Orientador: Vitor Baranauskas / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica / Made available in DSpace on 2018-07-19T12:44:20Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Fukui_Marcelo_M.pdf: 3451650 bytes, checksum: 2cf7f1a6e360729c38d0eedfeb5947cb (MD5) Previous issue date: 1992 / Resumo: As técnicas de Microscopia de Tunelamento de Elétrons (MTE) e Microscopia de Força Atômica (MFA) são extremamente poderosas para a análise morfológica de superfícies, indo da escala micrométrica a escala atômica. Nesta tese fazemos uma revisão teórica de seus princípios com o objeto de esclarecer as análises posteriores. Foram realizadas imagens de Grafite Pirolítico Altamente Orientado (HOPG) á nível atômico por MTE e MFA, a fim de: exarcebar as diferenças fundamentais entre a MTE e MFA; utilizar o grafite HOPG como uma amostra de escala atômica "padrão"; otimização dos parâmetros - como corrente, tensão, fôrça, velocidade de varredura, etc. - a fim de otimizarmos as técnicas com uma amostra conhecida, proporcionando então, uma referência para posteriores trabalhos com grafites intercalados, grafites naturais, e outros. Empregamos a MFA também na análise de filmes de diamante crescidos pelo processo de deposição química a partir da fase vapor, cujos resultados propiciaram imagens atômicas de sua superfície / Abstract: Not informed. / Mestrado / Mestre em Engenharia Elétrica

Orientador: Antonio Manoel Mansanares / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-21T19:17:46Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Batista_JeriasAlves_M.pdf: 6760645 bytes, checksum: b803db0f481760fa71207127016a1c40 (MD5) Previous issue date: 1996 / Resumo: Um importante passo para o desenvolvimento de estruturas microeletrônicas é a avaliação não destrutiva de dispositivos em operação. O conhecimento das perdas térmicas nessas estruturas é de grande importância, uma vez que se elas forem excessivas localmente podem indicar a presença de um defeito ou mesmo servir como fonte de propagação de defeitos. Os mapas térmicos são bons indicadores de defeitos em dispositivos microeletrônicos, visto que o perfil de temperatura é sensível às distorções provocadas por estes. Defeitos tais como aqueles provocados por descargas eletrostáticas, fugas de correntes e por eletromigração alteram sensivelmente os perfis de temperatura e de campo elétrico . Neste trabalho a Microscopia Fototérmica de Reflexão é aplicada à caracterização de estruturas resistivas de polissilício e transistores de efeito de campo MOS -MOSFET. As amostras foram gentilmente cedidas pelo Centro Tecnológico para Informática -CTI, Campinas-SP. As trilhas resistivas fazem parte de um chip (KEL VRES) contendo trilhas de várias dimensões. Especificamente trabalhamos com trilhas de 6 e 3. mm de largura e cerca de O,5. mm de espessura. Os transistores são parte de um chip (OSQUARE) construído no IMEC-Bélgica. O transistor a ser analisado é do tipo n-MOS com canal de 30.mm de largura e igual comprimento. Em trilhas resistivas verificamos que o efeito dominante sobre o sinal medido é devido às perdas Joule. Com isso, identificamos efeitos de difusão de calor e mudanças na distribuição de linhas de corrente. Em regime de altas freqüências observamos efeito capacitivo nas trilhas. Em transistores de efeito de campo MOS observamos três componentes para o sinal: uma componente de eletrorefletância, uma devida aos portadores fotogerados e uma de corrente de polarização. Mostramos seis diferentes formas de fazer microscopia nesses dispositivos, pela modulação da voltagem do dreno ou do gate / Abstract: Non-destructive evaluation of operating micro-electronic devices is a fundamental step in the development of such structures. The knowledge of the thermal losses distribution in these structures is of particular importance, since they both can indicate the presence of defects and promote, when excessive, a run-away process of degradation. Since the temperature profile can be strongly affected by defects, through thermal parameters mismatch, thermal maps are a useful tool in their detection. One should point out that common degradation processes developed through electrostatic discharges and electromigration usually result in local perturbation of the temperature profile. In this work the Photothermal Reflectance Microscopy is applied to the characterization of polycrystalline silicon tracks and metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors (MOS-FET). The samples were supplied by the Centro Tecnológico para Informática -CTI. The conductive tracks here studied belong to a chip (KELVRES) composed by several tracks with varied dimensions. We worked on a few 6. mm - and 3. mm wide and 0,5. mm - thick polycrystalline silicon tracks. The studied transistors belong to a chip (OSQUARE) produced by IMEC-Belgium. The MOS-FET here analyzed is a n-channel 30. mm - wide and 30. mm - long. The results obtained on conductive tracks indicate that the Joule effect is the dominant one. We observed both heat diffi1sion and distortion on the current distribution around singular regions, such as branches and narrowing points. At high modulation frequencies a capacitive effect was also observed. MOS-FET investigation revealed three different contributions to the signal: an electroreflectance component due to the surface potencial bending; a photo-generated carriers component, induced by the probe beam itself; and a bias current component, mainly due to Joule effect. By using different arrangements we show six distinct ways to perform thermal -and electroreflectance microscopy in such kind of device, each one presenting a specific contrast / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador : Francesco Langone / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Biologia / Made available in DSpace on 2018-07-31T21:34:55Z (GMT). No. of bitstreams: 1 RodriguezdelaHoz_CristianeLucia_M.pdf: 7821796 bytes, checksum: 830e73a32d4dfd4b30ff2ee2154ef71d (MD5) Previous issue date: 2002 / Resumo: A axotomia em um nervo periférico leva ao desencadeamento do processo degenerativo na porção distal à lesão, denominado degeneração Walleriana (DW). Macrófagos e células de Schwann fagocitam e removem os axônios e a mielina em degradação. Além disso, tais células também são responsáveis pela preparação do microambiente adequado à regeneração axonal, através da produção de moléculas com propriedades neurotróficas e neurotópicas. Dentre essas moléculas destacamse as citocinas, produzidas principalmente pelos macrófagos, os fatores neurotróficos e componentes da matriz extracelular, produzidos pelas células de Schwann. Recentemente, foram obtidas evidências de que o óxido nítrico (NO) estaria também envolvido no desenvolvimento da DW e, conseqüentemente, no processo de regeneração axonaL Contudo, pouco ainda se sabe sobre a participação dos macrófagos e células de Schwann na produção do NO no decurso da DW. Alguns trabalhos relataram que camundongos adultos da linhagem C57BU6J apresentam menor capacidade regenerativa axonal, após lesão do nervo ciático, quando comparados a outras linhagens isogênicas. O objetivo deste trabalho foi investigar possíveis diferenças no padrão temporal degenerativo das linhagens C57BU6J e AIJ, utilizando o modelo de seção do nervo ciática e impedindo-o de regenerar. Neste sentido, analisamos inicialmente o desaparecimento dos neurofilamentos axonais, a fragmentação e degradação da bainha de mielina e a atividade da NADPH-diaforase no coto distal do nervo após 1, 3, 5 e 7 días da axotomia. A quantificação estereológica dos neurofilamentos marcados imunoistoquimicamente mostrou que a defosforilação e degradação são mais precoces na linhagem C57BU6J do que na linhagem AIJ. A histoquímíca do Sudan BJack não revelou diferenças temporais na fragmentação da bainha de mielina entre as linhagens. Porém, evidenciou a presença de um maior número de células envolvidas na degradação da mielina nos camundongos C57BU6J, 3 e 5 dias após a lesão. Por sua vez, a técnica histoquímica para NADPH-diaforase, indicadora da produção de NO, revelou que células presentes no coto distal em degeneração expressaram atividade NADPH-diaforase do 1° ao 7° dia após axotomia, em ambas as linhagens. Contudo, 5 dias após a lesão, as células NADPH-diaforase positivas na linhagem C57BU6J apresentaram, predominantemente, uma marcação intensa e bem delimitada, ao passo que na linhagem AlJ foram mais abundantes aquelas com marcação granular e dispersa. Com o objetivo de melhor compreender a participação do NO na DW, utilizamos técnicas de imunofluorescência e microscopia confocal para identificar as células envolvidas na produção de NO e também analisar a expressão temporal e espacial da isoforma induzível da óxido nítrico sintase (iNOS) após a seção do nervo ciático. Observou-se que a imunoreatividade para iNOS foi intensa em macrófagos e menos evidente nas células de Schwann, estando presente em ambos tipos celulares desde o 10 ao 70 dia após a lesão, para ambas linhagens. Contudo, os macrófagos constituíram o mais abundante contingente celular expressando iNOS. Além disso, na linhagem C57BU6J parece ter havido um ligeiro retardo para o início do recrutamento e ativação dos macrófagos quanto à expressão de iNOS no decorrer da DW, comparativamente à linhagem AIJ. Nossos resultados revelaram diferenças entre as linhagens AIJ e C57BU6J quanto a importantes eventos da DWe que parecem refletir diferentes propriedades intrínsicas dos axônios, bem como diferenças comportamentais em algumas células, talvez sob a ação de citocinas. Tais diferenças entre as linhagens devem ser consideradas em trabalhos de degeneração e regeneração nervosa periférica / Abstract: Axotomy of a peripheral nerve leads to a degenerative process in the distal stump known as Wallerian degeneratíon (DW), in which macrophages and Schwann cells participate ín phagocytosis ofaxon and myelin debris. Such cells are also responsible for preparing a favorable microenvironment to axonal regeneration through production of neurotrophic and neurotopic substances. Among these substances are cytokines produced mostly by macrophages and neurotrophic factors and components of extracellular matrix produced by Schwann ceUS. Recently, evidence emerged showing that nitric oxide (NO) would also be involved in DWand, consequently in lhe axonal regeneration processo However, partícipation of macrophages and Schwann cells in NO production during DW remains to be investigated . It has been reported in the literature that adult C57BU6J mire have a lower axonal regeneration potential afier sciatic nerve lesion when compared to olher ísogenic strains. The aim of this work was to investigate possíble differences in time course of some events in DW process between C57BU6J and AIJ strains, by using complete sciatic nerve transection model with prevented axonal regeneration. First, we studied the time course of neurofilament breakdown, fragmentation and clearance of myelin sheath and NADPH-diaphorase activity in the distal stump, 1, 3, 5, and 7 days afier axotomy. The stereologicaJ analysis of immunoreactive neurofilaments showed lhat the dephosphorylation and degradation process of these elements in C57BU6J strain is faster than in AIJ strain. On the olher hand, Sudan Black histochemistry did noí show differences between strains as regards the time course of myelin sheath fragmentation. However, jt was evident that a higher number of cells were involved in myelin degradation in C57BU6J mice at 3 and 5 days post-surgery. NADPH-diaphorase histochemistry, a marker for NO production, showed positivecells in the distal stump of both strains from the first to the seventh day afier lesion. Positive-cells in C57BU6J strain showed predominantty an intense and well defined labeling 5 days afier transection, while in AlJ strain granular and dispersed labeling were more abundant. With the goal of better understanding NO involvement in DW, immunofluorescence techniques and confocal microscopy were used to identify ceUs related to NO production and to examine the spacial and temporal expression of inducible nitric oxide synthase (iNOS) afier sciatic nerve transection. Immunoreactivity for iNOS was intense in macrophages and less evident in Schwann cells, but it was present in both cells trom the first to the seventh day afier transection in both strains. Macrophages were the main source of iNOS. We noted a delay in macrophage recruitment and activatíon of iNOS expression in the dista! stump of C57BU6J mire when compared to AJJ mies. These differences in DW between C578U6J and AIJ mice may reflect intrinsic properties ofaxons and/or behavioral dífferences in some cells, probably due influence of cytokines. These dífferences between strains should be taken into account in studies of degeneration and regeneration of the peripheral nervous system / Mestrado / Mestre em Biologia Celular e Estrutural

Orientador: Antonio Manuel Mansanares / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin" / Made available in DSpace on 2018-07-27T09:21:04Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Batista_JeriasAlves_D.pdf: 1261891 bytes, checksum: 59e98feb486a91e11d18ea4e3569dd26 (MD5) Previous issue date: 2001 / Resumo: A Ciência Fototérmica compreende uma grande variedade de fenômenos e métodos baseados na conversão de energia óptica em calor. A energia óptica absorvida é convertida em energia térmica em um grande número de materiais ¿ sólidos, líquidos e gasosos. Embora os processos de absorção nos materiais sejam seletivos, é comum aos estados excitados em átomos e moléculas perderem sua energia de excitação através de uma série de transições não-radiativas que resultam em aquecimento do material. Tais processos constituem a base para os Métodos Fototérmicos. A Microscopia Fototérmica de Reflexão tem se mostrado uma ferramenta útil na determinação de propriedades ópticas, térmicas e de transporte eletrônico em substratos semicondutores, dispositivos microeletrônicos e optoeletrônicos. Sua sensibilidade, conjugada à sua resolução espacial, capacita-a a detectar variações nos perfis de temperatura causadas por diferenças estruturais, bem como por defeitos em escalas micrométricas. O objetivo geral deste trabalho é a aplicação da técnica Microscopia Fototérmica de Reflexão na caracterização de defeitos em estruturas semicondutoras. Particular atenção será dada ao aumento da sensibilidade e do contraste dos resultados experimentalmente obtidos. Inicialmente serão discutidos aspectos físicos da geração do sinal fototérmico. Veremos que o mecanismo indutor da resposta de um material ao aquecimento modulado pode ser entendido em termos da modulação induzida no seu índice de refração. Em materiais com baixa atividade eletrônica, a refletância modulada de um feixe de prova está baseada na dependência da refletância do material com a temperatura; em materiais eletronicamente ativos, entretanto, além desta contribuição, a densidade de portadores livres fotoinduzida também contribui para a modulação da refletância. A geração de portadores resultantes de processos térmicos será desprezada. Em seguida mostraremos como heterogeneidades estruturais em sistemas multicamadas afetam o sinal fototérmico. Especificamente neste ponto, exploraremos a conjugação dos fenômenos de interferência óptica modulada termicamente visando o aumento do contraste do sinal. Contrastes de aproximadamente 100% foram obtidos em células solares usando-se interferência optotérmica, enquanto valores de apenas 15% foram obtidos pela interferência óptica convencional. Outrossim, será mostrado como a sensibilidade do sinal fototérmico pode ser significantemente aumentada pela escolha adequada de elementos de sondagens mais apropriados para medir efeitos da variação de temperatura. Aumento na sensibilidade de aproximadamente 200% foi obtido para o caso de trilhas de polissilício usando-se lasers de prova com diferentes comprimentos de onda. A última parte do trabalho será dedicada ao estudo de danos causados por descargas eletrostáticas. Este fenômeno é um dos principais problemas em diversas etapas do processo de construção, encapsulação e uso de dispositivos microeletrônicos de efeito de campo. A metodologia convencional de investigação da degradação está baseada em características elétricas. Medidas da voltagem de limiar e correntes de fuga permitem o monitoramento da degradação durante os testes. Estes tipos de medidas levam em conta os danos globais na estrutura, não sendo possível, portanto, revelar a posição exata do dano, nem sua extensão espacial. Neste contexto, a Microscopia Fototérmica de Reflexão se apresenta como uma ferramenta assaz importante na detecção, localização e monitoramento das evoluções espacial e temporal dos efeitos decorrentes das descargas eletrostáticas sobre a estrutura dos dispositivos / Abstract: Not informed. / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Monica Alonso Cotta / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-08-02T08:34:29Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Vicaro_KlausOrian_M.pdf: 5639846 bytes, checksum: 0d5f1e4d9684d0a0802783b088069143 (MD5) Previous issue date: 2002 / Resumo: Este trabalho teve como objetivo implementar novas técnicas de microscopia por varredura com ponta de prova no equipamento existente no LPD/DFA/UNICAMP e aplicá-las ao estudo de propriedades elétricas de nanoestruturas semicondutoras. Em particular, foi necessário projetar, construir e implementar no microscópio, um circuito eletrônico de medição de corrente com alta sensibilidade para realizar medidas de condutividade local com microscopia por força atômica, utilizando uma ponta condutora. Com a adição de uma placa de aquisição de dados, foi possível obter também medidas de corrente-voltagem com resolução espacial (espectroscopia I'V). As técnicas implementadas foram primeiramente aplicadas em diferentes materiais no sentido de testar seu funcionamento, resolução e limites de utilização. Posteriormente aplicamos as técnicas de caracterização elétrica a filmes semicondutores crescidos por epitaxia de feixe químico, com particular interesse em filmes tensionados que originam nanoestruturas. O modo de força eletrostática foi utilizado para medidas do potencial de superfície (diferença entre as funções trabalho de dois materiais), com a finalidade de determinar a posição do nível de Fermi das diferentes amostras estudadas. Neste caso, a placa de aquisição de dados foi utilizada para fornecer diretamente o potencial de superfície, semelhante à técnica Kelvin-Probe. Embora a técnica não tenha mostrado resolução espacial para identificação das nanoestruturas na superfície da amostra, puderam ser observadas diferenças entre as várias amostras analisadas, interpretadas como resultado da presença do filme tensionado. Medidas de corrente e espectroscopia I'V, em amostras de InAs/InP, mostraram que a característica elétrica do contato entre a ponta metalizada e um dot é do tipo Schottky, devido à oxidação causada pela exposição ao ar. Variações de corrente sobre diferentes regiões de um mesmo dot são atribuídas a efeitos de convolução ponta-amostra. Utilizando o microscópio de força atômica como ferramenta para nanolitografia, foram desenvolvidos os processos iniciais para produção de dispositivos com as nanoestruturas crescidas. Isso permitirá que sejam realizadas medidas de transporte elétrico entre as nanoestruturas, com temperaturas mais baixas que a ambiente / Abstract: In this work new scanning probe techniques were implemented to the existing atomic force microscope at LPD/DFA/UNICAMP and used to study the electrical properties of semiconductor nanostructures. To achieve this goal, it was necessary to design, build and set up an eletronic circuit able to measure currents with high sensitivity, for local conductance measurements with the atomic force microscope using conducting tips. With the addition of a data acquisition board, spatially-resolved current-voltage measurements (I'V spectroscopy) were obtained. The new techniques were first used with different materials in order to test their functioning, limits and resolution. After that, the electrical characterization techniques were used to study semiconductor samples grown by chemical beam epitaxy, with particular interest in strained films with self-assembled nanostructures. Electrostatic force microscopy was used for surface potential (difference in the work function of two different materials) measurements in order to determine the Fermi level energy of our samples. In this case the data acquisition board was used to directly provide the surface potential, similarly to the Kelvin-Probe technique. Although our results could not spatially resolve the surface nanostructures in our samples, different surface potential values were measured for the different samples, and were interpreted as a result of the presence of the strained film. Current measurements as well as I'V spectroscopy for InAs/InP samples have shown a Schottky-type contact for the metalized tip and dot, due to the oxidation of the sample surface caused by exposure to air. Current variations over different regions of the same dot were attributed to the tip-sample convolution. Using the atomic force microscope as a nanolithography tool, we have developed the initial processing steps to produce devices with the epitaxial nanostructures. This will allow electrical transport experiments at temperatures lower than 300K / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Celia Marina Alvarenga Freire / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Mecanica / Made available in DSpace on 2018-08-03T21:12:04Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Regone_NatalNerimio_D.pdf: 7846072 bytes, checksum: 7b9d73211e61fea4842f739fc2d0df32 (MD5) Previous issue date: 2004 / Doutorado

Made available in DSpace on 2016-06-02T19:29:38Z (GMT). No. of bitstreams: 1 3809.pdf: 18037254 bytes, checksum: 533060ed30b617a7a57320b8bef7996a (MD5) Previous issue date: 2011-03-18 / Financiadora de Estudos e Projetos / The commercial breeding of the Caiman yacare has been consolidated in the state of Mato Grosso as an alternative and as a legal activity for rural properties in the area of its natural occurrence, restraining predatory hunting and collaborating to the preservation of the species. The rationalization of the production process into the caiman's breading is a relatively new action, which allows obtaining better skin quality and its integral use, different from those originated from animals living in wildlife. Considering the importance of the intestines as the main organ where the major events related to obtaining nutrients for the body metabolism occur, this study aimed at characterizing qualitative and quantitatively the mucosa of the small and large intestine of the C. yacare. For the characterization of the intestinal wall structure and histometry of the mucosa, intestinal samples from 16 animals were collected for the study in the optical microscope and two others for the study in the scanning electron microscope. The samples were obtained and processed according to the respective protocols, in five regions, four from the small intestine and one from the large intestine. The stains were hematoxylin, eosin, Mallory trichomo and Picrossirius, and the histochemical techniques consisted of the reaction to periodic acid-Schiff and alcian blue pH 1.0 counterstained with hematoxylin and alcian blue pH 2.5 conjugated to periodic acid-Schiff. Histometric study was used in the analysis of variance and Neuwman-Keuls test. For the description of histological structures it was used the terminology available in Nomina Histology. The wall structure of small and large intestine of the C. yacare was composed of the tunica mucosa, muscular and serosa. The mucosa was composed of epithelial lining like the simple cylindrical type made by epithelial columnar cells of the villus and goblet cells; characteristic lamina of loose connective tissue and muscular tissue from the single mucosa. The composition of the secretion of goblet cells ranged from neutral to acid. It was not observed the presence of intestinal glands. The muscular layer consisted of two decks, the circular and the longitudinal, the former being the most developed. The serosa was typical. The specializations of the mucosa observed in the small and in the large intestine, respectively, were intestinal villi and folds, and alongside the regions of the intestine, showed a reduction of its complexity. The histometric study of the mucosa showed a statistically significant difference between the small and the large intestine. The scanning electron microscopy revealed the presence of one type of ridge or fold in the duodenum and two types in the other regions analyzed. They showed variation in shape, spacing, height and scale between the regions. Although the structure of the intestinal wall of C. yacare is similar to those of other crocodilians, of the green turtle and of the ostrich, it is still necessary to carry out studies about the histophysiology so that the nutritional management of the species in captivity is improved. / A criação de jacaré-do-pantanal (Caiman yacare) tem-se consolidado no estado de Mato Grosso como atividade alternativa e legal para as propriedades rurais na área de ocorrência natural da espécie, coibindo a caça predatória e colaborando na preservação da espécie. A racionalização do processo produtivo na criação de jacaré é uma ação relativamente nova, que permite obter pele de melhor qualidade e de utilização integral, diferentemente daquelas oriundas de animais da natureza. Considerando a importância dos intestinos como sede dos principais eventos relacionados à obtenção de nutrientes para o metabolismo corpóreo, este trabalho teve por objetivo caracterizar qualitativa e quantitativamente a mucosa dos intestinos delgado e grosso do jacaré-do-pantanal. Para a caracterização da estrutura da parede intestinal e da histometria da mucosa foram coletadas amostras intestinais de 16 jacarés para o estudo ao microscópio óptico e de outros dois para o estudo ao microscópio eletrônico de varredura. As amostras foram obtidas e processadas de acordo com os respectivos protocolos, em cinco regiões, sendo quatro do intestino delgado e uma do intestino grosso. As colorações realizadas foram hematoxilina eosina, tricomo de Mallory e Picrossirius, e a técnicas histoquímicas constituíram de reação ao ácido periódico de Schiff, alcian blue pH 1,0 contrastado com hematoxilina e alcian blue pH 2,5 conjugado ao ácido periódico de Schiff. No estudo histométrico foi empregado a análise de variância e Teste de Neuwman-Keuls. Para a descrição das estruturas histológicas foi empregada a terminologia disponível na Nomina Histologia. A estrutura da parede do intestino delgado e grosso do jacaré-dopantanal é constituída pelas túnicas mucosa, muscular e serosa. A mucosa é formada por epitélio de revestimento do tipo cilíndrico simples constituído pelo epiteliócito colunar da vilosidade e o exocrinócito caliciforme; lâmina própria de tecido conjuntivo frouxo e muscular da mucosa única. A composição da secreção do exocrinócito caliciforme variou de neutro a ácido. Não foi observada a presença de glândulas intestinais. A túnica muscular é constituída por dois estrados, o circular e o longitudinal, sendo o estrato circular o mais desenvolvido. A serosa é típica. As especializações da mucosa observadas no intestino delgado e grosso, respectivamente, foram vilosidades e pregas intestinais, e ao longo das regiões dos intestinos, apresentaram diminuição de sua complexidade. O estudo histométrico da mucosa demonstrou diferença estatisticamente significante entre o intestino delgado e grosso. A microscopia eletrônica de varredura evidenciou a presença de 1 tipo de prega ou crista no duodeno e 2 tipos nas demais regiões analisadas. Elas apresentam variação de forma, espaçamento, altura e a amplitude entre as regiões. Embora a estrutura da parede intestinal de C. yacare seja semelhante à de outros crocodilianos, a da tartaruga verde e avestruz, ainda se faz necessário estudos sobre a histofisiologia para que o manejo nutricional da espécie em cativeiro seja incrementado.

Orientador: Vitor Baranauskas / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação / Made available in DSpace on 2018-07-25T01:27:47Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Chang_DahgeChiadin_D.pdf: 9826585 bytes, checksum: 5734a3b6b43a08b7eb8b54729d1abb13 (MD5) Previous issue date: 1999 / Resumo: Foi realizado um estudo de caracterização do silício poroso luminescente feito por corrosão eletroquímica visando sua cobertura com diamante. Foram utilizados eletrólitos com misturas de HF/H2O e de HF/C2H5OH/H2O em diferentes proporções, diferentes tempos de corrosão e com densidades de corrente entre 10 mA.cm-2 a 30 mA.cm-2. A morfologia do silício poroso foi analisada por microscopia de força atômica dentro do próprio meio líquido para estudo quantitativo da variação da porosidade com os parâmetros da anodização. Os filmes de silício poroso foram recobertos com diamante depositado em diferentes temperaturas e tempos. Observamos que a estrutura de silício poroso/diamante apresenta luminescência na temperatura ambiente mas não pudemos identificar se a forma gausssiana da luminescência é devida ao silício poroso ou ao diamante / Abstract: A study of the properties of anodically etched porous silicon was made prior to and following its coating with diamond. Mixtures of HF/H2O and of HF/C2H5OH/H2O were used as electrolytes in different proportions, for different corrosion times and with current densities in the range of 10 mA.cm-2 to 30 mA.cm-2. The porous silicon morphology was analyzed in-situ (liquid-phase) by atomic force microscopy to study of the variation of the porosity with the anodization parameters. The porous silicon films were covered with diamond deposited at different temperatures and times. It was observed that the porous silicon/diamond structure presents room temperature photoluminescence but it was not possible to determine whether the gausssian shape of the luminescence spectra was due to the porous silicon or to the diamond coating / Doutorado / Doutor em Engenharia Elétrica

Orientador: Carlos Lenz Cesar / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin" / Made available in DSpace on 2018-08-04T14:59:07Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Fontes_Adriana_D.pdf: 3876787 bytes, checksum: 3edd1575e993d4685d7e82c8a3f77cfb (MD5) Previous issue date: 2004 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

A Microscopia de Força Atômica é uma técnica que permite a aquisição de imagens em escalas nanométricas da superfície de quase todo tipo de material. Nessa escala, porém, as imagens podem apresentar uma relação sinal/ruído pobre, causado por efeitos degenerativos em sua qualidade. Para recuperar essas imagens ou minimizar os efeitos da degradação, técnicas de restauração de imagens são empregadas. Nas últimas décadas, diversas técnicas têm sido desenvolvidas e aplicadas com essa finalidade. Dentre elas, uma técnica de restauração, descrita aqui nesta tese, baseada na minimização de um funcional de Tikhonov com termos de regularização a um parâmetro, tem sido usada há alguns anos com resultados bastante satisfatórios no tratamento de imagens obtidas com o Microscópio de Força Atômica. O uso dessa técnica, entretanto, exige um grande esforço computacional que resulta em um tempo de execução elevado quando o programa que implementa o algoritmo de restauração é processado serialmente. Além disso, à medida que os equipamentos eletrônicos aumentam as suas capacidades, as imagens obtidas por esses equipamentos aumentam de resolução, assim como o esforço computacional e o tempo gasto para analisá-las e restaurálas. Assim, com o passar do tempo, o aumento da velocidade de processamento e do desempenho do programa de restauração tem-se tornado um problema cada vez mais crítico. Com o intuito de obter uma velocidade maior de processamento, nesta tese é descrita uma estratégia de implementação do algoritmo de restauração que faz uso de técnicas de computação paralela para se desenvolver uma nova versão paralela do programa de restauração. Os resultados obtidos com essa nova versão do programa mostram que a estratégia paralela adotada reduziu os tempos de execução e produziu bons desempenhos computacionais quando comparado com outras implementações feitas do mesmo algoritmo. Além disso, a nova estratégia apresenta níveis de desempenho maiores à medida que as resoluções das imagens restauradas aumentam, possibilitando a restauração de imagens maiores num tempo proporcionalmente mais curto.