Este trabalho tem como finalidade o desenvolvimento de um sistema objetivo e automático de medidas de vícios de refração ocular. Para tanto, a forte interação entre a Física e a Oftalmologia foi de fundamental importância para que o objetivo fosse atingido. Foram desenvolvidos quatro sistemas, dentre os quais, três são completamente distintos entre si no que se refere aos princípios utilizados para a determinação das ametropias oculares, bem como no que se refere ao modo de detecção da luz retro-espalhada pela retina. O quarto sistema é apenas um refinamento do terceiro que se apresentou eficaz para o uso clínico. O terceiro e quarto sistemas, denominados Sistemas DVL-1 e DVL-2, têm como base a projeção com um laser de diodo de um alvo luminoso no fundo do olho do paciente. Os feixes emergentes do olho testado são divididos em seis partes (três meridianos) e são analisados dois a dois por um CCD (linear no caso do sistema DVL-1 e matricial no caso do sistema DVL-2). A distância entre as duas imagens formadas em cada meridiano fornece o poder de refração naquele meridiano. Com os poderes de refração dos três meridianos (0&#176, 120&#176 e 240&#176) é possível determinar o erro refrativo ocular. Testes em réplicas oculares apresentaram uma precisão média de 0,06di (a precisão aceitável para este tipo de exame oftalmológico é de 0,125di) e em olhos in vivo 0,125di para as coordenadas esférica e cilíndrica e 5&#176 para o eixo de astigmatismo, o que está dentro das precisões clínicas necessárias. / The purpose of the present work is the development of an objective and automatic system for ocular refractive errors measurements. Hence, a strong interaction between Physics and Ophthalmology was fundamentally important in order to provide the success of the work four systems have been developed, where three of them are completely different from each other in the sense of the basic principles used for determining the ocular ametropies, as well as for the detection of the scattered light from the retina. System four is just an improvement of system three, which has presented a good efficiency for clinical use purposes. The third and fourth systems, called DVL-1 and DVL-2 systems, consist on projecting a target in the fundus of the tested eye with a diod laser light. The beams which emerge from the tested eye are divided into six portions (three meridians) and are analyzed in pairs by a CCD (linear CCD for DVL-1 and matrix CCD for DVL-2). The distances between the two images in each meridian provide the refractive power in that particular meridian. As the refractive power is obtained for the three meridians (0&#176, 120&#176 e 240&#176), it is possible to determine the ocular refractive error . Tests in artificial eyes have been done and an average error of 0,06di was obtained (0,125di is the allowed precision for this kind of examination). For measurements in vivo eyes a precision of 0,125di for spherical and cylindrical coordinates were obtained, as well as a 5&#176 precision for the axis of astigmatism. These precision values are the ones required by the clinical evaluation.

Submitted by Erika Demachki (erikademachki@gmail.com) on 2017-01-18T17:18:27Z No. of bitstreams: 2 Dissertação - Manoel Nunes do Couto Guimarães Netto - 2015.pdf: 3304345 bytes, checksum: 6658f1e5ce8722a60b6a72643fe52440 (MD5) license_rdf: 0 bytes, checksum: d41d8cd98f00b204e9800998ecf8427e (MD5) / Approved for entry into archive by Luciana Ferreira (lucgeral@gmail.com) on 2017-01-19T10:35:49Z (GMT) No. of bitstreams: 2 Dissertação - Manoel Nunes do Couto Guimarães Netto - 2015.pdf: 3304345 bytes, checksum: 6658f1e5ce8722a60b6a72643fe52440 (MD5) license_rdf: 0 bytes, checksum: d41d8cd98f00b204e9800998ecf8427e (MD5) / Made available in DSpace on 2017-01-19T10:35:49Z (GMT). No. of bitstreams: 2 Dissertação - Manoel Nunes do Couto Guimarães Netto - 2015.pdf: 3304345 bytes, checksum: 6658f1e5ce8722a60b6a72643fe52440 (MD5) license_rdf: 0 bytes, checksum: d41d8cd98f00b204e9800998ecf8427e (MD5) Previous issue date: 2015-11-27 / During high school optical geometry's studies, teachers of physics imagine that their students have complete knowledge about basic concepts of plane geometry. So, Brazilian high school physics' books do not use mathematical full explanations. Many times these explanations are not known even by the high school teachers themselves. This is one of the reasons responsible for optics' lack of teaching skills in Brazilian educational system. To try to improve optical geometry teaching skills, this work proposes a mathematical theory applied to optics. To do that, this paper will detail basic concepts and theoretical explanations about mathematics. In resume, through our research, high school students would learn optical geometry without necessity to memorize physics' formulas / No Ensino Médio, quando se estuda a óptica geométrica, os professores de Física partem do pressuposto de que os alunos têm conhecimento e domínio dos conceitos básicos de geometria plana. Sendo assim, os livros de Física brasileiros não se prendem às demonstrações matemáticas. E esta é uma das razões pelas falhas no ensino da óptica no sistema Educacional Brasileiro. Muitas vezes essas demonstrações não são conhecidas nem mesmo pelos próprios professores, o que acreditamos ser uma das causas que dificulta o processo de ensino-aprendizagem da referida disciplina. Para tentar melhorar a aprendizagem no ensino, da óptica geométrica, este trabalho propõe aplicações para a óptica na teoria matemática. Para que isso aconteça, esta dissertação vem detalhar conceitos básicos e explanações sobre Matemática. Em resumo, para alcançar o objetivo, os alunos devem aprender óptica geométrica sem a necessidade de decorar fórmulas.

CNPq, CAPES / Este trabalho apresenta a produção de redes de Bragg para a aplicação em sensoriamento e em telecomunicações. As redes para aplicação em sensoriamento foram gravadas utilizando incidência direta na máscara de fase bem como um interferômetro com máscara de fase, na Universidade Tecnológica Federal do Paraná. As redes de Bragg foram gravadas em fibra ótica hidrogenada padrão de telecomunicações e fibra ótica fotossensível com o uso de um laser de Nd: YAG (New Wave, Tempest-20) operando em 266 nm e de um laser de excímero KrF (Xantos XS-Coherent) em 248 nm. Foram realizados experimentos visando à estabilização térmica dos dispositivos, nos quais as redes de Bragg foram submetidas a ciclos de aquecimento e resfriamento. Testes para determinar a máxima temperatura de operação das redes de Bragg produzidas também foram realizados. Sensores refratométricos foram produzidos por meio da corrosão controlada da casca da fibra na região da rede de Bragg. Duas redes de Bragg corroídas com comprimentos de onda de Bragg de operação próximos a 1300 nm e 1500 nm foram utilizadas na análise de misturas de etanol e água. Quatro configurações para o sensor refratométrico foram estudadas, operando tanto com dois comprimentos de onda quanto somente em um comprimento de onda, e em duas temperaturas distintas das amostras. As curvas de calibração foram determinadas para uma extensão entre 0,0 e 100,0 % v/v de etanol em água. O desempenho do sensor em cada configuração foi analisado pela comparação das sensibilidades, conformidades, repetitividades e incertezas combinadas. As redes para aplicação em telecomunicações foram gravadas em fibra ótica fotossensível com a técnica de incidência direta da luz do laser na máscara de fase, no Instituto de Telecomunicações da Universidade de Aveiro, em Portugal. Redes de Bragg com gorgeio foram gravadas com um laser de excímero pulsado operando em 248 nm (BraggStar S-Industrial LN) e com o uso de posicionadores motorizados com resolução máxima de 1 nm. O estudo da evolução espectral da rede de Bragg com a variação da energia de gravação permitiu o projeto de dispositivos com características pré-definidas. / This work presents the production of fiber Bragg gratings with different profiles for application in sensing and in telecommunications. The gratings for sensing application were recorded using direct illumination of a phase mask as well as a phase mask interferometer, at the Federal University of Technology - Parana. The gratings were recorded in hydrogen loaded standard telecommunication fibers and photosensitive fibers using a Nd: YAG laser (Tempest-20, New Wave) at 266 nm and a KrF excimer laser at 248 nm (Xanto XS-Coherent). Experiments were performed in order to reach the thermal stabilization of the devices using a laboratory oven, where the gratings were submitted to thermal cycles which included both annealing and quenching. Tests to determine the maximum operating temperature of the produced fiber Bragg gratings were also performed. Refractometric sensors were produced by wet-etching of the fiber optic cladding using hydrofluoric acid and employed in the analysis of water-ethanol mixture. Two etched fiber Bragg gratings operating close to 1300 nm and 1500 nm were used in the experiment. Four configurations for the refractometric sensor were studied, in dual-wavelength and single-wavelength operation modes, and at two sample temperatures. Calibration curves were determined for the range between 0.0 and 100.0 % v/v of ethanol in water, and the sensor performance for each configuration was analyzed by comparing its sensitivity, conformity, repeatability and combined uncertainty. The gratings for the application in telecommunications were recorded in photosensitive fibers with direct illumination of phase mask at the Institute of Telecommunications of the Aveiro University, in Portugal. Chirped fiber Bragg gratings were produced with the use of an excimer laser operating at 248 nm (S-industrial BraggStar LN) and with the use of translation stages with maximum resolution of 1 nm. The study of Bragg grating spectral evolution with the writing energy allowed the project of devices with predefined characteristics.

Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. / Made available in DSpace on 2012-10-18T01:47:32Z (GMT). No. of bitstreams: 0Bitstream added on 2014-09-25T19:20:14Z : No. of bitstreams: 1 170221.pdf: 27532728 bytes, checksum: 4d8105cfb5925248b8e756b54ea37a91 (MD5) / A inclusão de ilhas em modelos numéricos de propagação de onda baseados na aproximação parabólica da Equação de Declive Suave é um assunto de grande importância para a costa brasileira. Normalmente as ilhas são representadas por uma fina película de água que implica na arrebentação das ondas. Porém, ilhas com declives laterais íngremes violam a hipóteses do Declive Suave provocando o aparecimento de ruído numérico no campo de ondas calculado. Este trabalho analisa a possibilidade de modelar-se ilhas como áreas localizadas de dissipação de energia na tentativa de diminuir a geração de ruído numérico. Primeiramente é apresentada uma descrição dos modelos de refração-difração e suas hipóteses básicas. A seguir, é apresentada uma revisão da solução analítica de Penney & Price (1952) para difração de ondas, que posteriormente é utilizada como referência para a identificação do ruído numérico nas soluções numéricas. São também discutidos os dois métodos de inclusão de ilhas, ou seja, a "ilha película" e a "ilha dissipativa". A influência dos espaçamentos da grade computacional, do ângulo de incidência da onda e a largura de um ilha na geração e propagação do ruído numérico são investigados em detalhes. Finalizando mostra-se que na modelação de ilhas como áreas de dissipação de energia existe uma substancial diminuição da geração de ruído numérico.

Orientador: José Humberto Dias da Silva / Banca: Andre Santarosa Ferlauto / Banca: Luis Vicente de Andrade Scalvi / O Programa de Pós Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais, PosMat, tem caráter institucional e integra as atividades de pesquisa em materiais de diversos campi / Resumo: Neste trabalho apresenta-se um método para cálculo de constantes ópticas de filmes semicondutores baseado em medidas de transmitância (T) e refletância (R) na faixa espectral entre 0,50 eV, com possível extensão par a região do infravermelho médio e distante e para o ultravioleta. O método consiste na utilização dos espectros de R para melhorar a estender a determinação dos valores do índice de refração (n) e do coeficiente de extinção (k). Como uma primeira aproximação, o método é baseado no espectro de T para calcular os valores de n na região espectral das franjas de interferência e de (k) em toda a faixa do espectro de T, como feito em outros métodos. A melhoria realizada está relacionada ao uso dos valores aproximados de n - da extrapolação dos valores obtidos na região das franjas de interferência, para calcular valores refinados de n usando o espectro de R na região de alta absorção. O método possibilita determinar os valores de k em toda faixa na qual os valores medidos de T tenham bom grau de exatidão. Outra vantagem é a possibilidade de refinamento dos valores das constantes ópticas utilizando os espectros de R e T alternadamente. O uso de R possibiita um ajuste melhor dos valores de n, principalmente na região de alta absorção (dispersão anômala) enquanto os espectros de T permitem cálculos refinados de K, principalmente para valores acima do bandgap, e a dispersão do índice de refração em baixa absorção. São utilizadas expressões completas para transmitância e refletância, derivadas diretamente das equações de Maxwell, as quais levam em conta as reflexões múltiplas coerentes nos filmes e as incoerências nos substratos. O trabalho experimental envolve a deposição de amostras de TiO2 pela técnica de sputering reativo e medidas de transmitância na faixa de energia de 0,38 eV a 6,20 eV e medidas de refletância usando esfera integradora entre 0,50 eV a 4,96 eV. Para testar... / Abstract: This work presents the end result of the developmet of a method for calculation of optical constants of semiconductor films based on measured transmitance (T) and reflectance (R), which allows the calculation of the spectral optical constants in the range of 0.5 eV to 5.0 eV, with possible extension to the middle and far infrared and the ultraviolet. The calculation method consists in the use of R spectra to improve and extend the determination of the values of the refractive index (n) and extinction coefficient (k). As a first approximation, the method is based on the T spectrum to calculate the n values in the spectral region of the interference fringes and the k values across the spectral range of T, as done in other methods. The improvement realized is related to the use of k values calculated initially from T spectrum, and aproximated n values - extrapolating the values obtained in the region of the interference fringes, to calculate refined n values using the R spectrum in the high absorption region. The method makes possible to determine the k values across the range in which the measured values T have good degree of accuracy. Another advantage observed in the present method is the possibility of refining the values of the optical constants using the R and T spectra alternately. The use of R enables a better fit to the n values, particularity the high absorption region (or anomalous dispersion region), while T spectra allow refined calculations of k, mainly above the bandgap, and the dispersion of the refractive index in low absorption. The calculations use the complete expressions for transmittance and reflectance, derived directly from Maxwell's equations. The expression used take into account the coherent multiple reflections in the films and incoherent in the substrate. The experimental work involved the transmittance measurements at a range of energy from 0.38 eV to 6.20 eV nm and reflectance measurement using integrating... / Mestre

Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-graduação em Engenharia Mecânica. / Made available in DSpace on 2012-10-21T10:24:21Z (GMT). No. of bitstreams: 1 208661.pdf: 1168429 bytes, checksum: 4f332b06ce5187cd36457c8644b8431d (MD5) / Existe uma variedade de aplicações nas quais sistemas multicamadas são submetidos à transferência radiativa, tais como módulos fotovoltaicos, espelhos, polarizadores,

Made available in DSpace on 2016-01-13T13:26:53Z (GMT). No. of bitstreams: 0 Previous issue date: 2015-08-03. Added 1 bitstream(s) on 2016-01-13T13:32:05Z : No. of bitstreams: 1 000855125.pdf: 2104677 bytes, checksum: 15bdfea4db1f3d540e6d00dc6077e93a (MD5) / Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) / Neste trabalho apresenta-se um método para cálculo de constantes ópticas de filmes semicondutores baseado em medidas de transmitância (T) e refletância (R) na faixa espectral entre 0,50 eV, com possível extensão par a região do infravermelho médio e distante e para o ultravioleta. O método consiste na utilização dos espectros de R para melhorar a estender a determinação dos valores do índice de refração (n) e do coeficiente de extinção (k). Como uma primeira aproximação, o método é baseado no espectro de T para calcular os valores de n na região espectral das franjas de interferência e de (k) em toda a faixa do espectro de T, como feito em outros métodos. A melhoria realizada está relacionada ao uso dos valores aproximados de n - da extrapolação dos valores obtidos na região das franjas de interferência, para calcular valores refinados de n usando o espectro de R na região de alta absorção. O método possibilita determinar os valores de k em toda faixa na qual os valores medidos de T tenham bom grau de exatidão. Outra vantagem é a possibilidade de refinamento dos valores das constantes ópticas utilizando os espectros de R e T alternadamente. O uso de R possibiita um ajuste melhor dos valores de n, principalmente na região de alta absorção (dispersão anômala) enquanto os espectros de T permitem cálculos refinados de K, principalmente para valores acima do bandgap, e a dispersão do índice de refração em baixa absorção. São utilizadas expressões completas para transmitância e refletância, derivadas diretamente das equações de Maxwell, as quais levam em conta as reflexões múltiplas coerentes nos filmes e as incoerências nos substratos. O trabalho experimental envolve a deposição de amostras de TiO2 pela técnica de sputering reativo e medidas de transmitância na faixa de energia de 0,38 eV a 6,20 eV e medidas de refletância usando esfera integradora entre 0,50 eV a 4,96 eV. Para testar... / This work presents the end result of the developmet of a method for calculation of optical constants of semiconductor films based on measured transmitance (T) and reflectance (R), which allows the calculation of the spectral optical constants in the range of 0.5 eV to 5.0 eV, with possible extension to the middle and far infrared and the ultraviolet. The calculation method consists in the use of R spectra to improve and extend the determination of the values of the refractive index (n) and extinction coefficient (k). As a first approximation, the method is based on the T spectrum to calculate the n values in the spectral region of the interference fringes and the k values across the spectral range of T, as done in other methods. The improvement realized is related to the use of k values calculated initially from T spectrum, and aproximated n values - extrapolating the values obtained in the region of the interference fringes, to calculate refined n values using the R spectrum in the high absorption region. The method makes possible to determine the k values across the range in which the measured values T have good degree of accuracy. Another advantage observed in the present method is the possibility of refining the values of the optical constants using the R and T spectra alternately. The use of R enables a better fit to the n values, particularity the high absorption region (or anomalous dispersion region), while T spectra allow refined calculations of k, mainly above the bandgap, and the dispersion of the refractive index in low absorption. The calculations use the complete expressions for transmittance and reflectance, derived directly from Maxwell's equations. The expression used take into account the coherent multiple reflections in the films and incoherent in the substrate. The experimental work involved the transmittance measurements at a range of energy from 0.38 eV to 6.20 eV nm and reflectance measurement using integrating... / FAPESP: 12/20445-4

Dissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Instituto de Geociências, Programa de Pós-Graduação em Geociências Aplicadas, 2010. / Submitted by Raquel Almeida (raquel.df13@gmail.com) on 2017-07-06T17:26:15Z No. of bitstreams: 1 2010_DhéboraBatistaRosaVentura.pdf.pdf: 14561040 bytes, checksum: f78462ac27691afea6d9dabca9594891 (MD5) / Approved for entry into archive by Raquel Viana (raquelviana@bce.unb.br) on 2017-10-06T17:28:02Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2010_DhéboraBatistaRosaVentura.pdf.pdf: 14561040 bytes, checksum: f78462ac27691afea6d9dabca9594891 (MD5) / Made available in DSpace on 2017-10-06T17:28:02Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2010_DhéboraBatistaRosaVentura.pdf.pdf: 14561040 bytes, checksum: f78462ac27691afea6d9dabca9594891 (MD5) Previous issue date: 2017-10-06 / Localizada na porção noroeste de Goiás, próximo à divisa com Tocantins, a linha de refração sísmica profunda de Porangatu foi levantada com cerca de 120 sensores distribuídos ao longo de 320 km na direção WNW-ESE. com um tiro a cada 50 km ao longo do perfil. Atravessa a porção centro-leste da Província Tocantins, iniciando sobre a Faixa Araguaia e Passando, em direção a leste, pela porção norte da Faixa Brasília, abarcando os terrenos do Arco Magmático de Goiás. Maciço de Goiás e parte oeste da zona externa. O Lineamento Transbrasiliano. a Zona de Cisalhamento Rio dos Bois e o Sistema de Falhas Rio Maranhão constituem significativas feições estruturais atravessadas pela linha sísmica. A modelagem de dados sísmicos e gravimétricos preexistentes permitiu obter a distribuição de velocidades (Vp e V$) e de densidades (p) para a região e caracterizar as rochas da crosta e manto litosférico em termos dos parâmetros elásticos razão de Poisson (a), módulo de bulk (k). módulo de Young (E), módulo de Rigidez (^x) e constante de Lamé A í”aixa Araguaia foi imageada apenas na crosta superior e apresenta VP /VS de 1.76. o de 0.26. 53 GPa de tc. 80 GPa de E. 30 GPa de n e 33 GPa de X. O Arco Magmático de Goiás, mapeado até a crosta inferior, apresenta variação de 1.63-1.70 de VP /VS . 0.20-0.24 de a. 50- 88 GPa de tc. 86-148 GPa de E. 33-57 GPa de e 25-50 GPa de k. No Maciço de Goiás, imageado até a crosta inferior, a variação é de 1.63-1.75 de VP /VS e 0.20-0.26 de o. 56-68 GPa de k. 90-134 GPa de E. 34-52 GPa de |i e 32-41 GPa de X. A zona extema da Faixa Brasília, mapeada na crosta superior, apresenta variação de 1.65-1.69 de VP /VS e 0.21-0.23 de o. 44-55 GPa de k. 81 -94 GPa de E. 31 -36 GPa de n e 23-31 GPa de l. A análise conjunta desses dados ressaltou as diferenças entre os terrenos geológicos. O bloco crustal a oeste da Serra Azul foi definido como subdomínio geofisico onde a crosta possivelmente represente porção de interdigitação dos terrenos da borda leste da Placa Amazônica com os da borda oeste da Província Tocantins (Arco Magmático de Goiás). Em termos de composição das rochas, os dados confirmaram composição félsica para as crostas superior e intermediária e definiram composição máfica para a crosta inferior, independente do domínio geológico. O manto apresenta composição ultramáfica. Embora tenham contribuído com as discussões, os parâmetros elásticos calculados não foram decisivos na interpretação das características da crosta e do manto. A maioria das inferências deriva das análises de distribuição de V,». VP Vs e densidade. / Placed on the northwestern portion of Goias State, near Tocantins, the Porangatu deep seismic refraction line was deployed with 120 recording points along a WNW-ESE 320 km long transect, in which shots were made every 50 km. It crosses the central-east region of Tocantins Province, from Araguaia Belt to northern Brasilia Belt, covering Goias Magmatic Arc. Goias Massif and the western portion of external zone. Significant geological structures transected by the seismic line are Transbrasiliano Lineament. Rio dos Bois Shear Zone and Rio MaranhSo Fault System. Seismic and gravimetric modeling of previously obtained data allowed obtaining velocity (VP e Vs ) and density (p) distribution of the region and characterizing the elastic parameters Poisson ratio (o). bulk modulus (k). Young modulus (E). Shear modulus (n) and Lame's constant X of the crustal and lithospherical mantle rocks. Araguaia Belt, modeled only on the upper crust, presents VP /Vs of 1.76. a of 0.26. 53 GPa of k. 80 GPa of E. 30 GPa of |i and 33 GPa of X. Goias Magmatic Arc. mapped from upper to lower crust, exhibits a range of values: 1.63-1.70 of VP /VS . 0.20-0.24 of o. 50-88 GPa of k. 86-148 GPa of E. 33-57 GPa of and 25-50 GPa of X. Similarly. Goias Massif was also mapped from upper to lower crust and presents a range of 1.63-1.75 of VP /VS . 0.20-0.26 of a. 56-68 GPa of k. 90-134 GPa of E. 34- 52 GPa of n and 32-41 GPa ofFinally, the external zone of Brasilia Belt was modeled only on the upper crust and presents 1.65-1.69 of Vp/Vs. 0.21-0.23 of a. 44-55 GPa of k. 81-94 GPa of E. 31-36 GPa oi> and 23-31 GPa of I. Data analysis highlighted differences of geological terranes. West of Serra Azul. the crustal block was defined as a geophysical domain in which the crust possibly represents an interfingering portion between the eastern border of Amazonic Plate and the western border of Tocantins Province (Goias Magmatic Arc). Composicionally, data showed that upper and middle crust present felsic composition and that lower crust is mafic. Mantle is ultramafic. Although helpful to the development of discussion, elastic parameters were not crucial during the interpretaton of crustal and mantle characteristics. Most of conclusions derived from VP . Vp/Vs and density distribution analysis.

Made available in DSpace on 2016-08-17T18:39:49Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5499.pdf: 3793809 bytes, checksum: a99ce532a5c0a65e0f17ef8ad90f5754 (MD5) Previous issue date: 2013-04-22 / Glaucoma is a leading cause of blindness in the elderly throughout the world. One of the most important diagnoses that is made in order to detect this pathology is a visual field perimetry, which measures the sensitivity of different portions of the retina to different light intensities. However, the available instruments in Brazil with quality considered within the "Gold Standard" are all imported and therefore the basis of all computational data, information essential to obtain a reliable report is also based on populations with ethnic and demographic characteristics distinct from the Brazilian population. In this project, the goal was to develop a database with emphasis on the Brazilian population for a computerized instrument that performs measurements of the visual field of the human eye. Practical results of this new database are presented and also a discussion of why it is more appropriate for the Brazilian population when compared to imported databases. / O glaucoma é uma das principais causas de cegueira em pessoas da terceira idade no mundo. Um dos principais diagnósticos que se faz para detecção desta patologia é a campimetria visual, que mede as diferentes sensibilidades da retina para estímulos luminosos de múltiplas intensidades. No entanto, os instrumentos disponíveis no Brasil com qualidade considerada dentro do Padrão Ouro (Gold Standard) são todos importados e portanto com base de dados computacional, informação imprescindível para obtenção de um laudo confiável, também baseada em populações com características étnicas e demográficas distintas da brasileira. Neste projeto o objetivo foi o desenvolvimento de um banco de dados com base na população brasileira para um instrumento de campimetria também nacional. Resultados práticos para esta nova base de dados são apresentados aqui e faz-se também uma discussão do porque ela é mais adequada para a população brasileira do que a base de dados de instrumentos importados.

Submitted by Maike Costa (maiksebas@gmail.com) on 2016-03-16T13:56:26Z No. of bitstreams: 1 arquivo total.pdf: 51193035 bytes, checksum: bf9dff8c4a470f25227609bff6a36af9 (MD5) / Made available in DSpace on 2016-03-16T13:56:27Z (GMT). No. of bitstreams: 1 arquivo total.pdf: 51193035 bytes, checksum: bf9dff8c4a470f25227609bff6a36af9 (MD5) Previous issue date: 2011-12-09 / Conselho Nacional de Pesquisa e Desenvolvimento Científico e Tecnológico - CNPq / This dissertation is the result of the project for the development and automation of highprecision refractometers, which is to obtain the refractive index of liquids with an accuracy of one part in 106. Some interferometric measurement techniques, methods of measurement and movement control were studied during the development of this project. Deionized water was used as object of study. There are more bibliographic source with measurements in distilled water than deionized water but both are considered pure, and properties are quite similar, although they have different specific applications. The thermo-optical analysis of pure water with high accuracy allows the observation of anomalous behavior in the refractive index curve at temperatures above 36 C above, and such behavior can be observed with few measurements using equipment described here. / Esta dissertação de mestrado é o resultado do projeto para o desenvolvimento e automação de refratômetros de alta precisão, que tem como objetivo a obtenção do índice de refração de líquidos com precisão de uma parte em 106. Durante o desenvolvimento do projeto foram estudadas algumas técnicas de medidas interferométricas, assim como métodos de controle e medição de deslocamento. Foi utilizada a água deionizada como líquido objeto de estudo. Existem mais fontes bibliográficas com medições em água destilada, no entanto a água deionizada é também considerada pura, e as propriedades são bastante similares, apesar de possuírem aplicações específicas distintas. A análise termo-ótica da água pura, com alta precisão, permite a observação do comportamento anômalo na curva do índice de refração em temperaturas acima de 36 C, e tal comportamento pode ser observado com poucas medições utilizando o equipamento que será descrito.