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Modélisation de pannes et méthodes de test de circuits intégrés CMOS

Baschiera, Daniel 19 March 1986 (has links) (PDF)
Étude pour des circuits VLSI sur substrat de silicium. Les modèles de pannes développés pour la technologie NMOS ne sont plus adaptes à la vérification des pannes en technologie CMOS. On examine les pannes de type déclenchement parasite, court-circuit, blocage sur et blocage ouvert. Pour chacune de ces pannes un modèle est défini et on détermine les méthodes de vérification correspondantes. Les principaux comportements étudies sont la transformation d'un circuit logique en analogique et la transformation d'un circuit combinatoire en un circuit séquentiel. On démontre un ensemble de lemmes et théorèmes de base pour la vérification des pannes en technologie CMOS. Ces théorèmes étendent à la vérification du blocage ouvert CMOS les résultats formules pour la vérification des collages logiques dans les réseaux. Certains de ces théorèmes impliquent une conception adaptée pour faciliter la vérification. Réduction des séquences de vérification et vérification simultanée.
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Optimisation et modélisation de protection intégrées contre les décharges électrostatique, par l'analyse de la physique mise en jeu

TREMOUILLES, David 14 May 2004 (has links) (PDF)
Les travaux présentés dans ce mémoire visent à améliorer la méthodologie de conception et les performances des stratégies de protection contre les décharges électrostatiques (ESD) dans les circuits intégrés. Pour cela, l'approche choisie est basée sur une analyse approfondie de la physique des composants soumis aux ESD et plus particulièrement, les effets des très fortes densités de courant. L'étude, focalisée sur les transistors bipolaires autopolarisés, s'appuie sur la simulation physique 2D et l'utilisation des outils de localisation de défaillance basés sur les techniques de stimulation laser. L'analyse physique en résultant a permis d'une part, de définir des règles de dessin universelles pour l'obtention d'une robustesse ESD élevée et d'autre part, de proposer des macro-modèles de type SPICE originaux pour prendre en compte les effets des fortes densités de courant. Enfin, après avoir mis en évidence plusieurs phénomènes limitant les performances des réseaux de protection, nous avons défini une méthodologie de conception améliorée permettant de les prendre en compte et de garantir la performance des solutions de protections fournies aux concepteurs de circuits.
3

Étude des régimes extrêmes de fonctionnement en environnement radiatif des composants de puissance en vue de leur durcissement pour les applications aéronautiques et spatiales

Zerarka, Moustafa 19 July 2013 (has links) (PDF)
Ce travail traite de la fiabilité des composants électroniques de puissance comme les MOSFET et les IGBT affectés par l'Environnement Radiatif Naturel dans lequel ils évoluent. Cette problématique fait, de nos jours, partie intégrante de la fiabilité des composants. Alors qu'elle concernait initialement les composants destinés à travailler en environnement radiatif sévère du type spatial ou aéronautique, l'évolution et la complexité de l'électronique embarquée, qui peut interagir avec ce type d'environnement et avoir des effets potentiellement dommageables, nous amène à prendre en compte ces contraintes radiatives comme le cas d'ion lourd. C'est dans ce cadre que nous avons effectué les travaux présentés dans ce mémoire. Des simulations utilisant les outils Synopsys TCAD ont été menées afin de mieux comprendre les mécanismes de défaillances comme le Single Event Burn-out (SEB) et le Single Event Latch-up (SEL) ainsi que la définition de critères de déclenchement, de comportement et de la sensibilité de différents composants (VDMOS, SJ-MOSFET, IGBT planar et IGBT trench). Ces études nous ont permis de proposer et d'évaluer des solutions de durcissement au niveau de design permettant la désensibilisation contre les phénomènes de déclenchement liés aux structures parasites.
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Design and Development of a CubeSat Hardware Architecture with COTS MPSoC using Radiation Mitigation Techniques

Vasudevan, Siddarth January 2020 (has links)
CubeSat missions needs components that are tolerant against the radiation in space. The hardware components must be reliable, and it must not compromise the functionality on-board during the mission. At the same time, the cost of hardware and its development should not be high. Hence, this thesis discusses the design and development of a CubeSat architecture using a Commercial Off-The- Shelf (COTS) Multi-Processor System on Chip (MPSoC). The architecture employs an affordable Rad-Hard Micro-Controller Unit as a Supervisor for the MPSoC. Also, it uses several radiation mitigation techniques such as the Latch-up protection circuit to protect it against Single-Event Latch-ups (SELs), Readback scrubbing for Non- Volatile Memories (NVMs) such as NOR Flash and Configuration scrubbing for the FPGA present in the MPSoC to protect it against Single-Event Upset (SEU)s, reliable communication using Cyclic Redundancy Check (CRC) and Space packet protocol. Apart from such functionalities, the Supervisor executes tasks such as Watchdog that monitors the liveliness of the applications running in the MPSoC, data logging, performing Over-The-Air Software/Firmware update. The thesis work implements functionalities such as Communication, Readback memory scrubbing, Configuration scrubbing using SEM-IP, Watchdog, and Software/Firmware update. The execution times of the functionalities are presented for the application done in the Supervisor. As for the Configuration scrubbing that was implemented in Programmable Logic (PL)/FPGA, results of area and latency are reported. / CubeSat-uppdrag behöver komponenter som är toleranta mot strålningen i rymden. Maskinvarukomponenterna måste vara pålitliga och funktionaliteten ombord får inte äventyras under uppdraget. Samtidigt bör kostnaden för hårdvara och dess utveckling inte vara hög. Därför diskuterar denna avhandling design och utveckling av en CubeSatarkitektur med hjälp av COTS (eng. Custom-off-The-Shelf) MPSoC (eng. Multi Processor System-on-Chip). Arkitekturen använder en prisvärd strålningshärdad (eng. Rad-Hard) Micro-Controller Unit(MCU) som Övervakare för MPSoC:en och använder också flera tekniker för att begränsa strålningens effekter såsom kretser för att skydda kretsen från s.k. Single Event Latch-Ups (SELs), återläsningsskrubbning för icke-volatila minnen (eng. Non-Volatile Memories) NVMs som NOR Flash och skrubbning av konfigurationsminnet skrubbning för FPGA:er i MPSoC:en för att skydda dem mot Single-Event Upsets (SEUs), och tillhandahålla pålitlig kommunikation mha CRC och Space Packet Protocol. Bortsett från sådana funktioner utför Övervakaren uppgifter som Watchdog för att övervaka att applikationerna som körs i MPSoC:en fortfarande är vid liv, dataloggning, och Over- the-Air-uppdateringar av programvaran/Firmware. Examensarbetet implementerar funktioner såsom kommunikation, återläsningsskrubbning av minnet, konfigurationsminnesskrubbning mha SEM- IP, Watchdog och uppdatering av programvara/firmware. Exekveringstiderna för utförandet av funktionerna presenteras för den applikationen som körs i Övervakaren. När det gäller konfigurationsminnesskrubbningen som implementerats i den programmerbara logiken i FPGA:n, rapporteras area och latens.

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