Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico / Made available in DSpace on 2012-10-19T06:01:01Z (GMT). No. of bitstreams: 0Bitstream added on 2014-09-25T23:39:35Z : No. of bitstreams: 1
179119.pdf: 21206096 bytes, checksum: d03a5a5d843c72fb3455b2fc67367346 (MD5) / A dissertação procura mostrar que as instituições de ensino, principalmente as de ensino tecnológico, sentem a necessidade de se manterem atualizadas frente às transformações da sociedade na forma de viver, trabalhar, pensar e conviver, provocadas pela informática e telecomunicações. A interação, buscada pela Escola-Empresa, é um fator fundamental, para que o ensino venha a corresponder com a realidade do mercado, proporcionando um intercâmbio constante entre elas. E diante disto, a Escola deve acompanhar o seu egresso dentro da Empresa, a fim obter elementos para poder avaliar periodicamente o seu ensino. No trabalho, também, constam as experiências de algumas instituições nacionais e internacionais de formação profissional, mostrando que o acompanhamento de egressos é um mecanismo indispensável no processo de avaliação do ensino que ofertam. Além disso, mostra o Sistema de Acompanhamento de Egressos, desenvolvido pelo Centro Federal de Educação Tecnológica do Paraná - CEFET-PR, e relata as experiências da utilização acontecidas no CEFET-PR - Unidade de Curitiba
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufsc.br:123456789/81600 |
| Date | January 2001 |
| Creators | Machado, Antônio de Souza |
| Contributors | Universidade Federal de Santa Catarina, Gauthier, Fernando Alvaro Ostuni |
| Publisher | Florianópolis, SC |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | x, 143 f.| grafs., fig. |
| Source | reponame:Repositório Institucional da UFSC, instname:Universidade Federal de Santa Catarina, instacron:UFSC |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Page generated in 0.0019 seconds