• Refine Query
  • Source
  • Publication year
  • to
  • Language
  • 1
  • Tagged with
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • About
  • The Global ETD Search service is a free service for researchers to find electronic theses and dissertations. This service is provided by the Networked Digital Library of Theses and Dissertations.
    Our metadata is collected from universities around the world. If you manage a university/consortium/country archive and want to be added, details can be found on the NDLTD website.
1

Loginės funkcijos termų generavimo algoritmas pagrįstas programinio prototipo modeliu / Terms’ of logical function generation algorithm based on software prototype model

Žemaitis, Tomas 16 August 2007 (has links)
Technologijų plėtojimas leidžia vis labiau vystytis sudėtingų elektroninių sistemų produkcijai. Visos šios sistemos turi būti patikrintos ir ištestuotos tam, kad užtikrinti tikslų jų funkcionavimą. Kai sistemų sudėtingumas didėja, testavimas tampa vienas iš svarbiausių faktorių nustatant galutinę produkto kainą. Žinomų žemo lygio metodų, skirtų techninės įrangos testavimui, nepakanka ir daugiau darbo turi būti atlikta abstrakčiame lygyje pradiniuose projektavimo etapuose negu klasikiniame ventiliniame ir registrų perdavimo lygiuose. Realizuotas algoritmas, kuris atsitiktinai generuoja įėjimo poveikį, pagal programinio prototipo modelį paskaičiuoja poveikio reakciją ir iškraipant po vien��� įėjimo poveikio signalo reikšmę apibrėžia galimus išėjimų loginių funkcijų termus. Nagrinėjant kitus įėjimo poveikius apibrėžti išėjimų loginių funkcijų termai patikslinami išmetant dalinius termus. Atsitiktinai sugeneravus ir išnagrinėjus daug įėjimo poveikių gaunami galutiniai išėjimų loginių funkcijų termai. Algoritmas negarantuoja , kad bus gauti visi ir tikslūs išėjimų loginių funkcijų termai, bet gauti termai gali būti naudojami testų generavimui. Gauti išėjimų loginių funkcijų termai užrašomi kartu su įėjimo poveikiu, pagal kurį termas buvo nustatytas, ir patys paskaičiuoti termai jau gali būti naudojami kaip tikrinantys testai. Gauti rezultatai galės būti panaudoti tolimesniems tyrimams: schemų testavimui, defektų šalinimui, funkcijos elementų palyginimui, algoritmo gerinimui... [toliau žr. visą tekstą] / The technological development is enabling production of increasingly complex electronic systems. All those systems must be verified and tested to guarantee correct behavior. As the complexity grows, testing is becoming one of the most significant factors that contribute to the final product cost. The established low-level methods for hardware testing are not any more sufficient and more work has to be done at abstraction levels higher than the classical gate and register-transfer levels. Realized algorithm, which random generates inputs, computes reaction based on software prototype model and deforming values of inputs one by one determines possible terms of logical functions. Analyzing other inputs determined terms of logical functions are corrected by eliminating partial terms. After random generating and analyzing a lot of inputs terminal terms of logical functions are derived. Algorithm doesn’t guarantee that all and exact terms of logical functions are obtained but those terms could be used when generating test vectors. Derived terms of logical functions’ outputs are recorded with input that formed them and following terms can be used as inspecting tests. Collected results can be used for further researches: schemes testing, defect detection, comparing elements of logical function, improving algorithm. Main aspects of design are introduced. Experimental accurateness of results and factors (initial number of random generated test vectors, improvement coefficient, maximum... [to full text]

Page generated in 0.0304 seconds