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1	型II截略抽樣計劃下的加速壽命試驗陳燕禎, CHEN, YAN-ZHEN Unknown Date (has links) 電子產品一向是我國外銷市場中的主力，因此為了提升外銷競爭的能力，必須不斷的改善產品品質，從而提高其平均壽命和可靠度，其中壽命試驗正是了解可靠度問題的重要步驟。但由今日電子產品的可靠度提高，平均壽命較長，用傳統的壽命試驗，很難在短時間內獲致結果，故通常以加速壽命試驗的方式取而代之。所謂加速壽命試驗是採用較高的環境應力，在不改變產品失效模式的原則下，縮短產品的壽命和試驗時間，進而推估產品在正常使用條件下的壽命分配。此外，加速試驗亦有助於預燒工作的進行，將有助於剔除產品早期故障以提高產品品質。除了加速壽命試驗之外，使用截略抽樣資料以及較佳的試驗計劃，均可節省時間、金錢。因而本文研究的目的，乃以可代表電子產品壽命在正常操作期之指數分配為例，配合加速壽命試驗，決定各組應力的截略數和樣本數，從而設計出最佳的壽命試驗計劃。文中，以固定的總截略數為控制成本，欲使所估計之正常使用下的瞬間故障率之變異數為最小，並分三種情形討論之。一、只固定較高應力，則發現較低應力愈接近正常應力時，變異愈小。二、固定二組較高及較低應力，則在較應力的組別，應配置較多的截略樣本。三、在二組應力之間，增加第三組應力，此舉雖增加變異數，但較具有穩健的功能。而一旦決定各組的截略數之後，可以控制其期望值和完成試驗之期望值之比例，進而求得所需的樣本數。本文的結果和以前的文獻在型Ⅰ截略抽樣計劃下的實驗設計，大致上能夠相符合，並進一步對型Ⅱ截略抽樣計劃下，各組應力之截略數不同配置的情形，作了一番比較探討。電子產品外銷壽命試驗可靠度品質
2	貝氏Weibull模式應用於加速壽命試驗吳雅婷, Wu,Ya-Ting Unknown Date (has links) 本文所探討的中心為貝氏模型運用於加速壽命試驗，並且假設受測項目之壽命服從Weibull分配。加速實驗環境有三種，其中第二種環境代表正常狀態，採用加速壽命試驗的方式涵蓋了三種：固定應力、漸進之逐步應力和變量曲線之逐步應力。對於先驗參數，並不是直接給予特定的值，而是透過專家評估，給定各種環境之下的產品可靠度之中位數或百分位數，再利用這些資訊經過數值運算解出先驗參數。資料的型態分成兩種，一為區間資料，另一為型一設限資料，透過蒙地卡羅法模擬出後驗分配，並且估計正常環境狀態的可靠度。 / This article develops a Bayes inference model for accelerated life testing assuming failure times at each stress level are Weibull distributed. Using the approach, there are three stressed to be used, and the three testing scenarios to be adapted are as follows：fixed-stress, progressive step-stress and profile step-stress. Prior information is used to indirectly define a multivariate prior distribution for the scale parameters at the various stress levels. The inference procedure accommodates both the interval data sampling strategy and type I censored sampling strategy for the collection of ALT test data. The inference procedure uses the well-known Markov Chain Monte Carlo methods to derive posterior approximations. 加速壽命試驗危險函數概似函數可靠度區間資料型一設限資料蒙地卡羅法 Accelerated life testing hazard function maximum likelihood function reliability interval data type I censored data Markov Chain Monte Carlo methods

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型II截略抽樣計劃下的加速壽命試驗

貝氏Weibull模式應用於加速壽命試驗