• Refine Query
  • Source
  • Publication year
  • to
  • Language
  • 3
  • 2
  • 1
  • Tagged with
  • 6
  • 6
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • About
  • The Global ETD Search service is a free service for researchers to find electronic theses and dissertations. This service is provided by the Networked Digital Library of Theses and Dissertations.
    Our metadata is collected from universities around the world. If you manage a university/consortium/country archive and want to be added, details can be found on the NDLTD website.
1

Komplexe Röntgendiffraktometrie an Dünnschichtsystemen

Mildner, Marcus 18 April 2005 (has links) (PDF)
Ziel dieser Arbeit war es, die in der Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik hergestellten Schichtsysteme strukturell zu charakterisieren. Mit Hilfe der Röntgendiffraktometrie (XRD) ist es möglich, die Phasen und die Orientierung der aufgewachsenen Schicht zu bestimmen. Mit einem weiteren Verfahren, der Röntgenreflektometrie (XRR), lassen sich Aussagen über die Schichtqualität treffen. Durch die Kombination dieser Methoden erhält man detaillierte Auskünfte über die Proben.
2

Röntgenografische Charakterisierung von Indium-Zinn-Oxid-Dünnschichten

Kaune, Gunar 07 January 2006 (has links) (PDF)
Mittels reaktivem Magnetron-Sputtern hergestellte Indium-Zinn-Oxid-Dünnschichten wurden mit den Methoden der Röntgendiffraktometrie und Röntgenreflektometrie charakterisiert. Es konnte gezeigt werden, dass die Wahl des Arbeitspunktes bei der Schichtabscheidung erheblichen Einfluss auf Kristallitorientierung, Gitterkonstante und Größe der Schichtspannung hat. Zusätzlich wurden mittels des Langford-Verfahrens Korngröße und Mikrospannungen bestimmt. Im Rahmen der röntgenografischen Spannungsmessung zeigten sich nichtlineare Verläufe der Dehnung über sin²Ψ, die mit dem Kornwechselwirkungsmodell nach Vook und Witt erklärt werden.
3

Komplexe Röntgendiffraktometrie an Dünnschichtsystemen

Mildner, Marcus 02 March 2005 (has links)
Ziel dieser Arbeit war es, die in der Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik hergestellten Schichtsysteme strukturell zu charakterisieren. Mit Hilfe der Röntgendiffraktometrie (XRD) ist es möglich, die Phasen und die Orientierung der aufgewachsenen Schicht zu bestimmen. Mit einem weiteren Verfahren, der Röntgenreflektometrie (XRR), lassen sich Aussagen über die Schichtqualität treffen. Durch die Kombination dieser Methoden erhält man detaillierte Auskünfte über die Proben.
4

Röntgenografische Charakterisierung von Indium-Zinn-Oxid-Dünnschichten

Kaune, Gunar 26 September 2005 (has links)
Mittels reaktivem Magnetron-Sputtern hergestellte Indium-Zinn-Oxid-Dünnschichten wurden mit den Methoden der Röntgendiffraktometrie und Röntgenreflektometrie charakterisiert. Es konnte gezeigt werden, dass die Wahl des Arbeitspunktes bei der Schichtabscheidung erheblichen Einfluss auf Kristallitorientierung, Gitterkonstante und Größe der Schichtspannung hat. Zusätzlich wurden mittels des Langford-Verfahrens Korngröße und Mikrospannungen bestimmt. Im Rahmen der röntgenografischen Spannungsmessung zeigten sich nichtlineare Verläufe der Dehnung über sin²Ψ, die mit dem Kornwechselwirkungsmodell nach Vook und Witt erklärt werden.
5

Collective Short Wavelength Dynamics in Phospholipid Model Membranes - with Inelastic Neutron Scattering / Kollektive Dynamik in Phospholipid Modellmembranen bei kurzen Wellenlängen - mit Inelastischer Neutronenstreuung

Brüning, Beate-Annette 02 December 2008 (has links)
No description available.
6

Multilagenzonenplatten für die Mikroskopie mit harter Röntgenstrahlung / Multilayer Zone Plates for hard x-ray microscopy

Eberl, Christian 23 June 2016 (has links)
No description available.

Page generated in 0.2997 seconds