tela comercial.
Foi feito um estudo do material por difração de raios X para determinar a microestrutura dos grãos cristalinos pretendendo-se relacionar os resultados das medidas de eficiência com a evolução da cristalinidade após os tratamentos acima citados.
Uma temperatura de 600 ºC revelou-se suficiente para produzir os efeitos luminescentes requeridos para a confecção de um "écran" razoavelmente eficiente / Abstract: This work describes the results of experiments designed to determine the effects of heat treatment and the application of mechanical pressure on the efficiency of luminescent CaWO4 screens. The crystallites of CaWO4 were heated to 600, 700, 800, 900 and 1000 ºC for 5, 10, 15 and 20 minutes. Also, samples were subjected to mechanical pressure of 1, 2, 3, 4 and 5 atm forming wafers which, were heated to 900ºC during 5, 10, 15 and 20 minutes.
The screens obtained with the samples of CDWO4, together with a radiographic film, were exposed to X - ray beams. The measure of the quantum efficiency was obtained by the rate of the film blackening due to the screens and the film blackening due to a commercial screen.
X - ray diffraction was, used to study the microstructure of the crystallites. Some correlations were observed between the crystallinity of the material and the aforementioned treatments.
A minimum heat treatment of 5 minutes at 600 ºC proved to be sufficient to turn the material apt for the application considered: production of intensifying screens for X-ray films / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-xMorelhão, Sergio Luiz 24 June 1994 (has links)
Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-19T09:37:56Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1994 / Resumo: Neste trabalho, o potencial da técnica de difração múltipla (DM) de raios-X, para o estudo de heteroestruturas e substratos semicondutores, é explorado. A DM de três feixes (incidente, primário e secundário), com o feixe secundário paralelo à superfície, é a principal ferramenta para esta exploração. Nos heterosistemas com apenas uma camada depositada sobre o substrato, utiliza-se a ocorrência de dois tipos diferentes de reflexões híbridas, com as seqüências de espalhamento substrato-camada (SL) e camada-substrato (LS), para se desenvolver novos métodos de caracterização dos sistemas. A teoria de DM em cristais mosaicos é estendida, para levar em conta também a ocorrência de reflexões híbridas. Foi desenvolvido um programa que simula, amenos da intensidade, a posição e o perfil dos picos de DM esperados e os híbridos, e fornece informações sobre: a perfeição cristalina (largura mosaico) das redes camada e do substrato, a inclinação e a rotação relativa entre essas redes, e sobre a discordância de parâmetros de rede na direção paralela (ou densidade de deslocações) à interface. Amostras de GaAs/Si(001) com camadas de diferentes espessuras são analisadas. As reflexões híbridas SL são empregadas na análise das amostras com camadas espessas (600 a 2800nm), e as LS, na amostra com apenas uma fina camada (pré-camada de 5Onm). Da medida da híbrida LS mostra-se, que a densidade de deslocações e o estado de tensão (tração ou compressão) na camada fina e na espessa são diferentes. A adesão nas interfaces camada/pré-camada e pré-camada/substrato, também é investigada a partir das medidas de DM híbrida.
A perfeição cristalina na superfície de semicondutores, em função do seu tratamento, é analisada a partir de um novo método, baseado no mapeamento bidimensional do perfil do pico DM. Na interpretação dos resultados, propõe-se um modelo de cristal quase perfeito, entre o idealmente imperfeito e o altamente perfeito, e observa-se que, o polimento químico-mecânico aplicado no acabamento da superfície de substratos de GaAs(001), aumenta a largura mosaico no plano da superfície. Para amostras de Ge(001), o método mostra, que após o polimento mecânico da superfície, o perfil do pico é semelhante ao simulado com modelo de cristal ideal mente imperfeito. Após polimento químico, o perfil obtido, só é explicado a partir do modelo de cristal quase perfeito / Abstract: In this work. the potential of the X-Ray Multiple Diffraction (MD) technique in studying the heterostructures and semiconductor substrates is investigated. The three-beam (incident, primary and secondary) MD with the secondary parallel to the surface. is the main tool for this investigation. The occurrence of the two types of hybrid reflections in heterostructures. involving the scattering sequences substrate-layer (SL) and layer-substrate (LS). is used to develop a new method of characterizing these structures. The MD theory in mosaic crystals is extended in order to take into account the hybrid reflections occurrence. A computer program to simulate the position and profile of the expected and hybrid MD peaks was developed and it provides informations on: the crystalline perfection (mosaic spread) of the layer and substrate lattices. the tilt and relative misorientation between these lattices and. on the lattice mismatch in the direction parallel (dislocation density) to the interface. GaAs/Si(001) samples with several thicknesses were analyzed. The SL hybrid reflections are used in the analysis of the thick layer samples (600 to 2800 nm) while the LS ones are used just to analyze thin buffer layers (50 nm). Different dislocation densities and stress states (tensile or compressive) in thin and thick layers can be obtained from the LS measurements. The adhesion in the interfaces layer/buffer and buffer/substrate is also investigated from the MD hybrid measurements.
A new method based on the two-dimensional mapping of the MD peak profile was developed to assess the crystalline perfection on the semiconductor surface as a function of its finishing. A proposed quasi-perfect crystal model. between the ideally imperfect and the highly perfect crystal, appears in the light of the results. The method allows to observe that the mechanic-chemical polishing applied to the GaAs(001) substrate surface finishing increases the sample mosaic spread in the surface plane. It also shows that for mechanic polished Ge(001) samples. the peak profile is similar to the one simulated with the ideally imperfect crystal model. After the chemical polishing the quasi-perfect crystal model has to be used in order to explain the obtained profile / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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