Thesis (Ph. D.)--Missouri University of Science and Technology, 2008. / Vita. The entire thesis text is included in file. Title from title screen of thesis/dissertation PDF file (viewed March 18, 2009) Includes bibliographical references.

Thesis (M.S.)--Rochester Institute of Technology, 1991. / Typescript. Includes bibliographical references.

Thesis (M.S.)--Rochester Institute of Technology, 2008. / Typescript. Includes bibliographical references (leaves 56-58).

Thesis(M.S.)--Auburn University, 2007. / Abstract. Vita. Includes bibliographic references.

Thesis (Ph. D.)--University of Canterbury, 2008. / Typescript (photocopy). "November 2008." Includes bibliographical references (p. [144]-149). Also available via the World Wide Web.

Thesis (M.S.)--Rochester Institute of Technology, 2004. / Typescript. Includes bibliographical references (leaves 74-76).

Thesis (M.S.)--University of North Texas, Aug., 2009. / Title from title page display. Includes bibliographical references.

Thesis (M.S.)--Rochester Institute of Technology, 2006. / Typescript. Includes bibliographical references (leaves 70-72).

Made available in DSpace on 2014-06-11T19:23:29Z (GMT). No. of bitstreams: 0 Previous issue date: 2007-09-19Bitstream added on 2014-06-13T19:50:19Z : No. of bitstreams: 1 costa_wb_me_bauru.pdf: 1013500 bytes, checksum: af2a82e89ba237d24c1ff8441a9da739 (MD5) / Secretaria de Educação do Estado de São Paulo / Filmes nanocristalinos e amorfos de GaAs tem recentemente chamado a atenção de vários grupos de pesquisa devido as suas possíveis aplicações em novos dispositivos ópticos e eletrônicos. Igualmente atraentes são as novas propriedades físicas relacionadas com a estrutura nanocristalina e os efeitos da desordem na estrutura eletrônicas destes materiais. Entre as aplicações existentes, podemos citar o uso destes filmes como camadas anti-guia em lasers com emissão perpendicular à superfície, as camadas “buffer” em hetero-epitaxias de GaAs sobre Si, e os filtros interferométricos para a região do infravermelho. A preparação e a caracterização de filmes nanocristalinos de GaAs hidrogenados e não hidrogenados usando a técnica de RF magnetron sputtering foram focalizados neste trabalho. Um alvo de GaAs e uma atmosfera controlada contendo quantidades variáveis de argônio (Ar) e hidrogênio (H2) foram usadas na deposição do filme. Foi investigada a influência do fluxo de Ar e H2 na composição, estrutura e propriedades ópticas dos filmes. A influência da temperatura de substrato e potência de deposição também foi analisada. As técnicas de difração de raios-X e análise da energia de dispersão por emissão de raios-X (EDX), foram utilizadas na análise da estrutura e composição do filme, enquanto medidas ópticas de transmitância e refletância permitiram a determinação do coeficiente de absorção óptica e índice de refração dos filmes. A presença de ligações de hidrogênio nos filmes foi confirmada pelas bandas de absorção do Ga-H e As-H usando um espectrofotômetro de transformada de Fourier (FTIR). Os resultados mostram que a microestrutura, a composição e as propriedades ópticas do material são fortemente influenciadas por todos os parâmetros investigados, com destaque para o fluxo de hidrogênio utilizado nas deposições... / The nanocrystalline and amorphous GaAs films are recently attracting the attention of several research groups due to their possible application in new electronic and optical devices. Also attractive are the new physical properties related to the nanocrystalline structure and the effects of disorder in the electronic structure of these materials. Among the existing applications we can mention the use of these films as antiguide layers in surface emitting lasers, as buffer layers in the GaAs hetero-epitaxy onto Si substrates, and as infrared interferometric filters. The preparation and characterization of hydrogenated and non-hydrogenated nanocrystalline GaAs films using the RF magnetron sputtering technique were focused here. An electronic grade GaAs water target and an atmosphere composed of variable amounts of Ar and 'H IND.2' were used in the film depositions. We have investigated the influence of Ar and 'H IND.2' fluxes on composition, structure, and optical properties of the films. The influence of substrate temperature and deposition power were also analyzed. X-ray diffraction and energy dispersive electron analysis (EDX) were used in the analysis of the film structure and composition, while optical transmittance and reflectance measurements allowed the determination of the optical absorption coefficient and refractive index of the films. The presence of bonded hydrogen in the films was confirmed by the Ga-H and As-H absorption bands using Fourier transform infrared spectra (FTIR). The results show that the microstructure, the composition, and the optical properties of the material are strongly influenced by all the investigated parameters, in special the hydrogen flux used in the depositions. The hydrogenated films ('H IND.2' flux of 3.0 sccm / Ar flux of 20.0 sccm) produced at relatively low power (30W) and substrate temperature (60ºC), have presented the widest... (Complete abstract click electronic access below)

Kyoto University (京都大学) / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第14050号 / 工博第2962号 / 新制||工||1439(附属図書館) / 26329 / UT51-2008-F442 / 京都大学大学院工学研究科電子物性工学専攻 / (主査)教授 鈴木 実, 教授 髙岡 義寛, 教授 藤田 静雄 / 学位規則第4条第1項該当