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1	Chemische Gasphasenabscheidung (CVD) von keramischen Verschleissschutzschichten auf Basis von Chromcarbid und Titancarbid Satschko, Michael. January 1900 (has links) (PDF) Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2004. / Computerdatei im Fernzugriff. Chromcarbide Titancarbid
2	Mechanical properties on nanometer scale and their relations to composition and microstructure a nanoindentation study on carbon implanted Ti-6Al-4V / Kunert, Maik. January 2000 (has links) Stuttgart, Univ., Diss., 2000.
3	Chemische Gasphasenabscheidung (CVD) von keramischen Verschleißschutzschichten auf Basis von Chromcarbid und Titancarbid Satschko, Michael. Unknown Date (has links) (PDF) Nürnberg, Universiẗat, Diss., 2004--Erlangen.
4	Optimierung des XRD 3000PTS für Diffraktometrie und Reflektometrie an dünnen Schichten Kehr, Mirko, January 2004 (has links) Chemnitz, Techn. Univ., Diplomarb., [2003].
5	Kinetic investigation of the chemical vapor infiltration and reaction (CVI-R) process for the production of SiC and TiC biomorphic ceramics from paper preforms Almeida Streitwieser, Daniela. Unknown Date (has links) (PDF) Nürnberg, University, Diss., 2004--Erlangen.
6	Optimierung des XRD 3000PTS für Diffraktometrie und Reflektometrie an dünnen Schichten / Optimizing of the XRD 3000PTS for diffractometry and reflectometry on thin films Kehr, Mirko 13 May 2004 (has links) (PDF) Thin films become more and more important in science and industry. The main objective of this work was the expanding of the measurement capabilities of the XRD 3000PTS to the field of thin films. The success of the changes was documented by maesurements on TiC thin films. / Dünne Schichten gewinnen in Forschung und Industrie zunehmend an Bedeutung. Ziel der Arbeit war es deshalb, den Einsatzbereich des vorhandenen Diffraktometers XRD 3000PTS auf Untersuchungen an dünnen Schichten zu erweitern. Der Erfolg der Veränderungen konnte mit Messungen an einer TiC Probenserie bestätigt werden. XRD 3000PTS ddc:530 Dünne Schicht Reflektometrie Röntgendiffraktometer Röntgendiffraktometrie Streifender Einfall Titancarbid
7	Untersuchungen zur In-situ-Bildung oxidischer Verschleißschutzschichten bei Temperaturen bis 800 C im Stoffsystem SiC-TiC-TiB2 und Entwicklung eines Verschleißmodells Yarim, Rasim. Unknown Date (has links) (PDF) Techn. Universiẗat, Diss., 2004--Berlin.
8	Optimierung des XRD 3000PTS für Diffraktometrie und Reflektometrie an dünnen Schichten Kehr, Mirko 30 September 2003 (has links) Thin films become more and more important in science and industry. The main objective of this work was the expanding of the measurement capabilities of the XRD 3000PTS to the field of thin films. The success of the changes was documented by maesurements on TiC thin films. / Dünne Schichten gewinnen in Forschung und Industrie zunehmend an Bedeutung. Ziel der Arbeit war es deshalb, den Einsatzbereich des vorhandenen Diffraktometers XRD 3000PTS auf Untersuchungen an dünnen Schichten zu erweitern. Der Erfolg der Veränderungen konnte mit Messungen an einer TiC Probenserie bestätigt werden. info:eu-repo/classification/ddc/530 ddc:530 Dünne Schicht Reflektometrie Röntgendiffraktometer Röntgendiffraktometrie Streifender Einfall Titancarbid XRD 3000PTS

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