電子產品一向是我國外銷市場中的主力，因此為了提升外銷競爭的能力，必須不斷的
改善產品品質，從而提高其平均壽命和可靠度，其中壽命試驗正是了解可靠度問題的
重要步驟。
但由今日電子產品的可靠度提高，平均壽命較長，用傳統的壽命試驗，很難在短時間
內獲致結果，故通常以加速壽命試驗的方式取而代之。所謂加速壽命試驗是採用較高
的環境應力，在不改變產品失效模式的原則下，縮短產品的壽命和試驗時間，進而推
估產品在正常使用條件下的壽命分配。此外，加速試驗亦有助於預燒工作的進行，將
有助於剔除產品早期故障以提高產品品質。
除了加速壽命試驗之外，使用截略抽樣資料以及較佳的試驗計劃，均可節省時間、金
錢。因而本文研究的目的，乃以可代表電子產品壽命在正常操作期之指數分配為例，
配合加速壽命試驗，決定各組應力的截略數和樣本數，從而設計出最佳的壽命試驗計
劃。
文中，以固定的總截略數為控制成本，欲使所估計之正常使用下的瞬間故障率之變異
數為最小，並分三種情形討論之。一、只固定較高應力，則發現較低應力愈接近正常
應力時，變異愈小。二、固定二組較高及較低應力，則在較應力的組別，應配置較多
的截略樣本。三、在二組應力之間，增加第三組應力，此舉雖增加變異數，但較具有
穩健的功能。而一旦決定各組的截略數之後，可以控制其期望值和完成試驗之期望值
之比例，進而求得所需的樣本數。本文的結果和以前的文獻在型Ⅰ截略抽樣計劃下的
實驗設計，大致上能夠相符合，並進一步對型Ⅱ截略抽樣計劃下，各組應力之截略數
不同配置的情形，作了一番比較探討。
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CHENGCHI/B2002005729 |
| Creators | 陳燕禎, CHEN, YAN-ZHEN |
| Publisher | 國立政治大學 |
| Source Sets | National Chengchi University Libraries |
| Language | 中文 |
| Detected Language | Unknown |
| Type | text |
| Rights | Copyright © nccu library on behalf of the copyright holders |
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